具有间隙设定装置的电子组件处置器的制作方法

文档序号:6142887阅读:105来源:国知局
专利名称:具有间隙设定装置的电子组件处置器的制作方法
技术领域
本发明涉及在电子组件工具与电子组件测试附件之间设定预界定且可重复的间隙。
背景技术
电子组件由各种各样的不同电子组件处置器处置。这些不同的处置器包含但不限 于由Oregon (俄勒冈州)、Portland (波特兰)的Electro Scientific Industries Inc.(电 子科学工业公司)(本专利申请案的受让人)出售的产品。电子科学工业出售各种电 子组件处置器,包含但不限于以型号3300出售的高容积MLCC测试器、以型号3400 出售的芯片阵列测试器、以型号6650出售的视觉测试系统及以型号753出售的芯片阵 列终止器。
一种此电子组件测试机器描述于标题为£/ecWca/ Ocm'f Cowpo"e"/ //a"<i/er (电 路组件处置器)的第5,842,579号现有技术美国专利中。参照图2,其显示第5,842,579 号美国专利的电路组件处置器的整体示图,所述专利的全部内容以引用的方式并入本 文中。图2图解说明其上具有多个测试附件的处置器10,所述测试附件包含装载框架 12、多个测试模块14及吹出器16。在操作中,使电子组件穿过装载框架12且将其个 别地抽吸到存在于测试板20上的测试座22中。测试座22通常是围绕测试板20连续 的同心环。
更具体地参照装载框架12及更具体地参照图2A,装载框架12包含多个弧形栅 栏13。弧形栅栏13允许邻近栅栏13收集电子组件14,如图所示。弧形栅栏13的基 底在测试板20上面稍微地间隔开以防止电子组件在弧形栅栏13下方通过或将电子组 件卡在弧形栅栏13下方。弧形栅栏13与测试板20之间的间距界定由字母A标记的 间隙。第5,842,579号美国专利指示间隙A由垫片设定。
测试板20沿如图2中所示的箭头B所指示的朝向测试模块14的方向转位。电子 组件由测试模块14测试。随着测试板20继续转位,所述电子组件接着由吹出器模块 16从组件处置器10抽出。
继续参照第5,842,579号美国专利,改换测试板20可是必要的。举例来说,若测 试板20被磨损,则其可需要改换,或举另一实例来说,可改换测试板20以适应对不 同类型的电子组件的处置。在此类情形下,必须移动测试附件(例如装载框架20)使 其不造成妨碍,以使得可移除旧测试板并添加新测试板。必须接着将所述测试附件放
4回于适当位置中以在所述测试附件与测试板之间设定恰当间隙。如第5,842,579号美国 专利中所描述,此间隙、且明确地说装载框架与测试板之间的间隙通过使用垫片来设 定。垫片的排他性使用耗时且麻烦。

发明内容
提供一种电子组件处置器。所述处置器包含接纳在所述处置器上的可拆卸工具。 线性轴承安装到所述处置器,且测试附件安装到所述线性轴承,其中所述测试附件可 在第一位置与第二位置之间移动。设定柱安装到所述测试附件,所述设定柱可延伸以 在所述测试附件处于其第二位置中时在所述测试附件与所述工具之间界定间隙。
在优选实施例中,所述可拆卸工具可以是测试板且所述测试附件可以是装载框 架。当所述测试附件是装载框架时,所述装载框架可包含多个弧形栅栏且所述测试板 可包含多个同心测试座环。所述优选实施例可包含用以在径向上及在轴向上调节所述 装载框架以使所述装载框架栅栏中的至少一者与所述测试设定环中的至少一者对准的 测微计。
在优选实施例中,还可提供运动安装架。所述运动安装架可操作以调节与所述测 试附件相关联的平面。在优选实施例中,设定柱可以是其中具有用于气流的通路的空 气气缸。当所述设定柱与所述测试板形成紧密接触时,所述气流被阻塞且可设定间隙。
还提供一种在电子组件处置器上将第一工具改换成第二工具的方法。在所述方法 中,所述电子组件处置器包含安装到线性轴承的测试附件。所述测试附件可在第一位 置与第二位置之间移动。所述方法包含使所述测试附件远离所述第一工具移动及用所 述第二工具替换所述第一工具。使设定柱从所述测试附件延伸且使所述测试附件朝向
所述第二工具移动以使得所述设定柱接近所述第二工具。将所述测试附件锁定到适当 位置中,且縮回所述设定柱。
当结合附图阅读所涵盖的用于实践本发明的最佳方式的以下说明时,所属领域的 技术人员将明了本发明的其它应用。


本文说明参照附图,其中在数个视图中相似参考编号指代相似部件,且图式中 图1是允许在装载框架与测试板之间设定可重复间隙的间隙设定装置的分解透视
图2图解说明现有技术电子组件处置器的透视图2A是图解说明电子组件及弧形栅栏的装载框架的截面图3图解说明沿线3-3截取的图1的间隙设定装置的剖视图4图解说明处于不同操作位置中的图1的间隙设定装置的剖视图5图解说明处于第三操作位置中的图1的间隙设定装置的剖视图;图6图解说明处于第四操作位置中的图1的间隙设定装置的剖视图6A图解说明空气气缸及空气气缸轴的替代配置;
图7图解说明供与第一优选实施例一起使用的中空气动空气轴;且
图8图解说明安装到基底板的装载框架的分解参考透视图;且
图9图解说明在第一优选实施例中用以调节装载框架的平面性的运动调节。
具体实施例方式
参照其中相似元件被相似地编号的图,其显示供与电路组件处置器一起使用的间 隙设定装置。电子组件处置器有时包含移动测试组件,举例来说,固持电子组件的测 试板。固定件(通常为测试附件)邻近所述移动测试组件而坐落。在例如第5,842,579 号美国专利中所描述的系统的系统中,在排他性使用垫片的情况下设定例如固定装载 框架12与移动测试板20之间的间隙。垫片难以处置且造成用以设定间隙的耗时工作。
优选实施例是参照第5,842,579号美国专利中所图解说明的电路组件处置器加以 描述且明确地说描述一种用于在装载框架12与测试板20之间设定间隙的设备及方法。 本发明并不限于供与装载框架及测试板一起使用。本发明同等地适用于其它电子组件 处置装置,举例来说,由电子科学工业以型号6650、 3400及753出售的装置。
关于第5,842,579号美国专利的电子组件处置器,装载框架12安装于线性轴承上。 所述线性轴承允许所述装载框架远离所述测试板垂直移动以使得可替换所述测试板。 可縮回设定柱可延伸于所述装载框架下方以使得当通过使所述装载框架沿所述线性轴 承向下滑动而使所述装载框架降低回到适当位置中时,装载框架栅栏与所述测试板之 间的间隙将由所述设定柱延伸超过所述装载框架栅栏的量确定。在已设定所述间隙之 后,可将所述装载框架锁定到适当位置中且使所述设定柱縮回而不造成妨碍。如本文 中所描述,设定柱的实例包含中空空气气缸及测微计。
参照图l,其显示利用测试板20的电子组件处置器的分解透视图。测试板20包 含多个同心测试环22。通过使用装载框架12将电子组件递送到测试环22中。装载框 架12包含多个弧形栅栏13。弧形栅栏13可操作以将电子组件11递送到邻近测试座 22的区域,如图2A中所图解说明。
继续参照图1,测试框架12安装到线性轴承30。线性轴承30基底32。如图所示, 基底32通过运动安装架70连接到处置器10的基底板18。如图所示,装载框架12经 由导向件34以可滑动方式接纳到轴承30中。导向件34可与装载框架12成整体或可 以是单独组件。
如图1中所示,设定柱50安装到装载框架12。设定柱50可在装载框架12上定 位于各种位置中,包含但不限于导向件34。在第一优选实施例中,设定柱50包含具 有可延伸轴58的空气气缸52。或者,设定柱50可以是测微计。
如图7中更详细地显示,空气气缸52包含空气入口 54及空气出口 55。空气软管
6附接到入口及出口 54及55中的每一者以将空气递送到气缸52且致动轴58。轴58从 空气气缸52延伸的距离可通过轴环51调节。轴环51包含扣件53,所述扣件可经松 动以允许轴环51重新定位,借此调节轴58从空气气缸52延伸的距离。如图所示,轴 58包含内部通路59,空气经由气动耦合件56流过所述内部通路。如以下更详细地描 述,当轴58的远端57接近测试板12时,通过通路59的气流被阻塞。此阻塞被检测 到且允许在装载框架12与测试板20之间设定间隙。
进一步参照图1,轴58可延伸于装载框架12的栅栏13下方/超过装载框架12的 栅栏13。在轴58处于其延伸位置中时,装载框架12可通过线性轴承30朝向测试板 20降低。当轴58与测试板20形成紧密接近时,通过轴58的中空部分59的气流被阻 塞。此时,锁36可经啮合以将装载框架12锁定到适当位置中。如图所示,锁36包含 用于手动致动的旋钮38。还可使用自动锁。通过使轴58延伸越过栅栏13的底部已知 的距离,可准确地且反复地设定装载框架12与测试板20之间的间隙。在所述第一优 选实施例中,可将所述间隙设定为大约25微米。大体来说,l与50微米之间的间隙 对于宽广范围的不同电子组件来说将是可接受的。
进一步参照图1,对于所述第一优选实施例的装置的某些购买者来说,可期望在 径向上及在轴向上对准栅栏与对应同心测试座环22。如图所示,可通过致动或调节测 微计60来调节此径向及轴向对准。如图l中进一步显示,可提供管道镜检査孔61以 使操作员能够将管道镜(未显示)放置到检査孔61中以视觉检验装载框架12与测试 板20之间的间隙以及栅栏13的对准。
参照图8,测试板20是平面的。类似地,装载框架12的底侧(且明确地说是栅 栏13的底部边缘)界定平面。在优选实施例中,运动安装架70允许由栅栏13界定的 平面经调节以与由测试板12界定的平面共面。运动安装架70包含位于处置器10的基 底板18上的销72。销72啮合定位于基底32上的对应可调节安装架74。在所述第一 优选实施例中,运动安装架70进一步包含装配到孔77中的一对销76。销76与孔77 协作以防止基底32在处置器10上滑动。
参照图9,可通过调节轴组合件78来改变每一安装架74的深度。轴组合件78包 含精度调节旋钮79以实现对由栅栏13的底侧界定的平面的调节。为促进测试板12 的平面与由栅栏13的底侧界定的平面之间的较精确的共面关系,可将管道镜(未显示) 放置到管道镜检查孔61中以进行视觉检验。
参照图3-6,其显示沿图1的线3-3截取的一系列剖视图解,所述图解图解说明 间隙设定装置的第一建议操作序列。如图3中所示,装载框架12与测试板20间隔开。 此允许从处置器10的基底板18移除测试板20。在已将替换测试板配合到基底板18 之后,空气气缸52经致动以使轴58延伸超过由测试框架12的栅栏13界定的平面。 起始气流以通过通路59。如图3中所示,锁36处于未锁定位置中,此指示装载框架 12不久将沿朝向测试板20的方向移动。装载框架12可由锁36锁定在其上部位置中。
参照图4,装载框架12经移动以邻近测试板20。由于轴58延伸超过由栅栏13界定的平面,因此轴58将在栅栏13之前与装载框架12形成紧密接近。当轴58与测 试板12形成紧密接近时,通过通路59的气流将受阻塞。此经阻塞的气流可经检测以 使得可如图5中的箭头37所示啮合锁36。气流的阻塞可由视觉或可听见的报警指示 以通知用户致动锁36以在测试板12与栅栏13之间设定间隙。或者,通过通路59的 气流的阻塞可致使自动锁固定间隙。
参照图6,其显示在间隙已由设定柱50及轴58设定之后,空气气缸52经致动以 使设定柱縮回。设定柱50的縮回允许测试板20在无来自轴20的阻塞的情况下自由地 旋转。
参照图6A,其显示空气气缸及空气气缸轴的替代配置。如图6A中所示,轴158 包含轴肩159。当空气气缸152将轴158啮合到其最大程度时,轴肩159将啮合整体 地机加工到装载框架12中的凸缘161。通过设定凸缘161的位置,可固定轴158突出 超过栅栏13的距离。可通过精确地机加工装载框架12来设定凸缘161的位置或另一 选择为可通过使用垫片来升高或降低凸缘161。将不必在每次替换测试板20时替换用 于升高或降低凸缘161的垫片,因为所述垫片将仅固定轴158突出超过栅栏13的距离。
尽管已结合目前被视为最实际且优选的实施例来描述了本发明,但应理解,本发 明并不局限于所揭示的实施例,相反,其打算涵盖包含在所附权利要求书的精神及范 围内的各种修改及等效布置,应赋予所述范围最广泛的解释以包括在法律下准许的所 有此类修改及等效结构。
权利要求
1、一种包含安装到其的可拆卸工具的电子组件处置器,所述工具包含用于接纳电子组件的多个同心测试座及包含多个栅栏的装载框架,所述装载框架接近所述工具而定位且经配置以将电子组件引导到所述测试座中,所述电子组件处置器的特征在于线性轴承,所述线性轴承借助安装到其的所述装载框架安装到所述处置器;所述装载框架可在其中所述装载框架远离所述工具的第一位置与其中所述装载框架接近所述工具的第二位置之间移动;及安装到所述装载框架的设定柱,所述设定柱可操作以在所述装载框架处于其第二位置中时在所述装载框架与所述工具之间界定间隙。
2、 如权利要求10所述的电子组件处置器,其特征在于所述设定柱包含空气气缸,所述空气气缸具有可从所述装载框架延伸和縮回的 轴;及所述轴在所述装载框架处于其第二位置中时延伸以在所述装载框架与所述工具 之间界定所述间隙。
3、 如权利要求2所述的电子组件处置器,其特征在于-所述轴包含使空气从其中流过的通路,以使得当所述装载框架从其第一位置移动 到其第二位置时,所述轴形成紧密接近,借此中断流过所述通路的所述空气以在所述 装载框架与所述工具之间界定所述间隙。
4、 如权利要求2或权利要求3所述的电子组件处置器,其特征在于 所述轴不可延伸越过凸缘。
5、 如前述权利要求中任一权利要求所述的电子组件处置器,其特征在于-可操作以将所述装载框架锁定于其第二位置中的锁。
6、 如前述权利要求中任一权利要求所述的电子组件处置器,其特征在于 所述线性轴承借助运动耦合件安装到所述处置器。
7、 如前述权利要求中任一权利要求所述的电子组件处置器,其特征在于 所述装载框架可在径向上调节。
8、 如前述权利要求中任一权利要求所述的电子组件处置器,其特征在于 用以在径向上调节所述装载框架的测微计。
9、 如前述权利要求中任一权利要求所述的电子组件处置器,其特征在于 用以准许检验所述间隙的至少一个镗孔。
10、 一种在具有安装到其的测试附件的电子组件处置器上将第一工具改换成第二 工具的方法,所述测试附件可在第一位置与第二位置之间移动且接近所述第一工具而 定位,所述方法的特征在于使所述测试附件线性地移离所述第一工具;用所述第二工具替换所述第一工具; 使设定柱从所述测试附件延伸;使所述测试附件朝向所述第二工具线性地移动以使得所述设定柱接近所述第二 工具;将导向件锁定到适当位置中;及 使所述设定柱从所述测试附件縮回。
11、 如权利要求IO所述的方法,其特征在于 所述第一或第二工具界定第一平面; 所述测试附件界定第二平面;及调节将所述测试附件安装到所述电子组件处置器的线性轴承的基底以使所述第 二平面与所述第一平面共面。
12、 如权利要求10或权利要求11所述的方法,其特征在于 所述工具是包含多个在径向上间隔开的孔口环的测试板; 所述测试附件是具有多个弧形栅栏的装载框架;及在径向上且有角度地调节所述装载框架以使得所述弧形栅栏中的至少一者邻近 所述在径向上间隔开的孔口环中的至少一者。
全文摘要
本发明提供一种用于电子组件处置器的间隙设定装置。所述电子组件处置器包含线性轴承,所述线性轴承具有安装到其的测试附件。所述测试附件可在远离工具的第一位置与较靠近所述工具的第二位置之间移动。设定柱可从所述测试附件延伸,以使得当所述测试附件从所述第一位置移动到所述第二位置时,所述设定柱可在所述测试附件与所述工具之间固定间隙。
文档编号G01R31/26GK101589659SQ200880003326
公开日2009年11月25日 申请日期2008年1月25日 优先权日2007年1月29日
发明者布莱恩·迈克尔, 戴维·詹姆斯·麦基弗, 道格·J·加西亚, 马丁·弗雷德雷克·班伯格 申请人:Esi电子科技工业公司
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