专利名称：一种绝缘阻抗测试方法
技术领域：
本发明是有关于一种绝缘阻抗测试方法，且特别是有关于一种测试薄膜电路板导线的绝缘阻抗测试方法。
背景技术：
传统测试薄膜电路板的绝缘阻抗的仪器一般是用电表，通过电表的测试棒来测试薄膜电路板上的排线，但导线与导线之间需要一一测试，才能得知此薄膜电路板的绝缘性是否良好，以24条导线为例，其测试24条导线的排列组合就有276种组合，测试起来相当费时费力，而且非常不方便，因此不适合使用在产品的测试上。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的就是在提供一种绝缘阻抗测试方法，将复杂的测试组合，先扣除重复测试的部分，再以区分群组的方式来简化测试的次数，因此，本发明可利用最少的测试次数来有效地测试出所有导线间彼此的绝缘阻抗。
根据本发明的目的，提出一种绝缘阻抗测试方法，用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗，此绝缘阻抗测试方法包括(a)对第1至第M条的导线，定义M的条件需满足2n＜M≤2n+1，且n为正整数；(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，i的初始值为1，各群的导线数分别为N1，N2，且N1≥N2；(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的导线分别短路；(d)测试奇数群及偶数群的导线间的绝缘阻抗值；(e)当i小于n+1时，将i递增1；当i大于或等于1时，结束此绝缘阻抗测试方法；以及(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，各群的导线数分别为N1，N2，...N2i，且N1≥N2≥...≥N2i，并重复步骤(c)。
为让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
图1绘示为依照本发明一较佳实施例的绝缘阻抗测试方法的流程图。
图2绘示为24条导线的排列组合图。
101、103、105、107、109区域具体实施方式
本发明的主要构想是将复杂的测试组合，先扣除重复测试的部分，再以区分群组的方式来简化测试的次数，是以最少的测试次数来确保所有导线彼此之间是相互绝缘。
请参照图1，其绘示为依照本发明一较佳实施例的绝缘阻抗测试方法的流程图。首先如步骤201所示，对待测的M条导线，定义2n＜M≤2n+1，且n为正整数，而n+1代表测试M条导线彼此相互绝缘所需的测试次数。跟着如步骤203所示，将M条导线依序分为导线数为最接近的2i个群组，i的初始值为1，而各群组的导线数分别为N1及N2，且N1≥N2。接着如步骤205所示，将2i个群组中编号为奇数群组的导线互相短路，并将编号为偶数群组的导线互相短路。
然后如步骤207所示，测量短路后的奇数群组的导线与短路后的偶数群组的导线，其二者间是否绝缘，若否，则代表M条导线间有短路发生，需结束测试。接着如步骤209所示，若上述绝缘阻抗符合要求，则判断i是否小于n+1，若否，则代表M条导线测完毕，且彼此之间皆相互绝缘，可结束测试。跟着如步骤211所示，若i小于n+1，则将i递增1。
接着如步骤213所示，将M条导线依序分为导线数为最接近的2i个群组，而各群组的导线数分别为N1，N2，...N2i，且N1≥N2≥...≥N2i。最后再进入步骤205，并依前述相关步骤完成M条导线的绝缘阻抗测试。
请参照图2，其绘示为24条导线的排列组合图。24条导线的排列组合如图2所示有276种，本发明的绝缘阻抗测试方法利用最少的测试次数即完成上述的276种的排列组合，以确保24条导线之间是相互绝缘。举例来说，若导线数M＝24，则2n＜24≤2n+1，而n+1＝5，因此利用本发明的绝缘阻抗测试方法测试24条导线彼此是否相互绝缘，仅需5次即可全部测试完成。
当第1次测量时，需将24条导线分为2i个群组，而i＝1。因此，24条导线分为第1群组及第2群组。第1群组包括第1条～第12条导线，第2群组包括第13条～第24条导线。将第1群组中的第1条～第12条导线互相短路并将第2群组中的第13条～第24条导线互相短路。并测试第1群组与第2群组之间的绝缘阻抗值。若所测得的绝缘阻抗值大于100MΩ则代表第1群组与第2群组是相互绝缘。亦即代表区域101中的各排列组合的导线，彼此间是相互绝缘。
当第2次测量时，i＝2。因此，24条导线分为第1群组、第2群组、第3群组及第4群组。第1群组包括第1条～第6条导线，第2群组包括第7条～第12条导线，第3群组包括第13条～第18条导线，第4群组包括第19条～第24条导线。将第1群组及第3群组中的所有导线互相短路，且将第2群组及第4群组中的所有导线互相短路。并测量两者之间的绝缘阻抗值。若所测得的绝缘阻抗值大于100MΩ则代表两者是相互绝缘。亦即代表区域103中的各排列组合的导线，彼此间是相互绝缘。
以此类推，当第3次测量、第4次测量及第5次测量完毕后，可得知24条导线彼此相互绝缘。亦即代表区域105、区域107及区域109中的各排列组合的导线，彼此间是相互绝缘。
此外，本发明应用于薄膜电路板上，因为薄膜电路板本身会有静电产生，故绝缘阻抗值限定在至少大于100MΩ的实验范围。另外，测试的导线数也可以为其它例如是25或34条导线皆可，且此薄膜电路板也可应用在例如是数字化个人助理(PDA)、手机、笔记本型计算机等键盘上。
本发明上述实施例所揭露的一种绝缘阻抗测试方法，将复杂的测试组合，先扣除重复测试的部分，再以区分群组的方式来简化测试的次数，是以最少的测试次数来有效地测试出所有导线间彼此的绝缘阻抗。在质量管理(Quality Control)上，可减少人力并提高产品测试效率，进而使产品在量产或研发实验上使用得更方便。
综上所述，虽然本发明已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用于限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。
权利要求
1.一种绝缘阻抗测试方法，用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗，该绝缘阻抗测试方法包括(a)对第1至第M条的该些导线，定义M的条件需满足2n＜M≤2n+1，且n为正整数；(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，i的初始值为1，各群的导线数分别为N1，N2，且N1≥N2；(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的该些导线分别短路；(d)测试该奇数群及该偶数群的该些导线间的绝缘阻抗值；(e)当i小于n+1时，将i递增1；当i大于或等于n+1时，结束该绝缘阻抗测试方法；以及(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，各群的导线数分别为N1，N2，...N2i，且N1≥N2≥...≥N2i，并重复步骤(c)。
2.根据权利要求1所述的绝缘阻抗测试方法，是以用于测量薄膜电路板。
3.根据权利要求2所述的绝缘阻抗测试方法，其中测得的该绝缘阻抗值至少大于100MΩ。
4.根据权利要求2所述的绝缘阻抗测试方法，是以用于测量该薄膜电路板的24条导线。
5.根据权利要求2所述的绝缘阻抗测试方法，是以用于测量该薄膜电路板的34条导线。
6.根据权利要求2所述的绝缘阻抗测试方法，该薄膜电路板为笔记本型计算机键盘的薄膜电路板。
全文摘要
一种绝缘阻抗测试方法，用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗，包括(a)对第1至第M条的导线，定义M的条件需满足文档编号G01R31/02GK1987494SQ20051013618
公开日2007年6月27日 申请日期2005年12月20日 优先权日2005年12月20日
发明者林志南 申请人:达方电子股份有限公司