1.一种具温控单元的测试装置，其特征在于，包含电路板、测试座及该温控单元，
该温控单元包含：
第一温度产生器：预温待测的电子元件；
第二温度产生器：预温该电路板；
第一感测器：感测该电子元件的表面温度；
第二感测器：感测该电路板的温度；
处理器：接收该第一感测器传输的电子元件表面温度感测数据，以及接收该第二感测器传输的电路板温度感测数据，以分析获知该电子元件的内部温度是否符合预设测试温度。
2.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该第一温度产生器设置于机台上的预温盘。
3.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该测试装置设置至少一压接器，该压接器作至少一方向位移，以压接该电子元件，该第一温度产生器设置于该压接器。
4.根据权利要求3所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该第一感测器设置于该压接器的底部，以接触该电子元件。
5.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该第二温度产生器设置于该电路板上方的基板。
6.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该测试装置设有测试室，该第二温度产生器设置于该测试室，以于该测试室注入预设温度的流体。
7.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该第二感测器设置于该电路板的顶部或底部。
8.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该处理器设有数据库，该数据库建置有电子元件表面温度比对数据、电路板温度比对数据及电子元件内部温度比对数据。
9.根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置，其特征在于，该电路板电性连接一测试机。
10.一种应用具温控单元的测试装置的测试分类设备，其特征在于，包含：
机台；
供料装置：配置于该机台，并设置至少一供料承置器，以容纳待测的电子元件；
收料装置：配置于该机台，并设置至少一收料承置器，以容纳已测的电子元件；
至少一根据权利要求1所述的具温控单元的测试装置：配置于该机台，以获知电子元件的内部温度是否符合预设测试温度，并测试电子元件；
输送装置：配置于该机台，并设有至少一移料器，以移载电子元件；
中央控制装置：控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。