电源负载测试装置制造方法

电源负载测试装置制造方法
【专利摘要】一种电源负载测试装置，用于对一被测电源进行动态负载测试，所述电源负载测试装置包括依次电性连接的主控制器、函数发生器以及电流检测电路，所述函数发生器用于输出一方波信号；所述拉载电路用于根据所述方波信号动态地改变所述被测电源的输出电流；所述电流检测电路还电性连接至所述主控制器，所述电流检测电路用于配合所述主控制器检测所述输出电流的斜率，所述主控制器用于将检测到的所述输出电流的斜率与一预设斜率值进行比较，并根据比较结果相应控制所述函数发生器调整所述方波信号，直到所述输出电流的斜率与所述预设斜率值相等。
【专利说明】电源负载测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电源负载测试装置，尤其涉及一种用于电脑VRM的电源负载测试
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【背景技术】
[0002]电脑的电压调节模块(Voltage Regulator Module, VRM)在实际使用中，其所带的负载一般是动态负载，即，VRM的负载是随时变化的，相应地，VRM的输出电流也随负载的变化而呈动态变化。例如，电脑在进入某些游戏程序时，VRM所带的负载会明显增大，相应地VRM的输出电流也明显增大。
[0003]在对VRM进行动态测试时，一般在VRM的输出端连接一个电子负载，所述电子负载通过模拟实际使用情况改变VRM的输出电流实现对VRM的动态负载测试。VRM进行动态测试时，其在电子负载的作用下，输出电流的波形一般可简化为图1所示的方波波形，VRM的输出电流从O上升到Il的上升时间为tl，其中，输出电流的斜率，即电子负载的拉载斜率为:11与上升时间tl的比值。根据负载的不同，VRM的拉载斜率也不同，有时，VRM需要较大的拉载斜率来驱动负载。
[0004]目前的电子负载的拉载斜率一般在IA/μs左右，并且是固定的，无法满足某些VRM对较大拉载斜率的需求。

【发明内容】

[0005]针对上述问题，有必要 提供一种可提供较大拉载斜率的电源负载测试装置。
[0006]一种电源负载测试装置，用于对一被测电源进行动态负载测试，所述电源负载测试装置包括依次电性连接的主控制器、函数发生器以及电流检测电路，所述函数发生器用于输出一方波信号；所述拉载电路用于根据所述方波信号动态地改变所述被测电源的输出电流；所述电流检测电路还电性连接至所述主控制器，所述电流检测电路用于配合所述主控制器检测所述输出电流的斜率，所述主控制器用于将检测到的所述输出电流的斜率与一预设斜率值进行比较，并根据比较结果相应控制所述函数发生器调整所述方波信号，直到所述输出电流的斜率与所述预设斜率值相等。
[0007]如此，所述的电源负载测试装置通过主控制器控制函数发生器对方波信号的波形进行调节，从而可通过拉载电路相应调节该电源负载测试装置的拉载斜率，从而可根据需要获得较大的拉载斜率。此外，根据键盘电路输入的不同的预设斜率值，所述电源负载测试装置还可相应得到不同的拉载斜率，因此，具有较好的通用性。
【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1为现有VRM在进行动态测试时的输出电流波形图。
[0009]图2为本发明较佳实施方式的电源负载测试装置的功能模块图。
[0010]图3为图2所示电源负载测试装置的电路图。[0011]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种电源负载测试装置，用于对一被测电源进行动态负载测试，其特征在于:所述电源负载测试装置包括依次电性连接的主控制器、函数发生器、拉载电路以及电流检测电路，所述函数发生器用于输出一方波信号；所述拉载电路用于根据所述方波信号动态地改变所述被测电源的输出电流；所述电流检测电路还电性连接至所述主控制器，所述电流检测电路用于配合所述主控制器检测所述输出电流的斜率，所述主控制器用于将检测到的所述输出电流的斜率与一预设斜率值进行比较，并根据比较结果相应控制所述函数发生器调整所述方波信号，直到所述输出电流的斜率与所述预设斜率值相等。
2.如权利要求1所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述控制器通过控制所述函数发生器改变所述方波信号的幅值和/或上升时间以及下降时间来调节所述输出电流的斜率。
3.如权利要求1所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述拉载电路包括电压跟随器、第一金属氧化物半导体场效应晶体管以及负载电阻，所述电压跟随器的同相输入端电性连接至所述函数发生器的输出端，用于接收所述方波信号，所述电压跟随器的输出端电性连接至所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极，所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的漏极电性连接至所述被测电源的输出端，所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的源极通过所述负载电阻接地，且所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的源极与所述负载电阻之间的节点电性连接至所述电压跟随器的反相输入端。
4.如权利要求3所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述拉载电路还包括滤波电阻以及滤波电容，所述电压跟随器的反相输入端依次通过所述滤波电阻以及滤波电容电性连接至所述电压跟随器的输出端。
5.如权利要求3所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述拉载电路还包括第一限流电阻，所述第一限流电阻电性连接至所述电压跟随器的反相输入端与所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的源极及所述负载电阻之间的节点之间，用于防止所述电压跟随器的反相输入端上的电流对所述输出电流的测试造成影响。
6.如权利要求3所述的电源 负载测试装置，其特征在于:所述拉载电路还包括NPN型三极管、PNP型三极管、第一电源以及第二电源，所述电压跟随器的输出端电性连接至所述NPN型三极管及所述PNP型三极管的基极，所述NPN型三极管的集电极电性连接至所述第一电源；发射极电性连接至所述PNP型三极管的发射极，且所述NPN型三极管以及PNP型三极管的发射极之间的节点电性连接至所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极；所述PNP型三极管的集电极电性连接至所述第二电源；所述NPN型三极管以及PNP型三极管用于增强所述方波信号对第一金属氧化物半导体场效应晶体管的驱动能力，避免所述方波信号失真无法正常驱动第一金属氧化物半导体场效应晶体管。
7.如权利要求3所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述电流检测电路包括运算放大器，所述运算放大器的的同相输入端电性连接至所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的源极与所述负载电阻之间的节点，所述运算放大器的反相输入端电性连接至所述负载电阻与地之间的节点，所述运算放大器的输出端电性连接至主控制器，所述运算放大器用于将所述负载电阻上流过的所述输出电流放大后转换成相应的电压信号输出至所述主控制器，所述主控制器根据该电压信号相应计算出所述输出电流，从而根据所述输出电流的变化判断出所述输出电流的斜率。
8.如权利要求7所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述电压跟随器及运算放大器均包括控制端，所述使能电路包括第二金属氧化物半导体场效应晶体管、第三电源以及第二限流电阻，所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极电性连接至所述主控制器，源极接地，漏极通过所述第二限流电阻电性连接至所述第三电源；所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管的漏极与所述第二限流电阻之间的节点还电性连接至所述电压跟随器的控制端和/或所述运算放大器的控制端，所述主控制器通过控制所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管的导通或截止，以改变所述电压跟随器的控制端和/或所述运算放大器的控制端的电平状态，从而控制所述电压跟随器和/或所述运算放大器开始工作或停止工作。
9.如权利要求1所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述电源负载测试装置还包括电性连接至所述主控制器的键盘电路，所述键盘电路用于输入所述预设斜率值。
10.如权利要求9所述的电源负载测试装置，其特征在于:所述电源负载测试装置还包括电性连接至所述主控制器的显示器，所述显示器用于在所述主控制器的控制下显示所述键盘电路输入的所述预设`斜率值。
【文档编号】G01R31/40GK103513191SQ201210206665
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2012年6月21日 优先权日:2012年6月21日
【发明者】李计朝, 白云, 刘丹丹, 童松林 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司