专利名称：一种固定齿偏差补偿方法及其系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于全自动生化分析仪承载比色杯的反应盘，尤其涉及一种固定齿偏差的补偿方法及其系统。
背景技术：
全自动生化分析仪是根据光电比色原理来测量体液中某种特定化学成分的仪器。由于其测量速度快、准确性高、消耗试剂量小，现已在各级医院、防疫站、计划生育服务站得到广泛使用。但由于反应盘的定位齿机械加工存在固有偏差，例如反应盘转动一个固定齿时，控制步进电机转动的理论步数为N步，但由于机械加工存在误差，导致位置光耦检测到·固定齿信号时所转动的步数为M步，从而产生了(N — M)步的误差，使反应盘停止定位时存在一定误差，进而影响加样、加试剂及搅拌的位置，一定程度上限制了仪器的性能，降低了其测量效率。因此，现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种固定齿偏差补偿方法及其系统，以提高反应盘的定位精度，提高全自动生化分析仪的测量效率。本发明的技术方案如下
一种固定齿偏差的补偿方法，其包括以下步骤
A、扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘。所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括:Al、所述全自动生化仪上电后，反应盘控制板扫描所述反应盘的所有齿数与齿宽，并将所述齿数与齿宽记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤Al具体的包括所述反应盘控制板按测试方向匀速旋转进行扫描，每个齿从低电平到高电平，齿计数的位置与所述偏差的位置为从高电平到低电平。所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括
A2、所述基准齿的齿计数为一，剩余齿的齿计数按照离所述基准齿的距离依次加一；所述偏差等于对应齿之齿计数减一乘以齿宽，然后再减去所述全自动生化仪电机步数。所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A2具体的包括将所有齿的偏差记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括
A3、启动电机将所述全自动生化仪预计将所述反应盘转到某一齿处；
A4、检测所述某一齿的齿计数，然后按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和确定执行步数；
A5、所述电机减速执行所述执行步数直至停止。所述的固定齿偏差补偿方法,其中,所述齿宽为齿的宽度与齿缝的宽度。一种固定齿偏差补偿系统，其包括用于控制电机运行的控制单元，其中，所述固定齿偏差补偿系统还包括用于记录齿数、齿宽与偏差的随机存储器以及用于根据全自动生化仪电机步数与所述偏差执行反应盘转动步数的执行单元，所述随机存储器与所述执行单元均与所述控制单元通信连接。本发明提供的一种固定齿偏差补偿方法及其系统，采用先扫描反应盘选定一个基 准齿，然后根据该基准齿确定每个齿与基准齿的偏差，最后根据全自动生化仪电机步数与所述偏差的和来转动反应盘，消除了定位齿机械加工过程中存在固有偏差的缺陷，提高了反应盘的定位精度，从而使反应盘上的比色杯能准确的到达指定位置，提高了全自动生化分析仪的测量效率。
图I为本发明中固定齿偏差补偿方法的流程示意 图2为本发明中反应盘转动时的流程结构示意 图3为本发明中扫描齿与基准齿之偏差的流程示意 图4为本发明中实施例一的具体流程示意 图5为本发明中固定齿偏差补偿方法的具体流程示意 图6为本发明中固定齿偏差补偿系统的结构示意图。
具体实施例方式本发明提供一种固定齿偏差补偿方法及其系统，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。本发明提供了一种固定齿偏差的补偿方法，如图I所示的，其包括以下步骤
步骤101 :扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化
仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘。在本发明的另一较佳实施例中，所述步骤101具体的包括所述全自动生化仪上电后，反应盘控制板扫描所述反应盘的所有齿数与齿宽，并将所述齿数与齿宽记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。更进一步的，所述步骤101具体的包括所述反应盘控制板按测试方向匀速旋转进行扫描，每个齿从低电平到高电平，齿计数的位置与所述偏差的位置为从高电平到低电平。在本发明的另一较佳实施例中，如图3所示的，所述步骤101具体的包括所述基准齿的齿计数为一，剩余齿的齿计数按照离所述基准齿的距离依次加一；所述偏差等于对应齿之齿计数减一乘以齿宽，然后再减去所述全自动生化仪电机步数。更进一步的，所述步骤101具体的包括将所有齿的偏差记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。在本发明的另一较佳实施例中，如图2、图4与图5所示的，所述步骤101具体的包括
步骤102 :设定某一齿为所述基准齿，扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差；
步骤103 :启动电机将所述全自动生化仪预计将所述反应盘转到某一齿处；
步骤104 :检测所述某一齿的齿计数，然后按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和确定执行步数；
步骤105 :所述电机减速执行所述执行步数直至停止。
其中，图2与图4中，A表示一个整齿的电机步数，C表示齿计数，D表示全自动生化仪电机步数，E表示偏差，F表示反应盘上的总齿数，G表示电机的执行步数，P表示每个齿行走的距离。并且上述的所述齿宽为齿的宽度与齿缝的宽度,更进一步提高了齿在转动时的精确度。实施例一
为了更进一步的描述本发明，以下列举一更具体的实施例进行更详尽的说明，例如反应盘上的齿数为一百六十个。上电后反应盘控制板立刻执行齿差扫描，并将扫描的各位置齿差数据保存在随机存储器中；
启动电机按测试方向匀速旋转，如图2所示的，每个齿从低电平开始到高电平结束，齿计数位置和齿偏差位置为从高电平到低电平的边沿位置；每个齿的缝和齿按1:1配置，如果不是这个比例时按实际情况计算；建立字符型数组，使用1-160为对应齿的偏差，并初始化为零；
选取转动方向上所述全自动生化仪电机归零点后的第一个齿作为基准齿，所述基准齿的基准位置之偏差为E [I] =0,齿计数C=I,电机步数D=O ；
检测到计数信号时，C加I，同时计算出齿C的偏差为E[C] = 300* (C-I)-D,例如果第一个齿的宽度步数即所述全自动生化仪电机步数D=295步，那么E [2] =300* (C-I)-D=300* (2-1)-295 = 5;如果第一个齿的宽度步数即所述全自动生化仪电机步数 D=307 步，那么 E[2]=300*(C-l)-D=300*(2-l)-307 = -7;
按上述步骤重复记录，直到一百六十个齿的位置全部记录完成为止；
所述全自动生化仪电机停止位置在第一个齿的齿峰中间位置，例如C=I,齿宽为150,则距齿开始位置为齿缝+齿/2 =150+150/2 = 275步，则停止定位时的所述全自动生化仪电机步数的理论值275步。其更加具体的为所述全自动生化仪进行测试时，所述全自动生化仪电机的执行步数是理论值与齿的偏差的和。假设预计转到反应盘齿的第η个位置，则启动电机转动；
然后所述全自动生化仪检测到计数信号时，则C执行加I ;如果C>F，则C=I ;如果C=n，则所述全自动生化仪电机的执行步数为G=275+E[C]；
所述全自动生化仪电机步数执行所述执行步数，直到停止反应盘到达对应位置。
在扫描每个齿与所述基准齿之偏差的过程中，如图3所示的，其更为具体的是 步骤106 :所述全自动生化仪启动电机转动,判断所述全自动生化仪的电机是否为归
零位置下沿，若为否，则重复判断；
步骤107 :若为是，则判断所述全自动生化仪电机是否为计算位置下降沿，若为否，重复判断；
步骤108 :若为是，则判断所述全自动生化仪电机是否为计算位置上升沿，若为否，则重复判断；
步骤109 :若为是，则确定所述基准齿，其中所述基准齿计数为零，所述全自动生化仪电机步数为零，偏差为零；
步骤110 :判断对应齿行走的距离下降沿，所述对应齿的齿计数按照离所述基准齿的距离依次加一；如果齿计数大于反应盘上的总齿数，则停止对所述对应齿的扫描；
步骤111 :判断所述步骤109中所述对应齿的齿计数，若所述对应齿的齿计数大于反应盘上的总齿数，则按照所述偏差等于对应齿之齿计数减一乘以齿宽，然后再减去所述全自动生化仪电机步数之规则，记录对应齿的偏差，直至将每个齿的偏差记录完毕。从而消除固定齿由于机械加工产生的固有误差，使反应杯每次都能非常精准的到达正确位置，提高了反应盘的定位精度。本发明还提供了一种固定齿偏差补偿系统，如图6所示的，其包括用于控制电机运行的控制单元1，所述控制单元I可以采用现有的技术手段，比如微处理器等。所述固定齿偏差补偿系统还包括用于记录齿数、齿宽与偏差的随机存储器2以及用于根据全自动生化仪电机步数与所述偏差执行反应盘转动步数的执行单元3，所述随机存储器2与所述执行单元3均与所述控制单元I通信连接，其通信方式可以采用集成的技术手段来实现。使固定齿偏差补偿方法更加流畅的运行，提高了反应盘的定位精度。应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种用于全自动生化分析仪反应盘的固定齿偏差补偿方法，其包括以下步骤 A、扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘。
2.根据权利要求I所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述步骤A具体的包括Al、所述全自动生化仪上电后，反应盘控制板扫描所述反应盘的所有齿数与齿宽，并将所述齿数与齿宽记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。
3.根据权利要求2所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述步骤Al具体的包括所述反应盘控制板按测试方向匀速旋转进行扫描，每个齿从低电平到高电平，齿计数的位置与所述偏差的位置为从高电平到低电平。
4.根据权利要求I所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述步骤A具体的包括 A2、所述基准齿的齿计数为一,剩余齿的齿计数按照离所述基准齿的距离依次加一；所述偏差等于对应齿之齿计数减一乘以齿宽，然后再减去所述全自动生化仪电机步数。
5.根据权利要求4所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述步骤A2具体的包括将所有齿的偏差记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。
6.根据权利要求4所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述步骤A具体的包括 A3、启动电机将所述全自动生化仪预计将所述反应盘转到某一齿处； A4、检测所述某一齿的齿计数，然后按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和确定执行步数； A5、所述电机减速执行所述执行步数直至停止。
7.根据权利要求4所述的固定齿偏差补偿方法，其特征在于，所述齿宽为齿的宽度与齿缝的览度。
8.一种用于全自动生化分析仪反应盘的固定齿偏差补偿系统，其包括用于控制电机运行的控制单元，其特征在于，所述固定齿偏差补偿系统还包括用于记录齿数、齿宽与偏差的随机存储器以及用于根据全自动生化仪电机步数与所述偏差执行反应盘转动步数的执行单元，所述随机存储器与所述执行单元均与所述控制单元通信连接。
全文摘要
本发明公开了一种固定齿偏差补偿方法及其系统，其包括扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘，以及执行该方法的系统。采用先扫描反应盘选定一个基准齿，然后根据该基准齿确定每个齿与基准齿的偏差，最后根据全自动生化仪电机步数与所述偏差的和来转动反应盘，消除了定位齿机械加工过程中存在固有偏差的缺陷，提高了反应盘的定位精度，从而使反应盘上的比色杯能准确的到达指定位置，提高了全自动生化分析仪的测量效率。
文档编号G01N35/02GK102901834SQ201210391469
公开日2013年1月30日 申请日期2012年10月16日 优先权日2012年10月16日
发明者张力冲, 汪博, 刘寒冰, 白晓亮, 钟维峰, 王兆申 申请人:长春迪瑞医疗科技股份有限公司