专利名称：贴片式白光单点测试装置的制作方法
技术领域：
贴片式白光单点测试装置
技术领域：
本实用新型涉及一种LED封装生产测试设备，尤其是指一种贴片式白光单点测试装置。
背景技术：
现有SMD的封装制程中，缺少片测的装置，以致不能统计LED各种死灯、IR等电性不良，不能为封装制程中的各种环节提供数据支持、进行分析以达到改善、管控的目的。由于在做小功率SMD白光的过程中，需要对点胶量的控制，目前的测试方法必须将点好的LED 灯从支架上取下来，在测试机上测试，达到对点胶量的控制，在取灯的过程中，容易沾掉胶水，导致测不准。此外目前在SMD的制程中尚没有一款测试装置，统计产品的各种不良，大都是通过分光机后才能大致得到一部分数据，缺点在于获取数据的周期长，没有时效性，二是获取数据的全面准确性不高，很难看出问题的本质。
发明内容本实用新型的目的在于克服了上述缺陷，提供一种贴片式白光单点测试装置。本实用新型的目的是这样实现的一种贴片式白光单点测试装置，它包括测试主机，主机上设有外部接口端，内设有单晶用夹具；所述单晶用夹具由模板及盖板组成，模板包括边框，边框中嵌接有基板，基板上间隔设置共正、共负电极，共正、共负电极引出有排线与主机外部接口端相连；上述结构中，所述基板由导电材料制成，其上间隔凸出凸台形成有共正/负电极， 于凸台间设有绝缘垫片，垫片上设有共负/正电极；上述结构中，所述共正/负电极与共负/正电极的上表面位于同一平面上；上述结构中，所述模板的边框由绝缘材料制成，于模板四周设有磁体，对应的在盖板四周也设有磁体；上述结构中，所述主机上设有控制按钮。本实用新型的有益效果在于采用单晶用夹具与测试主机及外围测试控制的组合结构，可不仅仅支持单晶的排测，也支持点测功能，全测功能。通过将本实用新型涉及的的夹具安装在测试主机上，与外围电源、计算机连接起来可以实现SMD的排测功能，本项技术填补了现有设备的空白，可以统计出死灯、漏电流等不良，为制程的改善提供快速、准确的数据支持，从而可以减少异常的发生，减少企业损失。
以下结合附图详述本实用新型的具体结构
图1为本实用新型的测试主机结构示意图图2为本实用新型的模板结构俯视图[0014]图3为本实用新型的模板结构侧视图图4为本实用新型的盖板结构俯视图图5为本实用新型的基板及其上凸台电极结构图图6为本实用新型的基板安装正/负电极后结构图
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型具体实施例进行详细阐述。如图1所示，本实用新型涉及一种贴片式白光单点测试装置，它包括测试主机10， 主机10内设有单晶用夹具，其上设有控制按钮11及外部接口端正负极12、13。参见图2-4，单晶用夹具由模板及盖板300组成，模板最佳采用高绝缘性、耐磨损、 硬度较高的材料制成(诸如PVC材料就可以，该种材料透明更好，便于检查)，它包括边框 100，边框100由绝缘材料制成其中嵌接有基板1，于模板的边框100四周设有磁体200，对应的在盖板300四周也设有磁体400。如图5、6，在基板1上间隔设置共正、共负电极101、103，共正、共负电极101、103 通过引出的排线与主机10外部接口端正负极12、13相连。最佳的，上述基板1直接由导电材料制成(如主要材料特性是铝合金材料)，其上间隔凸出凸台形成有共正/负电极101， 于凸台101间设有绝缘垫片102，垫片102上设有共负/正电极103，两电极间用绝缘垫片 102隔离，中间用强力胶粘接，且共正/负电极101与共负/正电极103的上表面位于同一平面上。此外需要注意的是1、在装配共正电极与共负电极时，检查共正电极与共负电极的上表面是否在同一水平面上。在同一水平面上为0K，不同在一水平面上为不合格。2、检查注塑后的尺寸。3、电性测试，在夹具上放入一片封装好的灯(电性良好)，盖上盖片，在引线 Pl——P18上同接20mA的稳流电源正极，在引线附——NlO依次接20mA的稳流电源负极， 每次点亮时，观察是否有不亮的灯，有为不合格。需要指出的是，本实用新型不限于上述实施方式，例如本产品可通过组合中加上几节干电池，组装成手持式测试装置，它的好处是简洁、方便，特别是在做小功率白光封装的制程中，优点就非常突出，只要将点胶后的支架放在上面，盖上盖片，就可以随心所欲的点亮任一颗灯，与星谱测试仪一起使用，测出它的性能参数，判断点胶制程中的问题，从而快速的控制制程异常，达到减少不良品的生产的目的，提高了产品质量，节约了成本，提高了企业的效益，因此任何熟悉本专业的技术人员在基于本实用新型技术方案内对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型的保护范围内。
权利要求1.一种贴片式白光单点测试装置，其特征在于它包括测试主机，主机上设有外部接口端，内设有单晶用夹具；所述单晶用夹具由模板及盖板组成，模板包括边框，边框中嵌接有基板，基板上间隔设置共正、共负电极，共正、共负电极引出有排线与主机外部接口端相连。
2.如权利要求1所述的贴片式白光单点测试装置，其特征在于所述基板由导电材料制成，其上间隔凸出凸台形成有共正/负电极，于凸台间设有绝缘垫片，垫片上设有共负/ 正电极。
3.如权利要求2所述的贴片式白光单点测试装置，其特征在于所述共正/负电极与共负/正电极的上表面位于同一平面上。
4.如权利要求1所述的贴片式白光单点测试装置，其特征在于所述模板的边框由绝缘材料制成，于模板四周设有磁体，对应的在盖板四周也设有磁体。
5.如权利要求1所述的贴片式白光单点测试装置，其特征在于所述主机上设有控制按钮。
专利摘要本实用新型涉及一种贴片式白光单点测试装置，它包括测试主机，主机上设有外部接口端，内设有单晶用夹具；所述单晶用夹具由模板及盖板组成，模板包括边框，边框中嵌接有基板，基板上间隔设置共正、共负电极，共正、共负电极引出有排线与主机外部接口端相连。本实用新型的有益效果在于采用单晶用夹具与测试主机及外围测试控制的组合结构，可不仅仅支持单晶的排测，也支持点测功能，全测功能。通过将本实用新型涉及的的夹具安装在测试主机上，与外围电源、计算机连接起来可以实现SMD的排测功能，本项技术填补了现有设备的空白，可以统计出死灯、漏电流等不良，为制程的改善提供快速、准确的数据支持，从而可以减少异常的发生，减少企业损失。
文档编号G01R31/26GK201984138SQ20102067359
公开日2011年9月21日 申请日期2010年12月16日 优先权日2010年12月16日
发明者彭胜钦, 谢月东 申请人:四川柏狮光电技术有限公司