专利名称：利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及利用全息技术观察温度场的装置。
背景技术：
全息干涉技术是进行高精度测量的主要光学方法之一，能实现非接触 测量。 一般干涉量度只能测量形状比较简单、表面光洁度很高的部件，而 利用全息干涉技术能将应用范围扩展到任意形状的三维漫射表面的物体。
实用新型内容
本实用新型利用全息干涉技术的上述特性，提供一种利用全息技术观 察温度场的装置。
本实用新型的技术方案如下
一种利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置，包括 感光板，用于记录全息照片；
第一曝光装置，在所述感光板上记录热源的第一全息照片； 第二曝光装置，在所述感光板上记录热源的第二全息照片； 干涉产生装置，利用从第一全息照片获取的第一再现物像光波和从第
二全息照片获取的第二再现物像光波获取干涉条紋，所述千涉条紋对应于
所述热源周围温度场的变化。 该热源是非光源。
本实用新型利用全息干涉技术来观察热源周围空气随温度场变化而产 生的形变，从而实现对于热源周围温度场的观察。
图1是本实用新型的利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置的结构图。
具体实施方式
本实用新型提供一种利用全息技术观察热源周围温度场的装置，当热 源周围的温度场发生变化时，空气会发生形变，利用全息干涉技术能拍摄 到任意形状的三维漫射表面的物体的特性。本实用新型利用全息干涉技术， 借助热源周围空气的形变来观察热源周围的温度场。
本实用新型的实现如下，参考图l所示，提供一种利用全息摄像二次
曝光观察温度场的装置，该装置包括 感光板IO,用于记录全息照片；
第一曝光装置ll，在感光板IO上记录热源的第一全息照片； 第二曝光装置12，在感光板IO上记录热源的第二全息照片； 干涉产生装置13,利用从第一全息照片获取的第一再现物像光波和从
第二全息照片获取的第二再现物像光波获取干涉条紋，该干涉条紋对应于
所述热源周围温度场的变化。
需要注意的是，热源应当是非光源，以免干扰全息图像的拍摄。 本实用新型利用全息干涉技术来观察热源周围空气随温度场变化而产
生的形变，从而实现对于热源周围温度场的观察。本实用新型利用全息干
涉技术来观察热源周围空气随温度场变化而产生的形变，从而实现对于热
源周围温度场的观察。
权利要求1.一种利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置，其特征在于，包括感光板，用于记录全息照片；第一曝光装置，在所述感光板上记录热源的第一全息照片；第二曝光装置，在所述感光板上记录热源的第二全息照片；干涉产生装置，利用从第一全息照片获取的第一再现物像光波和从第二全息照片获取的第二再现物像光波获取干涉条纹，所述干涉条纹对应于所述热源周围温度场的变化。
2.如权利要求l所述利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置，其特 征在于，所述热源是非光源。
专利摘要本实用新型揭示了一种利用全息摄像二次曝光观察温度场的装置，包括感光板，用于记录全息照片；第一曝光装置，在所述感光板上记录热源的第一全息照片；第二曝光装置，在所述感光板上记录热源的第二全息照片；干涉产生装置，利用从第一全息照片获取的第一再现物像光波和从第二全息照片获取的第二再现物像光波获取干涉条纹，所述干涉条纹对应于所述热源周围温度场的变化。本实用新型利用全息干涉技术来观察热源周围空气随温度场变化而产生的形变，从而实现对于热源周围温度场的观察。本实用新型利用全息干涉技术来观察热源周围空气随温度场变化而产生的形变，从而实现对于热源周围温度场的观察。
文档编号G01J5/00GK201340304SQ20082015696
公开日2009年11月4日 申请日期2008年12月11日 优先权日2008年12月11日
发明者琦 毛 申请人:上海市七宝中学