专利名称：测量偏振依赖损失的装置和方法
技术领域：
本发明通常涉及测量光学器件的偏振依赖损失(PDL)，特别涉及基本消除与测量系统相伴随的PDL噪声从而能够更精确地测量单元PDL的装置和方法。
背景技术：
在单模光纤中，光纤基本模式是满足内芯一夹层界面的边界条件的波方程之解。波方程有两种对应基本模式的解，它们具有相同的传播常数。这两个解被称为偏振模式。与基本模式相伴的电场假定为横向场，其偏振分量沿互相正交的x和y方向线性偏振。随着光线在光纤或单元内的传播，光线能量在两种偏振模式之间进行划分。偏振状态归因于光线能量在偏振模式之间的分布。器件或单元可能呈现作为偏振模式函数的损失。两种偏振模式之间的损失差异代表了器件的偏振依赖损失(PDL)。光学单元的PDL是一项经常用来表征纳入光学光纤网络内的光学器件的重要参数。当光学系统变得更为复杂时，由于PDL的累积性质，所以系统设计者需要单元和器件满足更加严格的PDL偏差。PDL为0.01dB的器件对由许多器件组成并且空间跨度相当大的系统具有明显的影响。为此，测量系统必须能够精确测量这种器件的PDL。
在已经考虑的一种方法中，采用2×2的3dB耦合器进行反射式光学器件的PDL测量。在一端，第一端口连接至偏振控制器和激光源而第二端口连接至功率检测器。在另一端，第三端口连接至被测试器件(DUT)而第四端口终止。激光源和偏振控制器向耦合器注入随机偏振的光信号。光信号由第三端口出来并进入DUT，在那里它反射回第三端口。在传播入耦合器之后，反射信号由第二端口出来并且进入检测PDL的检测器。该系统存在重大的缺陷。耦合器本身的PDL在0.05dB-0.1dB范围内。由于耦合器的PDL大于现在光子系统内采用的许多器件的PDL，所以测量装置无法测量隐藏在系统PDL噪声中的测试器件真实的PDL。
在另一已经考虑的方法中，提供自动化系统测量工作在前向传输模式下的光学器件的PDL。激光源和偏振控制器被用来提供具有4个预先确定和唯一的偏振状态的信号。基于微处理器的系统使致动器带动偏振控制器循环遍历4种偏振状态，与此同时检测器位于DUT输出处以读取每种状态的强度。这些数值由处理器用来计算Meuller矩阵中每个元素的数值并且计算Stokes矢量来标识偏振输入信号。这些数值随后被用来计算DUT的PDL。测试组的残余PDL小于0.001dB，可见得到了改进。如果系统功能性带来的开支节省大于相伴的软件、可靠性和维护成本(它们可能需要重视)，则自动化系统可能带来好处。例如自动化系统属软件密集化系统并且经常出现的情况是软件开发成本超过硬件成本。这是这种系统存在的缺点。对于如此高度自动化的精密系统，由于无法测量工作在背向反射模式下的器件，所以缺少多功能性。这导致作出令人烦恼的选择购买或者开发测量反射器件PDL的第二系统，或者为了容纳反射器件而重新设计和改动系统。两种解决方案都牵涉到支出增加。
因此需要一种可靠和相对便宜的精确测量光学器件PDL的装置。与此同时，PDL测量装置必须是多功能的，能够测量反射器件和前向传输模式下工作的器件的PDL。
发明内容
本发明测量偏振依赖损失的装置和方法的特征在于一前一后组合起来并且取向使得测量系统PDL噪声降低至忽略不计水平的几个光学耦合器。通过匹配耦合器的PDL并且矢量化减去偏振的相反相位，实际上消除了测量系统的PDL。由于提供的测量系统以较少花费的方法精确测量了光学单元的PDL，所以这个概念简单性引人注目。它还是一个多功能系统。它测量工作于反射模式和前向传输模式的光学器件的PDL。
本发明的一个方面是利用随机偏振光信号测量测试下光学器件的偏振依赖损失的装置，该装置产生导入被测试光学器件内的测试输入信号。该装置包括连接至光源的第一无源光学元件，其中第一无源光学元件具有第一偏振损失损失；以及连接至第一无源光学元件并且具有基本上等于第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失的第二无源光学元件。第二无源光学元件相对第一无源光学元件放置为第二偏振依赖损失基本上抵消第一偏振依赖损失并且输出偏振依赖损失等于第一最小值的测试输入信号。
另一方面，本发明包括一种利用一种装置测量光学器件偏振依赖损失的方法，装置包括发射随机偏振的光信号的光源、连接至光源的第一无源光学元件，其中第一无源光学元件具有第一偏振依赖损失。测量方法包括以下步骤提供具有基本上等于第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失并且在相对位置上连接至第一无源光学元件从而使第二偏振依赖损失基本上抵消第一偏振依赖损失的第二无源光学元件；使光信号导入第一无源光学元件从而使第二无源光学元件产生测试输入信号，其中测试输入信号具有基本上等于第一最小值的偏振依赖损失；使测试输入信号导入光学器件；以及测量光学器件的输出信号从而确定偏振依赖损失。
另一方面，本发明包括一种标度用于测量光学器件偏振依赖损失的装置的方法，装置包括发射随机偏振的光信号的光源和具有第一偏振依赖损失的第一无源光学元件。标度方法包括以下步骤提供具有基本上等于第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失并且连接至第一无源光学元件的第二无源光学元件；使光信号导入第一无源光学元件从而创建射出第二无源光学元件的标度信号；以及旋转第二无源光学元件直到标度信号的第一标度偏振依赖损失等于第一最小值。
本发明的其他特征和优点将在下面的详细描述中陈述，并且根据描述或者通过实践如下面的详细描述、权利要求书以及附图所述的本发明，这些特征和优点对于本领域内的技术人员来说是显而易见的。
需要理解的是，前述通用意义的描述和以下详细描述都仅仅是对本发明示意性质的，并且目的是便于从总体或框架上理解要求保护的本发明的性质和特征。附图包含在其中以进一步理解本发明，并且构成说明书的一部分。附图阐释了本发明的各种实施例，并且与说明书一起用来解释本发明的原理和工作。
附图简述
图1为测量前向传输模式下PDL的本发明的第一实施例的框图；图2为用于标度前向传输模式测量的本发明的标度组件框图；图3为测量反射模式下PDL的本发明另一实施例的框图；以及图4为用于标度背反射模式测量的本发明的标度组件框图。
实施发明的较佳方式以下详细描述本发明的较佳实施例，其实例在附图中示出。相同的标号尽可能地用于附图中相同或相似的部分。图1示出了本发明测量偏振依赖损失装置的实施例，一般用标号10表示。
按照本发明，测量偏振依赖损失的装置包括第一无源光学元件12和第二无源光学元件14。这些元件的PDL基本相等。第二无源光学元件14连接至第一无源光学元件12并且相对第一无源光学元件12旋转。通过使耦合器12和14的PDL匹配，并且矢量化减去旋转中PDL的相反相位，测量系统的PDL实质上得到消除。因此噪声水平降低至零附近并且可以精确地测量被测试光学器件(DUT)的PDL。由于系统测量了工作于反射模式或前向传输模式的光学器件的PDL，所以系统以相对低廉的花费实施和提供了所需的多功能。这样就提供了两种类型测量的解决方案。
正如这里实施和图1所示的那样，工作于前向传输模式的本发明第一实施例包括连接至无源光学元件12的光源20。无源光学元件12连接至无源光学元件14。如上所述，第二无源光学元件14相对第一无源光学元件12旋转直到第二无源光学元件14的PDL抵消第一无源光学元件的PDL。第二无源光学元件14的旋转作为装置10标度的一部分并且将在下面讨论。无源光学元件14的输出连接至DUT。DUT的输出连接至测量元件30。第一实施例中的被测试DUT可以是任何工作于前向传输模式的光学器件，例如耦合器、Mach-Zehnder和其他这类器件。
光源20由连接至偏振控制器24的窄带光源22组成。选定窄带光源22在0.8、1.3或1.55微米光学通信波段内工作，这取决于DUT及其用途。
窄带光源22可以是任何合适的已知类型，但是这里以HP8168F激光器为例。对于本领域内技术人员来说，根据装置成本限制、可获得的波长和器件而改动和变动窄带光源22是显而易见的。例如，任何窄线宽的激光器都是合适的。而且可以用宽带光源的组合代替激光器来实现光源22，例如发光二极管和窄带滤光片。偏振控制器24可以是任何已知的类型，但是这里以惠普制造的HP8169A为例。
无源光学元件12和无源光学元件14可以是任何合适的已知类型，但是这里以每个无源元件的2×23dB偶合器为例。对于本领域内技术人员来说，根据所需端口的数量而改动和变动本发明的无源光学元件12和14是显而易见的。例如，也可以采用1×23dB耦合器。唯一的要求是耦合器14的PDL与耦合器12的PDL匹配。无源光学元件14也可以利用1×1器件实现，例如手动偏振控制器。
测量单元30由检测器32和处理器34组成。检测器可以是任何已知的类型，但是这里以HP81524A/B为例。对于本领域内技术人员来说，根据测量装置10所需的复杂度水平而改动和变动检测器32是显而易见的。例如，可以采用任何合适的功率计来检测从DUT出射的光信号强度。处理器34可以是任何已知的类型，但是这里以利用标准接收机通信接口(例如IEEE-488接口)的个人接收机或工作站为例。从DUT出射的光纤的强度值由检测器32测量并且送至处理器34。器件PDL被计算和显示出来。
根据本发明，并且如图2所示，测量偏振依赖损失的装置10可以进一步包括标度前向传输模式下PDL测量的标度单元40。标度单元40包括使无源光纤元件14相对无源光学元件12定位的可旋转台组件42。可旋转台组件42连接至电机44并由其驱动。电机44受测量单元30控制，该单元在标度单元40内的作用相当于环路控制器。测量单元30连接至无源光学元件14以构成闭环控制环路。
可旋转台组件42可以是任何已知类型，但是这里以Newport制造的旋转台组件为例。对于本领域内技术人员来说，根据成本和精度求而改动和变动旋转台组件40是显而易见的。例如，Newfocus也生产旋转台组件。
电机44可以是任何已知类型，但是这里以步进电机为例，它以递增步进方式驱动可旋转组件42。对于本领域内技术人员来说，根据成本和测量要求而改动和变动电机44是显而易见的。例如，也可以采用变速连续驱动电机。
本领域内的普通技术人员将会认识到，测量软件子程序和标度软件子程序是驻留在处理器34存储器内软件程序的一部分。
实例1本发明将通过作为示意性质的下列实例得到进一步的阐释。耦合器12为PDL为0.029dB而单色谱响应在1.5微米光通信段内的2×23dB耦合器。耦合器14为PDL为0.032dB而单色谱响应在1.5微米光通信段内的2×23dB耦合器。因此残余PDL的最小值为0.003dB。当然，可以将耦合器12与14选择为它们的PDL与几千分之一dB匹配。这将使残余PDL不超过0.001dB。
在标度期间，激光器22发射中心波长在1.5微米波段内的窄带信号。偏振控制器24使光线随机地遍历所有偏振状态并且将最终的标度信号导入耦合器12。标度信号通过耦合器12和14传播并且由测量单元30测量。测量单元30利用下列方程计算残余PDLPDL=Log10[PoutmaxPin]-Log10[PoutminPim]---(1)]]>测量单元30采用测得的PDL值作为误差信号以驱动电机44和旋转台42。因此随着旋转台组件42使耦合器14相对耦合器12旋转，测得的残余PDL发生变化并且测量单元30驱动电机44和旋转台42直到PDL为零或达到最小值。如果耦合器12和14完美地匹配，则残余PDL将降低为接近零。如果耦合器12与14匹配得不完美，则将出现最小值。在上述实例中，残余PDL的最小值为0.003dB。因此测量单元30将该值与测量值比较以确保测量值为零或最小。该信息也可用于诊断目的以对标度组件40的性能作出评估。一旦PDL为零，耦合器14就固定在位置上并且完成测量子程序。如图1所示，在该点上，用DUT代替测量单元30并且DUT的输出连接至测量单元30。
随后，激光器发射中心波长在1.5微米波段内的窄带信号。偏振控制器24使光线随机遍历所有的偏振状态并且将最终的光信号导入耦合器12。光信号经过耦合器12和14传播。如上所述，标度的作用是消除耦合器12和14中自身固有的PDL噪声。因此射出耦合器14并且导入DUT的测试输入信号仅仅包含微不足道的PDL。测试信号在DUT内传播并且DUT的输出被导入测量单元30。测量单元30利用上述方程(1)计算DUT输出信号的复合PDL。DUT的PDL利用下列方程计算PDL＝CPDL-RPDL (2)其中PDL等于DUT的PDL，CPDL指的是复合PDL，而RPDL为残余PDL。如果耦合器12和14的PDL匹配得不完美，则即使在标度后，测试输入信号仍将包含残余PDL噪声。由于PDL是叠加的，因此该残余PDL噪声必须从DUT输出处测得的复合PDL中扣减。
在本发明的另一实施例中，如本实施例和图3所示的那样，本发明工作在前向传输模式和背反射模式下。因此可以检测和测量前向传输模式和背反射模式下Mach-Zehnder的PDL。它还可以测量注入光栅之类反射器件的PDL。装置10包括连接至耦合器12的光源20。耦合器12连接至耦合器14的端口140。如上所述，耦合器14相对耦合器12旋转直到耦合器14的PDL抵消耦合器12的PDL。如上所述，耦合器14的旋转作为标度子程序的一部分。耦合器14的端口142连接至DUT。因此，反射信号被导向端口142并且退出耦合器14的端口144。端口144连接至无源光学元件16。无源光学元件16按照耦合器14相对耦合器12旋转的方式相对耦合器14旋转。无源光学元件16相对耦合器14旋转直到无源光学元件16的PDL抵消耦合器14的PDL。无源光学元件16的旋转作为第二实施例标度的一部分，并且将在下面讨论。无源光学元件16的输出连接至测量单元30。测量单元30还可以包括检测从前向传输模式下DUT出射的光线的检测器36。检测器36连接至处理器34。因此测量单元30能够同时计算前向传输模式和背传输模式的PDL。
无源光学元件16可以是任何合适的已知类型，但是这里以2×23dB耦合器为例。对于本领域内技术人员来说，根据所需的端口数而改动和变动无源光学元件16是显而易见的。例如，也可以采用1×23dB耦合器。任何脱离支架(off-the shelf)型耦合器都是合适的。唯一的要求是耦合器16的PDL与耦合器14的PDL匹配。无源光学元件16也可以用手动偏振控制器之类的1×1器件实现。光源20、耦合器12、耦合器14和测量单元30已经在第一实施例中作了讨论。
按照本发明，并且如图4所示，本发明第二实施例进一步包括标度背向反射PDL测量的标度单元40。包括旋转台组件42、电机44和测量单元30的标度单元40与前向传输模式PDL测量中讨论的标度单元40相同并且标度方法也相同。
实例2本发明第二实施例将通过作为示意性质的下列实例得到进一步的阐释。耦合器12为PDL为0.029dB而单色谱响应在1.5微米光通信段内的2×23dB耦合器。耦合器14为PDL为0.032dB而单色谱响应在1.5微米光通信段内的2×23dB耦合器。因此耦合器12与14的残余PDL最小值为0.003dB。耦合器16为PDL为0.026dB而单色谱响应在1.5微米光通信段内的2×23dB耦合器。因此耦合器14与16的残余PDL最小值为0.006dB。当然，可以将耦合器12、14和16选择为它们的PDL与几千分之一dB匹配。以这种方式选择耦合器将使残余PDL不超过0.001dB。
图4示出了第二实施例的标度。耦合器14的标度在第一实施例中已经作了描述并且对于第二实施例也是相同的。第二实施例的标度还包括标度耦合器16的步骤。在耦合器16的标度期间，激光器22发射中心波长在1.5微米波段内的窄带信号。偏振控制器24使光线随机地遍历所有偏振状态并且将最终的标度信号导入耦合器14的端口142以模拟反射信号。标度信号通过耦合器14和16传播并且由测量单元30测量。测量单元30利用上述方程(1)计算残余PDL。因此，如果耦合器14和16完美地匹配，则测量单元30测得的残余PDL将降低为接近零。如果耦合器12与14匹配得不完美，则将出现最小值。在这种情况下，耦合器14与16之间的残余PDL为0.006dB。一旦PDL为零或为最小值，耦合器16就固定在位置上用于DUT的测量。
如图3所示，光源20从耦合器14断开并且连接至耦合器12。耦合器14连接至DUT。随后，激光器22发射窄带信号并且偏振控制器24使光线随机遍历所有的偏振状态并且将最终的光信号导入耦合器12。光信号经过耦合器12和14传播。如上所述，标度的作用是消除耦合器12和14中自身固有的PDL噪声。因此退出耦合器14并且导入DUT的测试输入信号仅仅包含微不足道的PDL。测试信号由DUT反射并且导入耦合器14的端口142。耦合器14使光信号从端口144导入耦合器16。测试输出信号射出耦合器16并且导入测量单元30。测量单元30利用上述方程(1)计算DUT反射信号的PDL。DUT的PDL利用方程(2)计算。
对于本领域内技术人员来说，在不偏离本发明精神和范围的前提下对本发明作出各种修改和改动是显而易见的。因此本发明涵盖落在所附权利要求限定范围的修改和改动以及它们的等价替换。
权利要求
1.一种利用随机偏振光信号测量被测试光学器件的偏振依赖损失的装置，所述装置产生导入被测试光学器件内的测试输入信号，其特征在于所述装置包括连接至所述光源的第一无源光学元件，其中所述第一无源光学元件具有第一偏振损失损失；以及连接至所述第一无源光学元件并且具有基本上等于所述第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失的第二无源光学元件，所述第二无源光学元件相对所述第一无源光学元件放置为使所述第二偏振依赖损失基本上抵消所述第一偏振依赖损失并且输出偏振依赖损失等于第一最小值的测试输入信号。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于光源进一步包括发射窄带光信号的激光光源；以及连接至所述激光光源和第一无源光学元件的偏振控制器，其中所述偏振控制器使所述窄带光信号随机偏振从而产生光信号。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于光源进一步包括发射宽带光信号的光源；以及连接至所述宽带光源的对所述宽带光信号进行滤光从而产生窄带光信号的窄带滤光片；以及连接至所述窄带滤光片和第一无源光学元件的偏振控制器，其中所述偏振控制器使所述窄带光信号随机偏振从而产生光信号。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于进一步包括与测试下光学器件输出相连的测量单元，用于测量器件输出信号并计算被测试光学器件的偏振依赖损失；以及连接至第二无源光学元件的标度组件，用于标度前向传输模式下的测量，所述标度器件使第二无源光学器件旋转以响应标度信号，从而使第二偏振依赖损失基本上抵消第一偏振依赖损失。
5.如权利要求4所述的装置，其特征在于测量单元进一步包括连接至被测试器件的光检测器；以及连接至所述光检测器的计算装置，所述计算装置包括具有测量子程序和标度子程序的软件程序。
6.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一无源光学器件和第二无源光学器件为耦合器。
7.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一最小值等于第一偏振依赖损失减去第二偏振依赖损失的绝对值。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于第一最小值小于0.001dB。
9.如权利要求1所述的装置，其特征在于测试输入信号由光学器件反射入第二无源光学元件从而产生导入第二无源光学元件输出的测试输出信号。
10.如权利要求9所述的装置，其特征在于进一步包括连接至第二无源光学元件的输出并且具有基本上等于所述第二偏振依赖损失的第三偏振依赖损失的第三无源光学元件，所述第三无源光学元件相对所述第二无源光学元件放置为使所述第三偏振依赖损失基本上抵消所述第二偏振依赖损失，从而使测试输出信号具有基本上等于第二最小值的偏振依赖损失。
11.如权利要求10所述的装置，其特征在于第二最小值等于第二偏振依赖损失减去第三偏振依赖损失的绝对值。
12.如权利要求11所述的装置，其特征在于第一最小值小于0.001dB。
13.如权利要求10所述的装置，其特征在于第一无源光学器件、第二无源光学器件和第三无源光学器件为耦合器。
14.如权利要求10所述的装置，其特征在于进一步包括与第三无源光学元件相连的测量单元，用于测量测试输出信号并计算被测试光学器件的偏振依赖损失；以及连接至第二无源光学元件和第三无源光学元件的标度组件，用于标度前向传输模式和背向反射模式下的测量。
15.如权利要求14所述的装置，其特征在于测量单元进一步包括连接至被测试器件的光检测器；以及连接至所述光检测器的计算装置，所述计算装置包括具有测量子程序和标度子程序的软件程序。
16.如权利要求15所述的装置，其特征在于测量装置通过下式计算测试输出信号偏振依赖损失PDL=Log10[PoutmaxPin]-Log10[PoutminPin]---(1)]]>其中PDL为以分贝为单位的所述测试输出信号偏振依赖损失，Pout max为测试输出信号的最大功率，Pout min为测试输出信号的最小功率，Pin为测试输入信号的功率。
17.如权利要求16所述的装置，其特征在于被测试光学器件的偏振依赖损失等于输出信号偏振依赖损失减去第二最小值。
18.如权利要求14所述的装置，其特征在于标度组件进一步包括可旋转台组件，用于旋转前向传输标度模式下的第二无源光学元件和背向反射标度模式下的第三无源光学元件；以及电机组件，用于驱动所述可旋转台组件以响应来自测量单元的信号，其中所述可旋转台、所述电机组件和测量单元构成前向传输标度模式和背向反射标度模式期间的控制环路。
19.如权利要求18所述的装置，其特征在于测量单元驱动电机以使第二无源光学元件相对所述第一无源光学元件旋转直到标度信号的偏振依赖损失基本上等于第一最小值。
20.如权利要求19所述的装置，其特征在于第一最小值等于第一偏振依赖损失减去第二偏振依赖损失的绝对值。
21.如权利要求18所述的装置，其特征在于测量单元驱动电机以使第三无源光学元件相对所述第二无源光学元件旋转直到标度信号的偏振依赖损失基本上等于第二最小值。
22.如权利要求18所述的装置，其特征在于测量单元与前向传输标度模式下的第二无源光学元件光连接并且与背向反射标度模式下的第三无源光学元件光连接，从而测量标度信号功率并且根据所述标度信号功率产生误差信号，其中测量单元驱动电机组件直到所述误差信号等于前向传输标度模式下的第一最小值和背向反射标度模式下的第二最小值。
23.一种利用一种装置测量光学器件偏振依赖损失的方法，装置包括发射随机偏振的光信号的光源、连接至光源的第一无源光学元件，其中第一无源光学元件具有第一偏振依赖损失，其特征在于所述测量方法包括以下步骤提供具有基本上等于第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失并且在相对位置上连接至第一无源光学元件从而使第二偏振依赖损失基本上抵消第一偏振依赖损失的第二无源光学元件；使光信号导入第一无源光学元件从而使第二无源光学元件产生测试输入信号，其中测试输入信号具有基本上等于第一最小值的偏振依赖损失；使测试输入信号导入光学器件；以及测量光学器件的输出信号从而确定偏振依赖损失。
24.如权利要求23所述的装置，其特征在于第一最小值等于第一偏振依赖损失减去第二偏振依赖损失的绝对值。
25.如权利要求23所述的方法，其特征在于进一步包括以下步骤提供具有基本上等于所述第二偏振依赖损失的第三偏振依赖损失并且连接至第二无源光学元件的第三无源光学元件，从而使得所述第三偏振依赖损失基本上抵消所述第二偏振依赖损失；使测试输出信号导入第二无源光学元件，其中所述测试输出信号通过使测试输入信号反射离开被测试光学器件而产生；测量所述第三无源光学元件输出处的所述测试输出信号从而产生测试输出测量；以及利用所述测试输出测量计算偏振依赖损失。
26.一种标度用于测量光学器件偏振依赖损失的装置的方法，所述装置包括发射随机偏振的光信号的光源和具有第一偏振依赖损失的第一无源光学元件，其特征在于所述标度方法包括以下步骤提供具有基本上等于第一偏振依赖损失的第二偏振依赖损失并且连接至第一无源光学元件的第二无源光学元件；使光信号导入第一无源光学元件从而创建射出第二无源光学元件的标度信号；以及旋转第二无源光学元件直到标度信号的第一标度偏振依赖损失等于第一最小值。
27.如权利要求26所述的装置，其特征在于第一最小值等于第一偏振依赖损失减去第二偏振依赖损失的绝对值。
28.如权利要求26所述的方法，其特征在于进一步包括以下步骤提供具有基本上等于所述第二偏振依赖损失的第三偏振依赖损失并且连接至第二无源光学元件的第三无源光学元件；使光信号导入第二无源光学元件从而使第二标度信号射出所述第三无源光学元件；以及旋转所述第三无源光学元件直到所述第三偏振依赖损失基本上抵消第二偏振依赖损失并且所述第二标度信号的第二标度偏振依赖损失等于第二最小值。
29.如权利要求28所述的装置，其特征在于第二最小值等于第二偏振依赖损失减去第三偏振依赖损失的绝对值。
全文摘要
所揭示的测量偏振依赖损失的装置的特征在于一前一后组合起来并且取向使得测量系统PDL噪声降低至忽略不计水平的几个光纤光学耦合器。通过匹配耦合器的PDL并且矢量化减去偏振的相反相位,实际上消除了测量系统的PDL。因此PDL噪声水平降低至零附近并且被测试光学器件(DUT)的PDL可以精确测量。由于系统测量了工作于反射模式或前向传输模式的光学器件的PDL,所以以较少花费实现和提供了多功能。这样,它提供了对两种类型器件的PDL测量的解决方案。
文档编号G01M11/02GK1348543SQ00806621
公开日2002年5月8日 申请日期2000年4月7日 优先权日1999年4月26日
发明者M·A·马罗, W·E·施米特, M·A·萨马, G·E·威廉斯 申请人:康宁股份有限公司