三维形状测定装置用测定探头的制作方法

专利名称：三维形状测定装置用测定探头的制作方法
技术领域：
本发明主要涉及利用纳米级超高精度测定非球面透镜等测定物的形 状等的装置用的测定探头。
背景技术：
非球面透镜根据光学设计要求的设计值，必须制作成误差范围在0.1 微米以下的高精度透镜，但仅在非球面透镜的加工作业中不存在能加工出 达到这种精度的加工机器。因此，发明者过去发明了0.01微米级别的超高 精度的三维测定机。此测定机，作为开发、制造非球面透镜的必需品被广 为利用。其内容在专利文献1 4等中记载。利用此测定机，通过将测定 结果反馈给非球面透镜的加工作业，可以在O.l微米以下的精度下制作非 球面透镜的模具或非球面透镜。
但是，近来的数码相机等使用的非球面透镜，对于超薄化、高画质化、 广角化和高变焦倍率化等，要求越来越严格，不仅要求形状精度高，还要 求品质优良。特别是，现有的测定机不能测定非球面透镜的表背面光轴的 倾斜及偏心的问题显现出来。另外，在只能从非球面透镜表背面中的一侧 进行测定的测定机中，也要求向纳米级别的更高精度化，且为了使操作者 在工厂的现场能简单地使用，还要求测定机的小型化和廉价化。
作为现有的非球面透镜的三维形状测定机，如所述那样，从表背面之 中的一面以0.01微米级别的超高精度测定非球面透镜或其模具的形状。参 照专利文献1 4简单说明。
图10是表示专利文献1所记载的超高精度三维测定机的整体结构的图。在图10中，上石平台106搭载有用于测定XYZ坐标的振荡频率稳定 化激光器138、测量长度单元、Z滑块111和探头110，该上石平台106 在XY载物台(stage) 120、 121的作用下，在XY方向移动。在下石平台 123上固定有X参照镜103、 Y参照镜104、和在下石平台123固定的门 型架台107上固定的Z参照镜108，在测定物101的测定点的轴上，分别 由测定机构U4、 115、 112、 113测定从振荡频率稳定化激光器138到这 些高平面镜(X参照镜103、 Y参照镜104、上Z参照镜108)的距离的变 化，从而即使XY载物台120、 121的移动直线度是1微米的级别，也可 以得到参照镜103、 104、 108的平面度为IO纳米级别的坐标轴精度。
图11表示的是专利文献2所记载的三维测定装置的探头和Z轴的构 成图。包含探头210的Z方向上的可动部，由巻绕的一对薄板状弹簧部件 217吊起自身重量。与螺旋弹簧相比，由于长度较短、弹簧力变化相对于 长度变化少，因而叫作恒载弹簧。包含探头210的Z可动部在线圈213的 作用下被上下驱动。根据这样的结构，能够以较轻的力使探头210追随于 测定面的凹凸顺畅地上下移动。并且，线圈213因为在包含探头210的Z 可动部的重心附近施加驱动力，所以将由驱动力对Z气动滑块2U的移动 直线度的不良影响限制在最小限度。
图12表示的是专利文献3记载的三维测定探头。在与测定物301相 接的触针(stylus) 305上固定的小滑动部306，在含有小空气轴承307的 可动部的作用下可以沿Z方向移动，由板簧350支承，粘贴有反光镜309， 半导体激光器334的光被反光镜309反射，通过线性马达344对探头整体 进行驱动，以使小滑动部306相对于小空气轴承307的变位一定。Z坐标 测定用的振荡频率稳定化激光被同一透镜314集光到同一反光镜309，根 据反射光测定Z坐标。
图13表示的是专利文献4记载的形状测定装置。虽然与专利文献1 是相同的想法，但探头405不在XY方向上移动，而是构成为测定物401 与XYZ参照镜403、 404、 402成为一体，在XY移动装置421的作用下 在XY方向上移动。
图14表示的是专利文献5记载的三维形状测定装置。是可以从上侧 和下侧这两侧测定透镜501的形状的装置。
4图15是专利文献6的说明图，记载了如下的透镜面形状的测定方法，
即，将测定探头在透镜面上进行聚焦伺服后，找出中心即搜索顶点，将其
作为测定面601的测定原点。
专利文献7记载了一种形状测定方法及装置，其使用带有三个球体的 透镜固定夹具，分别在表、背测定非球面透镜和三个球体，从而可以测定 非球面透镜的倾斜及偏心。
专利文献8和9记载了使透镜以光轴方向为中心旋转、从两侧测定形 状的方法。
图16A及图16B表示的是专利文献10中记载的接触式探头的自重支 承方法。
专利文献1日本特许第3046635号公报(第六页、图l)专利文献2日本特许第2973637号公报(第五页、图6)专利文献3日本特许第3000819号公报(第三页、图l)专利文献4日本特开平10—1702"号公报(第11页、图3)专利文献5日本特许第3486546号公报(第13页、图3)专利文献6日本特公平07—69158号公报(第五页、图l)专利文献7日本特开2002—71344号公报专利文献8日本特许第3604996号公报专利文献9日本特开2005—069775号公报专利文献IO日本特开2003—42742号公报(第19页、图6) (1)说明独立形式的技术方案所述的本发明要解决的问题 在所述现有的专利文献1 4的结构中，由于不把测定物背面翻过来 就无法测定表背面，所以存在的问题是为了使表背面的测定坐标系相同， 若不使用例如专利文献7中记载的那样的夹具，就无法测定倾斜及偏心。 另外，由于除了测定面的测定以外，又必须测定夹具，所以使测定时间变 得非常长，存在误差发生的原因增大的问题。
专利文献5的结构是，从测定物501的上面测量上表面，同时从测定 物501的下面测量下表面。为了达成亚微米以下的测定精度，因为XYZ 载物台的移动直线度和垂直度很难达到亚微米以下，所以与专利文献1一 样，使用X参照镜204u、 X参照镜204d、 Y参照镜(图示未表示)、Z参照镜206u、 Z参照镜206d，将这些参照镜的平面度作为XYZ坐标轴 的基准。但是，因为在上下配置各异的参照镜，所以成为上下不同的XYZ 坐标系。
但是，若在不同的坐标系中测定测定物501的上下面，则不能测定测 定物501的上下面的倾斜及偏心。因此，通过从上下测定与测定物501 — 体固定的三个球，根据三个球的测定数据进行计算，从而补正测定物501 的上下面的坐标系的偏差。
并且，专利文献5使用六面高价的参照镜，不仅变得极其复杂、巨型 化和高价化，而且除了测定面以外还必须另外测定三个球面，所以相当花 费时间。由于再加上球的球面度或测定误差，存在倾斜及偏心的测定结果 产生误差的问题。
在专利文献5的图14中，使用两面X参照镜204u和204d、两面Z 参照镜206u和206d、和两面Y参照镜(没有图示)，共计使用六面参照
镜o
另外，为了测定长度，X轴使用207u、 208u、 207d、 208d四个激光 测长单元，Y轴也使用四个激光测长单元，Z轴使用209u、 209d两个激光 测长单元，共计使用IO个激光测长单元。在激光测长单元中，只是一个 轴就需要棱镜、角隅棱镜(corner cube)、波长板等多种精密光学部件， 如果是配备十轴，就需要大量的精密光学部件，是相当大的花费却很难实 用化的装置。
在专利文献5的构造中，无论如何都需要六面参照镜、IO轴激光测长 单元，不能减少。以下说明理由。
首先，对Z轴进行说明。Z轴利用作为激光测长单元的一例的上侧Z 测定用千涉计209u，对从在上探头221u的背面配置的上侧反光镜208u 到上侧Z参照镜206u的距离进行测定。下探头221d也同样，利用作为激 光测长单元的另一例的下侧Z测定用干涉计209d，对从在下探头221d的 背面配置的下侧反光镜208d到下侧Z参照镜206d的距离进行测定。各个 干涉计209u、 209d，对于从探头221u、 22ld背面的反光镜208u、 20Sd 到参照镜206u、 206d的距离，通过激光干涉计209u、 209d直接迸行测定， 所以无论省掉Z参照镜206u、 206d哪一个，省掉的Z坐标都不能测定。
6关于X轴，在专利文献5的结构中，上探头221u沿着上侧的引导件 226u上下运动，下探头226d沿着下侧的引导件226d上下运动。各个引导 件226u、 226d使用滚动轴承的引导件，滚珠丝杠227u、 227d由马达229u、 229d驱动而上下运动。在这样的结构中，连达到O.l微米以下的直线度也 是不可能的。因此，为了补正引导件226u、 226d的移动直线度的不足， 对于X坐标，只用上探头226u测定距离Xlu和距离X2u的两处，补正Z 轴引导件移动时的倾斜变化。此外，因为从引导件226u、 226d到触针的 距离也会偏离，为了排除热膨胀的影响等，尽可能在探头221u、 221d的 附近测量X坐标。
下探头221d因为在另外的下侧的引导件226d上上下移动，所以在下 探头221d的附近的相同的两处，测定距离Xld和距离X2d。如果无论哪 个反光镜、例如省去下侧的反光镜204d充当上探头221u的X坐标测定数 据，则下探头221d的下侧引导件226d的直线度不足，倾斜度、热膨胀等 误差增大，不能进行高精度测定。因此，上侧X参照镜204u和下侧X参 照镜204d任一个都不能省略。
对于Y轴也同样，基于与X轴同样的原因，不能省略两个Y参照镜
的其中一方。
其结果是，在专利文献5的方式中，成为上下不同的XYZ坐标。也 就是说，上侧Z参照镜206u形成上侧XY坐标平面，下侧Z参照镜206d 形成下侧XY坐标平面，难以使两者达到一致。上侧X参照镜204u形成 上侧的YZ坐标平面，下侧X参照镜204d形成下侧YZ坐标平面，难以 使两者达到一致。Y参照镜也同样。因此，在该例子中，通过用上下的探 头221u、 221d测定三个球，来补正上下坐标系的不一致。因此，除测定 被测定物以外，还要测定三个球，除了测定除测定物以外还要进行额外3 倍的测定。
专利文献7记载了，将透镜和三个球固定于一个夹具，从表面侧测量 透镜和三个球，把夹具翻过来从背侧测量透镜和三个球，根据计算可以测 定透镜的倾斜及偏心。这具有可以这样直接使用在现有的专利文献1 4 中记载的超高精度三维测定机的优点，但是除测定物以外还需要测量三个 球这额外增加的3倍的测定。专利文献8是用两个探头从上下或左右测定透镜的两面，从而测定透
镜的倾斜及偏心。在其上下具备各不相同的z参照镜和x参照镜这一点上，
存在与专利文献5相同的问题，但不同的点是，测定坐标系不是直角坐标 系，是使透镜以光轴方向为中心旋转，根据旋转角度和半径进行测定的极 坐标系。在此文献中，不仅使用旋转角度测定，在旋转台的振动测定中使 用两组激光测长单元。
极坐标的测定，因为要使两个探头的位置对合在旋转中心，且要使非 球面透镜的光轴与极坐标测定的旋转中心相一致，所以与直角坐标测定相 比，必要的调整项目多，误差发生的因素也多。并且，还存在不能测定四 方或细长的透镜这样的、在直角坐标系中没有的问题。
专利文献9也是利用两个探头通过极坐标测定从左右测定透镜的两 面，从而测定透镜的倾斜及偏心。但是因为是极坐标测定，所以存在所述 问题，加上因为没有用于超过载物台精度限界的参照镜等机构，所以认为 在纳米级别的精度上无法测定非球面透镜的两面。
所述本发明的课题就是解决所述这些问题。
(2) 说明从属形式的技术方案记载的本发明所要解决的问题。 专利文献1 4的方式虽然是在纳米级别的精度上适合用于测定非球
面透镜的很好的结构，但为了从非球面透镜的两面进行测定，在专利文献 l的结构中，必须在测定物和石平台之间装入包含探头的Z轴部。在专利 文献4的结构中，必须在测定物和Z参照镜之间装入探头。
但是，因为探头在Z方向上很长，所以探头很难插入到测定物与石平 台之间。若硬要将探头装入到测定物与石平台之间，则测定物与参照镜或 石平台之间的距离就会变长，就不能忽视振动或热膨胀等导致精度恶化的 原因。
将探头在纵向上由大而长变为小而短，成为从属形式技术方案记载的 本发明所要解决的问题。另外，将探头縮小在从一面测定的测定机中，也 是为了提高测定响应性、实现测定机的小型化、低成本化的重要课题。
(3) 说明从属形式的技术方案记载的本发明所要解决的问题。 在专利文献1 4的结构中，为了支承探头的自重，从上面用弹簧吊
起。在用专利文献2的恒载弹簧支承的结构中，利用两个巻绕的由薄板制
8成的弹簧从上面拉拽。但是，在这种现有装置的结构中，若要从下侧将测 定的探头插入到测定物与石平台之间，则存在由于该弹簧部长，从而Z轴 部变长的问题，和因为弹簧部在探头上侧，导致与测定物互相干涉的问题。
另一方面，在专利文献10中，用杠杆616或滑轮618支承探头602 的自重。但是这样一来，探头602的可动部的质量变成了2倍。
探头的驱动是在可动部添加线圈，使线圈通过在固定部的磁回路的空 隙部，流通电流利用产生的电磁力来驱动的方法较好。是为了使聚焦误差 信号为零，通过进行聚焦伺服，使测定力一定，可以快速扫描测定面的方 法。没有输送间隙(backlash)，也不会对移动直线度带来不良影响。但 是线圈不能产生很大的力。
艮口，专利文献10的方法，为了达到平衡，由于探头的可动部的质量 变为2倍，从而存在不能基于线圈进行较快扫描的问题。因此，在专利文 献10中，用马达和滚珠丝杠驱动探头。但是，在滚珠丝杠输送中，虽然 输出较大的力，但存在响应性差，因为丝杠的间隙或丝杠旋转时向横向的 力而造成直线度恶化等的问题。
另外，用专利文献2中的恒载弹簧支承的结构，因为两个由巻绕的薄 板形成的弹簧的特性不一致，所以有时产生Z方向以外的力，这个力使Z 轴的移动直线度恶化。

发明内容
因此，本发明的目的是提供一种解决所述各种问题中的使探头变轻， 改善响应性，并且可以小型轻量化并且低成本的三维形状测定装置。
另外，作为从属形式的技术方案记载的本发明的目的是，除了所述目 的以外，解决所述各种问题中剩余的问题，提供一种可以在共同的坐标系 中超高精度地同时测定测定物的表背，可以超高精度地算出测定物的表背 面的倾斜和偏心的三维形状测定装置。
为了达成所述的目的，本发明如下构成。 (1)根据独立形式的技术方案记载的本发明的第一方式，提供一种 三维形状测定装置，其具有
第一单元，其在互相正交的XYZ坐标系中，对以XY方向为平面的Z参照镜、以YZ方向为平面的X参照镜、以XZ方向为平面的Y参照镜、
和保持测定物的测定物保持部件至少这四个部件的位置关系进行固定；
第二单元，其至少具有内置第一触针的第一测定探头、内置与所述
第一触针隔着所述测定物相互相对配置的第二触针的第二测定探头、 一体
地固定在所述第一触针上的Zf镜部、 一体地固定在所述第二触针上的Zb 镜部、和能够在z方向上分别分别独立地移动所述两个测定探头的测定探 头移动装置；
XY方向移动装置，其使所述第一单元、或所述第二单元相对移动；
在所述第二单元上配置的XYZ坐标测定用激光发生装置；
X坐标测定装置，将从所述激光发生装置发出的激光照射到所述X参
照镜上，根据由所述X参照镜反射的反射光，测定所述第一单元的X坐
标；
Y坐标测定装置，将从所述激光发生装置发出的激光照射到所述Y参 照镜上，根据由所述Y参照镜反射的反射光，测定所述第一单元的Y坐 标；
Zi坐标测定装置，将从所述激光发生装置发出的激光照射到所述Z参 照镜上，根据由所述Z参照镜反射的反射光，测定所述XY方向移动装置 的移动中在Z方向上的变位即所述第一单元的Z,坐标；
Z2坐标测定装置，将从所述激光发生装置发出的激光照射到所述Zf 反光镜部，根据由所述Zf反光镜部反射的反射光，测定所述第一触针相 对于所述第二单元在Z方向上的变位即Z2坐标；
Z3坐标测定装置，将从所述激光发生装置发出的激光照射到所述Zb 反光镜部，根据由所述Zb反光镜部反射的反射光，测定所述第二触针相 对于所述第二单元的在Z方向上的变位即Z3坐标；
前后面Z坐标运算装置，其求出与所述第一触针相对的所述测定物的 前面的Z坐标即Zf=Z2+ZP和与所述第二触针相对的所述测定物的后面 的Z坐标即Zb二Z3+Z,。
根据本结构，能够以纳米级别在同一 XYZ三维坐标系中，用两个探 头从作为测定物的例如非球面透镜的表背(前后)两面同时测定，可以构 成能够实用化的不仅可以测定非球面透镜的各面的形状，也可以测定两面间的倾斜及偏心的三维形状测定装置。
根据本发明的第二方式，提供如第一方式所述的三维形状测定装置， 对使所述两个测定探头向Z方向移动的所述测定探头移动装置的、支承所 述两个测定探头的沿Z方向的两个可动部进行引导的导轨部由同一加工 平面构成。
根据本发明的第三方式，提供如第一或第二方式所述的三维形状测定 装置，
还具有.-
球，其可以保持于所述测定物保持部件并且可由所述两个测定探头测
定前后两面；
校正机构，其将所述测定数据坐标变换到XYZ方向上，以使基于所 述测定探头得到的所述球的测定数据与设计值的差最小；
位置偏移检测机构，其将基于所述校正机构的校正结果中各自在XY 方向的坐标变换量的差作为XY方向的位置偏移量，通过在所述校正结果 中各自的Z方向的坐标变换量的差上加上所述球的直径，检测出Z方向的 位置偏移。
根据本发明的第四方式，提供如第三方式所述的三维形状测定装置，
具有运算部，其在基于所述两个测定探头中任意一个测定探头得到的 测定数据的XYZ坐标上加上所述位置偏移量，将由所述两个测定探头得 到的测定数据，作成为在同一 XYZ坐标系中的测定数据，
并且所述校正机构还具有倾斜算出机构，其为了使由所述第一测定 探头得到的所述测定物前面的测定数据和由所述第二探头得到的所述测 定物后面的测定数据与各自设计值的偏差达到最小，进行XYZ方向的平 行移动和以XYZ轴为中心的旋转方向ABC轴的最大计六轴的坐标变换， 另一方面，将由所述校正机构得到的前面和后面的校正结果的旋转方向A、 B、 C轴的值的差作为前面和后面的倾斜算出；
偏心算出机构，将前面或后面的任一个面定义为基准面，将不是基准 面的面定义为第二面，由所述校正结果得到所述基准面的中心，对于加上 了以所述基准面的中心为原点的坐标系中的所述测定点的位置偏移量后 的所述第二面的测定数据，按照所述基准面的校正结果进行坐标变换，以
ii此时的所述第二面的中心的XY坐标作为所述第二面相对于所述基准面的 偏心而算出。
(2) 根据从属形式的技术方案记载的本发明的第五方式，提供如第 一 第四方式的任一方式所述的三维形状测定装置，
所述测定探头具有 激光光源；
透镜，其使从所述激光光源发出的激光聚集在与所述触针一体连结的
反光镜上；
衍射光栅，其配置在通过该透镜聚光在所述反光镜的反射面上后、由
所述反射面反射的激光的激光光路中，并且为同心圆状，形成在同心圆的
中心从所述激光光路偏离的位置；
第一光检测器群，其接收由该衍射光栅生成的正一次衍射光；和 第二光检测器群，其接收由所述衍射光栅生成的负一次衍射光， 另一方面，在所述三维形状测定装置上还具有将所述第一光检测器群
和所述第二光检测器群的输出作为聚焦误差信号的聚焦误差信号检测部， 在所述测定探头移动装置中，以来自所述聚焦误差信号检测部的聚焦
误差信号为基础，使所述第一测定探头或第二测定探头在所述Z方向上移
动，进行聚焦伺服。
根据这样的结构，可以减小縮短探头。
(3) 根据从属形式的技术方案记载的本发明的第六方式，提供如第 一方式所述的三维形状测定装置，
还具有.-
金属丝，其支承所述测定探头和可动部的重量，所述可动部利用所述 测定探头移动装置，使所述探头在所述Z方向上可动；
滑轮，其防止与所述金属丝的长度方向正交的横方向的位置偏移，同 时引导所述金属丝；
恒载弹簧，其由巻成涡旋状的薄板构成，通过所述滑轮与所述金属丝 连结，并且在所述可动部的可动范围的整个区域产生与所述探头和所述可 动部的重量相等的张力。
根据这样的结构，在从测定物的下侧测定时，可以预防支承探头的弹
12簧与测定物干涉的情况。
根据本发明的第七方式，提供一种三维形状测定装置用测定探头， 其具有-
激光光源；
透镜，其使从所述激光光源发出的激光聚集在与触针一体连结的反光
镜上；
衍射光栅，其配置在通过该透镜聚光在所述反光镜的反光镜反射面上 后、由所述反射面反射的激光的激光光路中，并且为同心圆状，形成在同 心圆的中心从所述激光光路偏离的位置；
第一光检测器群，其接收由该衍射光栅生成的正一次衍射光；和 第二光检测器群，其接收由所述衍射光栅生成的负一次衍射光， 所述三维形状测定装置用测定探头构成为将所述第一光检测器群和 所述第二光检测器群的输出作为聚焦误差信号，并至少内置所述透镜。 根据这样的结构，可以减小缩短探头。
以上所述，根据本发明，因为参照镜是三面，坐标测定装置是五轴， 都是现有例子的个数的一半，所以探头变轻、响应性变好，同时可以实现 小型轻量化，可以使三维形状测定装置的成本减半。
另外，根据本发明的一个方式，通过使基于两个探头的测定坐标系的 参照镜共用化，使XYZ测定坐标系完全一致，从而可以用相同的坐标系 得到测定物(例如非球面透镜)的前后面(表背两面)的测定数据，不必 像现有例那样除测定物以外还必须测定三个球，测定时间也减半，测定误 差发生的要因也减少，所以具有提高测定精度的非常大的效果。换言之， 在现有的测定装置中，在从测定物的表背用两个探头进行测定的时候，因 为表背的坐标系没有超高精度的一致，因此不能正确测定表面和背面的倾 斜和偏心，并且构造复杂，大型化，与从单侧面测定的装置相比，审怖极 其困难，但是根据本发明的所述方式，通过所述构造，测定物的表背的坐 标系超高精度一致，特别是通过在同一坐标系同时以超高精度测定非球面 透镜的表背面，可以正确地、以纳米级别的超高精度测定非球面透镜的表 面和背面的倾斜和偏心，并且构造简单，可以达到小型化，即使与从单面 测定的装置相比，也能起到制作容易的优良效果。另外，根据本发明的第五及第七方式，因为可以减小縮短探头，所以 在制作从测定物上下测定的测定机时，可以縮短参照镜与测定物的距离， 所以可以减小由热膨胀或振动产生的误差。即使在从测定物的一侧开始测 定的测定机中，也可以取得探头轻质化，响应性良好及测定机小型轻量化 和低成本的效果。
并且，根据本发明的第六及第八方式，在从测定物的下侧向上测定的 时候，可以防止支承探头的弹簧与测定物干涉的现象，在因为由两个巻成 的薄板构成的恒载弹簧的特性不一致，而产生了相对于牵引方向的横向的 力时，即使与金属丝的连结位置向横向偏离，也因为金属丝通过滑轮后的
位置不会在横向上发生偏离，所以牵引z轴部的力总是只完全朝向一个方
向，不会对Z轴的移动直线度带来不良影响。
因为现有技术不能测定测定物的表背面间的倾斜及偏心，不能实现优 良的品质，但如以上那样，通过本发明的三维形状测定装置，可以测定在
数码相机、数码摄像机、带摄像头手机、DVD或下一代大容量光盘、激 光打印机、放映机、广角监视器等各个领域里广泛使用的透镜、特别是非 球面透镜的倾斜及偏心，可以实现对于这样的光学部件的开发制造的品质 及成品率的提高。
另外，即使在从一侧测定测定物的面形状的装置中，也可以达成测定 机的小型化、低成本化、高精度化。


本发明的这些目的和其特征，从以下对附图进行的与优选实施方式相
关的说明中可以明确。在图中
图1是在本发明的第一及第二实施方式中的三维形状测定装置的主视
图2是在本发明的第一实施方式中的三维形状测定装置的右剖面侧视
图3A是在本发明的第一实施方式中的三维形状测定装置的立体图 (上侧一对恒载弹簧之中的一个弹簧的图示省略)； 图3B是图3A的周部放大立体图；图3C是用于说明将测定物载置保持在本发明的第一实施方式中的三 维形状测定装置的测定物保持部件的测定物保持板部上的状态的剖面图3D是用于说明将基准球保持在本发明的第一实施方式中的三维形 状测定装置的测定物保持部件的测定物保持板部上的状态的剖面图4A是在本发明的第三实施方式中的三维形状测定装置中测定基准
球的说明图4B是在本发明的第三实施方式中的三维形状测定装置中的基准球 的初期测定数据的说明图4C是在本发明的第三实施方式中的三维形状测定装置中的基准球 的补正后的测定数据的说明图5A是在本发明的第四实施方式中的三维形状测定装置中的透镜的 测定数据的说明图5B是在本发明的第四实施方式中的三维形状测定装置中的在透镜 的前表面基准的坐标变换的说明图5C是在本发明的第四实施方式中的三维形状测定装置中的在透镜 的后表面基准的坐标变换的说明图5D是在本发明的第四实施方式中的三维形状测定装置的演算处理
部的框图6是表示在本发明的第五实施方式中的探头结构的局部剖面说明
图7是在本发明的第五实施方式中的衍射光栅的说明图8A是在本发明的第五实施方式的三维形状测定装置的一体化元件 中，反光镜部位于零次光的焦点位置时的说明图8B是在本发明的第五实施方式的三维形状测定装置的一体化元件 中，反光镜部位于比零次光的焦点位置远的位置时的说明图8C是在本发明的第五实施方式的三维形状测定装置的一体化元件 中，反光镜部位于比零次光的焦点位置近的位置上时的说明图9是在本发明的第六实施方式中的三维形状测定装置的主视图IO是现有的超高精度三维测定机的结构图11是现有的三维测定装置的探头和Z轴的结构15图12是现有的三维测定探头的说明图13是现有的超高精度三维测定机的结构图14是现有的三维形状测定装置的结构图15是现有的透镜面形状的测定方法的说明图;
图16A是现有的接触式探头的说明图16B是现有的另一种接触式探头的说明图。
具体实施例方式
在继续本发明的记述之前，在附图中对于相同部件，标记同样的参照 符号。
以下根据附图，详细说明本发明的实施方式。 (第一实施方式)
图1是表示在本发明的第一实施方式中的三维形状测定装置的结构的
主视图，图2是从图1的中心切断后从右侧观察的右剖面侧视图，图3A 及图3B是立体图及其局部放大图。
所述三维形状测定装置构成为具备下石平台23;侧面石平台24， 其立起设置固定在下石平台23的上表面的背面侧；第一单元A，其具有 测定物保持部件98、 Z参照镜(Z方向参照镜，以下简称「Z参照镜」)2、 X参照镜(X方向参照镜，以下简称「X参照镜」)3和Y参照镜(Y方 向参照镜，以下简称「Y参照镜」)4;第二单元B，其至少具有Zf反光 镜部9f、 Zb反光镜部9b、测定探头10和测定探头移动装置93; XY方向 移动装置99，其使第一单元A在XY方向上移动；作为XYZ坐标测定用 激光发生装置的一例的He—Ne稳定化激光器38; X坐标测定装置27; Y
坐标测定装置36; Z,坐标测定装置35; Z2坐标测定装置28; &坐标测定
装置37;作为前后面Z坐标运算装置的一例的运算部94;控制部96。另 外，所述Zf反光镜部9f被一体固定于第一触针5f。另外，所述Zb反光 镜部9b被一体固定于第二触针5b。并且，测定探头移动装置93是驱动所 述两个测定探头10f、 10b的装置，可以使所述两个测定探头10f、 10b各 自独立地沿Z方向移动。
XY方向移动装置99配置在下石平台23上，可以使基台97在XY方向上移动。
Z参照镜2被配置成固定在基台97上，并且反射面向下，并且与Z方向(高度方向)正交(换而言之，在互相正交的XYZ坐标系中，以XY方向为平面(反射面))，基台97配置在测定物1正下方的XY方向移动装置99上。
X参照镜3被配置在固定壁3a上，该固定壁3a固定在基台97上且从测定物1正面侧观察位于左侧(图1的测定物1的左侧)，X参照镜3被配置在该固定壁3a的上部的与测定物1相反一侧的面上并且与X方向正交(换而言之，以YZ方向为平面(反射面))。
Y参照镜4配置在固定壁4a的上部，该固定壁4a固定在基台97上位于测定物1的背面侧，所述Y参照镜4被配置在该固定壁4a的上部的与测定物1相反一侧的面上并且与Y方向正交(换而言之，以XZ方向为平面(反射面))。
为了固定将测定物1保持在测定物保持板部98d的贯通孔98e内的倒L字状的测定物保持部件98与Z参照镜2与X参照镜3与Y参照镜4的位置关系，这些部件98、 2、 3、 4被一体固定在基台97上。将这些测定物保持部件98及Z参照镜2及X参照镜3及Y参照镜4以及还包括它们的固定部分即固定壁3a及固定壁4a及基台97称为「第一单元A」。在该第一实施方式中，第一单元A在XY方向移动装置99的作用下在XY方向上运动。在该第一单元A中，Z参照镜2、以YZ方向为平面的X参照镜3、以XZ方向为平面的Y参照镜4，与保持测定物1的测定物保持部件98，这至少所述四个部件的位置关系被固定。
另外，在测定物保持部件98的测定物保持板部98d的贯通孔98e内，如图3C中详细所示，从上方嵌入有测定物支承板le，该测定物支承板le在中央贯通孔lf中载置保持测定物1。
XY方向移动装置99由Y载物台22及X载物台21构成，Y载物台22配置在下石平台23上，可以沿Y方向移动，X载物台21配置在Y载物台22上，可以沿X方向移动，并且载置固定了基台97。
控制部96与如下部分连接，S卩XY方向移动装置99即X载物台21的未图示的驱动装置和Y载物台22的未图示的驱动装置；He—Ne稳定化激光器38; X坐标测定装置27; Y坐标测定装置36; Zi坐标测定装置35;Z2坐标测定装置28; Z3坐标测定装置37;作为前后面Z坐标运算装置的
一例的运算部94;具有聚焦伺服机构95的测定探头移动装置93;以及一体化元件34 (半导体激光器31和聚焦受光部34A、聚焦受光部34B、聚焦受光部34C、聚焦受光部34D、聚焦受光部34E、聚焦受光部34F)等，进行各个的动作控制。
这三面参照镜即参照镜2、参照镜3、参照镜4，被抛光成各自具有极好的平面度，这些平面形成XY坐标轴，由基台97等与测定物1 一体固定，因此形成了用于测定测定物1的测定面形状的纳米级别的超高精度的XY坐标轴。
在该第一实施方式中，从测定物l的前后方向(图2的左右方向)扫描来测定测定物1形状的测定探头10，安装在作为Z气动滑动引导部的一例的大空气轴承11的上侧和下侧的位置，各自独立可以上下移动。上下的大空气轴承ll构成为，对分别支承上下的测定探头10f、 10b的上下的近似四方筒状的可动部(引导部)llf、 llb进行支承，相对于具备四个滑动引导面的四棱柱的共用的导轨部llg，可动部(引导部)llf、 Ub可以沿Z方向滑动。在区别上下的测定探头IO进行说明时，将上侧的测定探头称为10f，将下侧的测定探头称为10b，像这样加上front(上面侧即表面侧)和back (下面侧即背面侧)的头文字"f"和"b"加以说明。但是，在以下的说明中，特别是在即使不区别上下的测定探头10也可以的情况卞，省略f和b。另外，在权利要求书里，所谓"内置第一触针的第一测定探头"，是指"内置触针5f的测定探头10f"以及"内置触针5b的测定探头10b"的任一方，所谓"内置第二触针并且隔着所述测定物相互相对地配置所述第一触针和所述第二触针的第二测定探头"，是指"内置触针5f的测定探头10f"及"内置触针5b的测定探头10b"的任意另一方。
在各测定探头10中，如图6所示，内置有触针5;小滑动轴部6，所述小滑动轴部6配置在测定探头外壳10a的一端并且与所述触针5连结固定；小空气轴承7，所述小空气轴承7被测定探头外壳10a支承并且引导该小滑动轴部6相对于测定探头外壳10a可以沿Z方向移动；弹簧力产生装置50，所述弹簧力产生装置50由板簧等构成，被测定探头外壳10a
18支承，并且在所述小空气轴承7处在小滑动轴部6的位置要前后移动时，产生将小滑动轴部6压回到平衡点的弹簧力；反光镜部9，所述反光镜部9配置在所述小滑动轴部6上的与所述触针5相反的一侧； 一体化元件34，所述一体化元件34配置在测定探头外壳10a的另一端并且与半导体激光器及聚焦受光部形成一体；分色镜15，所述分色镜15配置在测定探头外壳10a的弯曲部并且对从一体化元件34发出的半导体激光进行全反射，另一方面使He—Ne稳定化激光Fz全透过，所述He—Ne稳定化激光Fz是从配置在第二单元B的侧面石平台24上的作为振荡频率稳定化激光器的一例的He—Ne稳定化激光器38 (参照图2)发出的；和透镜14，所述透镜14被测定探头外壳10a支承，并且使透过了所述分色镜15的所述He—Ne稳定化激光Fz及被所述分色镜15全反射的半导体激光以大致聚合在焦点的方式收敛在反光镜部9。另外，在所述的各个装置或部件中，在区别上下的时候，分别附加f和b。也就是说，在区别上下的时候，称为上侧的触针5f、下侧的触针5b、上侧的小滑动轴部6f、下侧的小滑动轴部6b、上侧的小空气轴承7f、下侧的小空气轴承7b、上侧的反光镜部9f、下侧的反光镜部9b、上侧的一体化元件34f、下侧的一体化元件34b、上侧四分色镜15f、下侧的分色镜15b、上侧的透镜14f、下侧的透镜Mb。
另外，在图6中，32是使发散光转变为平行光的透镜；8是用于进行聚焦误差信号检测的衍射光栅；S是测定物l的测定面；48是用于向小空气轴承7供给空气的空气管。
一体化元件34，例如图8A 图8C所示，由作为激光光源的一例的半导体激光器31和多个受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F构成。在所述一体化元件34的多个受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F上连接有测定探头移动装置93的聚焦伺服机构95。
测定探头移动装置93大致由线性马达驱动装置43和线圈13 (13f、13b)构成，所述线性马达驱动装置43作为构成聚焦伺服机构95的一部分的测定探头驱动装置的一例，所述线圈13 (13f、 13b)配置在磁回路12内，并且通过流通电流产生法拉第力，通过线性马达驱动装置43使支承测定探头IO整体的大空气轴承11的可动部11 (llf、 lib)分别沿导轨部llg在Z方向上移动。
19所述聚焦伺服机构95由聚焦误差信号检测部42和所述线性马达驱动装置43构成，所述聚焦误差信号检测部42，连接于多个受光部34A、 34B、34C、 34D、 34E、 34F，将来自受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F的信号转变成聚焦误差信号，所述线性马达驱动装置43将来自聚焦误差信号检测部42的聚焦误差信号转变成电流。通过从所述线性马达驱动装置43向所述线圈13 (13f、 13b)流通电流而产生法拉第力，使支承测定探头IO整体的大空气轴承11的可动部11 (llf、 lib)沿着导轨部llg在Z方向分别移动，从而进行聚焦伺服。另外，在区别上下的时候，分别附加f和b。也就是说，在区别上下的时候，称为上侧的磁回路12f、下侧的磁回路12b、上侧的线圈13f、下侧的线圈13b。
在此作为一例子，在触针5以0.15mN左右的微小测定力与测定物1相接时，设定透镜14相对于测定探头10的外壳10a的位置，以使所述半导体激光大致在反光镜部9聚焦。被反光镜部9反射的反射光，返回到半导体激光器及聚焦受光部的一体化元件34的受光部、具体为多个受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F。若通过XY方向移动装置99使测定物1在XY方向上移动，则因为高度沿着测定物1的测定面变化，所以与测定面接触的触针5上下移动，因此反光镜部9也上下移动。此时，由于从反光镜部9反射而返回到多个受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F的所述半导体激光的光分布发生变化，因而由聚焦误差信号检测部42将来自受光部34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F的信号变换成聚焦误差信号，进一步由线性马达驱动装置43将聚焦误差信号转变成电流，向线圈13流通电流。线圈13因为通过磁回路12中，所以产生与电流成比例的法拉第力。结果是支承测定探头IO整体的可动部llf、 llb沿着大空气轴承11的导轨部llg在Z方向上移动。将此称为"聚焦伺服"。
测定探头10通过一对恒载弹簧17来平衡测定探头10自身的重量，该一对恒载弹簧17是将薄板的弹簧材巻成涡旋状后使其相对配置的结构，并且相对于伸縮而产生大致一定的弹簧力。
在触针5沿测定物1的测定面S在Z方向上移动时，由于在所述聚焦伺服机构95的作用下，支承测定探头IO整体的可动部llf、 llb沿着大空气轴承11的导轨部llg在Z方向上移动，因此在所述小空气轴承7处小滑动轴部6的位置要前后移动时，压回到平衡点的由弹簧力产生装置50 产生的弹簧力大致一定，因此测定力也大致一定。
通过在所述大空气轴承ll的可动部llf、 llb配置所述两个测定探头
10f、 10b，以使相互的触针5f、 5b沿Z方向相对，从而可以测定所述测定 物1的表背(在图1等中的上下)的测定面S。
从He—Ne稳定化激光光源38发出的五支He—Ne稳定化激光Fz， 如以下这样使用。另外，为了形成从He—Ne稳定化激光光源38发出的五 支He—Ne稳定化激光Fz，也可以配置五个激光光源，或者，也可以配置 一个或四个以下的激光光源，使来自激光光源的激光分支，形成合计五支 He—Ne稳定化激光Fz。
从He—Ne稳定化激光光源38发出的第一支He—Ne稳定化激光Fz 照射到X参照镜3的反射面(与测定物1相反一侧的面)，被X参照镜3 的反射面反射的反射光经X干涉光学系25，被作为X坐标测定装置的一 例的X坐标测定单元(X坐标用激光测长单元)27接收，基于接收的激 光，通过X坐标测定单元27测定所述第一单元A的X坐标。在此，因为 将X参照镜3看作是完全平面，所以测定X参照镜3的X坐标也就意味 测定X干涉光学系25与X参照镜3的反射面之间的距离X (参考图1) 的变位量。
同样，从He—Ne稳定化激光光源38发出的第二支He—Ne稳定化激 光Fz照射到Y参照镜4上，被Y参照镜4反射的反射光被作为Y坐标测 定装置的一例的Y坐标测定单元(Y坐标用激光测长单元)36接收，基 于接收的激光，通过Y坐标测定单元36测定所述第一单元A的Y坐标。 因为将Y参照镜4看作是完全平面，所以测定Y坐标也就意味测定反光 镜与Y参照镜4的反射面之间的距离Y (参考图2)的变位量。
另一方面，从He—Ne稳定化激光光源38发出的第三支He—Ne稳定 化激光Fz，照射到所述Zf反光镜部9f上，根据被所述Zf反光镜部9f反 射的反射光，由Z2坐标测定装置28测定所述第一触针5f相对于所述第二 单元B的在Z方向上的变位即Z2坐标。更具体地说，第三支He—Ne稳 定化激光Fz，被反光镜16f反射，照射到反光镜部9f，被反光镜部9f反 射的反射光再次被反光镜16f反射，被作为Z2坐标测定装置的一例的Z2坐标测定单元(Z2坐标用激光测长单元)28接收，基于接收的激光通过 Z2坐标测定单元28测定反光镜部9f的Z2坐标。测定Z2坐标也就意味测 定从反射反光镜16f的反射面到反光镜部9f的反射面的距离Z2(参照图2) 的变位量。
从He—Ne稳定化激光光源38发出的第四支He—Ne稳定化激光Fz 照射到所述Zb反光镜部16b上，根据被所述Zb反光镜部16b反射的反射 光，由Z3坐标测定装置37测定所述第二触针5b相对于所述第二单元B 的在Z方向上的变位即Z3坐标。更具体地说，第四支He—Ne稳定化激光 Fz,透过反射透过镜24j被反光镜16b反射，照射在反光镜部9b，照射在 反光镜部9b的激光被反光镜部9b反射，该反射光再次被反光镜16b反射， 并被反射透过镜24j反射，被作为Z3坐标测定装置的一例的&坐标测定 单元(Z3坐标用激光测长单元)37接收，基于接收的激光通过Z3坐标测 定单元37测定反光镜部9b的&坐标。测定Z3坐标也就意味测定从反射 反光镜16b的反射面到反光镜部9b的反射面的距离Z3 (参照图2)的变
在此，由于触针5f、 5b前端的测定点和反光镜部9f、 9b为一体的构 造，所以即使在所述聚焦伺服机构95处存在聚焦伺服误差，也没有任何 测定误差。
从He—Ne稳定化激光光源38发出的第五支He—Ne稳定化激光Fz， 照射到所述Z参照镜2上，根据被所述Z参照镜2反射的反射光，由Z! 坐标测定装置35测定所述XY方向移动装置99的移动中在Z方向上的变 位即所述第一单元A的Z,坐标。更具体地说，所述第五支He—Ne稳定 化激光Fz，被反光镜20反射后，被Z参照镜2的下表面即反射面反射， 再次反射到反光镜20上，被作为Z,坐标测定装置的一例的Z,坐标测定单 元(Z,坐标用激光测长单元)35接收，基于接收的激光通过Z,测定单元 35测定所述第一单元A的Z,坐标。测定&的坐标，也就意味测定从固定 在下石平台23上的反光镜20的反射面到Z参照镜2的反射面的距离Z, (参照图1及图2)的变位量。
另外，使探头IO相对于测定物1移动，同时进行后述的找出中心(中 心出L)，在探头IO位于测定物1的中心后，将X坐标、Y坐标、Z2坐
22标、Z3坐标、Z,坐标归零，然后测定距离X、距离Y、距离Z2、距离Z3、 距离Z,各自的变位量。
如上所述，保持测定物1的测定物保持部件98和X参照镜3和Y参 照镜4和Z参照镜2被固定在一体的位置关系上，形成XY坐标轴，并且 构成第一单元A。此第一单元A，在X载物台21及Y载物台22的作用 下在XY方向上一体移动，但使X载物台21及Y载物台22的移动直线 度为纳米级别几乎不可能。其原因是，在X载物台21及Y载物台22分 别使用的滚动轴承的圆度与引导件的直线度的相加计算基础上，并在Y载 物台22的上面载置X载物台21，伴随移动荷重中心也发生变化，两部件 有时相对稍微产生倾斜等。
因此，即使X载物台21及Y载物台22由于前后颠簸(pitching)或 左右摇摆(yawing)而产生倾斜，也由于XY坐标轴不是由X载物台21 及Y载物台22形成的，而是由三面参照镜2、 3、 4形成的，并且是在测 定物1的测定点的轴上测定XYZ坐标的结构，所以可以使测定误差极小。
另一方面，Z坐标轴不是由这些参照镜2、 3、 4决定的，而是由大空 气轴承11的导轨部llg的直线度决定的。小空气轴承7如所述那样几乎 不会上下移动。
大空气轴承ll，因为其导轨部llg的滑动引导面与反光镜同样，可以 通过抛光制成高平面度，所以可以使移动直线度接近纳米级别的镜面平面 度。另外，可以将大空气轴承11设计成相对于倾斜力具有较高的刚性的 构造。但是，在移动中如果有偏荷重，大空气轴承11将产生在纳米级别 上的倾斜。因此，在大空气轴承ll的可动部llf、 llb的大致重心处，分 别用一对恒载弹簧17f、 17b支承大空气轴承11的可动部llf、 llb，通过 用线圈13f、 13b在Z方向上驱动大致重心，可以设计成尽可能消除移动 中的倾斜的构造。
小空气轴承7和在其中滑动的小滑动轴部6是其他类似例子所没有的 程度的微小的空气轴承。可动部llf、 11b的质量只有0.2克。由此，即使 是0.15mN (15mg)这样微小的测定力，也可以实现足够测定的加速度响 应。
下面对于Z坐标的测定进行说明。
23与保持测定物1的测定物保持部件98 —体地固定在基台97上的Z参 照镜2，在XY方向移动装置99的作用下，在XY方向上移动，但在Z参 照镜2下面的反光镜20被固定在下石平台23上而不会移动。如上所述， 从He—Ne稳定化激光Fz分支的第一支激光，经反光镜20反射后被Z参 照镜2的反射面反射，返回到Z,测定单元35，由Z,测定单元35测定Z、 的坐标。因为将Z参照镜2看作是完全平面，所以测定Z,的坐标，就是 测定X载物台21及Y载物台22的移动直线度。
分支的第四支激光Fz是在测定上探头10f的Zf反光镜部9f在Z方向 上的变位即Z2坐标(相对于三维形状测定装置的固定部即下石平台23和 侧面石平台24的变位即Z2坐标)时利用。分支的第五支激光是在测定下 探头10b的Zb反光镜部9b在Z方向上的变位即&坐标(相对于三维形 状测定装置的固定部即下石平台23和侧面石平台24的变位即Z3坐标)时 利用。与所述第一触针5f相对的所述测定物1的前面的Z坐标，例如测 定物1的上面的Z坐标测定数据Zf由Z2+Z,求得，与所述第二触针5b 相对的所述测定物1的后面的Z坐标，例如测定物1的下面的Z坐标测定 数据Zb由Z3+Z,求得。该计算如以下所示，由作为前后面Z坐标运算装 置的一例的运算部94进行。运算部94通过控制部96与X坐标测定装置 27和Y坐标测定装置36和Z,坐标测定装置35和Z2坐标测定装置28和 Z3坐标测定装置37连接，将各个坐标测定数据输入到运算部94中。另一 方面，在运算部94得到的数据，可以通过控制部96从输出装置90输出 (例如，在显示器等中显示或用印刷装置印刷)。XY坐标在测定物1的 上侧和下侧都是共用的。另外，在输出装置90中，可以输出(例如，在 显示器等中显示或用印刷装置印刷)在其他实施方式中的各种运算结果 等。
所述X坐标、Y坐标、Z，坐标、Z2坐标、&坐标，共计五个坐标的 测定数据(测定值)以一定时间间隔同时输入到控制部96中。根据向控 制部96输入的值，作为测定物1的表面的Z坐标的Zf坐标的测定数据通 过运算部94计算Z2坐标的测定数据与Z！坐标的测定数据之和；作为测定 物1的背面的Z坐标的Zb坐标的测定数据通过运算部94计算&坐标的 测定数据与Z,坐标的测定数据之和，通过运算部94得到测定数据列(Xi，Yi， Zfi、 Zbj)。在此，测定物1表面的测定数据列为(Xi， Yi， Zfi)，测 定物l背面的测定数据列为(Xi， Yi， Zb》。在此，在i是l， 2， 时，
表示的是以一定时间间隔输入的测定值。例如，在i二l， 2时，测定物1 表面的测定数据列是(Xp Y,， Zf。 ， (X2， Y2， Zf2)，测定物1背面 的测定数据列是(X，， YP Zb。 ， (X2， Y2， Zb2)。
将包括测定探头10和大空气轴承11等的部分称为「第二单元B」， 在该第一实施方式中，第一单元A载置在X载物台21及Y载物台22上， 在XY方向移动装置99的作用下在XY方向上移动，但相反，还可以构 成为将第一单元A固定在侧面石平台24及下石平台23等固定部，另一方 面将第二单元B载置在X载物台21及Y载物台22上，由XY方向移动 装置99带动第二单元B在XY方向上移动。
测定物1的三维形状测定开始前，由于测定物1上下的触针5f、 5b 离开测定物l的测定面S，所以不进行所述聚焦伺服。在测定探头10上， 虽未图示但安装有Z方向的位置检测器，来自该位置检测器的位置信号， 变为由操作者拨动手动驱动用表盘而变化的指令值，在控制部96的控制 下，由线性马达驱动装置43使测定探头IO在Z方向上移动(换而言之， 基于通过操作者拨动手动驱动用表盘而生成的输入信息，驱动线性马达驱 动装置43，使测定探头10的端部移动到与测定物1的测定面S大约相接 的位置)。将其称为「位置伺服J 。
在没有对触针5施加测定力时，小滑动轴部6的自重仅由弹簧力产生 装置50支承。此时，事先相对于测定探头外壳10a在Z方向上对透镜14 进行位置调整，使得反光镜部9离开聚焦位置IO微米左右，处于偏离的 错开焦点的位置。为了灵敏度良好地检测出聚焦误差信号，如图6所示， 使来自一体化元件34的半导体激光射入到透镜14开口的全部，但因为Z 坐标测定用的He—Ne稳定化激光Fz以比透镜14的开口更细的光束直径 射入，所以即使Z反光镜部9 (Zf反光镜部9f或Zb反光镜部9b)位于焦 点深度深、与焦点错幵10微米左右的位置，也可以根据反射光充分地测 定Z坐标。
测定物1的三维形状的测定，是将测定物1安装在测定物保持部件98 的测定物保持板部98d的贯通孔98e，为了使触针5达到测定物1的大致
25中心处，移动X载物台21或Y载物台22，拨动所述手动驱动用表盘，使 上下的触针5f、 5b靠近测定物1的上下的测定面S，以使两者的间隙在 5mm以内。
然后，通过操作者按下测定探头移动装置93的聚焦按钮，解除基于 所述手动驱动用表盘的手动驱动，切换成自动控制，从而触针5向测定物 1的测定面S缓慢靠近。聚焦误差信号保持一定的电压，对其进行监视。 如上所述，触针5缓慢地向测定物1的测定面S靠近，在触针5接触测定 物l的测定面S后，由于在触针5的测定力的作用下反光镜部9向半导体 激光的焦点方向运动，所以当由演算部根据聚焦误差信号的变化检测出反 光镜部9向半导体激光的焦点方向运动时(换而言之，若反光镜部9到达 焦点位置附近)，将位置伺服切换成聚焦伺服。这样，直到聚焦误差信号 变为零为止，在控制部96的控制下，由线性马达驱动装置43使测定探头 IO移动。这是施加聚焦伺服的状态。
然后，通过运算部进行自动找出中心。。所谓该自动找出中心，是指 在测定物l是球体、透镜、或透镜模具的情况下，移动X载物台21或Y 载物台22，搜索测定物l的顶点，以搜索到的顶点做为测定原点。该原理 在专利文献6中记载，记载中难以理解的部分，在这简单的说明。
为了简化说明，在图15中，将测定物1 (图15中的6(H)的测定面S 设为球面。将触针5f、 5b的初始位置的坐标测定数据设为S。
(0， 0)， 设欲求的测定物1的测定面S的顶点位置的坐标测定数据为S, (Xa, Za)。
然后，由所述第一实施方式的三维形状测定装置测定在初始位置的坐 标测定数据S。的前后的点(X,， Z,)和(一X,， Z2)。这样，所求的测 定物1的测定面S的顶点位置的X坐标Xa，用公式数学式1
Xa=R (Z2—Z,) + ((2X》2+ (Z2—Z,) 2)1/2
通过运算部94可以求得。另外，如专利文献6中，也可以用更加近
似的公式
数学式2
Xa=R' (Z广Z。 +(2X》
通过运算部94求得。其中，"R"为测定物的半径。自动找出中心是由测定物1的上下的任何一个测定数据进行的。作为 该自动找出中心的结果，触针5位于测定物1的测定面S的中心。通过运
算部94，将X坐标测定数据和Y坐标测定数据和Z2坐标测定数据和Z3 坐标测定数据分别归零后，进行测定原点。另外，通过运算部94设置原 点位置不变的机械原点，可以通过运算部94预先将以此机械原点为中心 的坐标系中的测定原点的位置记录在与运算部94连接的未图示的记忆部 中。
接着，向测定动作移行。由XY方向移动装置99使测定物1从测定 原点沿着欲测定的路径在XY方向上移动，同时由运算部94获得X坐标 测定数据和Y坐标测定数据和Z2坐标测定数据和Z3坐标测定数据。
在测定动作完成时，在XY方向移动装置99的作用下，测定物1返 回到XY方向上的初始位置，当操作者按下聚焦按钮时，在运算部94作 用下触针5离开测定物1的上下的测定面S。
以上，根据所述第一实施方式的三维形状测定装置，参照镜为Z参照 镜2和X参照镜3和Y参照镜4，合计三面参照镜；激光测长单元为X 坐标测定装置27和Y坐标测定装置36和Z,坐标测定装置35和Z2坐标 测定装置28和Z3坐标测定装置37，合计五轴；不论哪一个都是现有例的 数量的一半，所以装置的成本减半，由于两个探头10f、 10b共通使用测定 坐标系的参照镜，所以可以使XYZ测定坐标系完全一致，可以由同一坐 标系得到作为测定物1的一例的非球面透镜的前后测定面S的测定数据。 因此，由于不必像现有例那样除测定物以外还需要测定三个球，测定时间 也减半，测定误差产生的因素也减少，所以可以得到也提高测定精度的很 大的效果。
(第二实施方式)
在第一实施方式中，对于大空气轴承11的构造本身进行了特别详细 的说明，但是，在本发明的第二实施方式的三维形状测定装置中，向Z方 向移动所述两个测定探头10f、 10b的所述测定探头移动装置93的沿Z方 向的引导部、即大空气轴承11的导轨部llg，在上下由同一加工平面构成。 具体为，如图1所示，大空气轴承ll的导轨部llg，为了防止与测定物l 互相干涉而切掉其中央部的左侧的部分(参照llp)，导轨部Ug的右边和与纸面平行的面上下相连成一。另外，大空气轴承11的导轨部llg由 于是四棱柱所以有四个面，它们在上下由同一加工平面形成。
通过形成这样的结构，上下的在Z轴方向的倾斜也可以一致在0.05 分以下。这在所述上下面的倾斜中，对于必要的测定精度为1分来说，是 足够的精度。
(第三实施方式)
在第一及第二实施方式中，说明了可以使测定测定物1的表面和背面 的坐标轴的方向完全一致。但是，以0.1微米以下的精度，使触针5f和5b 对合在同一Z轴上，在不同的情况下实际上是极其困难的。
所以，在本发明的第三实施方式中的三维形状测定装置中，如图4A 及图3D所示，将球体度良好的基准球91支承在测定物保持部件98的测 定物保持板部98d的贯通孔98e，由触针5和5b从被支承的基准球91表 面(上表面或前面)和背面(下表面或后面)对被支承的基准球91进行 测定。作为基准球91，球体度为30nm的可以比较容易制作。另夕卜，在测 定物保持部件98的测定物保持板部98d的贯通孔98e内，代替在中央贯 通孔lf处载置保持测定物1的测定物支承板le，如图3D中详细所示，通 过从上方嵌入将基准球91嵌合在中央贯通孔91f而卡合保持的两块支承板 91a、支承板91b，从而将基准球91支承在测定物保持部件98上。
假设，如图4B所示，上下的触针5f和5b在X方向上位置错开尺寸 d。两探头10f和10b在XY方向移动装置99的带动下，同时在XY方向 上对基准球91的表面和背面进行扫描，由所述三维形状测定装置测定位 置。作为基准球91的表面的测定数据列得到(Xi， Yi， Zf》，并且作为 基准球91的背面的测定数据列得到(Xi， Yj， Zbi)。在基准球91测定前， 由触针5f的测定数据进行所述自动找出中心。测定原点都是(0， 0， 0)， 但触针5b的测定数据在横向上偏离尺寸d，如图4B那样。该尺寸d是X 方向的偏心(offset)值。
自动找出中心通过在测定前在中心附近的两点测定简易地求得测定 原点，为了正确求得原点，接着，由校正机构89将测定数据坐标变换到 XYZ方向，以使由所述测定探头10f、 10b测定所述基准球91的测定数据 和设计值的差达到最小值，具体地说，使基准球91的测定数据(测定值)
28的、离设计值的误差的均方根偏差(RMS: Root Mean Square)达到最小。 将其称为"校正"。校正的详细说明在专利文献7中记载。校正机构89 与X坐标测定装置27和Y坐标测定装置36和Z,坐标测定装置35和Z2 坐标测定装置28和Z3坐标测定装置37连接。
由校正机构89进行的校正，是指进行XYZ方向和以XYZ方向的各 轴为中心的旋转方向的ABC轴共计6轴的坐标变换。但是，在测定物1 是旋转对称的非球面的情况下，因为即使向绕Z方向的轴的C方向旋转形 状也不改变，所以省去C方向，共计五轴。另外，在测定物l是球面的情 况下，成为仅XYZ方向、或者ABZ方向的三轴。
将校正机构89的校正结果中的各个在XY方向的坐标变换量的差作 为XY方向的位置偏移量，通过校正，正确地算出位置偏移量d。利用该 正确地计算出的位置偏移量d,通过与校正机构89连接的位置偏移检测机 构88，例如将下侧的测定数据Xi补正为Xi+d，同样也对Y方向的偏移 进行补正(其位置偏移量d是Y方向的偏心值。)。然后，因为事先知道 基准球91的直径，通过与位置偏移检测机构88连接的运算部94，通过在 所述校正结果中的各个在Z方向的坐标变换量的差上加上所述基准球91 的直径，检测出Z方向上的位置偏移。不进行这样的加法运算，也可以将 基准球91的半径加到上侧的测定数据Zf上，从下侧的测定数据Zb中减 去半径。总之，作为上侧的测定数据Zf和下侧的测定数据Zb间的相对的 差，只要扩大所述基准球91的直径量就可以(该基准球91的直径量是Z 方向的偏心值)。作为这样的运算结果，如图4C所示，可以求出在上下 同一坐标系中的基准球91的测定数据。将由该上下的测定探头10f、 10b 保持同一原点的坐标系作为绝对坐标系。
另外，对于使坐标轴的原点一致的方法，测定上述基准球91的方法 以外也考虑了其他方法。例如，使上下的测定探头10f、 10b互相直接接触， 操作者从横向上用显微镜边观察边调整上下的测定探头10f、 10b的位置， 也可以测量位置偏移量。取而代之，还可以换掉基准球91，测定已知厚度 的板，测定上下的测定探头10f、 10b间的距离。在厚度已知的板上，打上 伴随变形的刻印记号，或开通小贯通孔，从所述板的上下，用上下的测定 探头10f、 10b测定其位置，也可以测定上下的测定探头10f、 10b的XY位置的偏移。
(第四实施方式)
在图5A 图5C中，说明本发明的第四实施方式的三维形状测定装置。 首先，在测定物1是透镜时，从透镜的表面和背面的倾斜与偏心的定义开 始说明。
在透镜的光轴位于测定面S的大致中心处的两面旋转对称非球面透镜 为测定物1的情况下，因为一个一个地确定透镜的前面(表面)和后面(背 面)的光轴，所以所谓倾斜可以说是这些光轴间形成的角度，所谓偏心，
如图5B及图5C所示，可以说是以前面或后面作为基准面时的、作为另外
一个面的第二面的中心位置的坐标。
在一面球面一一面旋转对称非球面透镜为测定物1的情况下，因为无 法确定一个球面侧的光轴，所以以非球面侧作为基准面，可以定义球面的 倾斜、或偏心，其中任意一方。在两面球面透镜为测定物1的情况下，不 能定义在面基准的倾斜和偏心。
在旋转非对称面透镜为测定物1的情况下，因为除了所述光轴还存在
XY轴，所以在两面旋转非对称面透镜为测定物i的情况下，也可以定义 该绕Z轴的旋转角的差的倾斜。
接着，对非球面透镜的倾斜及偏心测定法进行说明。
如图5A所示，由所述三维形状测定装置同时测定测定物1即非球面 透镜的前面和后面，由运算部94得到非球面透镜的前面的测定数据列(Xi， Yj， Zfi)，和后面的测定数据列(Xi， Yj， Zb》。这时的Z坐标的原点， 采用在所述绝对坐标系上带有偏心的相对坐标系，以使此时的Z坐标的原 点为各个面的中心位置。这时，存在非球面透镜的前面的测定坐标系和后 面的测定坐标系这两个坐标系。这些坐标系，在XY方向上共用，仅在Z 方向上原点相差大约测定物1的厚度量。
非球面透镜由设计式Z-f (X， Y)表示。若由运算部94从测定数据 列中减去设计值Z，将各点的误差，非球面透镜的前面设为Zfdi，非球面 透镜的后面设为Zbdi，则由公式 <formula>formula see original document page 30</formula><formula>formula see original document page 31</formula>
由运算部94求得前面的误差和后面的误差。
用最小二乘法由校正机构89进行坐标变换，以使该各点的误差的平 方后的总和最小。将其称为"校正"。若设此时的前面的校正量为(Xf、 Yf、 Zf、 Af、 Bf、 Cf)、设后面的校正量为(Xb、 Yb、 Zb、 Ab、 Bb、 Cb)， 则所求的倾斜根据公式(Af—Ab、 Bf—Bb、 Cf一Cf)由运算部94求得。
如前所述，当为旋转对称透镜时的倾斜根据公式(Af—Ab、 Bf—Bb) 由运算部94求得。
此时的倾斜量由公式数学式4
((Af—Ab) 2+ (Bf—Bb) 2) 1/2 通过运算部94求得。
在一面是球面的情况，例如，后面是球面的情况下，后面的校正的可 动轴可以选择(Xb、 Yb、 Zb)或(Ab、 Bb、 Zb)其中任何一个。在选择 (Xb、 Yb、 Zb)时，无法定义倾斜，但如后所述，可以算出偏心。在选 择(Ab、 Bb、 Zb)时的倾斜，可以与两面非球面相同地算出，但不能定 义偏心。另外，三维空间的坐标系有X， Y， Z轴和绕各轴的旋转轴A， B， C。在用校正进行坐标变换时，不限于使全部的轴动作，如果设定可动轴， 只对可动轴迸行坐标变换即可。
接着说明求偏心的顺序。测定坐标系的中心，因为进行所述自动找出 中心，所以位于前面或后面的概略中心处，这只是彻底找到测定物1的顶 点或底点，如果测定物l倾斜，则偏离测定物l的中心。因此，所述坐标 变换量的XY坐标可以说是测定物1的中心相对于测定坐标系的的偏移， 即测定物1的测定面相对于测定坐标系的偏心。
前面和后面的XY方向的偏心，如图5A所示，在测定坐标系中，通 过公式(Xf—Xb、 Yf—Yb)由运算部94求得。但是，因为这个量随着透 镜的姿势的变化而改变，不能一概定义为偏心。因此，如所述那样，所谓 偏心，如图5B及图5C那样，定义为以前面或后面为基准面时的后面或前 面的第二面的中心位置的坐标。如图5B及图5C那样，以不同的面做为基 准面，偏心变化。在以某一个面为基准面时，其他的面叫做所述的「第二
31面」。
如前所述，基准面和第二面的测定数据，由在Z方向的偏心的不同的 相对坐标表示，但因为该偏心值预先测定，所以通过由运算部94在第二 面的测定数据的Z坐标上加上该偏心值O(位置偏移量)，由此两测定数
据成为基于同一 XYZ坐标系的测定数据。将其称为"偏心补正全测定数 据"。另外，在该第四实施方式中，与校正机构89和位置偏移检测机构 88连接于控制部96的所述实施方式不同，如图5D所示，控制部96与运 算部94和校正机构89和倾斜算出机构86和偏心算出机构85连接，在该 第四实施方式中的运算处理可以在控制部％的控制下实施。
首先，在所述校正机构89中，为了使根据所述测定探头10f测得的所 述测定物1的前面的测定数据、和根据所述测定探头10b测得的所述测定 物l的后面的测定数据，与各自的设计值的偏差为最小，进行XYZ方向 的平行移动和以XYZ轴为中心的旋转方向ABC轴的最大共计六轴的坐标 变换。接着，将基于所述校正机构S9的前面和后面的校正结果的旋转方 向A、 B、 C轴的值的差作为前面和后面的倾斜，由倾斜算出机构86算出。 接着，在以前面或后面的任一个面为基准面、以不是基7隹面的面作为第二 面时，由所述校正结果得到基准面的中心，以该基准面的中心作为原点形 成一坐标系，对于加上了该坐标系中的所述测定点的位置偏移量的第二面 的测定数据，根据所述基准面的校正结果迸行坐标变换，将此时的第二面 的中心的XY坐标作为所述第二面相对于所述基准面的偏心，由偏心算出 机构85算出。
例如，在以后面作为基准面时的偏心补正全测定数据中的后面的中心 坐标用(一Xb、 一Yb、 一Zb)表示，前面的中心坐标用(一Xf、 一Yf、 —Zf+O)表示。首先，通过校正机构89以后面校正量(Xb、 Yb、 Zb)对 其进行坐标变换。于是，后面的中心坐标变为(0， 0， 0)，前面的中心 坐标变为(Xb—Xf、 Yb—Yf、 Zb—Zf+0)。
接着，由倾斜算出机构86使该前面的中心坐标，旋转后面的校正量 中的绕X轴和Y轴的旋转角(Ab、 Bb)。为了简化，设
(Xb—Xf、 Yb—Yf、 Zb—Zf+O) = (x， y， z) ， (Ab、 Bb) 二 (A，
B)，则旋转后的第二面的坐标(U， V， W),根据坐标变换的公式数学式5
u=xcosB+zsinB ，
v=xsinAsinB+ycosA—zsinAcosB ，
w= — xcosAsinB+ysinA+zcosAcosB，
由倾斜算出机构86可以求得倾斜。也就是说，可以将该前面和后面 的校正结果的旋转方向A、 B、 C轴的值的差作为前面和后面的倾斜，由 倾斜算出机构86算出。
第二面相对于所求的基准面的偏心为(u， v)，偏心量利用公式数学式6
(u2+v2) 1/2
可以由偏心算出机构85求得。也就是说，在将前面或后面的任意一 面作为基准面，将不是基准面的面作为第二面时，由所述校正结果得到基 准面的中心，以该基准面的中心作为原点形成一坐标系，对于加上了该坐 标系中的所述测定点的位置偏移量的第二面的测定数据，根据所述基准面 的校正结果进行坐标变换，将此时的第二面的中心的XY坐标作为所述第 二面相对于所述基准面的偏心，由偏心算出机构85算出。 (第五实施方式)
图6表示的是在本发明的第五实施方式中的三维形状测定装置的探头 10的构成。在支承触针5的微型气动滑块即小滑动轴部6的上面粘贴反光 镜部9，小滑动轴部6由弹簧力产生装置50与小空气轴承7连结。
振荡频率稳定化氦氖激光(He—Ne稳定化激光)Fz，波长为633nm， 透过该波长全透过的分色镜15，在反光镜部9 (9f、 9b)反射，返回到原
来的方向，在Z2坐标测定单元(Z2坐标用激光测长单元)28及Z3坐标测
定单元(Z3坐标用激光测长单元)37中，分别通过基于干涉法的激光测长， 测定反光镜部9 (9f、 9b)的Z坐标。
一体化元件34，换而言之，在半导体激光器发光'受光部，如图8A 8C所示，内置有半导体激光器31和六个光检测器34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F。衍射光栅8，配置在由透镜14聚光在所述反光镜部9的反射 面上后、在所述反射面反射的激光的激光光路中，并且衍射光栅8呈同心
33圆状，为了使同心圆的中心形成在从所述激光光路偏离的位置上，如图7
所示，衍射光栅8形成为排列有多个大致同心圆的一部分即圆弧状的槽8a 的衍射光栅。从半导体激光器31发出的光，在衍射光栅8的作用下，其 大约半数的光成为直接通过的零次光，剩下的其他的半数光成为衍射光。 这些半导体激光的波长为780nm左右，在对该波长全反射的分色镜15反 射，只有零次光由透镜14聚光射入反光镜部9中。因为衍射光成为会聚 光和发散光，所以不能聚光射入到反光镜部9中。
在反光镜部9反射的零次光，再次在分色镜15反射，在衍射光栅8 被分成零次光和衍射光。虽然零次光返回到半导体激光器31侧，但只要 使用耐返回光的多模式半导体激光器，就能够消除由于返回光而对功率变 动等带来的不良影响。
当反光镜部9位于从半导体激光器31射出的零次光的焦点位置时， 在图6中，由于在反光镜部9反射的零次光在衍射光栅8的正一次衍射光， 在半导体激光器31的下侧的位置，在光检测器34D 34F的跟前，即在左 侧被聚光，负一次衍射光在半导体激光器31的上侧的位置，在光检测器 34A 34C的右侧被聚光。即，如图8A所示，士一次衍射光，在半导体 激光器31的上下的光检测器34A 34F的位置照射成相同大小的圆形。
在反光镜部9位于远离所述零次光的焦点位置的位置上时，在光检测 器34A 34F的位置，正一次衍射光变大，负一次衍射光变小(参照图8B)。 在反光镜部9位于接近于所述零次光的焦点位置的位置上时，在光检测器 34A 34F的位置，正一次衍射光变小，负一次衍射光变大(参照图8C)。
因此，如图8A 图8C所示，在被分成34A、 34B、 34C、 34D、 34E、 34F的光检测器中，可以将(光检测器34A的输出信号+光检测器34C的 输出信号+光检测器34E的输出信号) 一 (光检测器34B的输出信号+光 检测器34D的输出信号+光检测器34F的输出信号)作为聚焦误差信号。
本结构与图12的现有例相比，不但可以将光探头10的长度显著地縮 短到一半以下，而且不必像现有结构那样需要个别地调整销孔的位置，可 以大幅度降低成本。 (第六实施方式)
图9表示的是在本发明的第六实施方式中的三维形状测定装置的下侧部分。探头10在大空气轴承ll的可动部llb的作用下，可以沿着导轨部 llg在Z方向上移动，探头IO和可动部lib的重量由金属丝19向上牵引， 在防止与金属丝19的长度方向正交的横向的位置偏移的同时，使所述金 属丝19通过对其进行引导的滑轮18并从横向牵引该金属丝19，将金属丝 19连结在一对恒载弹簧17上。
恒载弹簧17,作为一例，可以使用图11所示的在专利文献2中记载 的恒载弹簧。恒载弹簧17通过巻起薄板而成，互相相对地配置有一对， 与螺旋弹簧相比，即使不伸长全长，也可以在Z方向的可动范围的整体上， 产生与所述探头IO和所述可动部Ub的重量相等的、大致一定的张力。
探头10构成为，由于线圈13通过磁回路12的间隙部，所以若对线 圈13流通电流，则在电磁力的作用下，可动部llb沿大空气轴承11在Z 方向相对于导轨部llg上下移动，但在通常使用时，该电磁力在探头10 自重的十分之一以内。
其理由是，因为测定力是小滑动轴部6的重量的十分之一左右，所以 小滑动轴部6的运动不会比重力加速度的十分之一更快。
因此，因为探头IO的重量不能由线圈13产生的电磁力支承，所以需 要用弹簧牵引探头IO的自重。并且，使用的是在Z方向的可动范围的整 个区域上弹簧的张力几乎不变的恒载弹簧17。
由于使用恒载弹簧17，不会如在图16A及图16B所示的专利文献10 中使用平衡重时那样使探头10的质量增加，就能得到充分的基于线圈13 的驱动响应性。
在图11所示的专利文献2中，因为将恒载弹簧直接连接在探头上， 所以如果相对的两个巻曲弹簧的特性不完全一致，力还会施加在横向上， 因此有时导致探头在Z方向上的移动直线度的恶化。
但是，在该第六实施方式中，因为通过滑轮18用金属丝19牵引探头 10，所以施加在探头IO上的张力方向总是一定的，所以不存在使探头IO 在Z方向上的移动直线度恶化的情况。
因此，根据第六实施方式，在从下向上测定测定物1时，可以防止支 承探头10的一对弹簧17与测定物1发生干涉，在由于两个由巻曲的薄板 形成的恒载弹簧17的特性不一致，而相对于牵引方向产生横向的力时，即使与金属丝19的连结位置向横向错开，也会因为金属丝19通过滑轮18 后的金属丝19的位置不会向横向错开，所以由金属丝19牵引可动部lib 的力总是完全只朝向一方向，不会对探头IO在Z轴方向上的移动直线度 带来不良影响。
另外，通过适当组合在所述各种实施方式中的任意的实施方式，可以 起到各自具有的效果。
本发明的三维形状测定装置，可以在同一坐标系中同时以纳米级别的 超高精度对测定物例如非球面透镜的表背面进行形状测定，其结果是，可 以实现非球面透镜的表背面之间的倾斜和偏心的、现有的技术中没有的超 高精度的测定、和比现有技术更简单且更短时间内的测定，其结果是，可 以实现表背面间的倾斜及偏心少的优质非球面透镜的量产，可以期待对照 相机、DVD、电影、带摄像头手机等光应用商品的性能提高、小型轻量化、 提高生产成品率等方面有较大的帮助。
本发明，参照附图充分说明了与实施方式相关联的内容，但对于熟练 该技术的人员，应该明白各种变形或修正。这样的变形或修正，只要不脱 离由附加的权利要求所确定的本发明的范围，应当理解为也包含在本发明 中。
3权利要求
1.一种三维形状测定装置用测定探头，其具有激光光源(31)；透镜(14)，其使从所述激光光源发出的激光聚集在与触针(5)一体连结的反光镜(9)上；衍射光栅(8)，其配置在通过该透镜聚光在所述反光镜的反光镜反射面上后、由所述反射面反射的激光的激光光路中，并且为同心圆状，形成在同心圆的中心从所述激光光路偏离的位置；第一光检测器群(34D、34E、34F)，其接收由该衍射光栅生成的正一次衍射光；和第二光检测器群(34A、34B、34C)，其接收由所述衍射光栅生成的负一次衍射光；所述三维形状测定装置用测定探头构成为将所述第一光检测器群和所述第二光检测器群的输出作为聚焦误差信号，并至少内置所述透镜。
全文摘要
提供一种三维形状测定装置用测定探头，其具有激光光源(31)；透镜(14)，其使从所述激光光源发出的激光聚集在与触针(5)一体连结的反光镜(9)上；衍射光栅(8)，其配置在通过该透镜聚光在所述反光镜的反光镜反射面上后、由所述反射面反射的激光的激光光路中，并且为同心圆状，形成在同心圆的中心从所述激光光路偏离的位置；第一光检测器群(34D、34E、34F)，其接收由该衍射光栅生成的正一次衍射光；和第二光检测器群(34A、34B、34C)，其接收由所述衍射光栅生成的负一次衍射光；所述三维形状测定装置用测定探头构成为将所述第一光检测器群和所述第二光检测器群的输出作为聚焦误差信号，并至少内置所述透镜。
文档编号G01B11/24GK101660900SQ20091017550
公开日2010年3月3日 申请日期2007年9月29日 优先权日2006年11月2日
发明者久保圭司, 吉住惠一, 望月博之, 舟桥隆宪 申请人:松下电器产业株式会社