专利名称：多波段光轴一致性测试仪的制作方法
专利说明
一、技术领域本实用新型涉及光学测试技术领域，尤其是一种用于多波段光轴一致性测试的测试仪。
二背景技术：
在光轴一致性测试设备中，目前多采用的是单一波段光轴一致性测试设备，其只能进行可见光波段设备之间或红外波段设备之间的光轴一致性测试。近年来，随着多波段光电设备在同一产品中的使用，它们之间的光轴一致性问题成为衡量系统性能的一个重要内容。过去单一的测试设备由于覆盖波段范围窄而无法满足当前的测试需求。
三、实用新型内容本实用新型解决了背景技术中存在的无法对多波段光轴进行一次性测试的技术问题。
本实用新型的技术解决方案是一种多波段光轴一致性测试仪，其特殊之处在于该测试仪包括离轴抛物面反射镜1、反射镜2、分光镜3、温控电路5、十字丝6、可见光源7和图像采集处理模块4，可见光源7的光路上依次设置有十字丝6和分光镜3，十字丝6接有温控电路5，分光镜3的一路光路上设置有图像采集处理模块4，另一路光路上设置有反射镜2，反射镜2的光路上设置有离轴抛物面反射镜1。
上述图像采集处理模块4由CCD、图像采集卡和计算机构成。
上述十字丝6由半径小于0.1mm的电热合金丝制成。
上述十字丝6由辐射率较高的金属十字靶板制成。
本实用新型采用离轴抛物面反射结构，在装置焦面位置设置有可温控的十字丝，其后分别设置可见光源和温控电路，从而为可见光设备和红外设备提供瞄准基准；另一端设置有图像采集处理模块，通过从可见到红外波段都响应的多光谱分光镜即可采集到激光设备的光斑图像。本实用新型有效解决了多波段光电设备之间的光轴一致性测试，其具有测试波段宽、测试精度高、自动化程度高等优点。
四
附图为本实用新型的结构示意图。
五具体实施方式
参见附图，本实用新型包括离轴抛物面反射镜1、反射镜2、分光镜3、温控电路5、十字丝6、可见光源7和图像采集处理模块4，可见光源7的光路上依次设置有十字丝6和分光镜3，十字丝6接有温控电路5，光镜3的一路光路上设置有图像采集处理模块4，另一路光路上设置有反射镜2，反射镜2的光路上设置有离轴抛物面反射镜1。图像采集处理模块4由CCD、图像采集卡、计算机组成。分光镜3为多光谱分光镜。十字丝6可以用小于0.1mm的电热合金丝制成，通过温控电路使十字丝6温度改变。十字丝6还可以用辐射率较高的金属十字靶板制成，此时的温控电路需变成黑体，通过改变黑体的温度，使金属十字靶板温度改变。黑体和可见光源可通过一导轨进行互换，分别为红外和可见光设备提供瞄准基准。
工作时，将本实用新型放置于平行光管前，以其中的红外设备或可见光设备作为瞄准基准，直接瞄准焦面上的十字目标，可得到可见与红外设备之间的光轴偏差量；同时该设备发出的激光光斑通过多光谱分光镜3成像于CCD上，通过视频线输出到图像采集卡，得到激光光斑的图像，这时焦面上的十字目标也通过多光谱分光镜3成像于CCD靶面上，成为可见光和红外瞄准设备的瞄准基准，从而可以计算出激光光斑与可见光、红外设备之间的光轴偏差量。
权利要求1.一种多波段光轴一致性测试仪，其特征在于该测试仪包括离轴抛物面反射镜(1)、反射镜(2)、分光镜(3)、温控电路(5)、十字丝(6)、可见光源(7)和图像采集处理模块(4)，所述可见光源(7)的光路上依次设置有十字丝(6)和分光镜(3)，所述十字丝(6)接有温控电路(5)，所述分光镜(3)的一路光路上设置有图像采集处理模块(4)，另一路光路上设置有反射镜(2)，所述反射镜(2)的光路上设置有离轴抛物面反射镜(1)。
2.根据权利要求1所述的多波段光轴一致性测试仪，其特征在于所述图像采集处理模块(4)由CCD、图像采集卡和计算机构成。
3.根据权利要求1或2所述的多波段光轴一致性测试仪，其特征在于所述十字丝(6)由半径小于0.1mm的电热合金丝制成。
4.根据权利要求1或2所述的多波段光轴一致性测试仪，其特征在于所述十字丝(6)由辐射率较高的金属十字靶板制成。
专利摘要本实用新型涉及一种用于多波段光轴一致性测试的测试仪。其包括离轴抛物面反射镜1、反射镜2、分光镜3、温控电路5、十字丝6、可见光源7和图像采集处理模块4，可见光源7的光路上依次设置有十字丝6和分光镜3，十字丝6接有温控电路5，分光镜3的一路光路上设置有图像采集处理模块4，另一路光路上设置有反射镜2，反射镜2的光路上设置有离轴抛物面反射镜1。本实用新型解决了背景技术中存在的无法对多波段光轴进行一次性测试的技术问题。
文档编号G01M11/02GK2769875SQ20042008634
公开日2006年4月5日 申请日期2004年12月9日 优先权日2004年12月9日
发明者刘朝晖, 张恒金, 黄静 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所