一种精密光学测量设备的制作方法

本发明涉及光学测量，具体地说，涉及一种精密光学测量设备。

背景技术：

1、近几年，随着科技的发展，人们发明了一种新的测量技术：一键式测量仪，其采用双远心光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理，只需按一下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成。

2、但是现有的一键式测量仪在使用时，只能将工件放置在设备上静止进行图像采集，图像采集完成后，还需要取放工件，从而存在以下缺陷：使得工作效率较低，不适用于工件的批量测量，而一些在流水线的传送带上进行测量的设备，工件与摄像头之间为动态测量，摄像头拍摄移动的工件，会影响测量精度，为此我们推出了一种精密光学测量设备来解决该类问题。

技术实现思路

1、针对现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种精密光学测量设备，保证工件间隔相同的前提下可将抵触块插入不同位置的插孔，满足不同的拍摄需求。

2、为实现上述目的，本发明采用如下的技术方案。

3、一种精密光学测量设备，包括支架，所述支架上安装有传送带，所述支架上安装有支撑板，所述传送带上插接有一组抵触块，所述支撑板的内部活动连接有折杆，所述支撑板的内部开设有滑动槽，所述滑动槽的内部滑动连接有摄像头，所述折杆正面的一端滑动连接至摄像头的背面。

4、作为上述技术方案的进一步描述：

5、所述支撑板的顶部固定连接有折板，所述折板的内部嵌设有强磁石，所述折杆的顶部嵌设有金属板，所述滑动槽的内部固定连接有弹簧，所述弹簧靠近折板的一端固定连接至摄像头的外侧。

6、作为上述技术方案的进一步描述：

7、所述滑动槽的内部固定连接有两个减震球，所述减震球的外侧与摄像头的右侧接触。

8、作为上述技术方案的进一步描述：

9、所述传送带的顶部开设有一组与抵触块匹配的插孔。

10、作为上述技术方案的进一步描述：

11、所述折杆与抵触块的外侧均为光滑设置。

12、相比于现有技术，本发明的优点在于：

13、(1)本方案在传送带运动过程中，采用抵触块带动折杆运动，使摄像头跟随运动，从而完成工件与摄像头的同步运动。

14、(2)本方案在保证工件间隔相同的前提下，用户可将抵触块插入不同位置的插孔，从而微调拍摄时长，满足不同的拍摄需求。

技术特征：

1.一种精密光学测量设备，包括支架(1)，其特征在于：所述支架(1)上安装有传送带(2)，所述支架(1)上安装有支撑板(3)，所述传送带(2)上插接有一组抵触块(4)，所述支撑板(3)的内部活动连接有折杆(5)，所述支撑板(3)的内部开设有滑动槽(6)，所述滑动槽(6)的内部滑动连接有摄像头(7)，所述折杆(5)正面的一端滑动连接至摄像头(7)的背面。

2.根据权利要求1所述的一种精密光学测量设备，其特征在于：所述支撑板(3)的顶部固定连接有折板(8)，所述折板(8)的内部嵌设有强磁石(9)，所述折杆(5)的顶部嵌设有金属板(10)，所述滑动槽(6)的内部固定连接有弹簧(11)，所述弹簧(11)靠近折板(8)的一端固定连接至摄像头(7)的外侧。

3.根据权利要求1所述的一种精密光学测量设备，其特征在于：所述滑动槽(6)的内部固定连接有两个减震球(12)，所述减震球(12)的外侧与摄像头(7)的右侧接触。

4.根据权利要求1所述的一种精密光学测量设备，其特征在于：所述传送带(2)的顶部开设有一组与抵触块(4)匹配的插孔(13)。

5.根据权利要求1所述的一种精密光学测量设备，其特征在于：所述折杆(5)与抵触块(4)的外侧均为光滑设置。

技术总结
本发明公开了一种精密光学测量设备，属于光学测量领域，包括支架，所述支架上安装有传送带，所述支架上安装有支撑板，所述传送带上插接有一组抵触块，所述支撑板的内部活动连接有折杆，所述支撑板的内部开设有滑动槽，所述滑动槽的内部滑动连接有摄像头，所述折杆正面的一端滑动连接至摄像头的背面。该发明，通过摄像头与工件同步运动，达到静态拍摄效果，且整个同步过程中无需电器元件配合，结构简单更加节能，用户还可根据使用需求调节同步路径，完成不同市场的拍摄作业。

技术研发人员：周卫立,李建奎
受保护的技术使用者：苏州芯艾蓝光电材料有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8