推利液位传感器自动测试装置制造方法

文档序号:26897阅读:453来源:国知局
专利名称:推利液位传感器自动测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开推利液位传感器自动测试装置,该装置包括上位机和测试仪,上位机向测试仪发送测试指令,所述测试仪解析测试指令而获得控制信号,根据该控制信号接入至少一个测试产品,对测试产品进行测试而获得测量数据,传输测量数据至所述上位机,这样,整个过程完全自动化,很大的提高了传感器的测试效率,并减少人工记录的出错率。
【专利说明】推利液位传感器自动测试装置

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及自动测试装置,尤其涉及推利液位传感器自动测试装置,该装置。

【背景技术】
[0002]现有的测试方法都是针对各自的产品进行设计,没有统一性,均是人工测试,生产效率很低,生产周期较长,而且传感器试验项目多,且多种产品的测试项目又不等同使得测试效率进一步降低。在测试时,采用人工记录,出错率高。


【发明内容】

[0003]本实用新型解决的问题是现有测试方法效率低且出错率高的问题。
[0004]为解决上述问题,本实用新型提供一种推利液位传感器自动测试装置,该装置包括上位机和测试仪,上位机向测试仪发送测试指令,所述测试仪解析测试指令而获得控制信号,根据该控制信号接入至少一个测试产品,对测试产品进行测试而获得测量数据,传输测量数据至所述上位机。
[0005]在进一步方案中,所述测试仪包括处理模块、接口转换模块和测量电路,其中,所述处理模块接收测试指令并解析指令,所述接口转换模块根据解析结果选择测试产品,所述测量电路对测试产品进行测试而获得测量数据,所述处理模块采集测量数据并传输测量数据至上位机。
[0006]在进一步方案中,所述处理模块还记录测试产品的通电时间,传输通电时间至所述上位机。
[0007]与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:
[0008]本实用新型通过上位机发送测试指令而选择相应的测试产品,由测试仪对测试产品进行测试而获得测量数据并传输测量数据至上位机,整个过程完全自动化,能实现各类传感器在高低温循环试验、振动试验中能实现自动检测功能,所以,很大的提高了传感器的测试效率,并减少人工记录的出错率。

【附图说明】

[0009]图1是本实用新型推利液位传感器自动测试装置的原理框图。

【具体实施方式】
[0010]为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所达成目的及功效,下面将结合实施例并配合附图予以详细说明。
[0011]请参阅图1,本实用新型推利液位传感器自动测试装置包括上位机I和测试仪2。上位机I向测试仪2发送测试指令,所述测试仪2解析测试指令而获得控制信号,根据该控制信号接入至少一个测试产品,对测试产品进行测试而获得测量数据,传输测量数据至所述上位机I。所述测试仪2在本实施方式中包括处理模块21、接口转换模块22和测量电路23。所述处理模块21接收测试指令并解析指令。所述接口转换模块22根据解析结果选择测试产品,比如,该接口转换模块22可以是模拟开关,在接收解析结果时候闭合而将被测产品接入测试仪,这样,通过电子开关实现对多个推利液位传感器产品,完成一个产品所需时间为2秒,不仅在测试产品的数量上提高到一个新的高度,而且,测试效率高。所述测量电路23对测试产品进行测试而获得测量数据,该测量数据比如是电压和功耗。所述处理模块21采集测量数据并传输测量数据至上位机I。上位机I内的的软件系统对测量数据进行数据显示、分析、保存和打印等操作。
[0012]综上所述,本实用新型通过上位机发送测试指令而选择相应的测试产品,由测试仪对测试产品进行测试而获得测量数据并传输测量数据至上位机1,整个过程完全自动化,能实现各类传感器在高低温循环试验、振动试验中能实现自动检测功能,所以,很大的提高了传感器的测试效率,并减少人工记录的出错率,当接口转换模块22采用电子开关时,进一步提高了传感器的测试效率。另外,所述处理模块21还记录测试产品的通电时间,传输通电时间至所述上位机1,这样,可以在老化试验中实现累计时间功能。
[0013]本实用新型的推利液位传感器自动测试装置,上位机和测试仪均可采用现有设备,即本实用新型的发明点在于部件的组合,而不是部件本身。
【权利要求】
1.推利液位传感器自动测试装置,其特征是:该装置包括上位机和测试仪,上位机向测试仪发送测试指令,所述测试仪解析测试指令而获得控制信号,根据该控制信号接入至少一个测试产品,对测试产品进行测试而获得测量数据,传输测量数据至所述上位机。2.如权利要求1所述推利液位传感器自动测试装置,其特征是:所述测试仪包括处理模块、接口转换模块和测量电路,其中,所述处理模块接收测试指令并解析指令,所述接口转换模块根据解析结果选择测试产品,所述测量电路对测试产品进行测试而获得测量数据,所述处理模块采集测量数据并传输测量数据至上位机。3.如权利要求2所述推利液位传感器自动测试装置,其特征是:所述处理模块还记录测试产品的通电时间,传输通电时间至所述上位机。
【文档编号】G01F25-00GK204286551SQ201420705884
【发明者】徐涛, 梁世盛, 季华梅, 王海军 [申请人]上海航天设备制造总厂
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