专利名称：一种新型测试片的制作方法
技术领域：
一种新型测试片技术领域[0001]本实用新型涉及到半导体元件生产过程中性能测试技术，具体地说，是一种在测试元件与测试机之间起桥接作用的新型测试片。
背景技术：
[0002]半导体元件在流水线生产作业时，常常需要对性能参数进行测试和分离，而测试片起着连接测试材料与测试机的总要作用，测试片性能是否良好将直接影响生产效率，影响产品质量以及生产成本。[0003]而现有技术的缺点是现有的测试片采用铍铜加工而成，虽然具有高强度、高导电性、冲击不产生火花等一系列优点，但是其耐磨性不够强，使用寿命不够高，而且现有测试片的形状和尺寸设置不合理，测试片的底边较长，在测试过程中不但容易造成测试元件引线弯曲和磨损，而且有可能同时与测试盘上的两支元件接触，造成测试不准确。发明内容[0004]针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种新型的测试片，通过改变测试片的材质和尺寸，使其具有更高的准确度和稳定度，而且耐磨损，增加了使用寿命。[0005]为了实现上述目的，本实用新型采用的方案是[0006]一种新型测试片，测试片本体由坡莫合金加工而成，呈三角形状，其底边的长度为 10 15mm，第一底角的大小为25 35度，第二底角的大小为120 135度，在测试片本体上还设置有固定孔和接线孔。[0007]作为进一步描述，所述测试片本体各边的交接处设置为圆角。[0008]本实用新型的显著效果是采用坡莫合金加工而成，除了具有铍铜合金的优点外， 其耐磨性比铍铜合金强，使用寿命比铍铜合金高1-2倍以上，而且测试片的底边较短，降低了测试过程中测试元件与测试片之间的磨损，避免出现同时与两支测试元件相接触的现象发生，减少测试误差，提高生产效率。
[0009]图1是本实用新型的结构示意图；[0010]图2是本实用新型的工作状态图。
具体实施方式
[0011]以下将参照附图，对本实用新型的优选实施例及其工作原理进行详细的描述。[0012]如图1所示，一种新型测试片，测试片本体1由坡莫合金加工而成，呈三角形状，其底边的长度为12 18mm，第一底角的大小为25 35度，第二底角的大小为120 135度， 在测试片本体1上还设置有固定孔2和接线孔3。[0013]作为最优实施例，测试片本体1底边长度设为15mm，第一底角大小设为30度，第二底角大小设为130度，测试片为细长的钝角三角形，通过固定孔2将测试片固定在支架上， 通过接线孔3实现测试片与测试机电性连接，测试片本体1的底边作为测试边，用于接触被测元件的引线。由于测试边较短，所以减少了测试过程中的磨损。[0014] 为了避免尖锐的菱角划伤测试元件，所述测试片本体1各边的交接处设置为圆[0015]本实用新型的工作原理是[0016]如图2所示，半导体元件的流水生产线上常常利用测试盘4实现各种参数的测试， 这里以测试轴向二极管的单向导通性为例，轴向二极管5放置在测试盘4的定位齿上，通过测试盘4的旋转实现流水作业。测试机的正负极分别连接有一块测试片1，将测试片1固定在测试盘4外的某一点上，测试片1的底边与轴向二极管的引线电接触，测试盘4每旋转一个角度，即可完成一次测量，由于旋转过程中轴向二极管的引线与测试片1之间存在磨损， 因此通过减小测试片1的底边长度，即可达到减小磨损的目的，同时避免了测试片1与两支测试元件相接触的现象发生，提高了工作效率。
权利要求1.一种新型测试片，其特征在于测试片本体(1)由坡莫合金加工而成，呈三角形状， 其底边的长度为10 15mm，第一底角的大小为25 35度，第二底角的大小为120 135 度，在测试片本体(1)上还设置有固定孔(2)和接线孔(3)。
2.根据权利要求1所述的一种新型测试片，其特征在于所述测试片本体(1)各边的交接处设置为圆角。
专利摘要本实用新型公开了一种新型测试片，其特征在于测试片本体由坡莫合金加工而成，呈三角形状，其底边的长度为10～15mm，第一底角的大小为25～35度，第二底角的大小为120～135度，在测试片本体上还设置有固定孔和接线孔。其显著效果是采用坡莫合金加工而成，除了具有铍铜合金的优点外，其耐磨性比铍铜合金强，使用寿命比铍铜合金高1-2倍以上，而且测试片的底边较短，降低了测试过程中测试元件与测试片之间的磨损，避免出现同时与两支测试元件相接触的现象发生，减少测试误差，提高生产效率。
文档编号G01R1/06GK202330463SQ20112049492
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月2日 优先权日2011年12月2日
发明者李春来, 李述洲 申请人:重庆平伟实业股份有限公司