一种基于BIM的测绘放样装置的制作方法

本发明涉及测绘放样，具体是一种基于bim的测绘放样装置。

背景技术：

1、建筑工程在施工时需要进行测绘放样,目前的测绘放样通常采用经纬仪、全站仪等测绘仪器对距离、角度(方向)、高程三个量进行测量，在施工现场进行标定。

2、但是现有的一些测绘放样装置的支撑结构需要进行调水平的处理，只能使用较为简单的水平仪进行检测，遇到一些环境较为复杂的情况下，此时支撑结构本身无法实现很精准的水平调整，这导致上方的测绘仪器得出的数据也不够精准，因此需要对其进行改进。

技术实现思路

1、本发明提供一种基于bim的测绘放样装置，解决了上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、一种基于bim的测绘放样装置，包括支撑环、角度检测机构和测绘机构；

4、角度检测机构，包括设置于支撑环中部的万向转动头组件，万向转动头组件的外侧套设有支撑框，万向转动头组件的内部设置有检测支撑框偏转角度的角度偏转传感器，支撑框远离地面的一侧滑动连接有滑动杆，滑动杆远离地面的一侧固定连接托板，所述支撑环远离地面的一侧转动连接有多个顶升丝杆，顶升丝杆的中部螺纹连接支撑块，多个所述支撑块转动连接放置环；

5、测绘机构，包括与放置环两侧配合的卡环，两个所述卡环转动连接主轴的两端，主轴的两侧固定连接有与托板配合的放置框，放置框上设置有测绘探头。

6、作为本发明的一种优选技术方案，所述主轴的侧面设置有与放置框同步转动的旋转把手。

7、作为本发明的一种优选技术方案，所述顶升丝杆的数量大于等于三个，顶升丝杆相对于支撑环的中心均匀分布。

8、作为本发明的一种优选技术方案，所述万向转动头组件包括两个垂直设置并且相互转动连接的第一转轴和第二转轴，第一转轴的两端转动连接支撑环的中心，第二转轴的两端固定连接支撑环，第一转轴与支撑环之间以及第二转轴与第一转轴之间都设置有检测角度变化的角度偏转传感器。

9、作为本发明的一种优选技术方案，所述支撑框靠近地面的一侧可拆卸连接有配重杆组件。

10、作为本发明的一种优选技术方案，所述配重杆组件包括与支撑框螺纹连接的螺柱，螺柱靠近地面的一端固定连接悬挂杆，悬挂杆靠近地面的一端设置有配重头。

11、作为本发明的一种优选技术方案，所述支撑环的侧壁转动连接有伸缩腿，伸缩腿的伸出端设置有限位钉。

12、作为本发明的一种优选技术方案，所述支撑框与托板之间设置有驱动托板朝向远离支撑框方向移动的缓冲弹簧。

13、本发明具有以下有益之处：

14、本发明适用于一种基于bim的测绘放样装置，通过设置万向转动头组件检测托板的角度偏转，使得测绘探头的旋转以及俯仰角度变化都可以通过托板进行检测，降低了对于装置调水平的需求，使得整个装置的使用更加的便捷。

技术特征：

1.一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，包括支撑环、角度检测机构和测绘机构；

2.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述主轴的侧面设置有与放置框同步转动的旋转把手。

3.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述顶升丝杆的数量大于等于三个，顶升丝杆相对于支撑环的中心均匀分布。

4.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述万向转动头组件包括两个垂直设置并且相互转动连接的第一转轴和第二转轴，第一转轴的两端转动连接支撑环的中心，第二转轴的两端固定连接支撑环，第一转轴与支撑环之间以及第二转轴与第一转轴之间都设置有检测角度变化的角度偏转传感器。

5.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述支撑框靠近地面的一侧可拆卸连接有配重杆组件。

6.根据权利要求5所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述配重杆组件包括与支撑框螺纹连接的螺柱，螺柱靠近地面的一端固定连接悬挂杆，悬挂杆靠近地面的一端设置有配重头。

7.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述支撑环的侧壁转动连接有伸缩腿，伸缩腿的伸出端设置有限位钉。

8.根据权利要求1所述的一种基于bim的测绘放样装置，其特征在于，所述支撑框与托板之间设置有驱动托板朝向远离支撑框方向移动的缓冲弹簧。

技术总结
本发明涉及测绘放样技术领域，公开了一种基于BIM的测绘放样装置，包括支撑环、角度检测机构和测绘机构；角度检测机构，包括设置于支撑环中部的万向转动头组件，万向转动头组件的外侧套设有支撑框，支撑框远离地面的一侧滑动连接有滑动杆，滑动杆远离地面的一侧固定连接托板，所述支撑环远离地面的一侧转动连接有多个顶升丝杆，顶升丝杆的中部螺纹连接支撑块，多个所述支撑块转动连接放置环；测绘机构，包括与放置环两侧配合的卡环，两个所述卡环转动连接主轴的两端，主轴的两侧固定连接有与托板配合的放置框，放置框上设置有测绘探头。本发明适用于一种基于BIM的测绘放样装置，通过测绘探头的旋转以及俯仰角度变化都可以通过托板进行检测。

技术研发人员：高月军
受保护的技术使用者：海安市凤威建设工程有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13