专利名称：电容触摸屏扫描线的电容测试方法及电路模块的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种扫描线的电容测试方法及电路模块，尤其是指电容触摸屏扫描线的电容测试方法和电路模块。
背景技术：
目前，电容触摸屏已广泛的应用在数码类电子产品上，如常见的笔记本、手机、MP4 等产品均已支持触控操作，未来也将应用到更多的领域。所以对于电容触摸屏的制造、工艺等也要求越来越完善，因为电容触摸屏是通过侦测电容来判断触控对象的具体位置，所以对于触摸屏上电容的测试就显的尤为重要。由于外界环境(如噪音)客观存在，故大多测量扫描线上的电容均是以若干相邻扫描线的差值作为判断依据，虽然此种方法避免了外界噪音的干扰，但是若要侦测单根扫描线的电容就行不通。现阶段，对于电容式触摸屏而言，侦测触摸屏上扫描线电容的方法一般需要利用 RC电路即积分电路，其中R代表电阻，C代表电容；将其直接连接到输出设备(如示波器) 上，通过输出设备输出的结果就可以侦测出扫描线的电容值。这种方法虽然能够测试出每根扫描线的电容，但是由于输出设备直接与RC电路连接，而输出设备本身也具有电阻，所以这种方法侦测出的电容值就会失真。再者，所述触摸屏上设置的扫描线之间会相互干扰， 而且扫描线相对大地本身也会产生电容，故此上述因素的影响也会直接导致测试扫描线电容值的结果不可靠。因此，我们希望可以提供一种针对触摸屏扫描线电容的新测试方法，其不但方法简单而且侦测结果可靠。
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种电容触摸屏扫描线的电容测试方法。为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种电容触摸屏扫描线的电容测试方法，所述触摸屏上设有若干扫描线，其步骤如下首先，将待测扫描线与高精度的阻性元件组成信号延迟电路；其次，将上述延迟电路接入由运算放大器组成的电压跟随器的输入端； 最后，将所述电压跟随器的输出端与输出设备相连接。本发明所述的电容触摸屏扫描线的电容测试方法，由于利用运算放大器将RC电路与输出设备连接，所以可以准确的侦测出触摸屏上任意一根扫描线相对环境的电容值， 不但方法简单而且侦测结果可靠。
图1是本发明触摸屏扫描线测试电容的电路连接图；图2是利用图1所述的电路图经信号输出后的示意图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。请参考图1所示，本发明所述的测试方法利用了一种电路模块，其包括RC电路10， 运算放大器11以及输出设备12。其中所述RC电路10由高精度阻性元件R和第η条扫描线上的电容Cpn组成；所述运算放大器11的同相输入端与RC电路连接，其反相输入端连接到运算放大器11的输出端上，所以该运算放大器11就组成了电压跟随器，而电压跟随器可以保证输入比例关系为1，所以测试输出端可以避免对扫描线环境电容的引入干扰；而输出设备12在本发明中特指示波器。所述RC电路10和输出设备12通过电压跟随器连接，且所述RC电路10连接到运算放大器11的同相输入端上，再经所述运算放大器11连接到输出设备12上。由于运算放大器11本身有电阻，所以它相对大地也存在一个电容值Cop，该电容值Cop会影响所述触摸屏上扫描线的电容Cpn，所以将所述运算放大器11的电容Cpn拉出来，且并联在第η条扫描线的电容Cpn上就形成了本发明所述的扫描线测试电容的电路原理图。由于触摸屏上的待测扫描线如第η条扫描线和其前一条扫描线η-1以及后一条扫描线η+1均会各自产生一电容，且第η条扫描线相对大地也会产生一电容值，故此我们将第 η条扫描线所有的电容通称为Cpn。而由于运算放大器11连接所述RC电路10和输出设备 12，一旦将信号本发明采用方波激励源连接到触摸屏的第η条扫描线上，那么经运算放大器11处理后，受RC电路的影响就会产生一延迟时间Ts，故此在示波器12上侦测到的波形图就会发生变化，请参考图2所示。测试时，将待测试的第η条扫描线和可调节的高精度电阻R(或高精度稳定的阻性元件)组成信号延迟电路，并将其接入电压跟随器同相输入端，最后将所述电压跟随器的输出端与输出设备相连接。当信号以方波激励的形式输入时，经过上述电路连接最终实现电路工作。其中所述可调节的高精度电阻R可根据电容触摸屏的环境电容数量级择优选择。而根据图1的电路连接图，由于电容Cpn和电容Cop并联后的电容值C为Cpn与Cop之和即C = Cpn+Cop，而该待测试的第η条扫描线经电压跟随器输出后的延迟时间Ts = RC，由于电容R为高精度可调整的阻性元件，可根据测试扫描线环境电容的数量级来调整参数， 所以其数值也可确定；而通过示波器12可侦测出延迟时间Ts，故此可以求出此时电容C的值。再确定出电容C的值后，由于Cop是运放输入电容值，其可通过手册查询出对应参数， 所以就可以求出第η条扫描线的电容值Cpn。本发明将信号的方波激励源的输出波形经过RC电路从而形成波形上升时间的延迟，通过电压跟随器输出端测量的上升延时时间最终计算出扫描线的电容值Cpn。
权利要求
1.一种电容触摸屏扫描线的电容测试方法，所述触摸屏上设有若干扫描线，其步骤如下首先，将待测扫描线与高精度的阻性元件组成信号延迟电路； 其次，将上述延迟电路接入由运算放大器组成的电压跟随器的输入端； 最后，将所述电压跟随器的输出端与输出设备相连接。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述延迟电路接入运算放大器的同相输入端。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述运算放大器的负相输入端与其输出端相连。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述阻性元件可调节。
5.由权利要求1所述电容测试方法构成的电路模块，其包括延迟电路以及输出设备， 其特征在于所述延迟电路与输出设备通过电压跟随器相连接。
6.如权利要求5所述的电路模块，其特征在于所述延迟电路由待测扫描线上的电容以及高精度的阻性元件组成。
7.如权利要求5所述的电路模块，其特征在于所述电压跟随器由运算放大器组成。
8.如权利要求7所述的电路模块，其特征在于所述运算放大器的同相输入端连接延迟电路。
9.如权利要求7所述的电路模块，其特征在于所述运算放大器的反相输入端连接到其输出端。
10.如权利要求5所述的电路模块，其特征在于所述阻性元件可调节。
全文摘要
本发明涉及一种电容触摸屏扫描线的电容测试方法，所述触摸屏上设有若干扫描线，其步骤如下首先，将待测扫描线与高精度的阻性元件组成信号延迟电路；其次，将上述延迟电路接入由运算放大器组成的电压跟随器的输入端；最后，将所述电压跟随器的输出端与输出设备相连接。本发明所述方法，不但方法简单而且侦测结果可靠。
文档编号G06F3/044GK102270075SQ20111007347
公开日2011年12月7日 申请日期2011年3月25日 优先权日2011年3月25日
发明者卞建春, 卞维军 申请人:苏州瀚瑞微电子有限公司