专利名称：集成电路测试分类机的测试头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试头，特别是涉及一种集成电路测试分类机使用的测试头。
一般在测试成品的集成电路(IC)时，是利用一集成电路测试分类机来移动以分类待测的集成电路。而此种集成电路测试分类机具有一测试头1，用来接触待测的集成电路2，以移动此集成电路2。如
图1，是以往测试头的分解图。此测试头1包括一连接管11、一弹簧12、一气管13、一底座14以及一保护罩15。连接管11具有一贯穿两端的一通道11 1及位于连接管11的一端上且于该通道11 1的周围处凹设的一定位部112，而定位部112的内径是大于通道111的内径并与该通道111连通。该气管13是穿过连接管11的通道111，其一端设置有橡胶制成的吸嘴131，用以接触待测的集成电路，而于接近另一端位置外套设一O型环132，用以填补气管13与通道111间的间隙，并于O型环132与吸嘴131之间的气管13外壁面上凸设一凸缘133，该凸缘133容放于连接管11的定位部112中。弹簧12是套接于该气管13外，并在连接管11的定位部112与通道111相接的环壁上更凹设一配合弹簧12的容放部113，用以容放弹簧12，所以弹簧12的一端顶抵容放部113的壁面，而另一端抵触气管13的凸缘133，用以抵压该气管13向下移动。该底座14也具有对应该连接管11的通道111位置与尺寸而设置且贯穿两端的通道141。而如图2，该底座14与保护罩15是以螺丝16锁固于该连接管11上，组装后，气管13的凸缘133夹置于连接管11与底座14之间，以定位该气管13，而气管13位于连接管11与底座14的通道111、141中，气管13的一端的吸嘴131穿出该底座14，以及另一端穿出该连接管11可与一真空气泵连通。
利用上述构件与组装关系，请一并参照图2，当真空气泵动作而吸取气管13内的空气，让气体依箭头17的方向被吸入，且连带吸取集成电路2，让集成电路2抵靠在吸嘴131上，而后可移动该集成电路2，该真空气泵停止动作以释放该集成电路2至一预定位置进行测试，在测试后，可再利用真空气泵来控制吸嘴131对集成电路2的吸放的动作。但由于橡胶制的吸嘴131在吸放集成电路2的过程中，会因为摩擦而产生静电并附着在集成电路2上，所以若此静电电压太高或集成电路2耐静电电压太低时，即造成集成电路打穿或破坏的情形。
本实用新型的一个目的在于提供一种可达到避免静电效应的效果的集成电路测试分类机的测试头。
本实用新型的另一目的在于提供一种可达到组装容易与降低成本的功效的集成电路测试分类机的测试头。
本实用新型的再一目的在于提供一种可达到防止真空漏气的效果的集成电路测试分类机的测试头。
所以，为达到上述的目的，本实用新型的集成电路测试分类机的测试头，包括一定位组件及一气管。该定位组件是可组装于一集成电路测试分类机中并具有一贯穿的容放空间。该气管是穿设于该定位组件的容放空间中，该气管的一端可连接一真空气泵，而另一端可直接接触一待测的集成电路。借此，当该真空气泵动作时，该气管吸取该集成电路以与该气管的管壁接触，而当该真空气泵不动作时，该气管释放该集成电路。
下面通过最隹实施例对本实用新型的集成电路测试分类机的测试头进行详细说明，附图中图1是以往测试头的分解剖视图。
图2是图1中以往测试头的组合与一集成电路的示意图。
图3是本实用新型较隹实施例的分解剖视图。
图4是本实用新型较隹实施例的组合与一集成电路的示意图。
请参考图3所示，是本实用的较佳实施例，其包括一定位组件3、一气管4、一防漏气环5及一保护罩6。
本实施例的定位组件3是由一连接管31、一弹性元件32及一底座33所构成。
该连接管31是可组装于该集成电路测试分类机中。该连接管31具有一与该气管4的管径配合且贯通两端的第一通道311以及一位于该连接管31的一端且由该第一通道311周围处凹设的卡置部312。该卡置部312是与该第一通道311连通，且该卡置部312包含一位于连接管31的一端的定位部3121以及一容放部3122。而容放部3122是由定位部3121与第一通道311相接处向内凹设所形成并与该第一通道311相连通。此外，容放部3122的内径是小于定位部3121的内径但大于第一通道311的内径，致使容放部3122分别在与定位部3121及第一通道311相接处形成阶面。
在本实施例中，该弹性元件32为一弹簧，且该弹簧32的外径是与该容放部3122的内径配合，以组装于该连接管31的容放部3122中。
该底座33是衔接该连接管31，并具有与连接管31的第一通道311的位置与尺寸对应的一第二通道331，致使组装后第二通道331与第一通道311相连通，以形成一供容放气管4的容放空间，而在本实施例中，底座33是以四个螺丝34螺锁固定于该连接管31上。
再者，该气管4的外径是小于定位组件3的该等通道311、331的内径，以穿于该等通道311、331中，而该气管4的外壁面对应连接管31的卡置部312的位置处设有一凸缘41。在本实施例中，该凸缘41的尺寸是大于该卡置部312的容放部3122且小于该定位部3121，致使组装后，该凸缘41会位于定位部3121中且受该弹性元件32的顶抵而抵触底座33，以定位于该定位组件3中。
此外，该防漏气环5是套接于气管4外壁面且位于该凸缘41的下方，而本实施例中的防漏气环5的内径是配合气管4的外径，而其外径是配合该第二通道331的内径，致使组装后，该防漏气环5是位于该连接管31的定位部3121中，且受气管4的凸缘41顶抵与底座33紧密接触，以阻隔该卡置部312与该第二通道331间的空气流通。
在本实施例中，该保护罩6是以四螺丝34螺锁固定于该连接管31上，且该保护罩6的周壁是包围该底座33。
请一并参照图4，就上所述构件与组装关系，组装时，首先分别将弹性元件32与防漏气环5分别套接在气管4的凸缘41的上与下，而后整体置入连接管31中，让气管4的一端通过第一通道311且凸出该连接管31，而后让气管4的另一端通过底座33的第二通道331后，分别将底座33与保护罩6对应螺锁于连接管31上而完成组装。借此，气管4的凸缘41与防漏气环5位于连接管31的定位部3121中，且凸缘41受弹性元件32的抵压而压制防漏气环5，让防漏气环5与底座33及凸缘41紧密接触且紧贴底座33的第二通道331的环壁，因而阻隔卡置部312与第二通道331之间的空气流通。
请一并参照图4，本实施例的测试头组装于一集成电路测试分类机中，而其中气管4露出于连接管31的一端是可连接于一真空气泵(图未示)，而测试头的下方(即位于气管4的另一端的下方)置放一待测的集成电路7，当真空气泵运转时，将空气由气管4的另一端吸入，因此空气的流动对集成电路7产生沿键头8方向的吸力，让集成电路7接近至接触气管4，以达到测试头吸取集成电路7的动作，以便让集成电路7进行测试。测试后，利用真空气泵的停止运转，使对集成电路7的吸力解除而释放集成电路7。由此可知，在本案的测试头的吸放过程中，集成电路7是直接接触测试头的气管4的管壁，不同于以往是与吸嘴接触，因而可避免以往因与橡胶制吸嘴接触摩擦而产生静电效应，以达到避免集成电路7被测试头的吸放动作所产生的静电打穿或破坏的功效，进而具有提高集成电路良品率的效果。且本实用新型相较于以往节省一组件(即指吸嘴)，所以具有成本可相对降低而组装也较容易的优点。此外，由于防漏气环5可有效阻隔连接管31的卡置部312与底座33的第二通道331之间的空气流通，因而真空气流经气管4吸真空时，会连带吸取第二通道331与气管4间的空气，且由于防漏气环5的阻隔，让第二通道331与气管4间会保持真空状态，因此具有防止真空漏气的优点。
权利要求1.一种集成电路测试分类机的测试头，包括一定位组件与一气管，其特征在于该定位组件是可组装于一集成电路测试分类机中并具有贯穿该定位组件的一容放空间；该气管是穿设于该定位组件的容放空间中，该气管的一端可连接一真空气泵，而另一端可直接接触一待测的集成电路。
2.如权利要求1所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该定位组件是包括一连接管与一底座，该连接管是可组装于该集成电路测试分类机中并具有一与该气管配合的第一通道以及一位于该连接管的一端且与该通道连通的卡置部，及该底座是衔接该连接管并具有与该第一通道相连通的第二通道，以形成该容放空间。
3.如权利要求2所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该气管的外壁面对应该连接管的卡置部的位置处设有一凸缘，该凸缘是位于该卡置部中且受该底座的顶抵而定位在该定位组件中。
4.如权利要求3所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该定位组件更包括一位于该连接管的卡置部与该气管的凸缘之间的弹性元件，用以顶抵该气管的凸缘接近该底座。
5.如权利要求2-4中任一所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该测试头更包括一套接于该气管外壁面的防漏气环，而该防漏气环是位于该连接管的卡置部中，用以阻隔该卡置部与该第二通道间的空气流通。
6.如权利要求2-4中任一所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该测试头更包括一保护罩，是衔接该连接管并包围该底座。
7.如权利要求4所述的集成电路测试分类机的测试头，其特征在于该弹性元件为一弹簧。
专利摘要一种集成电路测试分类机的测试头,包括一定位组件与一气管,其中该定位组件是可组装于一集成电路测试分类机中且具有一贯穿的容放空间,该气管置于容放空间中,该气管的一端可连接一真空气泵而另一端接近一待测的集成电路,由此,当该真空气泵动作时,该气管吸取该集成电路以直接与该气管的管壁接触,而当该真空气泵不动作时,该气管释放该集成电路,进而达到有效避免因吸放动作而产生的静电效应与防止真空漏气的功效。
文档编号G01R31/28GK2482099SQ01218618
公开日2002年3月13日 申请日期2001年4月9日 优先权日2001年4月9日
发明者谢来福, 谢宜璋, 黄清荣, 廖沐盛 申请人:矽统科技股份有限公司