专利名称：基于矩阵开关的并行测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统，具体是指一种基于矩阵开关的并行测试系统。
背景技术：
在现代电子、电器的制造、测试等行业，以及在电器制造、科研等领域中，都需要测试各种元件或模块的工作性能。对于一个模块的多个测试项目，往往是在上一次测试完成之后换装再测试，换装的时间较长，而且，对于多个被测试模块而言，总是在上一个模块测试完成后才能测试，即在同一时间段内，只有一个测试仪器是处于工作状态，如何减少换装的次数以及提高测试仪器的使用率都是一项难题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于矩阵开关的并行测试系统，避免串行测试中过程，始终有测试设备处于停工状态，以便提高设备利用率。本发明的目的通过下述技术方案实现
本发明基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、 矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。所述矩阵开关包括由η个输入模块和η个输出模块构成η*η的矩阵，η为彡2的自然数。根据需要，可以选择矩阵开关的大小，即通道数的多少，实现η*η的开关矩阵。所述输入模块具有η个输入接口和η个输出接口，输出模块具有η个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的η个输出接口分别于η个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有η个输入接口和一个输出接口。—个输入模块包括η个单刀双掷开关和2个单刀η掷开关，2个单刀η掷开关的固定端口对接，η个单刀双掷开关与一个单刀η掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀η掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，η个单刀双掷开关作为输入模块的η个输入口。一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀η掷开关、以及与该单刀η掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀η 掷开关的η个选择端口作为输出模块的输入口。单刀双掷开关的两种状态=COM-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的η个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀η掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。
所述η是4或6。根据不同的测试环境和测试过程，选择不同的矩阵大小，通过改变η值来实现对不同的测试过程的一次换装测试。所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。进一步讲，通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换，从而达到自动化测试的目的。本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果
1本发明基于矩阵开关的并行测试系统，将串行测试系统中的η次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；
2本发明基于矩阵开关的并行测试系统，通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；
3本发明基于矩阵开关的并行测试系统，可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。
图1为本发明硬件连接示意图； 图2为本发明矩阵开关电路图3为本发明矩阵开关控制电路图； 图4为本发明实施例与串行测试比较示意图。
具体实施例方式下面结合实施例对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不限于此。 实施例如图1至3所示，本发明基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备和用于切换测试线路的拨码开关。所述矩阵开关包括由η个输入模块和η个输出模块构成η*η的矩阵，η为>2的自然数。本实施例中n=4。.输入模块具有4个输入接口和4个输出接口， 输出模块具有4个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的4个输出接口分别于4个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有4 个输入接口和一个输出接口 ；一个输入模块包括4个单刀双掷开关和2个单刀4掷开关，2 个单刀4掷开关的固定端口对接，4个单刀双掷开关与一个单刀4掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀4掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，4 个单刀双掷开关作为输入模块的4个输入口 ；一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀4掷开关、以及与该单刀4掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀4掷开关的4个选择端口作为输出模块的输入口。单刀双掷开关的两种状态C0M-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的η个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀4掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换， 从而达到自动化测试的目的。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。现在，以最基本的TD和NW测试为例，说明本实用新型的优越性TD测试时间5分钟，NW测试时间3分钟，换装时间0. 5分钟。如图4所示，对5个模块的串行测试，测试耗时42. 5分钟；采用并行测试，测试耗时22. 5分钟，节约时间为20分钟。如上所述，便可以很好地实现本发明。
权利要求
1.基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。
2.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于所述的矩阵开关由η个输入模块和η个输出模块构成η*η的矩阵，η为> 2的自然数。
3.根据权利要求2所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于所述输入模块具有η个输入接口和η个输出接口，输出模块具有η个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的η个输出接口分别于η个输出模块的输入接口连接。
4.根据权利要求3所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于一个输入模块包括η个单刀双掷开关和2个单刀η掷开关，2个单刀η掷开关的固定端口对接，η个单刀双掷开关与一个单刀η掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀η 掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，η个单刀双掷开关作为输入模块的η个输入口。
5.根据权利要求3所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀η掷开关、以及与该单刀η掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀η掷开关的η个选择端口作为输出模块的输入口。
6.根据权利要求2所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于所述η是4或6。
7.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。
全文摘要
本发明公布了基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。本发明将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。
文档编号G01R31/01GK102169150SQ20101061240
公开日2011年8月31日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者贺达, 龚祖杰 申请人:芯通科技(成都)有限公司