专利名称：热释光探测元件照射盒的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种热释光探测元件筛选照射盒(以下简称照射盒)。
背景技术：
热释光探测器技术是在六十年代发展起来的一种剂量测量方法。热释光探测器具有能量响应好、灵敏度高、受环境影响小、使用方便、可测X、β、Y、η等多种射线的优点。广泛应用于辐射防护、放射医学、放射生物学、地质学、考古学和环境保护等领域。热释光探测器中的探测元件是由氟化锂(LiF:Mg，Cu, P)制成的，其制作过程是将氟化锂(LiF:Mg*Cu*P)经250°C退火后封闭在小塑料管中作为探测元件，该探测元件再经标准辐射场辐照即成。在辐照时，为保证各探测元件的一致性以及辐照密度，通常需要人工对其进行摆放、排版，但由于探测元件尺寸较小(例如，管状的外形尺寸为外径2毫米，长约 12毫米)，因此摆放较为困难，工作效率较低。
实用新型内容为克服上述缺陷，本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便的探测元件用照射盒为达到上述目的，本实用新型探测元件用照射盒，为内部具有开口向上的具有倒C 形容置腔的非金属透光平板，所述的C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。特别是，在所述的照射盒上方设有装料漏斗，所述的装料漏斗为长条形漏斗，其中漏斗下端开口为长条形，其长度大于一个探测元件的长度，其厚度与隔板厚度相适配。特别是，所述的装料漏斗下方设有滑动装料漏斗卡槽，装料漏斗卡槽的厚度与照射盒厚度相适配；所述的装料漏斗通过卡槽卡设在照射盒上，并能沿照射盒上端滑动。特别是，所述的照射盒上方设有滑动卡槽，照射盒卡槽的厚度与漏斗下端厚度相适配；所述的装料漏斗下端设在照射盒的卡槽内，并能沿照射盒卡槽滑动。为达到上述目的，本实用新型的照射盒为两非金属透光平板，在两非金属透光平板中间固设内有开口朝上的倒C形孔的隔板以形成一倒C形容置腔，，所述的C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。特别是，在所述的照射盒上方设有装料漏斗，所述的装料漏斗为长条形漏斗，其中漏斗下端开口为长条形，其长度大于一个探测元件的长度，其厚度与隔板厚度相适配。特别是，所述的装料漏斗下方设有滑动装料漏斗卡槽，装料漏斗卡槽的厚度与照射盒厚度相适配；所述的装料漏斗通过卡槽卡设在照射盒上，并能沿照射盒上端滑动。特别是，所述的照射盒上方设有滑动卡槽，照射盒卡槽的厚度与漏斗下端厚度相适配；所述的装料漏斗下端设在照射盒的卡槽内，并能沿照射盒卡槽滑动。采用上述结构，可以将多个探测元件放入照射盒上方开口，或通过漏斗放入照射盒上方开口，使探测元件掉入到C形容置空间内，可以较为方便地对探测元件进行摆放，摆放速度快，整体结构简单，使用方便。
图1为本实用新型的实施例的结构示意图。图2为图1的A-A向示意图。图3A为图1的B-B向示意分解图。图:3B为图1的B-B向示意图。图4为另一实施例的剖视示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的说明。如图1至图4所示，本实用新型探测元件用照射盒1，为内部具有开口向上的具有倒C形容置腔11的非金属透光平板，其中，C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。这样，可以将多个探测元件放入照射盒上方开口，使探测元件掉入到C形容置空间11内(排版时，可根据需要进行轻微晃动，以便于排版)，可以较为方便地对探测元件进行摆放，直到排满。排版速度快，整体结构简单，使用方便。本实用新型的照射盒的加工方法可有多种，例如可以将非金属透光平板通过刀具将其内部掏空，也可以如图2所示，采用两块非金属透光平板制作，在两非金属透光平板中间固设内有开口朝上的倒C形孔的隔板，以形成一倒C形容置腔，所述的C形容置腔11的厚度与探测元件的尺寸相适配。还可以采用两块非金属透光平板，其中一块非金属透光平板上加工成一个倒C形凹槽后再与另一非金属透光平板合并。作为本实用新型进一步的改进，在所述的照射盒上方设有装料漏斗2，所述的装料漏斗为长条形漏斗，其中漏斗下端开口为长条形，其长度大于一个探测元件的长度，其厚度与隔板厚度相适配。作为本实用新型进一步的改进，如图4所示，所述的装料漏斗2下方设有滑动装料漏斗卡槽，装料漏斗卡槽的厚度与照射盒厚度相适配；所述的装料漏斗2通过卡槽卡设在照射盒上，并能沿照射盒上端滑动。作为本实用新型进一步的改进，如图3A和图:3B所示，所述的照射盒上方设有滑动卡槽12，照射盒卡槽的厚度与漏斗下端厚度相适配；所述的装料漏斗2下端设在照射盒的卡槽内，并能沿照射盒卡槽滑动。以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例。但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。
权利要求1.一种热释光探测元件照射盒，其特征在于，所述照射盒为内部具有开口向上的具有倒C形容置腔的非金属透光平板，所述的C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。
2.如权利要求1所述的探测元件用照射盒，其特征在于，在所述的照射盒上方设有装料漏斗，所述的装料漏斗为长条形漏斗，其中漏斗下端开口为长条形，其长度大于一个探测元件的长度，其厚度与隔板厚度相适配。
3.如权利要求2所述的探测元件用照射盒，其特征在于，所述的装料漏斗下方设有滑动装料漏斗卡槽，装料漏斗卡槽的厚度与照射盒厚度相适配；所述的装料漏斗通过卡槽卡设在照射盒上，并能沿照射盒上端滑动。
4.如权利要求1所述的探测元件用照射盒，其特征在于，所述的照射盒上方设有滑动卡槽，照射盒卡槽的厚度与漏斗下端厚度相适配；所述的装料漏斗下端设在照射盒的卡槽内，并能沿照射盒卡槽滑动。
5.一种探测元件用照射盒，其特征在于，所述照射盒为两非金属透光平板，在两非金属透光平板中间固设内有开口朝上的倒C形孔的隔板以形成一倒C形容置腔，所述的C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。
6.如权利要求5所述的探测元件用照射盒，其特征在于，在所述的照射盒上方设有装料漏斗，所述的装料漏斗为长条形漏斗，其中漏斗下端开口为长条形，其长度大于一个探测元件的长度，其厚度与隔板厚度相适配。
7.如权利要求6所述的探测元件用照射盒，其特征在于，所述的装料漏斗下方设有滑动装料漏斗卡槽，装料漏斗卡槽的厚度与照射盒厚度相适配；所述的装料漏斗通过卡槽卡设在照射盒上，并能沿照射盒上端滑动。
8.如权利要求5所述的探测元件用照射盒，其特征在于，所述的照射盒上方设有滑动卡槽，照射盒卡槽的厚度与漏斗下端厚度相适配；所述的装料漏斗下端设在照射盒的卡槽内，并能沿照射盒卡槽滑动。
专利摘要本实用新型公开了一种热释光探测元件照射盒，为解决现有技术中探测元件筛选摆放慢的问题而发明。为达到上述目的，本实用新型照射盒，为内部具有开口向上的具有倒C形容置腔的非金属透光平板，所述的C形容置腔的厚度与探测元件的尺寸相适配。采用上述结构，可以将多个探测元件放入照射盒上方开口，或通过漏斗放入照射盒上方开口，使探测元件掉入到照射盒空间内，可以较为方便地对探测元件进行摆放，摆放速度快，整体结构简单，使用方便。
文档编号G01T1/11GK202041647SQ201120000648
公开日2011年11月16日 申请日期2011年1月4日 优先权日2011年1月4日
发明者张建, 程旭 申请人:北京瑞福特辐射测量仪器有限公司