专利名称：Led测试组的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及LED包装机，尤其涉及LED包装机中的LED测试组。
背景技术：
SMD (surface mount device,表面贴装零件的封装设备)LED包装机 利用探针测试LED的电性能参数(正向反向电压、漏电等)，该LED包 装机的LED测试组的结构和安装方式如图l所示，该LED测试组包括4笨 针1、探针2和探针座3,探针座3上有供探针1、 2插入的探针孔31、 32。如图2所示，其测试方式为将LED置于探针1和探针2上方，施以 下压的力量F使LED紧密接触探针1、 2并通以一定的电流电压来测试 LED的电性参数。上述LED测试组的缺点为，当LED置于探针1、 2上 方时，施以下压的力量F时，因为探针本身的间隙关系会使探针左右晃 动，如此会照成测试的接触点不稳定，另外，因为探针的晃动而反施于 被测试材料的作用力使被测试材料位置歪斜而影响测试效果的准确性。
发明内容
本实用新型的目的是提供测试准确、安全的LED测试组。 为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案 LED测试组，包括
一对探针，探针的下方通过导线连接测试机，每个探针的上部为探 针头，探针头接触位于探针头上方的LED;
探针座，其上有分别供所述一对探针插入的两个探针孔；
另外，还包括探针限位块，其上有限制所述一对探针沿探针径向摆动的两个限位 孔，所述探针限位块位于所述探针座上方。
上述LED测试组增设了探针限位块，该探针限位块可以有效防止探 针的左右摆动， 一方面使被测试材料与探针头的接触稳定、安全、测试 准确；另一方面也避免了探针带动被测试材料的摆动。
图1是现有技术LED测试组的爆炸图2是现有技术LED测试组的装配图3是本实用新型LED测试组的爆炸图4是本实用新型LED测试组的装配图。
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
具体实施方式
参见图3和图4, LED测试组包括探针1、探针2,探针1、 2的下 方通过导线连接测试机(图未示)，探针1、 2的上部分别为探针头11、 21,探针头11、 21接触位于探针头11、 21上方的LED。探针座3上有 分别供^:针1、 2插入的两个揮:针孔31、 32。左限位块41和右限位块42 构成探针限位块。左限位块上有两个半圆形的限位孔41a、 41b,右限位 块上有两个半圆形的限位孔42a、 42b。左、右限位块41、 42上别有定位 孔411、 412和定位孔421、 422,相应的，在4笨针座3上有定位孔33-36，使用四个螺钉或者销等分别插入定位孔411和定位孔33、定位孔 412和定位孔34、定位孔421和定位孔35、定位孔422盒定位孔36,将 左、右限位块41、 42固定到探针座3上方。探针1和探针2分别位于限 位孔41a、 42a和限位孔41b、 42b之间。限位孔41a、 42a和41b、 42b的 最上端夹持所述探针头11、 21。
上述LED测试组增加了左、右两个限位块41、 42，当LED下压做 测试工作而施以探针l、 2力量F时，因为探针头ll、 21被左、右限位块41、 42限制，使探针1、 2只能做上下运动，从而减少因为探针本身间隙 引起的左右晃动造成测试面的不稳定而使测试误判。
上述LED测试组也可避免因为探针晃动的反作用力造成被测试材料 位置歪斜，以致于被测试材料移至下一个工作站时无法定位工作。
当然，本实用新型LED测试组还可有其它变形。例如，所述探针限 位块也可以为一体式机构。总之，根据上述实例的提示而做显而易见的 变动，以及，其它凡是不脱离本实用新型实质的改动，均应包括在权利 要求所述的范围之内。
权利要求1、LED测试组，包括一对探针，探针的下方通过导线连接测试机，每个探针的上部为探针头，探针头接触位于探针头上方的LED；探针座，其上有分别供所述一对探针插入的两个探针孔；其特征在于，还包括探针限位块，其上有限制所述一对探针沿探针径向摆动的两个限位孔，所述探针限位块位于所述探针座上方。
2、 根据权利要求1所述的LED测试组， 其特征在于所述探针限位块固定在所述探针座的上方。
3、 根据权利要求1所述的LED测试组， 其特征在于所述揮:针P艮位块分为左限位块和右限位块，左、右限位块上各有两个 半圆形的限位孔。
4、 根据权利要求1-3中任意一项所述的LED测试组， 其特征在于所述限位孔的最上端夹持所述探针头。
专利摘要本实用新型涉及LED包装机，尤其涉及LED包装机中的LED测试组。LED测试组，包括一对探针，探针的下方通过导线连接测试机，每个探针的上部为探针头，探针头接触位于探针头上方的LED；探针座，其上有分别供所述一对探针插入的两个探针孔；另外，还包括探针限位块，其上有限制所述一对探针沿探针径向摆动的两个限位孔，所述探针限位块位于所述探针座上方。上述LED测试组增设了探针限位块，该探针限位块可以有效防止探针的左右摆动，一方面使被测试材料与探针头的接触稳定、安全、测试准确；另一方面也避免了探针带动被测试材料的摆动。
文档编号G01R31/00GK201311466SQ200820202380
公开日2009年9月16日 申请日期2008年10月24日 优先权日2008年10月24日
发明者张卫东, 李绍楷 申请人:珠海华冠光电技术有限公司