专利名称：垂直入射宽带偏振光谱仪和光学测量系统的制作方法
技术领域：
本发明总体上涉及一种包含至少一个偏振器的垂直入射宽带偏振光谱仪，更具体地涉及利用至少一个平面反射元件改变会聚光束传播方向，实现探测光束垂直入射并会聚于样品表面的垂直入射宽带偏振光谱仪。另外，本发明还涉及包括这种垂直入射宽带偏振光谱仪的光学测量系统。
背景技术：
一般来说，光学测量技术中的一个关键环节是将探测光束聚焦到样品上。目前通常有两种方法。一种方法是将系统中的最后一个聚焦透镜与其它元件分开，通过仅仅调整这个聚焦透镜来将探测光束聚焦到样品上。例如，如图1所示，通过对最后一个聚焦透镜进行上下移动来实现聚焦。另一种方法是通过对整个光学测量系统进行调整来将探测光束聚焦到样品上。例如，如图加和213所示，通过对整个光学系统进行上下移动来实现聚焦(例如，参见美国专利No. 5747813和No. 5486701)。随着半导体行业的快速发展，利用光学测量技术来精确地测量晶片上单层或多层薄膜形成的三维结构的临界尺度(⑶，CriticalDimension)、空间形貌及材料特性变得十分重要。当检测一个通常尺寸为150毫米、200毫米或300毫米的晶片时，由于在晶片上的薄膜层应力等原因，晶片表面可能不平坦。因此，当对整个晶片进行检测时，为了实现高精确度的测量和保证半导体生产线产量的快速测量，对每个测量点自动聚焦是其中一项关键的技术。而且，本领域的技术人员公知，将宽带探测光束在样品表面上聚焦成相对较小尺寸的光斑是有利的，因为小尺寸光斑可以测量微结构图案，且宽带探测光束可以提高测量精确度。在这种情况下，当采用上述第一种聚焦方法时，会存在如下问题透镜通常具有色差，这样的色差会导致不同波长的光的聚焦位置不同，增大误差，降低测量精确度；以及难以找到对整个宽带波长范围都具有良好的透射性的透镜材料。当采用上述第二种聚焦方法时，不仅可能存在透镜像差问题，而且本领域的技术人员可以明显知道，对整个光学系统进行调整的操作是非常复杂的，难以实现精确的测量。鉴于上述原因，本领域的技术人员已经提出了这样一种方法，S卩，使用曲面反射镜来将宽带探测光束聚焦到样品表面上(例如，参见美国专利No. 5608526和No. 7505133BU 美国专利申请公开No. 2007/0M7624A1和中国专利申请公开No. 101467306A)。这种方法具有如下好处在整个宽带波长范围上，反射镜不会产生色差，并且反射镜可在较宽的波长范围内都具有高反射率。虽然利用曲面反射镜自身不产生色差并从而增加聚焦及测量精确度，但是曲面反射镜相对于透镜来说比较难以校准光路。曲面反射镜焦点位置和空间方向的调节受入射光制约，通常需要整个光学系统的同步调节实现出射光路方向及聚焦位置的调整和控制。例如，(1)椭圆面反射镜两焦点空间位置相对固定，当入射光路校正后，通过单独调节椭圆面反射镜实现的光路方向及聚焦位置范围非常有限。(2)超环面反射镜(toroidal mirror)虽然在一定入射角度范围内皆可实现空间对应的两个焦点，但是这两个焦点之间的空间关系随着入射光线与超环面反射镜的相对关系改变，且变化关系复杂，实现调焦非常困难；另一个缺点是调节范围小，会造成像差。(3)离轴抛物面反射镜相对入射光线方向，改变离轴抛物面反射镜的角度会造成像差，很大程度上限制了调整范围；虽然沿平行入射光束方向移动离轴抛物面反射镜可实现聚焦位置的大范围移动，但无法改变其焦点相对于离轴抛物面反射镜中心的位置，这同样限制了调整范围。综上所述，使用单一曲面反射镜自身不产生色差，但难以通过简单调节实现光路方向及聚焦位置的调整和控制。而且，光束经过单个反射镜反射后偏振态会发生改变。这里以一个铝材料反射镜为例。在图8中示出两种入射角情况下S和P偏振光的反射率Rs和Rp。上面的两条曲线是S偏振光的反射率 Rs,下面的两条曲线是P偏振光的反射率Rp。实线对应于45度的入射角，虚线对应于50度的入射角。由此可知，S或P偏振光的反射率不相等，而且随着入射角的不同而改变。在图 9中示出反射后的S与P偏振光之间的相位差，实线对应于45度的入射角，虚线对应于50 度的入射角。由此可知，反射后的S与P偏振光之间的相位差发生变化，而且随着入射角的不同而改变，且与波长相关。总之，当宽带光束经反射镜反射之后，由于偏振方向正交的偏振态S与P各自具有不相同的反射率和相位变化，光束的偏振状态发生改变，导致难以控制光束的偏振变化(例如，参见美国专利No. 6829049B1和No. 6667805)。此外，光谱仪对偏振的控制能力限定了光谱仪的应用范围。例如，当今广泛应用于集成电路生产线工艺控制的光学临界尺度设备(0CD，0ptical Critical Dimension)。OCD 设备通过测量偏振光在样品表面的反射光谱及相位特征，拟合数值仿真结果，测量样品表面周期性图案的临界尺度(CD)、三维形貌及多层材料的膜厚与光学常数。实现临界尺度测量的光谱仪要求其聚焦系统必须做到在聚焦及光信号采集过程中控制光束的偏振态，从而可以准确地测量样品。另外，当使用不包含偏振器的光谱仪测量包含周期性结构的样品时，如中国专利申请No. 201010270454. 2中所述，由于入射光对样品的各向异性没有调整旋转角度的选择性，所以入射光必须为自然光。从光源发出的自然光理论上要求经过完全的偏振保持或不存在任何偏振敏感的部件入射在样品表面。存在任何的部分偏振态，将无法测量各向异性样品；此时，当各向异性样品旋转时，测量值变化。因此，能够对各向异性样品进行测量的不包含偏振控制的光谱仪对所涉及的光学器件质量和光路调整均要求很高。测量时，经样品反射的光为部分偏振光。在此光束入射至探测器的这个过程中，理论上要求完全的偏振保持或不存在任何偏振敏感的部件。例如，当出现偏振敏感的部件时，需要增加消偏振器，这样减低了信噪比。而且，以上问题无法通过数值方法得以校正。
发明内容
鉴于上述情形，本发明的发明人提出了一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的、且结构简单的垂直入射宽带偏振光谱仪。该垂直入射宽带偏振光谱仪包含至少一个偏振器，从而能够高精确度地测量各向异性或非均勻性样品，如包含周期性结构的薄膜的三维形貌和材料光学常数。本发明提供一种垂直入射宽带偏振光谱仪，该垂直入射宽带偏振光谱仪包括光源、分光元件、聚光单元、偏振器、第一曲面反射元件、第一平面反射元件和探测单元，其中 所述分光元件设置于所述光源和所述聚光单元之间的光路中，用于使来自光源的光束在入射至所述聚光单元之前部分地通过，以及接收从样品上反射的、且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器和所述聚光单元的光束并将该光束反射至所述探测单元；所述聚光单元用于接收通过所述分光元件的光束并使该光束变成平行光束；所述偏振器设置于所述聚光单元和所述第一曲面反射元件之间，用于使所述平行光束通过并入射至所述第一曲面反射元件；所述第一曲面反射元件用于接收通过所述偏振器的平行光束并使该光束变成会聚光束；所述第一平面反射元件用于接收所述会聚光束并将所述会聚光束反射后垂直地聚焦到样品上；以及所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器和所述聚光单元并被所述分光元件反射的光束。所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件可以具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。所述分光元件可以为分光薄片、分光棱镜、点格分光镜、薄膜分光镜。所述聚光单元可以为至少一个透镜或至少一个曲面反射镜。所述分光元件还可以为边缘处于光路中的第二反射元件。所述聚光单元还可以为至少一个透镜。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括设置在所述探测单元和所述第二反射元件之间的光路中的第三反射元件，其中所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器、所述至少一个透镜、所述第二反射元件和所述第三反射元件的光束，所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件，所述第二反射元件和所述第三反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。所述聚光单元可以为第二曲面反射元件。所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件；所述第二反射元件和所述第二曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括设置在所述探测单元和所述第二曲面反射元件之间的光路中的第三反射元件，其中所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器、所述第二曲面反射元件和第三反射元件的光束，并且所述第三反射元件和所述第二曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。所述第二反射元件可以为具有至少一直线边缘并且该边缘直线与光路的主光相交的反射元件。所述第一曲面反射元件可以为离轴抛物面反射元件或超环面反射元件。在本发明中，所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括可移动的分光器和图案识别系统。所述图案识别系统包括透镜、照明光源与CCD成像器。所述可移动的分光器用于将所述图案识别系统提供的样品照明光束反射至样品表面并将样品表面的反射光束反射至所述CCD成像器。由此可知，除通过观测探测单元中光强的变化判断及实现探测光对样品的聚焦方法外，本发明还可以具有另一种聚焦判断方法，即，通过观测所述图案识别系统中的成像清晰度来进行调焦。并存两种聚焦系统提高了设备聚焦的精确度。并且，可以实现样品表面探测光束光斑与样品表面图案对准的功能。而且，在调焦过程中，所述可移动的分光器不需要随所述第一平面反射元件的位置变化做出调整。当所述可移动的分光器不位于光路中时，由于不对光路产生任何影响，可进行光谱测量。此外，所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括至少一个光阑，位于所述偏振器和所述样品之间，用于避免经过所述偏振器后产生的e光入射至样品表面并且/或者其反射光反射回所述偏振器。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括偏振器旋转控制装置， 该偏振器旋转控制装置，用于控制所述偏振器的偏振方向。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括计算单元，该计算单元用于计算样品材料的光学常数、薄膜厚度和/或用于分析样品的周期性结构的临界尺度特性或三维形貌。此外，所述第一平面反射元件的倾斜角度和/或空间位置是可调节的。例如，所述第一平面反射元件可以沿着所述会聚光束的主光的传播方向移动。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括用于承载样品的可调节的样品平台。所述分光元件可以是分光棱镜、 分光板、点格分光镜(Polka-dot Beamsplitter)或薄膜分光镜(PellicleBeamsplitter)。 例如，所述分光元件可以是大恒光电GCC-401、大恒光电GCC-411、Edmund点格分光镜、 Newport点格分光镜、或者Edmund薄膜分光镜。所述垂直入射宽带偏振光谱仪还可以包括光阑，所述光阑可以置于整个光学系统的任意一段光路中。在本发明中，所述光源可以为包含多重波长的光源。具体地说，所述光源的光谱可以在真空紫外至近红外光范围内，即，在190nm至IlOOnm波长范围内。光源可以是氙灯、 氘灯、钨灯、卤素灯、汞灯、包含氘灯和钨灯的复合宽带光源、包含钨灯和卤素灯的复合宽带光源、包含汞灯和氙灯的复合宽带光源、或者包含氘钨商素的复合宽带光源，通常此类光源的出射光束为自然光。此类光源的例子包括Oceanoptics公司产品HPX-2000、HL-2000和 DH2000,以及Hamamtsu公司产品L110;34、L8706、L9841和Ll(^90。光源也可为利用消偏振器将部分偏振光或偏振光转化后形成的自然光。例如，消偏振器可以是Lyot消偏振器(美国专利 No. 6667805)。在本发明中，所述探测单元可以是光谱计，具体地说，可以是电荷耦合器件(CCD) 或光电二极管阵列(PDA)光谱计，例如，OceanOptics QE65000光谱计或B&W Teck Cypher H光谱计。本发明中，所述偏振器可以是薄膜偏振器、格兰汤普森棱镜偏振器、洛匈棱镜偏振器、格兰泰勒棱镜偏振器、格兰激光偏振器。尤其，所述偏振器优选为洛匈棱镜偏振器，并且，其材料优选为氟化镁(MgF2)。本发明还提供一种包括上述垂直入射宽带偏振光谱仪的光学测量系统。结合附图考虑下面对本发明的优选实施例的描述，本发明的上述和其它目的、特征和优点将变得更加清楚。
在附图中，所有的视图并不一定是按比例绘制的，相同的附图标记在几个视图中始终描述基本类似的元件。具有不同字母后缀的相同附图标记表示基本类似的元件的不同实例。图1是示出现有技术中的通过上下移动最后一个聚焦透镜来实现聚焦的示意图。图加和图2b是示出现有技术中的通过上下移动整个光学系统来实现聚焦的示意图。图3是用于说明通过移动平面反射镜来进行对焦的示意图。图4是示出洛匈棱镜偏振器(Rochon Polarizer)的光学示意图，在该图中，RP代表洛匈棱镜偏振器，D代表光阑，S代表样品。图fe是示出根据本发明第一实施例的垂直入射宽带偏振光谱仪的示意图。图恥示出用于根据本发明第一实施例中的点格分光镜的平面示意图。图6是示出根据本发明第二实施例的垂直入射宽带偏振光谱仪的示意图。图7是示出根据本发明第三实施例的垂直入射宽带偏振光谱仪的示意图。图8示出S和P偏振光经过一个铝材料反射镜反射的反射率随着入射光的角度不同而改变，其中，上面的两条曲线对应于S偏振光，下面的两条曲线对应于P偏振光。图9示出S和P偏振光经过上述铝材料反射镜反射所产生的相位差随着入射角的不同而改变。图IOa至IOc是用于解释保持偏振光的偏振特性的示意图。图11是单晶硅周期性浅沟槽的结构图。图12是用于解释快速寻找焦点的数学方法的示意图。图13是绝对反射率测量法中单晶硅周期性浅沟槽TE和TM的绝对反射率光谱图。图14是椭圆偏振测量法中TE和TM的TM/TE反射率振幅比值和TM与TE之间的相位差的光谱图。
具体实施例方式本文所采用的措辞或术语仅用于描述的目的，而不用于限制性的目的。除非另有说明，本文所用的术语与本领域的通用术语含义一致。 首先，对本文所用的术语进行如下的说明。本文所用的“聚焦系统”是用于将光束聚焦在样品表面上的系统。该系统可以是由多个或单个子系统构成的总系统，也可以是集成为一体的单个系统。本文所用的“反射镜”是利用反射面反射光束的光学元件。根据反射镜的形状，反射镜通常可以包括平面反射镜和曲面反射镜，曲面反射镜又包括球面反射镜和非球面反射镜。根据反射的程度，反射镜可以包括全反射式反射镜和半透射半反射式反射镜(又简称为“半透射式反射镜”)，其中，半透射半反射式反射镜又称为分光镜。非球面反射镜又包括抛物面反射镜、椭球面反射镜、非二次面反射镜等等。本文所用的“平面反射镜”是不破坏光束单心性的反射镜。本文所用的“抛物面反射镜”是将平行光轴的光束会聚于抛物面的焦点的反射镜。本文所用的“离轴抛物面反射镜”是通过从旋转对称的抛物面反射镜中截取不包含对称轴的一个部分而获得的镜面，该离轴抛物面反射镜自身不产生色差和球面像差。本文所用的“入射平面”是由入射光和入射点处的表面法线所组成的平面。(对焦原理)如上所述，在现有技术中，虽然使用曲面反射镜自身不产生色差，但是难以通过简单调节来实现光路方向及聚焦位置的调整和控制。鉴于这种原因，本发明的发明人提出了使用平面反射镜调焦的方法。
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如图3所示，假设来自离轴抛物面反射镜OAP的会聚光束经过平面反射镜M反射后聚焦在样品SA的位置P上，以及会聚光束中的主光沿水平方向传播且以45度的入射角入射至平面反射镜。当将平面反射镜M沿着所述会聚光束中的主光的传播方向移动距离 h (即，平面反射镜被移动到位置M’)时，来自离轴抛物面反射镜OAP的会聚光束经过平面反射镜M，反射后聚焦的位置P’相对于原来的聚焦位置P在垂直方向上移动了距离h且在所述主光的传播方向上也移动了距离h。如果需要将样品上的焦点向上移动距离h，只须将平面反射镜M相对于离轴抛物面反射镜OAP向远处移动距离h，同时将样品平台沿平面反射镜M移动的方向移动相同的距离。由此可知，本领域的技术人员可以轻松地调整光束的聚焦位置，以适应样品的高度变化。而且，由于平面反射镜自身不影响入射光的会聚状态且不产生色差，所以采用反射镜可以在保证会聚光束质量的同时改变光束的传播方向。此外，一方面，反射镜通常用于折叠光路，使得整个光学系统更加紧凑。另一方面，平面反射镜可实现宽带光谱范围内的高反射率，对光强影响很低，并且与辅助的聚焦判断方法结合，可以实现精确的手动或自动聚焦。因此，在本发明中通过调整平面反射镜来进行对焦。(保持任意偏振光的偏振特性的原理)下面，参照图IOa和IOb解释通过两个平面反射镜或者一个平面反射镜和一个离轴抛物面反射镜保持偏振光的偏振特性的基本原理。如图IOa所示，假设以Ml入射面为参考的S (或P)偏振光束以(90-θ )度的入射角入射在第一平面反射镜Ml上，并且被第一平面反射镜Ml反射至第二平面反射镜Μ2。当第一平面反射镜Ml的入射平面与第二平面反射镜Μ2的入射平面相互垂直，且Μ2倾斜度满足使Ml的反射光以(90-θ )度入射角入射至Μ2时，经Ml反射的以Ml入射面为参考的 S (或P)偏振光转变为以Μ2入射面为参考的P (或幻偏振光。现在以光束传播方向为+Z方向确定的右手参考系分析光束的传播及偏振态的变化。将上述过程以数学公式表达
权利要求
1.一种垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，该垂直入射宽带偏振光谱仪包括光源、 分光元件、聚光单元、偏振器、第一曲面反射元件、第一平面反射元件和探测单元，其中所述分光元件设置于所述光源和所述聚光单元之间的光路中，用于使来自光源的光束在入射至所述聚光单元之前部分地通过，以及接收从样品上反射的、且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器和所述聚光单元的光束并将该光束反射至所述探测单元；所述聚光单元用于接收通过所述分光元件的光束并使该光束变成平行光束；所述偏振器设置于所述聚光单元和所述第一曲面反射元件之间，用于使所述平行光束通过并入射至所述第一曲面反射元件；所述第一曲面反射元件用于接收通过所述偏振器的平行光束并使该光束变成会聚光束；所述第一平面反射元件用于接收所述会聚光束并将所述会聚光束反射后垂直地聚焦到样品上；以及所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器和所述聚光单元并被所述分光元件反射的光束。
2.根据权利要求1所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。
3.根据权利要求1所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述分光元件为分光薄片、分光棱镜、点格分光镜、薄膜分光镜。
4.根据权利要求3所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述聚光单元为至少一个透镜或至少一个曲面反射镜。
5.根据权利要求1所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述分光元件为边缘处于光路中的第二反射元件。
6.根据权利要求5所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述聚光单元为至少一个透镜。
7.根据权利要求6所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括设置在所述探测单元和所述第二反射元件之间的光路中的第三反射元件，其中所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器、所述至少一个透镜、所述第二反射元件和所述第三反射元件的光束；所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件；并且所述第二反射元件和所述第三反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。
8.根据权利要求5所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述聚光单元为第二曲面反射元件。
9.根据权利要求8所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述第一平面反射元件和所述第一曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件；并且所述第二反射元件和所述第二曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。
10.根据权利要求9所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括设置在所述探测单元和所述第二曲面反射元件之间的光路中的第三反射元件，其中所述探测单元用于探测从样品上反射的且依次经过所述第一平面反射元件、所述第一曲面反射元件、所述偏振器、所述第二曲面反射元件和第三反射元件的光束；并且所述第三反射元件和所述第二曲面反射元件具有相同的反射材料和镀膜结构并满足光束的入射角相同和入射平面相互垂直的条件。
11.根据权利要求5-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述第二反射元件为具有至少一直线边缘并且该边缘直线与光路的主光相交的反射元件。
12.根据权利要求1-7中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于，所述第一曲面反射元件为离轴抛物面反射元件或超环面反射元件。
13.根据权利要求8-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述第一曲面反射元件和第二曲面反射元件为离轴抛物面反射元件或超环面反射元件。
14.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述第一平面反射元件的倾斜角度和/或空间位置是可调节的。
15.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述第一平面反射元件可以沿着所述会聚光束的主光的传播方向移动。
16.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括用于承载样品的可调节的样品平台。
17.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括可移动的分光器和图案识别系统，其中所述图案识别系统包括透镜、照明光源与CCD成像器；所述可移动的分光器用于将所述图案识别系统提供的样品照明光束反射至样品表面并将样品表面的反射光束反射至所述CCD成像器；并且在所述垂直入射宽带偏振光谱仪中可以通过观测所述探测单元的光强和/或通过观测所述图案识别系统中的图像的清晰度来进行调焦。
18.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括至少一个光阑，位于所述偏振器和所述样品之间，用于避免经过所述偏振器后产生的e光入射至样品表面并且/或者其反射光反射回所述偏振ο
19.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括光阑，所述光阑可以置于整个光学系统的任意一段光路中。
20.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述光源为包含多重波长的光源。
21.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述光源是氙灯、氘灯、钨灯、商素灯、汞灯、包含氘灯和钨灯的复合宽带光源、包含钨灯和卤素灯的复合宽带光源、包含汞灯和氙灯的复合宽带光源或包含氘钨卤素的复合宽带光源，或者，所述光源是通过消偏振器产生的偏振度为零的自然光点光源。
22.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述偏振器为洛匈棱镜偏振器。
23.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括偏振器旋转控制装置，该偏振器旋转控制装置用于控制所述偏振器的偏振方向。
24.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述探测单元是光谱计。
25.根据权利要求1-10中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪，其特征在于， 所述垂直入射宽带偏振光谱仪还包括计算单元，该计算单元用于计算样品材料的光学常数、薄膜厚度和/或用于分析样品的周期性结构的临界尺度特性或三维形貌。
26.一种光学测量系统，包括根据权利要求1至25中的任意一项所述的垂直入射宽带偏振光谱仪。
全文摘要
本发明提供一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的、且结构简单的垂直入射宽带偏振光谱仪。该垂直入射宽带偏振光谱仪利用至少一个平面反射元件改变会聚光束传播方向，实现探测光束垂直入射并会聚于样品表面的垂直入射宽带偏振光谱仪。而且，该垂直入射宽带偏振光谱仪包含至少一个偏振器，从而能够测量各向异性或非均匀性样品，如包含周期性结构的薄膜的三维形貌和材料光学常数。
文档编号G01J3/02GK102269623SQ20111003274
公开日2011年12月7日 申请日期2011年1月30日 优先权日2010年6月2日
发明者严晓浪, 刘涛, 李国光, 艾迪格·基尼欧, 马铁中 申请人:北京智朗芯光科技有限公司