胶条颗粒检测机的制作方法

1.本实用新型属于胶条颗粒检测设备，具体地说是胶条颗粒检测机。


背景技术：

2.胶条颗粒在生产完成后，需要对胶条颗粒的外观、长度尺寸、同心度导电率进行检测。而目前现有的检测设备往往只能对胶条颗粒某一类别进行检测，无法做到在同一设备上对外观、长度尺寸、同心度导电率均进行检测，而单一的检测方式较为消耗检测时间。


技术实现要素：

3.本实用新型提供胶条颗粒检测机，用以解决现有技术中的缺陷。
4.本实用新型通过以下技术方案予以实现：
5.胶条颗粒检测机，包括振动盘和工作台，工作台上设置有沿一定轨迹循环移动的吸取组，吸取组包括吸嘴；工作台沿吸嘴轨迹移动方向设有振动盘上料位、电阻测量设备、第一端面外观检测设备、旋转设备、长度尺寸测量设备、内外径尺寸及同心度测量设备、第二端面外观检测设备、不良品剔除设备和良品收集设备；振动盘出料口与振动盘上料位相对。
6.本技术在使用时，胶条颗粒在振动盘上依次落在振动盘上料位上，并在振动盘上料位上被吸嘴吸取后分别落在电阻测量设备、第一端面外观检测设备、旋转设备、长度尺寸测量设备、内外径尺寸及同心度测量设备、第二端面外观检测设备上进行检测，在检测完后合格产品经良品收集设备收集，不合格产品经不良品剔除设备剔除，实现对胶条颗粒的检测。
7.作为优选，所述的电阻测量设备、第一端面外观检测设备、旋转设备、长度尺寸测量设备、内外径尺寸及同心度测量设备和第二端面外观检测设备均包括气动夹爪和定位冶具，定位冶具上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴运行轨迹下，气动夹爪的两夹爪分布在条形透槽两侧。定位冶具的条形透槽能起到方便放置胶条颗粒的作用，而气动夹爪则能保证将胶条颗粒布置在定位冶具上防止胶条颗粒在条形透槽内活动。
8.作为优选，所述的电阻测量设备还包括探针，探针固定设置在对应气动夹爪上且两端穿出对应气动夹爪。探针能起到测量电阻的作用。
9.作为优选，所述的第一端面外观检测设备和第二端面外观检测设备还包括外观检测相机、环形光源，外观检测相机拍摄端朝向定位冶具，环形光源位于对应的外观检测相机和定位冶具之间。外观检测相机能观察胶条颗粒的第一端面和第二端面，而环形光源能起到补光的作用。
10.作为优选，所述的旋转设备包括180
°
旋转气缸，定位冶具和气动夹爪设置在旋转气缸上。从而能实现胶条颗粒180
°
旋转，方便外观检测相机观察胶条颗粒另一面。
11.作为优选，所述的长度尺寸测量设备和内外径尺寸及同心度测量设备还包括尺寸测量相机和背光源，尺寸测量相机拍摄端朝向定位冶具且定位冶具位于对应尺寸测量相机
和背光源之间。尺寸测量相机能观察胶条颗粒的长度尺寸和同心度尺寸，而背光源则能方便尺寸测量相机更好的观察。
12.作为优选，所述的工作台上开始有圆形透槽，圆形透槽内设置有吸取组，吸取组还包括与工作台固定连接的升降电机，升降电机的活动端设置有旋转台，所述旋转台上固定连接有沿旋转台轴心转动的旋转环，所述吸嘴均匀分布在旋转环的圆环线上。升级电机能带动吸嘴的升降，旋转环能带动吸嘴转动路径为圆形且保证循环转动。
13.作为优选，所述的不良品剔除设备包括吹气嘴、定位治具、不良品接料斗和保护套，定位冶具位于不良品接料斗进料口的上方且吹气嘴朝向定位冶具。吹气嘴能将不符合要求的胶条颗粒从定位冶具上吹落并落入不良品接料斗内。
14.作为优选，所述的良品收集设备包括吹气设备、防护套和良品接料斗，良品接料斗进料端位于吸嘴轨迹线下。良品接料斗能收集符合要求的胶条颗粒，而吹气设备能将落在良品接料斗进料口边缘的胶条颗粒吹入良品接料斗内。
15.本实用新型的有益效果为：本技术的使用，能通过一个整体设备实现对胶条颗粒外观、长度尺寸、同心度导电率等进行检测，筛选出符合要求的胶条颗粒，降低单一的检测方式较为消耗检测时间。
附图说明
16.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1是本实用新型的整体结构示意图；
18.图2是工作台结构视图；
19.图3是电阻测量设备结构示意图；
20.图4是第一端面外观检测设备结构示意图；
21.图5是旋转设备结构示意图；
22.图6是长度尺寸测量设备结构示意图；
23.图7是内外径尺寸及同心度测量设备结构示意图；
24.图8是升降电机和旋转环结构布置图；
25.图9是不良品剔除设备结构示意图；
26.图10是良品收集设备结构示意图。
27.图中所示：
28.1、振动盘，2、工作台，3、吸嘴，4、电阻测量设备，5、第一端面外观检测设备，6、旋转设备，7、长度尺寸测量设备，8、内外径尺寸及同心度测量设备， 9、第二端面外观检测设备，10、不良品剔除设备，11、良品收集设备，12、定位冶具，13、气动夹爪，14、探针，15、外观检测相机，16、环形光源，17、尺寸测量相机，18、背光源，19、升降电机，20、旋转环，21、吹气嘴，22、良品接料斗，23、不良品接料斗。
具体实施方式
29.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
30.胶条颗粒检测机，如图1-10所示。包括振动盘1和工作台2，工作台2上开始有圆形透槽，圆形透槽内设置有吸取组，吸取组还包括与工作台2固定连接的升降电机19，升降电机19的活动端设置有旋转台，所述旋转台上固定连接有沿旋转台轴心转动的旋转环20，所述吸嘴3均匀分布在旋转环20的圆环线上。
31.工作台2沿吸嘴3轨迹移动方向设有振动盘1上料位、电阻测量设备4、第一端面外观5检测设备、旋转设备6、长度尺寸测量设备7、内外径尺寸及同心度测量设备8、第二端面外观检测设备9、不良品剔除设备10和良品收集设备11；振动盘1出料口与振动盘1上料位相对。
32.电阻测量设备4、第一端面外观5检测设备、旋转设备6、长度尺寸测量设备7、内外径尺寸及同心度测量设备8和第二端面外观检测设备9均包括气动夹爪13和定位冶具12，定位冶具12上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴3运行轨迹下，气动夹爪13的两夹爪分布在条形透槽两侧。
33.电阻测量设备4包括气动夹爪13和定位冶具12，定位冶具12上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴3运行轨迹下，气动夹爪13的两夹爪分布在条形透槽两侧，还包括探针14，探针14固定设置在对应气动夹爪13上且两端穿出对应气动夹爪13。
34.第一端面外观5检测设备和第二端面外观检测设备9包括气动夹爪13和定位冶具12，定位冶具12上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴3运行轨迹下，气动夹爪13的两夹爪分布在条形透槽两侧，还包括外观检测相机15、环形光源16，外观检测相机15拍摄端朝向定位冶具12，环形光源16位于对应的外观检测相机15和定位冶具12之间。
35.旋转设备6包括包括气动夹爪13和定位冶具12，定位冶具12上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴3运行轨迹下，气动夹爪13的两夹爪分布在条形透槽两侧，还包括180
°
旋转气缸，定位冶具12和气动夹爪13设置在旋转气缸上。
36.长度尺寸测量设备7和内外径尺寸及同心度测量设备8包括气动夹爪13和定位冶具12，定位冶具12上横向开设有条形透槽，条形透槽位于吸嘴3运行轨迹下，气动夹爪13的两夹爪分布在条形透槽两侧，还包括尺寸测量相机17和背光源18，尺寸测量相机17拍摄端朝向定位冶具12且定位冶具12位于对应尺寸测量相机17和背光源18之间。
37.工作台2上开始有圆形透槽，圆形透槽内设置有吸取组，吸取组还包括与工作台2固定连接的升降电机19，升降电机19的活动端设置有旋转台，所述旋转台上固定连接有沿旋转台轴心转动的旋转环20，所述吸嘴3均匀分布在旋转环20的圆环线上。
38.不良品剔除设备10包括吹气嘴21、定位治具、良品接料斗22和保护套，定位冶具12位于良品接料斗22进料口的上方且吹气嘴21朝向定位冶具12。
39.良品收集设备11包括吹气设备、防护套、不良品接料斗2322，不良品接料斗2322进料端位于吸嘴3轨迹线下。
40.电阻测量设备4、第一端面外观5检测设备、旋转设备6、长度尺寸测量设备7、内外径尺寸及同心度测量设备8、第二端面外观检测设备9、不良品剔除设备10和良品收集设备11均受操作系统控制。
41.本技术在使用时，胶条颗粒在振动盘1上依次落在振动盘1上料位上，操作系统控制升降电机19带动吸嘴3下落并控制吸嘴3吸取振动盘1上料位内的胶条颗粒，然后操作系统控制旋转台带动旋转环20转动，进而带动吸嘴3转动，在吸有胶条颗粒的吸嘴3转动至电阻测量设备4处时，操作系统控制升降电机19下落并控制吸嘴3停止吸附胶条颗粒，从而胶条颗粒落在对应定位冶具12的条形透槽内，然后操作系统控制气动夹爪13夹住胶条颗粒，同时探针14与胶条颗粒接触并测得电阻并将信息反馈给胶条颗粒，在测得电阻后，操作系统再次启动升降电机19和吸嘴3并将吸嘴3吸起并转达带动胶条颗粒进入下一道工序，从而保证胶条颗粒依次进入电阻测量设备4、第一端面外观5检测设备、旋转设备6、长度尺寸测量设备7、内外径尺寸及同心度测量设备8、第二端面外观检测设备9、第一端面外观5检测设备、旋转设备6、长度尺寸测量设备7、内外径尺寸及同心度测量设备8、第二端面外观检测设备9上进行检测，在检测完后合格产品经良品收集设备11收集，不合格产品经不良品剔除设备10剔除，实现对胶条颗粒的检测。
42.其中环形光源16位于对应的外观检测相机15和定位冶具12之间。外观检测相机15能观察胶条颗粒的第一端面和第二端面，而环形光源16能起到补光的作用。
43.旋转设备6包括180
°
旋转气缸，定位冶具12和气动夹爪13设置在旋转气缸上。从而能实现胶条颗粒180
°
旋转，方便外观检测相机15观察胶条颗粒另一面。
44.长度尺寸测量设备7和内外径尺寸及同心度测量设备8还包括尺寸测量相机17和背光源18，尺寸测量相机17拍摄端朝向定位冶具12且定位冶具12位于对应尺寸测量相机17和背光源18之间。尺寸测量相机17能观察胶条颗粒的长度尺寸和同心度尺寸，而背光源18则能方便尺寸测量相机17更好的观察。
45.不良品剔除设备10包括吹气嘴21、定位治具、不良品接料斗23和保护套，定位冶具12位于不良品接料斗23进料口的上方且吹气嘴21朝向定位冶具12。吹气嘴21能将不符合要求的胶条颗粒从定位冶具12上吹落并落入不良品接料斗23内。
46.良品收集设备11包括吹气设备、防护套和良品接料斗22，良品接料斗22进料端位于吸嘴3轨迹线下。良品接料斗22能收集符合要求的胶条颗粒，而吹气设备能将落在良品接料斗22进料口边缘的胶条颗粒吹入良品接料斗22内。
47.本技术的使用，能通过一个整体设备实现对胶条颗粒外观、长度尺寸、同心度导电率等进行检测，筛选出符合要求的胶条颗粒，降低单一的检测方式较为消耗检测时间。
48.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。