双电源切换装置检测补偿的方法和装置的制作方法

文档序号:6125628阅读:279来源:国知局
专利名称:双电源切换装置检测补偿的方法和装置的制作方法
技术领域
本发明属低压电器领域,涉及双电源切换装置,特别是涉及一种使用线性光电耦合器的电压检测电路的双电源切换装置。
背景技术
为了提高供电电网的用电质量,当供电电源发生故障时,双电源切换装置可以将另一路备用电源切换到供电回路,以保证用电电器的正常工作。一般双电源切换装置,由两台断路器、电动及手动操作机构、位置检测主令开关、控制器组成。双电源切换装置由两台断路器来分别接通和断开各自连接的电源、电动或手动操作机构用来操作所述断路器的机械动作、位置检测主令开关检测断路器的位置来为控制器提供位置信号、控制器对操作机构的电机发出工作指令。而这一切都是在电压检测电路提供的供电电源的电压参数,当供电电源发生故障时电压参数随之改变,双电源切换装置动作。
双电源切换装置传统的电压检测电路一般使用变压器原理的电压互感器,电流大、温升高、特别是它的隔离电容很大干扰很容易进入控制器的微电子电路,给使用微处理器的控制器带来了灾难性的后果。因此使用线性光电耦合器就成了一个很好的选择,但是随之而来的问题是线性光电耦合器的温度补偿是一个难题。

发明内容
本发明的技术问题在于提出一种使用线性光电耦合器的电压检测电路的双电源切换装置的使用线性光电耦合器的电压检测电路的补偿方法和装置,来解决线性光电耦合器的温度补偿问题,提高检测精度和工作稳定性。
本发明的技术方案是在所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路,还包括一个校正用的线性光电耦合器,两者具有相同的工作电流,用比较法来抵消温升的漂移。所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路合校正用的线性光电耦合器是这样组成的检测电压的线性光电耦合器的输入端具有一个按常规设计的与发光管串接限流电阻,而它的输出端也皆有一个串接的限流电阻,限流电阻的上端连接于控制器的直流电源,线性光电耦合器的输出端还连接到微处理器的A/D1口用来读出检测电压。校正用的线性光电耦合器与检测电压的线性光电耦合器同样有分别串接于输入输出端的限流电阻,所不同的是输入端的限流电阻的上端连接于微处理器的D/A口,输出端的连接方法与检测电压的线性光电耦合器相同,只是连接线性光电耦合器的输出端连接到微处理器的A/D2口用来读出比较电压。
补偿的方法是第一步微处理器读出A/D1的数字。
第二步是从D/A口输出电压并且从A/D2读入数字,并且不断调节D/A口的输出,使两个AD口的读数一致。
第三步是用D/A口输出数字和A/D2读入数字之差来换算出A/D2口的限流电阻的电流,该电流等同于校正用的线性光电耦合器的发光管中的电流,也近似等同于检测用的线性光电耦合器的发光管中的电流,当这一对线性光电耦合器为同一型号时两者发光管中的电流相等。同样认为此时与检测用的线性光电耦合器的发光管串接限流电阻中的电流也相等,从而可换算出该限流电阻上的电压,加上A/D2口的读出电压就是检测电压。在此换算过程中温漂被消除。同理检测三相电压用同样方法完成。其间的参数差异在调试时按常规设计用软件补偿。
这样实现的检测,完成了发明目的,基本解决了本发明的技术问题。
按照本发明一个实施例本发明的技术方案可改进为所述的检测用的线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片,可以取得最接近的几乎一致的电参数。从而进一步提高了检测精度。
按照本发明一个实施例,本发明的技术方案可进一步改进为所述的分别检测三相用的三个线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片,可以取得最接近的几乎一致的电参数,从而进一步提高了检测精度。
按照本发明一个实施例,本发明的技术方案可进一步改进为所述的分别检测三相用的三个线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片。所述的芯片具有一个机械散热外壳,来保障四个线性光电耦合器的温升完全一致,完全一致的电参数,从而进一步提高了检测精度。
本发明的有益效果是采用了本发明的光电方案的这种结构的使得看来与温度补偿硬件电路完全无关的电路,得到了理想的补偿效果因此本发明达到了专利法所称的具有突出的实质性特点和显著的进步,并且具有意想不到的效果。


图在图中光耦1即所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路,光耦2为校正用的线性光电耦合器,两者具有相同的工作电流,检测电压的线性光电耦合器的输入端具有一个按常规设计的与发光管串接限流电阻R1,而它的输出端也皆有一个串接的限流电阻R2,限流电阻的上端连接于控制器的直流电源VDD,线性光电耦合器的输出端还连接到微处理器的A/D1口用来读出检测电压。校正用的线性光电耦合器与检测电压的线性光电耦合器同样有分别串接于输入输出端的限流电阻R3和R4,所不同的是输入端的限流电阻R3的上端连接于微处理器的D/A口,输出端的连接方法与检测电压的线性光电耦合器相同,只是连接线性光电耦合器的输出端连接到微处理器的A/D2口用来读出比较电压。微处理器MCU的其它外围电路及其他端口均按常规设计并在图中略去。
具体实施例方式
下面结合实施例来进一步说明本发明的技术方案和优点。
实施例1为典型实施例,结合

,在所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路,还包括一个校正用的线性光电耦合器,两者具有相同的工作电流,用比较法来抵消温升的漂移。所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路合校正用的线性光电耦合器是这样组成的检测电压的线性光电耦合器的输入端具有一个按常规设计的与发光管串接限流电阻,而它的输出端也皆有一个串接的限流电阻,限流电阻的上端连接于控制器的直流电源,线性光电耦合器的输出端还连接到微处理器的A/D1口用来读出检测电压。校正用的线性光电耦合器与检测电压的线性光电耦合器同样有分别串接于输入输出端的限流电阻,所不同的是输入端的限流电阻的上端连接于微处理器的D/A口,输出端的连接方法与检测电压的线性光电耦合器相同,只是连接线性光电耦合器的输出端连接到微处理器的A/D2口用来读出比较电压。
补偿的方法是第一步微处理器读出A/D1的数字。
第二步是从D/A口输出电压并且从A/D2读入数字,并且不断调节D/A口的输出,使两个AD口的读数一致。
第三步是用D/A口输出数字和A/D2读入数字之差来换算出A/D2口的限流电阻的电流,该电流等同于校正用的线性光电耦合器的发光管中的电流,也近似等同于检测用的线性光电耦合器的发光管中的电流,当这一对线性光电耦合器为同一型号时两者发光管中的电流相等。同样认为此时与检测用的线性光电耦合器的发光管串接限流电阻中的电流也相等,从而可换算出该限流电阻上的电压,加上A/D2口的读出电压就是检测电压。在此换算过程中温漂被消除。同理检测三相电压用同样方法完成。其间的参数差异在调试时按常规设计用软件补偿。
这样实现的检测,完成了发明目的,基本解决了本发明的技术问题。
实施例2本发明的技术方案改进为所述的检测用的线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片,可以取得最接近的几乎一致的电参数。从而进一步提高了检测精度。
实施例3本发明的技术方案进一步改进为所述的分别检测三相用的三个线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片,可以取得最接近的几乎一致的电参数,从而进一步提高了检测精度。
实施例4本发明的技术方案进一步改进为所述的分别检测三相用的三个线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片。所述的芯片具有一个机械散热外壳,来保障四个线性光电耦合器的温升完全一致,完全一致的电参数,从而进一步提高了检测精度。
上述实施例是提供给熟悉本领域内的人员来实现或使用本发明的,熟悉本领域的人员可在不脱离本发明的发明思想的情况下,对上述实施例做出种种修改或变化,因而本发明的保护范围并不被上述实施例所限,而应该是符合权利要求书提到的创新性特征的最大范围。
权利要求
1.一种双电源切换装置,由两台断路器、电动及手动操作机构、位置检测主令开关、控制器组成,还包括使用线性光电耦合器的电压检测电路,其特征在于所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路,还包括一个校正用的线性光电耦合器,两者具有相同的工作电流。所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路合校正用的线性光电耦合器是这样组成的检测电压的线性光电耦合器的输入端具有一个按常规设计的与发光管串接限流电阻,而它的输出端也皆有一个串接的限流电阻,限流电阻的上端连接于控制器的直流电源,线性光电耦合器的输出端还连接到微处理器的A/D1口用来读出检测电压。校正用的线性光电耦合器与检测电压的线性光电耦合器同样有分别串接于输入输出端的限流电阻,所不同的是输入端的限流电阻的上端连接于微处理器的D/A口,输出端的连接方法与检测电压的线性光电耦合器相同,只是连接线性光电耦合器的输出端连接到微处理器的A/D2口用来读出比较电压。
2.使用权利要求1所述的检测补偿电路,其补偿方法包括以下步骤。用比较法来抵消温升的漂移。补偿的方法是第一步微处理器读出A/D1的数字。第二步是从D/A口输出电压并且从A/D2读入数字,并且不断调节D/A口的输出,使两个AD口的读数一致。第三步是用D/A口输出数字和A/D2读入数字之差来换算出A/D2口的限流电阻的电流,该电流等同于校正用的线性光电耦合器的发光管中的电流,也近似等同于检测用的线性光电耦合器的发光管中的电流,当这一对线性光电耦合器为同一型号时两者发光管中的电流相等。同样认为此时与检测用的线性光电耦合器的发光管串接限流电阻中的电流也相等,从而可换算出该限流电阻上的电压,加上A/D2口的读出电压就是检测电压。在此换算过程中温漂被消除。第四步是检测三相电压用同样方法完成。其间的参数差异在调试时按常规设计用软件补偿。
3.权利要求1所述的双电源切换装置,其特征在于在诉述所述的检测用的线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片。
4.权利要求1所述的双电源切换装置,其特征在于在诉述的分别检测三相用的三个线性光电耦合器和用的线性光电耦合器为同一芯片
5.权利要求3或4所述的双电源切换装置,其特征在于所述的芯片具有一个机械散热外壳。
全文摘要
本发明公开了一种双电源切换装置检测补偿的方法和装置。本发明的技术方案是一种双电源切换装置,由两台断路器、电动及手动操作机构、位置检测主令开关、控制器组成,还包括使用线性光电耦合器的电压检测电路,其特征在于所述的使用线性光电耦合器的电压检测电路,还包括一个校正用的线性光电耦合器,两者具有相同的工作电流。用比较法来抵消温升的漂移。
文档编号G01R19/32GK101038308SQ20071003949
公开日2007年9月19日 申请日期2007年4月16日 优先权日2007年4月16日
发明者潘贻丰, 潘贻春, 许世聪, 洪振海 申请人:上海万松电气设备有限公司
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