用于传递校准数据的系统和方法

专利名称：用于传递校准数据的系统和方法
技术领域：
本发明 一般地涉及自动校准标签，该自动校准标签用于自动地校 准确定分析物的浓度的仪器或仪表。该自动校准标签被结合到单测试 条的包装上，并且所述仪器或仪表的外部适于确定来自所述标签的校 准信息。
背景技术：
体液中的分析物的定量确定在特定生理异常的诊断和养护方面 是非常重要的。例如，应该监测特定个体中的乳酸盐、胆固醇和胆红 素。特别地，重要的是糖尿病人经常检查其体液中的葡萄糖水平以调 节其饮食中的葡萄糖摄入量。这种测试的结果可以用于确定(如果有) 需要管理的胰岛素或其他药物。在一种类型的血糖测试系统中，传感 器被用于测试血液样本。
测试传感器包含与血糖反应的生物传感材料或试剂材料。在一些 机构中，传感器的测试端适于置入待测流体中，例如，人的手指被划 破后积聚在该手指上的血液。通过毛细管动作，流体被吸入在传感器 中从测试端延伸到试剂材料的毛细孔道，从而使足量的待测流体被吸 入传感器。然后，流体在传感器中与试剂材料发生化学反应，产生表 示待测流体中的葡萄糖水平的电信号。该电信号经由位于靠近传感器 的后部或接触端的接触区域提供到仪表并且成为测量输出。在其他机 构中，传感器具有试剂区域，血液被施加到该试剂区域。结果发生的 化学反应产生颜色变化。当传感器插入仪器中时，颜色变化可以被光 学测量并且转换为相当的葡萄糖浓度值。
诸如血糖测试系统的诊断系统，通常基于测量输出和用于执行测
试的试剂感测元件(测试传感器)的已知反应来计算实际葡萄糖值。测试传感器的反应或批次校准信息可以由包括该信息输入仪器的数 字或字符的多种形式给予使用者。另一种用于校准包含在包装内的条 的方法是在插入测试仪器中的传感器包装内包括校准芯片。当插入仪 器中时，校准芯片的存储元件被电耦合到所述仪器的微处理器板，以 由所述仪器直接读取被存储的校准信息。
这些方法具有的缺点是依赖使用者输入校准信息，其中一些使用 者可能根本不输入该信息或者可能输入错误。在这种情况下，测试传 感器可能使用错误的校准信息并且由此返回错误的结果。在传感器包 装内包括校准芯片的情况下，校准芯片可能易于丟失或放错位置，导 致不能经由校准芯片输入传感器信息。
改进的系统使用固定到(附到)传感器盒子(cartridge )的自动 校准标签。当盒子被加载到仪表中时，所述自动校准标签被自动地读 取并且无需使用者的附加干预。然而，这种自动校准方法需要可以加 载到仪表中的盒子，该盒子可以提供对于所存储的传感器的长期稳定 性的环境保护，并且该盒子可以提供对传感器的自动访问。将传感器 密封在独立空间中的这种盒子的更简单的形式一般提供很小的余地 或没有余地来改变可以被包装的传感器的数量并且该数量的最大值 受限于最大可接受的盒子尺寸。堆叠在公共空间内的具有传感器的盒 子可以支撑更大数量和潜在可变数量的被存储的传感器，但难以在第 一个传感器被取出后提供良好的环境密封，这种盒子关于自动传感器 访问具有相关的技术复杂性和成本，并且在更简单的形式中，可以包 装的传感器的数量可能不灵活。
期望的是提供一种装置和方法，该装置和方法以可靠的方式将测 试传感器的批次校准信息提供到仪器或仪表而不具有复杂性、成本和 自动盒子的约束，不需要使用者手动输入校准信息，并且不需要可能 丟失的单独的校准芯片。尤其期望系统被设计为以包装在与所述仪器 相分离的瓶子或其他容器中的单个传感器工作并且可被包装的传感 器的数量是可变的，而不是使所述传感器包装在被加载到所述仪器以 用于自动传感器分配的专门的盒子中。

发明内容
根据本发明的一个实施例，公开了 一种用于确定流体样本中的分 析物浓度的测试系统。该测试系统包括传感器容器和测试装置。传感 器容器具有基部和盖子并且适于将多个测试传感器封入其中。传感器 容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签包括位于其上的多个电 触点(电接触件)。该电触点适于将校准信息编码在校准标签上。测 试装置具有置于(位于)其外部的自动校准组件并且该测试装置适于 确定流体样本中的分析物浓度。自动校准组件包括适于与校准标签上 的多个电触点通信的多个校准元件。测试装置适于响应于接合电触点 的校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息。被编码的校准信息 在不将传感器容器或校准标签插入测试装置的情况下被确定。
根据本发明的另 一个实施例，公开了 一种用于确定流体样本中的 分析物浓度的测试系统。该测试系统包括传感器容器和测试装置。传 感器容器具有基部和盖子，盖子包括附着于其上的校准标签。校准标 签包括位于其上的多个电触点。该多个电触点中的第一电触点经由导 电轨迹连接到第一环，该多个电触点中的第二电触点经由导电轨迹连 接到第二环，并且该多个电触点中的笫三电触点与第一环和笫二环均
断开。校准信息基于电触点与第一环和第二环的连接和断开而编码在 校准标签上。测试装置具有置于该测试装置外部的自动校准组件和置 于该测试装置内部的微处理器。测试装置适于确定流体样本中的分析 物浓度。自动校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多 个校准元件。微处理器适于响应于接合测试装置外部的多个校准元件 的多个电触点而确定编码在校准标签上的校准信息。
根据本发明的另 一 个实施例，公开了 一种用于校准测试系统的方 法。该方法包括的步骤为提供具有基部和盖子的传感器容器。该传感 器容器适于将多个测试传感器封入其中。该传感器容器包括附着于其 上的校准标签，该校准标签具有编码于其上的校准信息。该方法还包
括以下步骤提供具有置于其外部的自动校准组件的测试装置并且经 由该自动校准组件确定编码在校准标签上的校准信息。该校准信息在不将校准标签插入测试装置的情况下被确定。
本发明的以上概述并不旨在表示本发明的每个实施例或每个方 面。本发明的附加特征和益处将从以下阐述的详细说明和附图中变得 清楚。


图la是根据本发明的一个实施例的集成仪表的侧视图； 图lb是图la中的集成仪表反面的图示；
图2是表示根据本发明 一个实施例的图1中的集成仪表的电子电 路的框图3是根据一个实施例的可以用在本发明的方法中的电化学传 感器的分解图4是传感器基部和直接应用到图3中的传感器的基部上的那些
元件；
图5是根据本发明的一些实施例的传感器容器，该传感器容器适 于包含多个电化学传感器；
图6a是表示与本发明的数字自动校准编码标签一起使用的示例 性电路的示意图6b是根据本发明的一个实施例的数字自动校准编码标签的展
开图6c是示出根据图6b的数字自动校准编码标签的图表； 图6d是根据本发明的另一个实施例的多个数字自动校准编码标 签的展开图6e是示出根据图6d的数字自动校准编码标签的图表； 图6f是根据本发明的另 一个实施例的多个数字自动校准编码标 签的展开图6g是示出根据图6f的数字自动校准编码标签的图表； 图7a是表示根据本发明的另 一个实施例的与模拟自动校准编码 标签一起使用的示例性电路的示意图；图7b是本发明中使用的可替换的模拟自动校准编码标签的展开
图7c是在本发明中使用的可替换的模拟自动校准编码标签的展
开图7d是示出根据本发明的另 一个可替换的模拟自动校准编码标 签的图表；
图8a-e是根据本发明的一些实施例的具有定位組件(locating feature)的多个校准标签的顶浮见图9a-9f是根据本发明的其他一些实施例的具有定位组件的多个 校准标签的顶视图。
具体实施例方式
一个实施例中的仪器或仪表使用测试传感器和处理器，所述测试 传感器适于接收待分析的流体样本，所述处理器适于执行预定义的测 试顺序以测量预定义的参数值。在将测试传感器插入仪表中之前，该 测试传感器从传感器容器中取出。存储装置耦合到处理器以存储预定 义的参数数据值。关联测试传感器的校准信息可以在待测量的流体样 本被接收之前由处理器读取。校准信息可以在接收到待测量的流体样 本之前或之后由处理器读取，但不能在分析物的浓度被确定之后再读 取。校准信息用于测量预定义的参数数据值以补偿测试传感器的不同 特性，所述特性将基于不同批次而变化。校准信息包括在传感器容器
现在参考附图并且首先看图la-图lb，示出可以结合本发明使用 的集成仪表10。集成仪表10包括外壳12、切割机构14、测试机构 16、显示器18和按钮组20。应该注意集成4义表IO,皮显示为适于卩吏用 在本发明中的一个特定仪器或仪表的示例，然而，能够在流体样本上 执行分析的其他仪器、仪表或测试装置也可以适于使用在本发明中。
显示器18用于显示被确定的浓度并且向测试主体提供其他信 息。测试主体可以通过〗吏用按钮组20而与集成4义表10交互。切割才几构14的外部22位于外壳12的测试端24上。切割机构14被部分封 入在外壳12内，其中切割端盖26可拆卸式附着到与外壳12相对的 切割机构14的外部22。滑动器28位于外壳12的外部并且可操作地 连接到切割机构14从而竖起该切割机构14。
切割机构14用于以可拆卸式附着的矛状物30 (例如柳叶刀)切 割测试主体的皮肤。切割端盖26具有中心孔并且避免测试主体无意 中接触位于其中的矛状物30。矛状物30适于从测试主体获得流体样 本。在使用中，滑动器28用于竖起切割机构14,即将矛状物30进一 步移动至外壳12中。点火按钮32被提供在外壳12的外部，当按压 该点火按钮32时，点火竖起的切割机构14。端盖26的面34可以接 触到测试主体的皮肤。然后，切割机构14可以被点火(通过按压点 火按钮32 )，从而使得矛状物30从端盖26延伸并且刺破测试主体的 皮肤。切割机构14邻近测试才几构16以i更于并排切割和测试，从而降 低了所需要的用户的组件操控水平。如图1所示，测试机构16成角 度地对准在仪表10上以在需要时便于可替换的现场测试。然而，集 成仪表10的组件的位置和交互可以变化，并且不需要为了理解本发 明而进行各种构造的更详细的说明。
测试机构16包括形成在外壳12的测试端24中的测试传感器开 口 36。测试传感器开口 36适于在其中安置测试传感器38。测试传感 器38包含位于其上的至少一个试剂，该试剂适于与流体样本内的感 兴趣的分析物反应。测试传感器38可以由测试主体安置在测试传感 器开口 36中。 一旦被安置，则测试传感器38连接到集成仪表10内 的电子电路80(图4)，该电子电路80适于执行流体样本中的分析 物浓度的电化学确定。可替换地，光学读头可以被连接到集成仪表的 电子电路并且光学测试传感器可以被插入为靠近光学读头以允许流 体样本的分析物浓度被光学地确定。排出机构40被提供为允许测试 主体在已执行流体样本分析的情况下从集成仪表10移除测试传感器 38。
集成仪表10包括在外壳12的外部66上的自动校准组件(feature) 64 (见图lb)。自动校准组件64适于与位于传感器容器 100 (图5)上的校准标签106 (在以下的图5-9中说明)交互。自动 校准组件64包括多个校准元件，例如从自动校准组件64的一部分略 微延伸的校准引脚68。这种校准引脚68可以加载弹簧以确保可靠连 接，并且如果连接需要校准标签106滑动到穿过触点的位置，则这种 校准引脚68可以变尖或变圆以减小干扰。虽然所说明的实施例示出 包括在自动校准組件64内的基本配置为呈圆形排列的十个校准引脚 68，但应该注意的是自动校准引脚的数量可以与图lb中所示的自动 校准引脚的数量和形状不同。
自动校准组件64还可以包括位于其中的感测引脚70。感测引脚 70可以提供为在校准标签106 (图5 )与自动校准组件64相接触时进 行检测。校准标签106的检测可以通过按钮的开关触点的闭合而机械 实现或通过感测触点110 (图6b)和一个或多个电触点108 (图5和 6b)之间建立的电连接而电实现。 一旦检测到接触，则多个校准引脚 68可以确定包含在校准标签106上的自动校准信息。自动校准组件 64进一步包括一个或多个定位组件(orienting feature) 72，该定位 组件72适于帮助使用者利用自动校准组件64内的多个校准引脚68 来定位校准标签106。校准标签106将结合图5-9进行详细的讨论。
如上所述，集成仪表10包括电子电路80 (图2)。该电子电路 80包括用于操作集成仪表10的多种电子器件和电组件。电子电路被 连接到显示器18以及测试机构16。进一步地，电子电路80通信地耦 合到存储装置84。存储装置84适于存储信息，例如被确定的分析物 浓度，流体样本是否收集可替换的测试现场、日期和时间信息，用于 预定义的校准编码的查找表等。存储装置84通常是非易失性存储器， 例如EPROM (可擦可编程只读存储器)或EEPROM (电可擦可编 程只读存储器)。电池(未示出)通常用于给集成仪表10内的电子 电路和显示器18供电。
还参考图2，示出表示根据本发明的一个实施例的集成仪表10 的电子电路80的框图。电子电路80包括微处理器82以及用于存储程序和使用者数据的相关联的存储装置84。耦合到测试传感器38的 传感器测量电路86由微处理器82可操作地控制以记录血糖测试值。 电池监视器功能块88耦合到微处理器82以检测电池电压低(未示出) 的情况。警告功能块卯耦合到微处理器82以检测预定义的系统情况 并且为集成仪表10的使用者生成警告指示。
数据端口或通信接口 92将数据发送到外部装置(例如计算机、 膝上型计算机、个人数字助理、远程服务器、连接网络的装置等)并 从所述外部装置接收数据。通信接口 92允许外部装置访问至少存储 在存储装置中的分析物浓度。通信接口 92可以是任意数量的允许集 成仪表10与外部装置通信的装置，例如为标准串行端口、红外发射 器/检测器端口、电话插口、射频发射机/接收机端口、调制解调器、 可拆卸的存储卡或装置等。电子电路还可以包括用以执行程序的 ROM芯片。
开/关ON/OFF输入94响应集成仪表10的使用者的ON/OFF操 作并且耦合到微处理器82以执行集成仪表10的血液测试顺序模式。 传感器测量电路86还可以检测测试传感器38的插入并且使得微处理 器82执行血液顺序模式。系统特征输入端96耦合到微处理器82以 选择性地执行集成仪表10的系统特征模式。自动校准输入端98耦合 到微处理器82 (例如通过例如图6a和7a所示的接口电路)以检测根 据本发明的一个实施例的传感器容器100 (图5)上的自动校准编码 的信息。微处理器82包含适当的编程以确定施加到测试传感器38的 流体样本的分析物浓度。
为了确定流体样本中的分析物浓度，可以使用电化学传感器。期 望的是电化学传感器提供可靠并且可重复的测量。现在参考图3，根 据一个实施例，测试传感器38包括绝缘基底42，在该基底上依次印 刷(通常通过丝网印刷技术)有电导体图案(pattern) 44、电极图案 (部分46和48)、绝缘(电介质)图案50和反应层54。电化学传 感器的基底提供流体测试样本的流动路径。测试传感器38被显示在 图4中，其中基底42上的全部元件均显示在相同平面中。反应层54的功能是按照流体测试样本通过电极图案的组件产生 的电流将该流体测试样本中的葡萄糖或其他分析物化学计量地转换 为可电化学测量的化学形态。反应层54 —般包含生物感测或试剂材 料，例如酶和电子受体。更具体地，反应层54包含酶和电子受体， 酶与分析物反应以在电极图案上产生可移动的电子，电子受体(例如 铁氰化物盐)将可移动的电子运载到工作电极的表面。电子受体可以 被称为介体，该介体响应于分析物和酶之间的反应而减少。反应层中 的酶可以与例如聚环氧乙烷的亲水聚合物结合。可以用于与葡萄糖反 应的酶是葡萄糖氧化酶。可以预料到，也可以使用其他酶，例如葡萄 糖脱氢酶。
电极图案的两个部分46、 48提供电化学地确定分析物所必须的 相应的工作电极和反电极。工作电极46a通常包括与分析物反应的酶。 工作电极和反电极可以被构造为使得(按照沿流动路径的流体流动方 向)反电极48a的主要部分位于工作电极46a的暴露部分的下游。这 种构造允许测试流体样本完全覆盖工作电才及46a的暴露部分。
然而，反电极的子元件48a可以置于工作电极上部元件46a的上 游从而当将要完全覆盖工作电极的足量的流体样本(例如整个血液样 本)进入毛细管空间时，由于流体样本的导电性而在反电极子元件48a 和工作电极46a的暴露部分之间形成电连接。然而，可由流体样本接 触的可用的反电极的面积非常小以至于仅非常微弱的电流可以流经 电极之间并且因此流过电流检测器。通过对电流检测器编程以在接收 到的信号低于特定的预定水平时给出误差信号，传感器装置可以通知 使用者进入传感器内腔的血液不足量以及应该进行另一次测试。
工作电极和反电极包括电极油墨(ink)。电极油墨通常包含电 化学活性碳。导体油墨的成分可以是碳和银的混合物，该混合物被选 择以提供电极和仪表间的低耐化学性路径，通过该路径，电极和仪表 经由与传感器的末端56处的导电图案的接触而被可操作地连接。反 电极可以包括银/氯化银或碳。为了增强仪表读取的可重复性，电介质 图案使电极在除靠近电极图案52的中心的被限定的面积以外的区域与流体测试样本绝缘。被限定的面积在这种类型的电化学确定中是重 要的，因为被测量的电流取决于分析物浓度和暴露于包含分析物的测 试样本的反应层的面积。
典型的介电层50包括UV固化的丙烯酸酯改性的聚乙烯。盖子 或覆盖物58适于与基底匹配以形成接收流体样本的空间，该空间中 放置有反电极和工作电极。盖子58提供凹入空间60并且该盖子58 通常通过凸起可变形材料的平板而形成。盖子58被刺穿以提供气孔 62并在密封操作中结合到绝缘基底42。盖子58和基底42可以通过 声波焊接被密封到一起。凸起的盖子和基底可以通过在盖子的下侧上 使用粘合材料而结合。美国专利No.5，798，031中更全面地说明了结合 盖子和基底的方法，该美国专利以其全部内容作为参考并入本文。
用于绝缘基底42的适合的材料包括聚碳酸酯、聚对苯二曱酸乙 二酉旨(polyethylene terephthalate )、形稳型乙晞基和丙烯酸类聚合物， 以及共混聚合物，例如聚碳酸酯/聚对苯二曱酸乙二酯和金属薄片结构 (例如尼龙/铝/乙蹄聚合物的氯化物的层积)。盖子通常由可变形的 聚合物板材制造，例如聚碳酸酯或凸起等级的聚对苯二甲酸乙二酯、 乙二醇改性的聚对苯二曱酸乙二酯或金属薄片合成物(例如铝薄片结 构)。介电层可以由丙烯酸改性的聚氨酯制造，该丙烯酸酯改性的聚 氨酯由热固化的UV光或湿气或乙烯基聚合物固化。
可以预料到，本发明可以使用其他电化学传感器。可以用于测量 葡萄糖浓度的电化学传感器的示例是用在拜耳(Bayer)公司的 DEX 、 DEXII 、 ELITE⑧和ASCENSIA⑧系统中的电化学传感器。 对于这种电化学传感器的更多细节可以在美国专利No.5,120，420和 No.5，320，732中找到，这两个专利以其全部内容作为参考并入。电化 学传感器中的一个或多个可以从松下电器产业抹式会社(Matsushita Electric Industrial Company )购买。另 一种电化学传感器公开在美国 专利No.5，798，031中，该专利以其全部内容作为参考并入。可以用在 电流监测系统中的电化学传感器的另 一 个示例公开在美国专利 No.5，429，735中。可以预料到，其他生物传感器也可以用在本发明中。虽然已经关于电化学测试系统对以上所例示的测试传感器38和 集成仪表10进行了描述，但应该理解的是，本发明可以对光学测试 系统或其他测试系统操作。电化学传感器、光学传感器或其他传感器 可以存储在例如瓶子或盒子的传感器容器中。
现在参考图5，示出根据本发明的一个实施例的传感器容器100。 传感器容器100包括基部102和可拆卸式附着的盖子104。基部102 适于在盖子104附着到该基部时封入多个测试传感器(例如测试传感 器38)。传感器容器100帮助阻止外部环境对测试传感器38的污染。 当测试主体期望执行分析物确定时，多个测试传感器38中的一个从 传感器容器100中取出并被插入集成仪表10中，如图la-图lb所示。
传感器容器100还包括位于其上的校准标签106。如图所示，校 准标签106可以位于盖子104的一部分上。可替换地，校准标签106 可以位于基部102上或盖子104的其他部分上。应该理解的是只要校 准标签106能够接触集成仪表10的自动校准组件64 (图lb )，则传 感器容器IOO上的校准标签106的位置可以变化。被指定使用在临床 数值计算中以补偿测试传感器38之间的制造差异的校准信息或代码 -陂编码在校准标签106上。
校准标签106用于使传递校准信息(例如，用于测试传感器38 的具体批次的试剂校准信息)的过程自动化从而使测试传感器38可 以用于不同的仪器或仪表。当校准标签106接触集成仪表10的自动 校准组件64时，多个自动校准的引脚68中的一个或多个与校准标签 106电耦合。根据一种方法，使用电流读数和至少一个等式来确定流 体样本的分析物浓度。在这种方法中，使用来自动校准标签106的校 准信息或代码来确定等式的常数。这些常数可以通过以下方式确定 (a)使用算法来计算等式的常数或(b)从特定的预定义的校准代码 的查找表中获取等式常数，所述校准代码从校准标签106读取。校准 标签106可以由数字或模拟技术实现。在数字实施方式中，集成仪表 10帮助确定沿所选择的位置是否存在电导以确定校准信息。在模拟实 施方式中，集成仪表10帮助测量沿所选择位置的电阻以确定校准信校准标签106包括位于其上的多个电触点108。如图所示，多个 电触点108 —般围绕任意的感测触点110。在提供有感测触点110的 实施例中，感测触点IIO适于接合自动校准组件64的感测引脚70以 向微处理器82指示提供在校准标签106上的自动校准信息能够被确 定。校准标签106和自动校准组件64之间的接触可以例如通过感测 引脚70和任意其他电触点108之间的电连续性而确定。在所示的实 施例中，校准标签106包括位于多个电触点108中的两个电触点之间 的索引位置112。如果校准标签106关于自动校准组件64的多于一个 定位是可行的，则索引位置112可以由自动校准组件64使用以确定 从校准标签106的哪里开始获得自动校准信息。
如图5所示，传感器容器100还可以包括一个或多个定位组件 114。传感器容器100的一个或多个定位组件114适于接合自动校准 组件64的定位组件72 (图lb)。如图所示， 一个或多个定位组件114 是传感器容器100的盖子104中的凹部。该凹部适于接合形成自动校 准组件的定位组件72的多个凸出部。当凸出部^皮插入凹部中时，传 感器容器100的校准标签106应该与集成仪表10的自动校准组件64 恰当地对准。然而，应该注意的是，机械的定位组件的可替换实施方 式是可行的。
现在参考图6a，示出根据本发明的一个实施例的用于数字校准 方法的数字电子电路130，该数字电子电路130将微处理器82连接到 校准标签106。如图所示，来自微处理器82的十个数字输出信号(OA 至OJ )通过十个驱动器132( DA至DJ )经由十个场效应晶体管(FET ) 134 (TA至TJ)中相应的一个连接到十个校准引脚68 ( PA至PJ )。 十个校准引脚68连接到十个接收器136(RA至RJ),该十个接收器 136提供十个数字输入信号(IA至IJ)到微处理器82。每个接收器 均具有关联的上拉(PU) 138，该上拉连接到电源(VCC)。校准引 脚68 (PA至PJ)电连接到校准标签106上的其他电触点108。
为了读取校准标签106的接触图案，微处理器82导通一个驱动器132，其他所有驱动器132均断开。激活的驱动器132提供低信号 到关联的校准引脚68。由于这个特定的驱动器132和接收器136直接 连接，因此用于直接连接到关联的校准引脚68的激活的驱动器132 的相应的接收器136读取为低信号。校准引脚68也被标签图案同样 驱动为低的其他所有接收器136也被读作低信号。由于关联的驱动器 132未导通并且关联的上拉138将接收器电压拉动到VCC，因此余下 的其他所有接收器136均读作高信号。
现在参考图6b,示出说明本发明的校准编码的校准标签106的 优选配置的放大图。根据一个实施例，校准编码的校准标签106用于 使关于指定到相关测试传感器38的具体批次的试剂校准的信息传递 过程自动化。例如，图6b中示出的自动校准信息可以被编码在校准 标签106中，该校准标签106位于封入了具有共同来源或批次的多个 测试传感器38的传感器容器100上。校准标签106在任意成角度的 位置被读取并且在没有任何使用者干预的情况下通过集成仪表10被 解码。校准标签106经由提供在预定位置的多个电触点108被读取。 所选择的电触点108通过导电轨迹120连接到内环116。其他电触点 108通过导电轨迹120连接到外环118，同时还有另外的电触点108 既不连接内环116也不连接外环118。不连接的触点可以用于建立标 签关于自动校准组件64的定位，同时连接到内环116和外环118的 电触点108可以用于编码校准数据。
可以应用多种数字和模拟配置来定义校准标签106。校准标签 106可以通过将导电油墨丝网印刷到基部衬底上而构成，所述基部衬 底可以是独立的衬底或传感器容器100 (图5)。独立的衬底可以使 用粘合剂(例如热溶性、UV固化或快速固化的粘合剂)或经由其他 附着装置附着到传感器容器100。定义校准标签106的导电油墨可以 是碳、银或碳/银混合的油墨。所述衬底可以是任意的可接受印刷的表 面，包括纸张、填充聚合物的纸张或聚合物衬底，并且在一些实施例 中是热稳定的聚对苯二曱酸乙二酯(PET)或聚碳酸酯。数字校准编 码可以通过印刷或以激光切割轨迹而被直接编码来定义，例如将co2或Nd: YAG激光用于特定的测试传感器批次。在可替换的实施例中， 例如薄铝膜的金属薄膜可以被使用以形成轨迹并且可以通过激光烧 蚀以形成用以编码校准数据的校准图案。可以使用由图7a-图7d示例 和说明的模拟系统，该模拟系统基于有选择地位于预定义位置的测量 电阻，例如，如图7b所示，测量电阻表示为线路152并且连接到所 选择的触点O、 I、 J。
图6b示出用于校准标签106的示例性的轨迹图案。如图6b所 示，校准标签106包括三组触点连接连接到外环或外部路径118表 示逻辑1的第一电触点108A、 108C、 108E、 108G和1081;连接到 内环或内部路径116表示逻辑0的第二电触点108B、 108D、 108F和 108H;以及表示原位置或同步的第三空接触或无连接(例如索引位置 112)。应该理解的是内环116和外环118不必是正环形或正圆形。 形成内环116和外环118的电触点108和导电轨迹120由导电材料构 成。电触点108的位置与组成在集成仪表10的自动校准组件64中的 校准引脚68 (显示在图lb中)对准以形成电接触。虽然在一些实施 例中，校准标签106可以置于多个旋转位置中的任意一个位置中，但 在校准标签106被读取时，电触点108将始终与集成仪表10上的校 准引脚68对准。图6c中的表格应用到图6b中的校准标签106。
索引位置112可以包括一个类似于电触点108的同步触点。由于 同步电触点108未连接到多个电触点108中的任意其他电触点，因此 该同步电触点108未显示在校准标签106上。具有多于一个同步触点 的可替换的实施方式是可行的。具体的触点108可以被任意指定为始 终连接到内环116或外环118。在图6B中，标记为I的触点被显示为 始终连接到外环118。标记为A至H的电触点108连接到未编程的标 签中的内环和外环。在被印刷的导电标签材料中进行切割以断开与内 环116或外环118的接触，从而将校准代码编程到校准标签106中。 电触点108A至108H中的每一个电触点均可以连接到任一环，这代 表了 28 (即二百五十六)种可行的组合。代码O (A至H全部连接到 内环)、代码127、 191、 223、 239、 247、 251、 253和254 (A至H中仅有一个连接到内环)和代码255 (A至H全部连接到外环)通常 不,皮允许，因此二百四十六种代码均可以对校准编码的校准标签106 编程。
为了确定电触点108中的哪些是同步触点(例如，索引位置112) 以及电触点108中的哪些连接到内环116和外环118，每次仅设置一 个电触点108为低输出(零)。因为由校准标签106上的导电轨迹提 供的电连接，使得与低触点位于相同环116、 118上的任意电触点108 同样被记录为低。因为同步触点未连接到环116、 118中的任一环， 所以当该同步触点被设置为低时，仅该同步触点被记录为低触点。这 意味着必须至少有两个触点连接到内环116和外环118，否则，将不 能确定哪个或哪些触点是同步触点。
一种用于确定自动校准数量的方法可以使用比校准标签106的 同步触点的数量多两个的读数。所述读数中的每一个用于一组电触点 108:连接到内环116的组，连接到外环118的组，以及每个同步触 点使用一组。在采用了读数的这种最小化数量后，可以确定相应于四 组中的每一组的电触点108。在仅使用单个同步位置时，可以仅对三 个读数完成解码。如果存在两个同步触点，则需要解码四个读数。同 步触点的位置被确定并且该位置与来自连接到内环116的组的读数结 合4吏用以确定自动校准数量。连接到内环116的电触点108净皮认为是 逻辑零，并且连接到外环116的电触点108被认为是逻辑一。
所选择的预定义的校准编码的图案由通过导电的内环116和外 环118互连的电触点108组成。校准数据使用校准标签106上可选择 的电互连的触点组而编码。一个或多个空接触位置112与环116和118 都隔离开以用作旋转位置索引。在关于同步位置(由触点I表示)已 知的位置处的一个电触点108连接到外环118，因此与该触点TO的 全部连接均为逻辑一。
为了检测与内环116或外环118的连接，需要与所述环的至少两 个连接来检测连续性。其余的电触点108连接到环116和环118中的 一个或另一个，特定的连接图案确定校准代码。为了最小化标签原料，单个图案有益地使用顺序的冲孔或切割以有选择地使在位置A至H 处的八个焊盘中的每一个与两个环116或118中的一个隔离开。在位 置A至H处的除了索引位置或空位置以外的全部电触点108均连接 到两个环116、 118中的一个环并且仅连接到这一个环。最少有两个 电触点108连接到每个环116、 118。由于对于被认为有效的读数来说， 除了索引位置112以外的全部电触点108均必须被计算在两个连续的 组中的一者中，因此这种配置便于误差检查。当全部触点均表现为同 步触点时，检测到缺失的校准标签106 (即因为由校准标签106提供 的连续性的缺失，在校准引脚68之间没有电连接)。
在一种数字编码方法中，表示0和1的一系列断开和导通的电路 被引入到校准标签106上。数字校准标签106由激光切割或印刷而编 码以表示由与内环116的连接确定的特定的校准代码数量，例如，其 中A表示l, B表示2， C表示4， D表示8， E表示16, F表示32， G表示64并且H表示128。在图6c中，触点B、 D、 F和H被连接 到内环116以定义校准代码数量。
微处理器82将一个电触点108或位配置为低，同时剩余的其他 电触点108配置为高。电连接到特定的被驱动的电触点108的全部电 触点108被强制为低，同时剩余的电触点108被上拉为高。通过选择 性地驱动电触点108并读取产生的输入图案，互连图案和关联的校准 代码被确定。虽然定义为不与其他触点连接的唯一的索引位置112被 用于确定校准标签106的旋转位置，从而可以确定电触点108A至 1081,但应该理解的是，可以使用对编码开始位置和校准代码具有唯 一的位图案的其他配置。然而，其他二进制编码方案可能在具有相同 数量的电触点108的情况下提供校准代码数量的更少的可行代码。
用于编码校准信息的可替换的校准编码的标签106b分别显示在 图6d和6e中。在任意的校准标签106和106b中，只要触点位于已 知的或预定义的位置，则触点相对于彼此的实际物理位置对解码校准 标签106来说并不重要。
参考图6d和图6e,十个电触点108由触点A至触点J表示。如图6d中，存在包括两个索引位置112b(SYNC)、外环118(OUTER) 和内环116 (INNER)的三组或三套触点连接。在图6d中，对于具 有十个触点A至J的校准编码的校准标签106b，触点J是同步触点1 (SYNC 1),触点A是同步触点2 (SYNC 2)，并且显示为触点I 的一个触点必须被连结到外环，并且其余八个触点B至J被连接到内 环116或外环118。八个触点B至J (代码0至255 )表示256 ( 28 ) 种可行的连接组合，减去八个仅有一个内环连接的组合(代码127， 191， 223， 239, 247， 251， 253, 254),减去一个仅有一个外环连 接的组合(编码0 )。校准标签106b提供校准数量的247种唯一的组 合或编码。
在特定的校准标签106上的校准代码还可以用于区分测试传感 器38的一些类型。假设传感器类型"A"需要十个校准代码，传感器类 型"B"需要二十个校准代码，并且传感器类型"C"需要三十个校准代 码。可以指定自动校准代码，从而使代码一至十以类型"A"的校准代 码一至十表示"A"类型传感器，标签代码十一至三十以类型"B"的校准 代码一至二十表示"B"类型传感器，并且标签代码三十一至六十以类 型"C"的校准代码一至三十表示"C，，类型传感器。在本示例中，标签 代码同时表示传感器类型和关联该传感器类型的校准代码。
在图6d中，；欧准标签106d的可替换的类型1、 2、 3和4包括两 个同步位置112b。在类型1的校准标签106b中，使用了两个相邻的 同步位置。在类型1的校准标签106b中，两个相邻的同步触点是J 和A， 一个触点I连接到外环118，并且其余的七个触点B至H连接 到内环116或外环118。七个触点表示128 ( 27)种可行的连接组合， 减去七个仅有一个内环连接的组合，减去一个仅有一个外环连接的组 合。类型1的校准编码的校准标签106b提供了校准数量的120种唯 一的组合。
在类型2、 3和4的校准标签106b中，可以使用两个同步触点的 相对位置来提供额外信息。类型1的同步触点组合J和A(无间隔)、 类型2的同步触点组合J和B (间隔一个位置)、类型3的同步触点组合J和C(间隔两个位置)和类型4的同步触点组合J和D(间隔 三个位置)可以被唯一地检测并且用于区分校准标签106b的四种类 型，每个校准编码的校准标签106b编码120种唯一的组合。同步触 点组合J和E、 J和F、 J和G、 J和H以及J和I是不能唯一地区分 的。使用校准标签106b的四种类型1、 2、 3和4提供了校准数量的 总共480 (4*120)种组合。
其他校准标签106可以提供用于生成唯一的图案的三个或更多 同步触点的相对位置。例如，在具有三个同步触点并且一个触点连结 到外环118的情况下，其余的六个触点连接到外环116或内环118。 六个触点表示六十四(26)种可行的连接组合，减去七个仅具有一个 内环连接的组合，减去一个仅具有一个外环连接的组合，从而留下五 十六种唯一的组合。多种方式均可以唯一地放置三个同步触点J、 A 和B; J、 A和C; J、 A和E; J、 A和F; J、 A和G; J、 A和H; J、 B和D; J、 B和E等。在具有两个同步触点的情况下，同步触点 的这些组合可以表示不同类型的标签，并且例如，可以确定由集成仪 表IO执行的多个类型的分析中的一个。
同样参考图6f-图6g,示出根据本发明的一个实施例的数字自动 校准编码标签106c。校准标签106c仅使用单个索引位置112c从而最 大化能够被编码在电触点108c上的信息。在一些实施例中，可以使 用更多的索引位置。在所示出的实施例中，感测触点110c通过电轨 迹120c连接到内环116c或外环118c中的至少一者。如果感测触点 110c;故强制为低，则至少一个电触点108c ^皮拉至^f氐。在本实施方式 中，被拉至低的至少一个电触点108c可以被用作对校准标签106c与 自动校准组件64 (图lb)相接触的标志。根据一个实施例，感测触 点110c所在的位置独立于校准标签106c关于自动校准组件64的定 位。
在图7a中，示出根据一个实施例的模拟电子电路150。模拟电 子电路150基于提供在校准标签106d (如图7b中的最佳显示)或校 准标签106e (如图7C中的最佳显示)上的电阻器152 ( Rl和R2 )的测量电阻值。电阻器152 (Rl和R2)的电阻值提供校准值。中心 触点和任何其他电触点108之间的连续性可以作为校准标签106e与 仪器的自动校准组件64相接触的标志。虽然可以将电阻的模拟值与 校准值相关联，但典型的配置是将电阻器152印刷为特定值。例如， 为了区分五个校准代码，五个不同的电阻值(例如IOOOQ、 200011、 300011、 4000ft和5000H )中的一个电阻值将被丝网印刷在校准标签 106d、 106e上。电阻器152 ( Rl和R2 )的电阻值被选择，从而即使 由于印刷变化或校准标签106d、 106e由校准引脚68接触处的接触电 阻的变化而可能存在电阻的变化，由微处理器82测量的电阻值仍彼 此易于区分。
在图7a中，示出已知的参考电压(VREF)和具有已知的参考 电阻(RREF )的电阻器154。模数转换器(ADC ) 156将呈现在其输 入端的标记为VMEAS的才莫拟电压转换为其标记为(IA)的输出端处 的数字值，该数字值由微处理器82读取。驱动器158 (DA)是由微 处理器82通过标记为OA的信号线控制的模拟开关。驱动器158控 制p沟道场效应晶体管(FET) 160,从而当驱动器158关断时，使 电阻器154 RREF接入模拟电子电路150，或者当驱动器158导通时， 将电阻器154 RREF短路。
电阻器152 (Rl和R2)的值可以如下确定。在驱动器158 DA 关断的情况下，电阻器154RREF接入电路中，从而使电阻器152(Rl 和R2)加上电阻器154 RREF作为分压器。之后电压VMEAS被测 量并且定义为VOFF。在驱动器158导通的情况下，RREF短路，从 而使电阻器152 (Rl和R2)作为分压器。之后电压VMEAS被再次 测量并且现在被定义为VON。
可应用的等式为
<formula>formula see original document page 24</formula>
<formula>formula see original document page 24</formula>
在等式2中解出Rl:
<formula>formula see original document page 24</formula>将Rl替换到等式1中并解出R2:
1腳 —,) [等式4
REF和RREF是已知的值并且VOFF和VON是所测量的值。 在等式3中，R2、 VREF和VON的值被代入以计算Rl。这样，Rl 和R2是已知的，因此校准值可以被确定。
为了区分许多校准代码，可以使用多于一个的电阻器。对于具有 "m，，个电阻器的校准标签106d、 106e,每个电阻器的阻值均可以是"n" 个值中的任意一个，则校准代码的数量是m11。
例如，印刷两个电阻器152 (Rl和R2)，其中每个电阻器152 均可以具有五个不同的电阻值中的一个电阻值，从而允许相区别的二 十五(即52)种校准代码。这可以扩展到三个电阻器152并且可以提 供125 (即53)种校准代码，以此类推。
参考图7b，示出根据一个实施例的两个电阻器152的模拟校准 标签106d。如图7a所示，内部电阻器152 ( R2 )和外部电阻器152 (Rl)可以被复制十次(校准标签106d的每个旋转位置各一次)， 同时仅需要三个校准引脚68。校准引脚68位于一条线上。 一个校准 引脚68 ( PA )将在全部内部电阻器152 ( R2 )的公共接点(I)处接 触电触点108。另一个校准引脚68 (PB)在内部电阻器R2和外部电 阻器152 Rl的接点(J)处接触电触点108。第三个校准引脚68 (PC) 在外部电阻器152 (Rl)的另一端(O)处接触电触点108。
图7b中的校准标签106d的一个变化是可以仅具有一个内部电 阻器152 (R2)和一个外部电阻器152 (Rl)，其中连续的导电环接 触校准引脚68。 一个环(未示出)位于电阻器152 (R1和R2)的接 点(J)的直径处。另一个环(未示出)位于电阻器152 Rl的另一端 (O)的直径处。导电环由低电阻材料制成。校准引脚68将接触标签 106d的中心触点(I)和两个环。
图7c中示出两个电阻器的校准标签106b的另一种类型。三个校 准引脚68再次位于一条线上。 一个校准引脚68 (PB)将在全部十个 电阻器152的接点178处接触电触点108。另一个校准引脚68 ( PA )将连接到电阻器R1的一端174。第三个校准引脚68 (PC)将与其他 两个校准引脚68位于一条线上并且在电阻器R2的一端176处连接到 电触点108。如果电阻Rl的电阻值的集合(例如nl个值)与电阻 R2的电阻值的集合(例如n2个值)不同，则可以区分nl、2个不同 的校准代码。
对于图7c中示出的校准标签106e,其中两个电阻器152的值从 同一集合的"n"个电阻中选择，因此一些组合因为标签的旋转而不可 区分(例如Rl = 1000Q和R2 = 2000Q不能与Rl = 2000Q和R2 = 1000ft相区分)。所述类型的校准标签106e的两个电阻器的不同组 合的数量由以下等式给出，其中每个电阻器的阻值均可以是"n，，个值 中的一个
组合=^^ + " [等式5
同样参考图7d，可以确定的不同电阻值的数量(number)和相 区别的校准代码的数量被列表。
现在参考图8a-图8e，分别示出根据本发明的一些实施例的多个 校准标签206a-206e。所述校准标签206a-206e中的每一个均包括置于 围绕4壬意的感测触点210a-210e的多个电触点208a-208e。电触点 208a-208e中的每一个最初均通过多个导电轨迹220a-220e而连接到 内环216a-216e和外环218a-218e。通过去除导电轨迹220a-220e的一 部分以将电触点208a-208e中的一个或多个与内环216a-216e和外环 218a-218e中的一者或两者断开，从而使校准信息被编码在校准标签 206a-206e上。通过去除导电轨迹220a-220e以将电触点208a-208e与 内环216a-216e和外环218a-218e断开，4吏得同步位置,皮编码。
每个校准标签206a-206e均提供有至少 一 个标签定位组件 214a-214e。标签定位组件214a-214e的数量是变化的，例如，每个才交 准标签206a-206e的标签定位组件214a-214e均不同。如图8a-8d所 示，如果标签定位组件214a-214d对称地置于围绕校准标签206a-206d 的外围，则校准标签206a-206d可以在被提供到集成仪表10的自动校 准组件64 (图lb)之前被旋转到多个位置。通过选择性地使一个或多个同步触点与两个标签环隔离开，可以建立这些校准标签
206a-206d关于自动校准组件64的定位。可替换地，在图8e中，校 准标签206e包括多个标签定位组件214e，该标签定位组件214e对称 地置于围绕校准标签206e。同样地，标签定位组件214e结合自动校 准组件64上的多个不对称的定位组件72帮助确保校准标签206e仅 在特定方向上被提供到自动校准组件64的多个校准引脚68。
现在参考图9a-图9f，示出根据本发明的多种实施例的多个校准 标签306a-306f。每个校准标签306a-306f均包括多个电触点 308a-308f。在图9b、 9d和9f中，多个电触点308b、 308d、 308f— 般置于围绕任意的感测触点310b、 310d、 310f。每个电触点308a-308f 最初均通过多个导电轨迹320a-320f连接到内环316a-316f和外环 318a-318f。通过去除导电轨迹320a-320f中的一部分以将电触点 308a誦308f中的一个或多个与内环316a-316f和外环318a-318f中的一 者或两者断开，使得校准信息被编码在校准标签306a-306f上。通过 选择性地使一个或多个同步触点与两个标签环隔离开，可以建立这些 才交准标签306a-306f关于自动才交准組件64的定位。
校准标签的上述实施例被示例为一般对称地围绕校准标签的外 围。在可替换的实施例中，校准标签是不对称的，从而仅允许校准标 签和集成仪表的自动校准组件的一种定位。在这些实施例中，所述校 准标签可以进一步包括标签定位组件以帮助使用者恰当地对准所述 校准标签。可替换地，校准标签的不对称的形状可以便于校准标签的 恰当对准。
如从上述实施例可见，包含在校准标签上的编码的校准信息可以 通过集成仪表直接从传感器容器读取和确定而不需要将传感器容器 插入到集成仪表中。因此，上述设备允许集成仪表自动地确定用于包 含在传感器容器内的测试传感器的校准信息，其中所述传感器容器适 于允许使用者独立地从传感器容器中取出测试传感器并且将被取出 的测试传感器插入到集成仪表中。
集成仪表能够自动地确定用于被插入的测试传感器的校准信息而不需要使用者键入校准信息或放置和插入校准芯片或其他装置到 集成仪表中。因为传感器容器包括直接位于其上的校准标签，当使用 者打开传感器容器以取出测试传感器时，使用者必须具有校准标签。 在一些实施例中，所述集成仪表被设计为需要使用者在流体样本可以 被分析之前并且在测试传感器被插入集成仪表之后将校准标签接触 到自动校准组件。这可以帮助确保为被插入到集成仪表中的特定测试 条提供恰当的校准信息。
如上所述，感测触点是一种电触点并且在感测触点和任意其他校 准触点之间的连续性可以被用于建立在标签和自动校准组件之间建 立的接触。在一种可替换的方法中，标签上不使用触点，而是使仪器 具有类似开关的按钮，当通过容器与自动校准组件建立机械接触时， 该按钮被激活。在任一实施方式中，微控制器均将反复试图读取标签 直至检查到有效的校准代码或者通过感测机构确定所述标签已被取 出。
以上实施方式使得校准标签即时接触校准组件。 一旦微控制器传 递了校准信息，则标签可以被取出并且仪表记忆并使用被传递的信 息。可替换的实施方式将使瓶子咬合在仪器的外部上或以其他方式附 着到仪器外部(或使仪器附着到瓶子)并且使标签接触校准组件。然 后，两者保持连接直至全部传感器均被用过并且旧瓶子由新瓶子取 代。这种集成传感器不仅可以存储在仪器中，而且还可以降低在以具 有与上一个瓶子不同的校准代码的新瓶子进行测试之前测试器不使 标签接触校准组件的可能性。
可替换的实施例A
一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统，该测试系统
包括
传感器容器，其具有基部和盖子，该传感器容器适于在其中封入 多个测试传感，传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签 包括位于其上的多个电触点，该电触点适于将校准信息编码在校准标 签上；以及测试装置，其具有位于其外部的自动校准组件，该测试装置适于 确定流体样本中的分析物浓度，所述自动校准組件包括适于与校准标 签上的多个电触点通信的多个校准元件，其中所述测试装置适于响应于接合电触点的校准元件而确定编 码在所述校准标签上的校准信息，编码的校准信息在不将传感器容器 或校准标签插入测试装置的情况下被确定。可替换的实施例B根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述校准标签附 着到所述传感器容器的盖子。 可替换的实施例C根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述测试装置和 所述自动校准组件形成数字电子电路。 可替换的实施例D根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述测试装置和 所述自动校准组件形成模拟电子电路。 可替换的实施例E根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述校准元件是 从自动校准组件延伸的校准引脚。 可替换的实施例F根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述自动校准组 件包括一个或多个定位组件，该定位组件适于接合形成在校准标签上 的 一个或多个标签定位组件。可替换的实施例G根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述校准标签具 有对称的形状。可替换的实施例H根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述校准标签具 有不对称的形状。可替换的实施例I根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述多个测试传 感器是多个电化学测试传感器。 可替换的实施例J根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中所述多个测试传 感器是多个光学测试传感器。 可替换的实施例K一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统，该测试系统包括传感器容器，其具有基部和盖子，该传感器容器包括附着于其上 的校准标签，该校准标签包括位于其上的多个电触点，所述多个电触 点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环，所述多个电触点中的 第二电触点经由导电轨迹连接到第二环，并且所述多个电触点中的第 三电触点与所述第一环和所述第二环断开，所述校准信息基于电触点 与第一环和第二环的连接和断开而被编码在校准标签上；以及测试装置，其具有位于其外部的自动校准组件和位于其内部的微 处理器，所述测试装置适于确定流体样本中的分析物浓度，所述自动 校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件， 所述微处理器适于响应于接合测试装置外部的多个校准元件的多个 电触点而确定编码在校准标签上的校准信息。可替换的实施例L根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述测试装置进 一步包括位于其中的存储装置，该存储装置与微处理器通信，该存储 装置适于存储查找表，该查找表中具有预定义的校准代码。可替换的实施例M根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述测试装置和 所述自动校准组件形成数字电子电路。 可替^f灸的实施例N根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述测试装置和 所述自动校准组件形成模拟电子电路。可替换的实施例o根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述多个校准元 件是从自动校准组件延伸的校准引脚。 可替换的实施例P根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述校准标签包 括感测触点，所述多个电触点一般置于围绕所述感测触点，该感测触 点适于被形成在自动校准组件上的感测引脚接合，所述感测触点和所 述感测引脚适于通知微处理器多个校准元件与多个电触点接合。可替换的实施例O根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述测试装置是 集成仪表。可替换的实施例R根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中所述多个电触点 中的第三电触点表示校准标签的索引位置。 可替换的处理S一种用于校准测试系统的方法，该方法包括以下步骤 提供具有基部和盖子的传感器容器，所述传感器容器适于在其中封入多个测试传感，所述传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签具有编码于其上的校准信息；提供测试装置，该测试装置具有位于其外部的自动校准组件； 经由所述自动校准组件确定编码在校准标签上的校准信息，所述校准信息在不将校准标签插入所述测试装置的情况下被确定。 可替换的处理T根据可替换的处理S所述的方法，该方法进一步包括以下步骤 基于所确定的校准信息来校准所述测试装置。虽然本发明允许各种修改和可替换的形式，但本发明的具体实施 例和方法以示例的方式显示在附图中并在本文中详细说明。然而，应 该理解，这不旨在将本发明限制为所公开的特定形式或方法，而是相 反，旨在覆盖落入由所附权利要求限定的本发明的精神和范围内的全 部修改、等价物和可替换物。
权利要求
1. 一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统，该测试系统包括传感器容器，其具有基部和盖子，所述传感器容器适于在其中封入多个测试传感，所述传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签包括位于其上的多个电触点，该电触点适于将校准信息编码在所述校准标签上；以及测试装置，其具有位于其外部的自动校准组件，所述测试装置适于确定所述流体样本中的所述分析物浓度，所述自动校准组件包括适于与所述校准标签上的所述多个电触点通信的多个校准元件，其中所述测试装置适于响应于接合所述电触点的所述校准元件而确定编码在所述校准标签上的所述校准信息，被编码的校准信息在不将所述传感器容器或所述校准标签插入所述测试装置的情况下被确定。
2. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准标签附着到 所述传感器容器的盖子。
3. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试装置和所述 自动校准组件形成数字电子电路。
4. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试装置和所述 自动校准组件形成模拟电子电路。
5. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准元件是从所 述自动校准组件延伸的校准引脚。
6. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述自动校准组件包括一个或多个定位组件，该定位组件适于接合形成在所述校准标签上 的一个或多个标签定位组件。
7. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准标签具有对 称的形状。
8. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准标签具有不 对称的形状。
9. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述多个测试传感器 是多个电化学测试传感器。
10. 根据权利要求1所述的测试系统，其中所述多个测试传感器 是多个光学测试传感器。
11. 一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统，该测试 系统包括传感器容器，其具有基部和盖子，所述传感器容器包括附着于其 上的校准标签，该校准标签包括位于其上的多个电触点，所述多个电 触点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环，所述多个电触点中 的第二电触点经由导电轨迹连接到第二环，并且所述多个电触点中的 第三电触点与所述第一环和所述第二环断开，所述校准信息基于所述 电触点与所述第一环和所述第二环的连接和断开而被编码在所述校 准标签上；以及测试装置，其具有位于其外部的自动校准组件和位于其内部的微 处理器，所述测试装置适于确定所述流体样本中的所述分析物浓度， 所述自动校准组件包括适于与所述校准标签上的多个电触点通信的 多个校准元件，所述微处理器适于响应于接合所述测试装置外部的所 述多个校准元件的所述多个电触点而确定编码在所述校准标签上的校准信息。
12. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置进一 步包括位于其中的存储装置，该存储装置与所述微处理器通信，该存 储装置适于存储查找表，该查找表中具有预定义的校准代码。
13. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置和所 述自动校准组件形成数字电子电路。
14. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置和所 述自动校准组件形成模拟电子电路。
15. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述多个校准元件 是从所述自动校准组件延伸的校准引脚。
16. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述校准标签包括 感测触点，所述多个电触点一般置于围绕所述感测触点，该感测触点 适于被形成在所述自动校准组件上的感测引脚接合，所述感测触点和 所述感测引脚适于通知所述微处理器所述多个校准元件与所述多个 电触点接合。
17. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试装置是集 成仪表。
18. 根据权利要求11所述的测试系统，其中所述多个电触点中 的所述第三电触点表示所述校准标签的索引位置。
19. 一种用于校准测试系统的方法，该方法包括以下步骤 提供具有基部和盖子的传感器容器，所述传感器容器适于在其中封入多个测试传感，所述传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签具有编码于其上的校准信息；提供测试装置，该测试装置具有位于其外部的自动校准组件； 经由所述自动校准组件确定编码在所述校准标签上的所述校准信息，该校准信息在不将所述校准标签插入所述测试装置的情况下被确定。
20.根据权利要求19所述的方法，该方法进一步包括以下步骤 基于所确定的校准信息来校准所述测试装置。
全文摘要
本发明公开了用于传递校准数据的系统和方法。一种测试系统包括传感器容器(100)和测试装置(10)。传感器容器具有基部(102)和盖子(104)。所述容器在其中封入测试传感器。所述容器包括附着于其上的校准标签(106)。所述标签包括位于其上的电触点(108)。电触点将校准信息编码在校准标签上。测试装置具有位于其外部的自动校准组件(64)。该测试装置用于确定流体样本中的分析物浓度。自动校准组件包括校准元件(68)，该校准元件用于与校准标签上的电触点通信。测试装置用于响应于接合电触点的校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息。被编码的校准信息在不将传感器容器或校准标签插入测试装置的情况下被确定。
文档编号G01N33/487GK101523209SQ200780036700
公开日2009年9月2日 申请日期2007年8月9日 优先权日2006年8月14日
发明者R·D·谢尔 申请人:拜尔保健有限公司