专利名称：：高刚度、高稳定的精密测量装置的制作方法
技术领域：
：本实用新型属于光电测量仪器，特别涉及一种在线非接触测量金属、非金属宽度、厚度的高刚度、高稳定的精密测量装置。
背景技术：
：现有的在线非接触测宽、测厚装置采用钢、铁等金属结构作为基础或框架，再将测量传感器安装于框架上进行测量。金属对环境温度变化极为敏感，温度的变化会导致金属的形变，各种金属材料的受热膨胀系数如表l所示。这种形变与金属材质成分、制造工艺和零件设计与装配等多个环节有关，因此具有不可预测性。为了减小金属形变对测量带来的影响，目前主要采用在数据处理模型中加入一定的数学修正方法来实现。而修正模型往往很难与金属形变规律重合，因此效果并不理想。表l<table>tableseeoriginaldocumentpage3</column></row><table>
发明内容本实用新型的目的是为了克服上述的缺陷，提出一种高刚度、高稳定的精密测量装置，由微晶石作为基础或框架的精密测量装置，光电测量装置的功能可正常、稳定实现。本实用新型是通过以下技术方案解决的一种高刚度、高稳定的精密测量装置，其特征在于它包括测量架、传感器，所说的传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内。所说的测量架为以任意角度旋转的C型测量架，传感器依次固定在底板、连接板上，并被固装在C型测量架开口的端部，C型测量架安装在测量架外壳内，外壳安装在滑动轨道上，并由底座支撑。所说的测量架为整体框架或组合式框架测量架，被安装在外壳内，并由底座固定。微晶石或大理石、花岗岩测量架的线膨胀系数如表2所示。因此在高温或温度变化剧烈的工业现场，基于这种材料所设计的基础或框架的形变是远小于金属材质。这对于实现工业现场的对产品宽度、厚度的高精密测量有非常重要的实际意义。表2s「鳙纖辨，采赠材，能誇1%--；■"小:参数<"f，—卞丄单位城L膨胀系数[)(10一&/幻;16.1『^^^^^^^^、欣大理石.1"称花岗石本实用新型具有以下优点它解决了工业现场高温或温度变化剧烈情况下的对在线产品宽度、厚度的高精密测量装置的形变问题，极大地减小了装置形变所引起的测量误差。附图1是本实用新型C型测量架结构示意图。附图2是本实用新型C型测量系统结构示意图。附图3是本实用新型框架型测量系统结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。如图1和2所示一种高刚度、高稳定的精密测量装置，两个传感器3分别固装在底板4上，通过连接板2安装在微晶石或大理石、花岗岩C型测量架1开口的端部，两个传感器3之间的位置姿态可以通过调整底板4和连接板2来实现调整，以确保传感器3在最佳测量状态，测量架1分别安装在外壳5内，外壳5安装在滑动轨道6上，现C型测量架的平稳移动，并由底座7支撑。如图3所示一种高刚度、高稳定的精密测量装置，多个传感器3分别固装在整体框架或组合式框架型测量架上，框架型测量架安装在测量架外壳5内，测量架外壳由底座7连接支撑。以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。权利要求1、一种高刚度、高稳定的精密测量装置，其特征在于它包括测量架、传感器，所说的传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内。2、根据权利要求1所述的测量装置结构，其特征在于所说的测量架为以任意角度旋转的C型测量架，传感器依次固定在底板、连接板上，并被固装在C型测量架开口的端部，C型测量架安装在测量架外壳内，外壳安装在滑动轨道上，并由底座支撑。3、根据权利要求1所述的测量装置结构，其特征在于所说的测量架为整体框架或组合式框架测量架，被安装在外壳内，并由底座固定。专利摘要一种在线非接触测量金属、非金属宽度、厚度的检测设备。传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上，测量架安装在外壳内；测量架为以任意角度旋转的C型或整体框架或组合式框架测量架，测量架被安装在外壳内，并由底座固定。采用微晶石作为基础或框架的精密测量装置，光电测量装置的功能可正常、稳定实现，提高测量稳定性，降低设备费用成本，增强设备可靠测量性能。文档编号G01B21/08GK201364149SQ200920095958公开日2009年12月16日申请日期2009年3月20日优先权日2009年3月20日发明者刘宝瑛,涛周,鹏张,陈炳生申请人:陈炳生