主板输出电压测量机台及其测量方法
【专利摘要】一种主板输出电压测量机台及其测量方法在此揭露，主板输出电压测量机台用以测量主板的输出电压，主板包括具有核心电压接脚与核心显卡电压接脚的中央处理器电压控制芯片，主板输出电压测量机台包括基座与供电模块。基座用于承载主板。当主板上电时，供电模块供电给核心电压接脚与核心显卡电压接脚，使主板的激活电压不为零。
【专利说明】主板输出电压测量机台及其测量方法
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种主板输出电压测量技术，且特别是有关于一种主板输出电压测量机台及其测量方法。
【背景技术】
[0002]近年来由于工商发达、社会进步，相对提供之产品亦主要针对便利、确实、经济实惠为主旨，因此，当前开发之产品亦比以往更加进步，而得以贡献社会。
[0003]在主板测试方面，为减少主板电压不良导致中央处理器(CPU)损坏，必须在测试之前架站测量主板输出电压。测量时，必须插中央处理器、内存等元件，否则主板各个测量点的输出电压无法输出。
[0004]此站作业方式为先插中央处理器、内存于主板,连接电源供应器(power supply),完成后按开关使主板上电。接着，人员用表棒接触主板各个测量点，读出并判定显示测量点的电压值是否正确，测量过程为人工手工作业，测量点位多，速度慢，操作复杂。另一方面，在测量时必须插中央处理器、内存等元件，如果主板电压不良，则会导致中央处理器损坏；反之，若不插中央处理器时，主板上电后各个测量点无电压输出，而无法进行判定。
【发明内容】
[0005]因此，本发明的一目的是在提供一种主板输出电压测量机台及其测量方法，不需插设中央处理器、内存等元件即可完成主板输出电压的测试。
[0006]本发明提供的主板输出电压测量机台用以测量主板的输出电压，主板包括具有核心电压接脚与核心显卡电压接脚的中央处理器电压控制芯片，主板输出电压测量机台包括基座与供电模块。基座用于承载主板。当主板上电时，供电模块供电给核心电压接脚与核心显卡电压接脚，使主板的激活电压不为零。
[0007]在本发明的一实施例中，主板输出电压测量机台还包括第一顶针与第二顶针。第一顶针设置于基座，用于接触核心电压接脚。第二顶针设置于基座，用于接触核心显卡电压接脚。供电模块电性耦接于第一顶针与第二顶针。当第一顶针与第二顶针分别接触核心电压接脚与核心显卡电压接脚时，供电模块通过第一顶针与第二顶针分别供电给核心电压接脚与核心显卡电压接脚。
[0008]在本发明的一实施例中，供电模块包括电压源、第一电阻器与第二电阻器。第一电阻器的一端连接第一顶针，而第一电阻器的另一端连接电压源。第二电阻器的一端连接第二顶针，而第二电阻器的另一端连接电压源。
[0009]在本发明的一实施例中，主板输出电压测量机台亦可包括至少一第三顶针。第三顶针用于接触主板的至少一测量点。
[0010]在本发明的一实施例中，核心电压接脚的电压用于对应中央处理器的工作电压，核心显卡电压接脚的电压用于对应中央处理器中内嵌的视频控制器的控制电压。
[0011]在本发明的一实施例中，主板输出电压测量机台亦可包括下压装置。当主板承载于基座上时，下压装置朝基座运动以下压主板，使供电模块供电给核心电压接脚与核心显卡电压接脚。
[0012]本发明还提供了一种主板输出电压测量方法，用于测量主板的输出电压，主板包括具有核心电压接脚与核心显卡电压接脚的中央处理器电压控制芯片。主板输出电压测量方法包括下列步骤:(a)在主板上电时，供电给核心电压接脚与核心显卡电压接脚，使主板的激活电压不为零；(b)测量主板的输出电压。
[0013]在本发明的一实施例中，步骤(a)包括:使第一顶针与第二顶针分别接触核心电压接脚与核心显卡电压接脚；分别供电给第一顶针与第二顶针，以使核心电压接脚与核心显卡电压接脚得电。
[0014]在本发明的一实施例中，步骤(b)包括:利用至少一第三顶针接触主板的至少一测量点，以测量主板的输出电压。
[0015]在本发明的一实施例中，核心电压接脚的电压用于对应中央处理器的工作电压，核心显卡电压接脚的电压用于对应中央处理器中内嵌的视频控制器的控制电压。
[0016]综上所述，本发明的技术方案与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。通过上述技术方案，可达到相当的技术进步，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优点。[0017]1.通过研究，欲测试主板的输出电压时，当主板上电时，供电模块供电给中央处理器电压控制芯片的核心电压接脚与核心显卡电压接脚，由此改变主板测试时的激活电压(VBOOT)设定(在现有技术中测试主板的输出电压时，VBOOT会始终保持等于O的状态)，使得测量时主板无需插中央处理器、内存等元件，如此不仅简化流程，又能避免中央处理器损坏；以及
[0018]2.在本发明的一实施例中，以机台分布的顶针接触主板的测试点，实现一次性量测，避免繁复的人工手工作业而导致量测速度慢、操作复杂等缺点。
[0019]以下将以实施方式对上述的说明作详细的描述，并对本发明的技术方案提供更进一步的解释。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台未在测量时的等效电路图；
[0021]图2是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台在测量时的等效电路图；
[0022]图3是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台的侧视示意图；
[0023]图4是依照本发明一实施例的一种下压装置的局部结构图；
[0024]图5是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量方法的流程图。
[0025]【主要组件符号说明】
[0026]100:主板110:中央处理器电压控制芯片
[0027]111:核心电压接脚112:核心显卡电压接脚
[0028]120:测量点200:供电模块
[0029]210:第一顶针220:第二顶针[0030]230:第三顶针300:供电模块
[0031]400:基座500:下压装置
[0032]510:夹钳520:加压板
[0033]610:步骤620:步骤
[0034]Rl:第一电阻器R2:第二电阻器
[0035]V:电压源 【具体实施方式】
[0036]为了使本发明的叙述更加详尽与完备，可参照附图及以下所述各种实施例，附图中相同的号码代表相同或相似的元件。另一方面，众所周知的元件与步骤并未描述于实施例中，以避免对本发明造成不必要的限制。
[0037]本发明的一技术态样是一种主板输出电压测量机台，其可应用在测量系统，或是广泛地运用在相关的技术环节。以下将搭配图1~4来说明主板输出电压测量机台的【具体实施方式】。
[0038]图1是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台未在测量时的等效电路图。如图1所示，主板100包括中央处理器电压控制芯片110，用于提供电压至中央处理器(图未示)。在此，中央处理器电压控制芯片110具有核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。主板输出电压测量机台包括顶针单元200与供电模块300，其中供电模块300电性耦接于顶针单元200。在不进行测量时，顶针单元200无需接触主板100的中央处理器电压控制芯片110的核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112，即等效于图1中开关呈断开状态。
[0039]另外，在其他实施例中，亦可不设置顶针单元200。在测量时直接使供电模块300电性连接至中央处理器电压控制芯片Iio的核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。或者，也可以实体的开关来代替图1中的顶针单元200。
[0040]图2是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台在测量时的等效电路图。在进行测量时，则主板100需上电，且顶针单元200需接触主板100的中央处理器电压控制芯片110的核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112，即等效于图2中开关呈闭合状态。此时供电模块300供电给核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112，使主板100的激活电压(Vboot)不为零。通过激活电压不为零，可模拟主板100上已安装中央处理器的状态，因此主板100实际上无需安装中央处理器、内存等元件，主板输出电压测量机台亦可测量主板100的输出电压，如此不仅简化流程，又能避免中央处理器损坏。
[0041]具体而言，在本实施例中，顶针单元200包括第一顶针210与第二顶针220，第一顶针210与第二顶针220分别用于接触核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。在结构上，供电模块300电性耦接第一顶针210与第二顶针220，于使用时，供电模块300用以通过第一顶针210与第二顶针220供电给核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。
[0042]在本实施例中，供电模块300包括电压源V、第一电阻器Rl与第二电阻器R2。第一电阻器Rl的一端连接第一顶针210，而第一电阻器Rl的另一端连接电压源V;第二电阻器R2的一端连接第二顶针220，而第二电阻器R2的另一端连接同一电压源V。实作上，电压源V的电压值以及第一电阻器Rl与第二电阻器R2的阻值可根据需要的激活电压的数值来对应设定。
[0043]图3是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量机台的侧视示意图。如图3所示，主板输出电压测量机台包括基座400，其可用于承载主板100。顶针单元200可设置于基座400上。
[0044]于图3中，顶针单元200亦可包括至少一第三顶针230。第三顶针230用于接触主板100的其中一个测量点120，藉以测量主板100对应此测量点120的输出电压。
[0045]应了解到，于图3中的第三顶针230虽为单一个，然此仅为绘示说明，并不限制本发明，实务上，使用者可根据需要测量的测量点的个数与位置对应地排布顶针，以实现一次性测量，避免繁复的人工手工作业而导致测量速度慢、操作复杂等缺点。
[0046]另一方面，于图3中，主板输出电压测量机台亦可包括下压装置500。于量测过程中，当主板100承载于基座400上时，下压装置500用以下压主板100，使得顶针单元200得以确实接触核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。
[0047]图4是依照本发明一实施例的一种下压装置500的局部结构图。如图4所示，下压装置500至少包括夹钳510与下压板520。在结构上，下压板520可为压克力板，位于基座400上方，夹钳510用于对下压板520施予压力。于测量时，主板可承载于基座400上，且位于下压板520下方，当夹钳510施予压力至下压板520时，下压板520朝基座400运动得以下压主板，使主板接触到上述顶针单元。
[0048]在其他实施例中，也可将图3中的供电模块300直接连接至下压装置500的下压板520。当主板100承载于图3中的基座400上时，下压下压板520，使得主板100上的核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112与下压板520上的对应点位电性接触，从而实现供电模块供电给核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112的目的。
[0049]本发明的另一技术态样是一种主板输出电压测量方法，用于测量主板的输出电压，主板100包括具有核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112的中央处理器电压控制芯片110。参照图5，图5是依照本发明一实施例的一种主板输出电压测量方法的流程图。请一并参考图3与图5。此主板输出电压测量方法包括下列步骤610、620。于步骤610中，在主板100上电时，供电给核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112，使主板100的激活电压不为零；于步骤620中，测量主板100的输出电压。
[0050]具体而言，步骤610包括:当主板100置于测量机台的基座400上时，下压主板100，使基座400上的第一顶针210与第二顶针220分别接触核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112。此时，可分别供电给第一顶针210与第二顶针220，以使核心电压接脚111与核心显卡电压接脚112得电。
[0051]另一方面，步骤620包括:利用至少一第三顶针230接触主板100的至少一测量点120，藉以测量主板100对应测量点120的输出电压。
[0052]应了解到，在本实施例中所提及的步骤，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行。至于实施该些步骤的硬件装置，由于以上实施例已具体揭露，因此不再重复赘述之。
[0053]在本发明较佳实施例中，通过研究，当欲测试主板的输出电压时，在主板上电后，供电模块供电给中央处理器电压控制芯片的核心电压接脚与核心显卡电压接脚，由此改变主板测试时的激活电压(VBOOT)设定，使得测量时主板无需插中央处理器、内存等元件，主板上的各个测试点亦可有电压输出，由此克服了本领域内的技术偏见(在现有技术中测试主板的输出电压时，VBOOT会始终保持等于O的状态)，且简化了流程，又能避免中央处理器损坏。另外，还可利用机台分布的顶针来接触主板的测试点，在存在多个测试点时，还可实现一次性量测，避免繁复的人工手工作业而导致量测速度慢、操作复杂等缺点。
[0054]虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。
【权利要求】
1.一种主板输出电压测量机台，用以测量主板的输出电压，所述主板包括具有核心电压接脚与核心显卡电压接脚的中央处理器电压控制芯片，其特征在于，所述主板输出电压测量机台包括: 基座，用于承载所述主板；以及 供电模块，当所述主板上电时，所述供电模块供电给所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚，使所述主板的激活电压不为零。
2.根据权利要求1所述的主板输出电压测量机台，其特征在于，还包括: 第一顶针，设置于所述基座，用于接触所述核心电压接脚；以及 第二顶针，设置于所述基座，用于接触所述核心显卡电压接脚， 其中所述供电模块电性耦接于所述第一顶针与所述第二顶针，当所述第一顶针与所述第二顶针分别接触所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚时，所述供电模块通过所述第一顶针与所述第二顶针分别供电给所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚。
3.根据权利要求2所述的主板输出电压测量机台，其特征在于，所述供电模块包括: 电压源； 第一电阻器，其一端连接所述第一顶针而另一端连接所述电压源；以及 第二电阻器，其一端连接所述第二顶针而另一端连接所述电压源。
4.根据权利要求2所述的主板输出电压测量机台，其特征在于，还包括: 至少一第三顶针，用于接触所述主板的至少一测量点。
5.根据权利要求1所述的主板输出电压测量机台，其特征在于，所述核心电压接脚的电压用于对应所述中央处理器的工作电压，所述核心显卡电压接脚的电压用于对应所述中央处理器中内嵌的视频控制器的控制电压。
6.根据权利要求1所述的主板输出电压测量机台，其特征在于，还包括: 下压装置，当所述主板承载于所述基座上时，所述下压装置朝所述基座运动以下压所述主板，使所述供电模块供电给所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚。
7.—种主板输出电压测量方法，用于测量主板的输出电压，所述主板包括具有核心电压接脚与核心显卡电压接脚的中央处理器电压控制芯片，其特征在于，所述主板输出电压测量方法包括: (a)在所述主板上电时，供电给所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚，使所述主板的激活电压不为零；以及 (b)测量所述主板的输出电压。
8.根据权利要求7所述的主板输出电压测量方法，其特征在于，步骤(a)包括: 使第一顶针与第二顶针分别接触所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚；以及分别供电给第一顶针与所述第二顶针，以使所述核心电压接脚与所述核心显卡电压接脚得电。
9.根据权利要求8所述的主板输出电压测量方法，其特征在于，步骤(b)包括: 利用至少一第三顶针接触所述主板的至少一测量点，以测量所述主板的输出电压。
10.根据权利要求7所述的主板输出电压测量方法，其特征在于，所述核心电压接脚的电压用于对应所述中央处理器的工作电压，所述核心显卡电压接脚的电压用于对应所述中央处理器中内嵌的视频控制器的控制电压。
【文档编号】G01R19/00GK103575953SQ201210250465
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2012年7月19日 优先权日:2012年7月19日
【发明者】邵汉林, 徐前进, 冯世钿 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司, 和硕联合科技股份有限公司