专利名称：一种小水浴恒温装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试领域中的一种保持被测物质试样恒温的装置。
测试某种物质的若干参数，往往需要被测物质试样的温度保持在一定的恒温值以后，方能进行测试，得到准确的测试结果。如果被测物质试样所处的周围环境，在较短的时间内对物质试样本身的温度变化有较大的影响，则测试参数的精度将随物质试样本身温度的变化发生变化。
本实用新型之前，测试某种物质的若干参数，经常见到的是需将被测物质试样放置在很大的恒温箱中，即通常所称的大水浴恒温箱。如图1所示是由外壳(1)、绝热材料(2)、内壳(3)、试样(4)、温度传感器(5)、加热器(6)、搅拌器(7)组成的。其中外壳(1)、绝热材料(2)、内壳(3)构成壳体，通常是用金属和保温材料制做的。要使恒箱内的水温变化，在数小时内保持在±0.1℃，需要进行搅拌才行。
被测物质试样放在大水浴恒温箱中，在测试过程中，由于大水浴恒温箱体积庞大，重量很重、不便移动，不能直接放在测试工作台上，这就需要将被测物质试样从大水浴恒温箱中取出，放在置于空气中的测试工作台上，经过在大水浴恒温箱中恒温的被测物质试样的温度，假若与测试工作台周围空气的温度不同，则被测试样在测试过程中温度就要发生变化。因此，被测试的参数不会得出精确的测试结果。
为了克服上述缺点，本实用新型的目的在于设计一种小型水浴恒温装置，被测物质试样放在小水浴恒温箱中，经过一定的时间恒温后，被测物质试样不必从小水浴恒温箱中取出，而是直接将小水浴恒温箱连同放在里边的试样一同放置在测试工作台上进行测试，由于在测试过程中试样始终在小水浴恒温箱中，不直接与空气接触。因此，被测物质试样的本身温度不受测试工作台周围环境的影响，温度无变化，可测出理想的参数数据。
本实用新型的详细内容如图2所示，是由电阻加热器(8)、玻璃器皿(9)、样品架(10)、试样(11)、温度传感器架(12)、温度传感器(13)、自动控制箱(14)组成的。
玻璃器皿(9)置于电阻加热器(8)上，玻璃器皿(9)的几何尺寸不大于电阻加热器(8)的几何尺寸，样品架(10)置于玻璃器皿(9)内的中心对称位置上，与玻璃器皿(9)的底保持一定的高度间距，被测物质试样(11)放置在样品架(10)的中心位置，温度传感器(13)通过装在玻璃器皿(9)上盖上的温度传感器架(12)的中心孔，一端与小水浴恒温箱中的水接触，另一端通过导线与自动控制箱(14)联接，自动控制箱(14)通过导线与电阻加热器(8)联接。
工作原理说明根据热传导理论可知，热量总是从高温物体向低温物体自动传递，来解释本实用新型的工作原理。
本实用新型的积极效果小水浴恒温装置，由于体积小，重量轻，搬动灵活，测试过程中不必将被测试样取出，而是将装着试样的小水浴恒温装置直接搬到测试工作台上，对试样的有关参数进行测定。小水浴恒温装置体积小，在恒温过程中不必对水进行搅拌，就能使水浴中的水、各处保持相同的温度。水浴皿壳体采用单层石英玻璃，不用壳体和保温材料，复合结构使结构和工艺简单、造价低、易实施。由于试样不离开恒温水浴，测试过程中试样本身的温度无变化，从而保证了对试样参数的测试精度。
图1是已有技术大水浴恒温箱的结构示意图。图2是本实用新型小水浴恒温装置的结构示意图。摘要附图亦采用图2。
最佳实施例加热器(8)的功率随着玻璃器皿(9)的大小而定，玻璃器皿(9)选用石英玻璃材质，圆形结构，样品架(10)置于玻璃器皿(9)内的中心对称位置上，与玻璃器皿(9)的底保持一定的高度距离，温度传感器(13)采用pt-100，自动控制箱(14)由微型计算机组成。
权利要求1.一种小水浴恒温装置，是由加热器、水浴皿、温度传感器组成的，其特征在于玻璃器皿(9)置于电阻加热器(8)上，玻璃器皿(9)的几何尺寸不大于电阻加热器(8)的几何尺寸，样品架(10)置于玻璃器皿(9)内的中心对称位置上并与玻璃器皿(9)的底保持一定的高度距离，被测物质试样(11)放置在样品架(10)的中心位置，温度传感器(13)通过装在玻璃器皿(9)上盖上的温度传感器架(12)的中心孔，一端与小水浴恒温装置中的水接触，另一端通过导线与自动控制箱(14)联接，自动控制箱(14)通过导线与电阻加热器(8)联接。
专利摘要小水浴恒温装置属于测试领域中的一种保持被测物质试样恒温的装置，由于小水浴体积小，在恒温过程中不必搅拌，而使水浴中的水各处温度均恒，水浴皿采用单层石英玻璃，结构简单、造价低、易实施、搬动灵活，测试过程中，可将装着试样的小水浴恒温装置直接搬到测试工作台上进行测试，由于试样不离开恒温水浴，测试过程中试样本身的温度无变化，从而保证了对试样参数的测试精度。
文档编号G01N1/28GK2447767SQ0023518
公开日2001年9月12日 申请日期2000年5月23日 优先权日2000年5月23日
发明者刘洪波, 陈兰峰 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所