一种芯片测试分选装置的制作方法

本技术涉及芯片测试分选领域，具体是一种芯片测试分选装置。

背景技术：

1、芯片是半导体元件产品的统称；电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路；另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片在生产出来之后大多通过分选装置对芯片的好坏进行筛选。

2、其中申请号为“cn218133428u”所公开的“一种芯片测试分选装置”是一种比较成熟的技术，其零件包括操作台，在操作台上连接有芯片测试仪，且操作台的顶端还连接有指示灯，将芯片放置在测试仪的下方，然后根据指示灯的提示可以很好的分辨芯片的良劣，然后在有工人将测试完成后的芯片进行分类。

3、现有的技术中工人们在使用芯片测试分选装置对芯片进行测试时，需要根据测试装置显示屏上呈现出的测试结果，然后在将芯片放置于对应测试结果的料盘中，且需要测试的芯片数量过大，需要工作人们反复的进行测试，继而容易导致工作人员的大脑麻木，使得芯片误放进非对应其测试结果的料盘之中；因此，针对上述问题提出一种芯片测试分选装置。

技术实现思路

1、为了弥补现有技术的不足，现有的技术中工人们在使用芯片测试分选装置对芯片进行测试时，需要根据测试装置显示屏上呈现出的测试结果，然后在将芯片放置于对应测试结果的料盘中，且需要测试的芯片数量过大，需要工作人们反复的进行测试，继而容易导致工作人员的大脑麻木，使得芯片误放进非对应其测试结果的料盘之中的问题，本实用新型提出一种芯片测试分选装置。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：本实用新型所述的一种芯片测试分选装置，包括工作台，所述工作台的左端与第一连接架固定连接，所述第一连接架的底端与芯片测试仪固定连接，所述工作台的顶端与指示灯固定连接，所述工作台的前端开设有第一分选槽，所述工作台的前端还开设有第二分选槽；所述工作台的底端设置有分选组件；

3、所述分选组件包括电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的右端与第一连接件固定连接，所述第一连接件与工作台的右端固定连接，所述电动伸缩杆的左端与第一滑块固定连接，所述第一滑块的底端与第一滑轨滑动连接，所述工作台的内部设置有收集组件。

4、优选的，所述收集组件包括劣品收集箱，所述劣品收集箱设置在第二分选槽的内部，所述第一分选槽的内部设置有良品收集箱，所述工作台的前端开设有第一滑动腔，两组所述第一滑动腔皆与第二滑块滑动连接，两组所述第二滑块皆与劣品收集箱固定连接，两组所述第二滑块还与良品收集箱固定连接，所述良品收集箱的前端与第一把手固定连接，所述第一把手还与劣品收集箱的前端固定连接。

5、优选的，所述第一滑轨与工作台的顶端固定连接，所述第一滑轨的后端与第一连接板固定连接，所述第一连接板的顶端与第一齿条固定连接，所述第一连接板的顶端还与第二齿条固定连接。

6、优选的，所述第二齿条与第一齿轮啮合，所述第一齿条与第一齿轮也啮合，所述第一齿轮与第一转动杆转动连接，所述第一转动杆贯穿第一滑块，所述第一转动杆与芯片放置板的底端固定连接。

7、优选的，所述劣品收集箱和良品收集箱的前端皆与第一抵接杆的后端固定连接，两组所述第一抵接杆皆与第二转动杆抵接，两组所述第二转动杆皆与螺栓转动连接，两组所述螺栓皆贯穿第一卡合板。

8、优选的，所述两组所述螺栓皆与螺母转动连接，两组所述第一卡合板与工作台的前端固定连接。

9、本实用新型的有益之处在于：

10、1.本实用新型通过分选组件的结构设计，实现了对芯片分选的功能，解决了工人们在使用测试装置对芯片测试完成后，需要工人们用手去将芯片放置到所对应的收集箱中，且工人们反复的做相同的动作，可能会导致工人的大量发生麻木，继而将芯片误放到非对应测试结果的收集箱中的问题，提高了芯片测试分选装置对芯片分选的准确性；

11、2.本实用新型通过固定组件的结构设计，实现了芯片收集箱固定的功能，解决了工人们使用测试分选装置时，机器在测试过程中可能会参数震动，继而可能会使得芯片收集箱产生滑动，继而使得收集箱内部的芯片滑出的问题，提高了对芯片收集箱的固定的稳定性。

技术特征：

1.一种芯片测试分选装置，包括工作台(1)，所述工作台(1)的左端与第一连接架(2)固定连接，所述第一连接架(2)的底端与芯片测试仪(3)固定连接，所述工作台(1)的顶端与指示灯(4)固定连接，所述工作台(1)的前端开设有第一分选槽(5)，所述工作台(1)的前端还开设有第二分选槽(6)；其特征在于：所述工作台(1)的底端设置有分选组件；

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述收集组件包括劣品收集箱(60)，所述劣品收集箱(60)设置在第二分选槽(6)的内部，所述第一分选槽(5)的内部设置有良品收集箱(61)，所述工作台(1)的前端开设有第一滑动腔(69)，两组所述第一滑动腔(69)皆与第二滑块(62)滑动连接，两组所述第二滑块(62)皆与劣品收集箱(60)固定连接，两组所述第二滑块(62)还与良品收集箱(61)固定连接，所述良品收集箱(61)的前端与第一把手(63)固定连接，所述第一把手(63)还与劣品收集箱(60)的前端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第一滑轨(42)与工作台(1)的顶端固定连接，所述第一滑轨(42)的后端与第一连接板(43)固定连接，所述第一连接板(43)的顶端与第一齿条(44)固定连接，所述第一连接板(43)的顶端还与第二齿条(45)固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第二齿条(45)与第一齿轮(49)啮合，所述第一齿条(44)与第一齿轮(49)也啮合，所述第一齿轮(49)与第一转动杆(47)转动连接，所述第一转动杆(47)贯穿第一滑块(48)，所述第一转动杆(47)与芯片放置板(46)的底端固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述劣品收集箱(60)和良品收集箱(61)的前端皆与第一抵接杆(64)的后端固定连接，两组所述第一抵接杆(64)皆与第二转动杆(68)抵接，两组所述第二转动杆(68)皆与螺栓(67)转动连接，两组所述螺栓(67)皆贯穿第一卡合板(65)。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：两组所述螺栓(67)皆与螺母(66)转动连接，两组所述第一卡合板(65)与工作台(1)的前端固定连接。

技术总结
本技术属于芯片测试分选领域，具体的说是一种芯片测试分选装置，包括工作台，所述工作台的左端与第一连接架固定连接，所述第一连接架的底端与芯片测试仪固定连接，所述工作台的顶端与指示灯固定连接，所述工作台的前端开设有第一分选槽，所述工作台的前端还开设有第二分选槽；所述工作台的底端设置有分选组件；所述分选组件包括电动伸缩杆；通过分选组件的结构设计，实现了对芯片分选的功能，解决了工人们在使用测试装置对芯片测试完成后，需要工人们用手去将芯片放置到所对应的收集箱中，且工人们反复的做相同的动作，可能会导致工人的大量发生麻木，继而将芯片误放到非对应测试结果的收集箱中的问题。

技术研发人员：兰斌,夏翥亮
受保护的技术使用者：深圳市科亿微科技有限公司
技术研发日：20230725
技术公布日：2024/3/24