专利名称：一种恒温老化系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试设备领域，尤其涉及一种恒温老化系统。
背景技术：
灯具、电源、充电器、变压器等光电产品在出厂前需要经过可靠性测试，其目的是保证产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等环境条件下，保证功能可靠性而进行的测试。常见的可靠性测试项目有高温、低温、温度冲击、电压循环冲击等老化测试。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种恒温老化系统，旨在实现对光电产品的老化测试。本实用新型是这样实现的，一种恒温老化系统，包括一容置老化产品的恒温老化箱和与所述恒温老化箱连接的老化控制子系统；所述老化控制子系统包括一控制老化控制子系统工作状态的开关单元；以及与恒温老化箱连接的老化方式控制单元。进一步地，所述老化控制子系统还包括一与所述老化方式控制单元连接的指示灯。进一步地，所述老化控制子系统还包括若干与所述老化方式控制单元连接的电压表和/或电流表。进一步地，所述老化控制子系统为一手动系统，包括与所述恒温老化箱连接、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干个电压模块；与所述若干个电压模块连接、控制所述若干个电压模块工作的MCU ；与所述MCU连接的电压冲击频率调节模块。进一步地，所述老化控制子系统还包括与所述MCU连接的固定冲击电压手动选择模块。进一步地，所述老化控制子系统为一自动系统，包括第一MCU ；固定轴，所述固定轴上分布有与所述恒温老化箱连接的、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干金属感应头；与所述第一 MCU连接的第一马达，所述第一马达连接有第一转动轴，所述第一马达可带动所述第一转动轴旋转和/或沿轴向往复运动，所述第一转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头。进一步地，所述老化控制子系统为一自动系统，包括[0024]第二MCU ；与所述第二 MCU连接的第二马达，所述第二马达连接有第二转动轴，所述第二马达可带动所述第二转动轴旋转，所述第二转动轴上分布有与所述恒温老化箱连接的、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干金属感应头；与所述第二 MCU连接的第三马达，所述第三马达连接有第三转动轴，所述第三马达可带动所述第三转动轴旋转和/或沿轴向往复运动，所述第三转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头。进一步地，所述恒温老化箱包括调节老化温度的温度调节单元；以及控制恒温老化箱工作状态的开关单元。 进一步地，所述恒温老化箱包括一使所述恒温老化箱内部的老化产品处于振动状态的振动单元。本实用新型提供的恒温老化系统可实现对光电产品的高温、低温、温度冲击、电压循环冲击等老化测试，适用于LED路灯、灯具、灯泡、日光灯、节能灯、充电器、变压器、LED光源、LED电源等产品。
图1是本实用新型实施例提供的恒温老化系统的结构原理图；图2是基于手动控制方式实现的图1所示的恒温老化系统的结构原理图；图3是基于自动控制方式实现的图1所示的恒温老化系统的一种结构原理图；图4是基于自动控制方式实现的图1所示的恒温老化系统的另一种结构原理图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。本实用新型实施例中，将恒温老化系统分为恒温老化箱和控制该恒温老化箱老化控制子系统两部分，其中前者用于容置老化产品，后者用于控制老化条件。图1示出了本实用新型实施例提供的恒温老化系统的结构原理，为了便于描述， 仅示出了与本实施例相关的部分。参照图1，本实用新型实施例提供的恒温老化系统包括老化控制子系统1和恒温老化箱2，其中，恒温老化箱2用于容置老化产品，而老化控制子系统1与恒温老化箱2连接，用于控制恒温老化箱2内部的老化环境。老化控制子系统1包括开关单元11和老化方式控制单元12，开关单元11用于控制老化控制子系统1的工作状态为开启或关闭，老化方式控制单元12则与恒温老化箱2连接，用于控制恒温老化箱2工作在何种老化方式下，如高压冲击、低压冲击、高中低压冲击等等。进一步地，上述老化控制子系统1还包括一与老化方式控制单元12连接的指示灯 13，该指示灯用于指示老化控制子系统是否处于工作状态。[0043]进一步地，为使操作人员直观地了解当前老化条件，上述老化控制子系统1还可包括若干个电压表和/或电流表(图中未示出)，此若干个电压表和/或电流表与老化方式控制单元12连接，用于显示当前的老化电参数。上述老化控制子系统1可以是手动系统，也可以是自动系统，分述如下手动系统如图2所示，此手动的老化控制子系统包括MCU、与该MCU连接的若干个电压模块(如图2中示出的第一电压模块、第二电压模块、第N电压模块)和与MCU连接的电压冲击频率调节模块，若干个电压模块又与恒温老化箱连接，每个电压模块所针对的电压不同。MCU控制若干个电压模块的工作状态，进而实现控制恒温老化箱2内部的老化产品的电压，而电压冲击频率调节模块则用于供用户手动调节高低电压对老化产品的冲击速度。进一步地，上述手动的老化控制子系统还包括一固定冲击电压手动选择模块，其与MCU连接，用于实现在固定电压下对老化产品的冲击测试。本实用新型中，自动系统可以基于如图3所示的一个马达实现，也可以基于如图4 所示的两个马达实现。图3所示的自动老化控制子系统包括第一 MCU、固定轴11、与第一 MCU连接的第一马达，该固定轴11上分布有与恒温老化箱2连接的、控制恒温老化箱2内部的老化产品的电压的若干金属感应头；相应地，第一马达连接有第一转动轴，所述第一马达可带动第一转动轴旋转和/或沿轴向往复运动，第一转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头，即图3中示出的A1、A2、A3。图4所示的自动老化控制子系统包括第二MCU、与该第二MCU连接的第二马达和第三马达，第二马达和第三马达分别连接有第二转动轴和第三转动轴，第二马达可带动第二转动轴旋转，第三马达可带动所述第三转动轴旋转和/或沿轴向往复运动。第二转动轴上分布有若干金属感应头，即图4中示出的B 1、B2、B3，每一个金属感应头与一种老化电压相对应，该金属感应头与恒温老化箱2连接，控制恒温老化箱2内部的老化产品的电压，相应地，第三转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头，即图4中示出的 Cl、C2、C3ο图3和图4所示系统的工作原理相同，下文仅以图4为例描述工作原理。工作时， 第二 MCU控制第二马达和第三马达转动，当B3和C3转动到距离最近时，B3上的感应信号传输至恒温老化箱2，控制恒温老化箱2内部的老化产品工作在某一种电压之下，Bl和Cl、 B2和C2的之间同样如此，第二 MCU不停地控制第二马达和第三马达转动，恒温老化箱2内的老化产品就处于不同的电压冲击之下，冲击速率可以在MCU中设置，实现任意速率的电压冲击。若需使恒温老化箱2内的老化产品的工作电压稳定在某一电压，只需控制Bl与Cl 或B2与C2或B3与C3的距离稳定在最近即可。而若无需对老化产品施加电压，则MCU控制第三马达沿平行于轴的方向运动，使Bl与Cl或B2与C2或B3与C3的距离变远，此时Bi、 B2、B3均没有感应信号。 进一步地，如图1至图4所示，恒温老化箱包括温度调节单元21和开关单元22，其中温度调节单元21用于调节老化温度的，开关单元22用于控制恒温老化箱的工作状态。 恒温老化箱2还可进一步包括一振动单元(图中未示出)，振动单元使恒温老化箱 2内部的老化产品处于振动状态，可测试产品的元器件是否焊接牢固。[0053] 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种恒温老化系统，其特征在于，包括一容置老化产品的恒温老化箱和与所述恒温老化箱连接的老化控制子系统；所述老化控制子系统包括一控制老化控制子系统工作状态的开关单元；以及与恒温老化箱连接的老化方式控制单元。
2.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统还包括 一与所述老化方式控制单元连接的指示灯。
3.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统还包括 若干与所述老化方式控制单元连接的电压表和/或电流表。
4.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统为一手动系统，包括与所述恒温老化箱连接、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干个电压模块；与所述若干个电压模块连接、控制所述若干个电压模块工作的MCU ； 与所述MCU连接的电压冲击频率调节模块。
5.如权利要求4所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统还包括 与所述MCU连接的固定冲击电压手动选择模块。
6.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统为一自动系统，包括第一 MCU ；固定轴，所述固定轴上分布有与所述恒温老化箱连接的、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干金属感应头；与所述第一 MCU连接的第一马达，所述第一马达连接有第一转动轴，所述第一马达可带动所述第一转动轴旋转和/或沿轴向往复运动，所述第一转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头。
7.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述老化控制子系统为一自动系统，包括第二 MCU ；与所述第二 MCU连接的第二马达，所述第二马达连接有第二转动轴，所述第二马达可带动所述第二转动轴旋转，所述第二转动轴上分布有与所述恒温老化箱连接的、控制所述恒温老化箱内部的老化产品的电压的若干金属感应头；与所述第二 MCU连接的第三马达，所述第三马达连接有第三转动轴，所述第三马达可带动所述第三转动轴旋转和/或沿轴向往复运动，所述第三转动轴上分布有与所述若干金属感应头一一对应的若干金属头。
8.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述恒温老化箱包括 调节老化温度的温度调节单元；以及控制恒温老化箱工作状态的开关单元。
9.如权利要求1所述的恒温老化系统，其特征在于，所述恒温老化箱包括 一使所述恒温老化箱内部的老化产品处于振动状态的振动单元。
专利摘要本实用新型适用于测试设备领域，提供了一种恒温老化系统，包括一恒温老化箱和与所述恒温老化箱连接的老化控制子系统；所述老化控制子系统包括一控制老化控制子系统工作状态的开关单元；以及与恒温老化箱连接的老化方式控制单元。本实用新型提供的恒温老化系统可实现对光电产品的高温、低温、温度冲击、电压循环冲击等老化测试，适用于LED路灯、灯具、灯泡、日光灯、节能灯、充电器、变压器、LED光源、LED电源等产品。
文档编号G01R31/00GK201993423SQ20112000286
公开日2011年9月28日 申请日期2011年1月6日 优先权日2011年1月6日
发明者陈育展 申请人:陈育展