专利名称：一种玻璃基板粘合线的测量方法
技术领域：
本发明属于玻璃基板制造技术领域，尤其涉及一种玻璃基板粘合线的测量方法。
背景技术：
玻璃基板成型时，采用在热态下将两片玻璃液自粘在一起，形成一片玻璃，在粘合面上对同一条光线的折射角度会略有不同，用强光照射玻璃基板表面时，在粘合面上就会出现一条隐约可见的线条，把这条线就叫粘合线。粘合线两侧的玻璃板厚度数据，代表了成型炉内设备的温度、水平状态等特性，所以粘合线是玻璃基板制造过程中的重要数据，需要进行精确测量。现有的粘合线测量技术是，取一小片玻璃基板，对着一固定光源，改变玻璃基板的角度，能够看见粘合线时，目测粘合线两侧玻璃板厚度。现有的粘合线测量技术存在如下问题(I)由于玻璃基板很薄，看见的粘合线隐隐约约，不稳定，测量难度很大；(2)目视测量，精确度极差。
发明内容
本发明解决的问题在于提供一种玻璃基板粘合线的测量方法，测量简单、精确度高，能够很精确地测量出玻璃基板粘合线两侧玻璃板厚度。本发明是通过以下技术方案来实现一种玻璃基板粘合线测量方法，包括如下步骤I)将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2)用光源照射所述玻璃基板样品表面；3)调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见；4)调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线；5)调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。具有断面的玻璃基板样品的获得步骤为I)在退火炉口将出炉的玻璃基板横向切断，得到一整块玻璃基板；2)在得到的一整块玻璃基板上从左到右选取几个测量点；3)在每个测量点处用切割工具划线后掰断，取得一组具有断面的玻璃基板样品。对取得的一组玻璃基板样品逐一进行测量，得到一组玻璃基板粘合线数据。用胶带、粘合剂或夹持装置将所述玻璃基板样品固定在载物台上，并使所述玻璃基板样品断面垂直朝上。
与现有技术相比，本发明具有以下有益的技术效果本发明提供了一种玻璃基板粘合线的测量方法，通过将具有断面的玻璃基板样品，放置于具有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上，并通过调节显微镜的目镜来使玻璃基板的粘合线与目镜上的刻度对齐，测量出粘合线两侧玻璃基板的厚度，来替代现有技术中通过目测玻璃基板粘合线及粘合线两边的玻璃基板厚度，克服了现有技术中通过目测玻璃基板粘合线时产生的不准确，及不稳定，从而实现了对玻璃基板粘合线两侧玻璃基板厚度的快速、准确测量，进而通过测量出的数据准确的分析出代表成型炉内设备的温度、水平状态等特性，根据分析出的成型炉内设备的温度、水平状态等特性确定是否需要调整炉内设备状态。本发明通过上述方法不仅克服了目测出的粘合线两侧玻璃基板厚度的不准确性，不稳定的情况，还彻底克服了现有玻璃基板粘合线测量工艺技术之缺点，本发明通过上述方法，使测量出的粘合线两侧玻璃基板的厚度准确可靠，从而可以使用户快速、可靠的改变炉内参数值的大小，保证玻璃基板的质量，减少玻璃基板生产过程中次品率的发生概率。
图1为本发明提供的玻璃基板及测量点的分布示意图。其中，① ⑤为测量点。
具体实施例方式下面结合具体的实施例对本发明做进一步的详细说明，所述是对本发明的解释而不是限定。一种玻璃基板粘合线测量方法，具体操作步骤如下I)在退火炉口将出炉的玻璃基板横向切断，得到一整块玻璃基板，如图1所示。2)在得到的一整块玻璃板上从左到右选取几个测量点，如图1中① ⑤。3)在每个测量点用切割工具划线后掰断，取得一组玻璃基板样品。4)将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上。具体的，用胶带、粘合剂、夹持装置等将取好的玻璃基板样品固定在载物台上，并使玻璃基板样品断面垂直朝上。5)用光源照射所述玻璃基板样品表面。需要说明的是，由于显微镜的光圈只有Φ Imm左右，因此，只有先将玻璃基板样品用光源照亮，才能很容易地将显微镜对准玻璃基板样品断面，为步骤6)提供条件。6)调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见。7)调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线。具体的，调整光源发出的光线与玻璃基板样品之间的夹角，在显微镜里能够看见玻璃基板断面的中间出现一条细线，该细线就是粘合线。8)调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。9)对取得的一组玻璃基板样品逐一进行测量，得到一组玻璃基板粘合线数据。10)分析测量得到的一组玻璃基板粘合线数据，判断成型炉内设备的温度、水平状态等特性。其中，所述玻璃基板成型炉内设备的特性参数值为成型炉内设备的温度、水平状态等特性，详细分析该组数据，根据该数据分析出是否需要调整炉内设备状态。本发明彻底克服了现有玻璃基板粘合线测量工艺技术之缺点，稳定可靠，测量精度可达到O. 005mm。
权利要求
1.一种玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，包括如下步骤 1)将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上； 2)用光源照射所述玻璃基板样品表面； 3)调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见； 4)调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线； 5)调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，具有断面的玻璃基板样品的获得步骤为 1)在退火炉口将出炉的玻璃基板横向切断，得到一整块玻璃基板； 2)在得到的一整块玻璃基板上从左到右选取几个测量点； 3)在每个测量点处用切割工具划线后掰断，取得一组具有断面的玻璃基板样品。
3.根据权利要求2所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，对取得的一组玻璃基板样品逐一进行测量，得到一组玻璃基板粘合线数据。
4.根据权利要求1所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，用胶带、粘合剂或夹持装置将所述玻璃基板样品固定在载物台上，并使所述玻璃基板样品断面垂直朝上。
全文摘要
本发明公开了一种玻璃基板粘合线测量方法，包括如下步骤1)将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2)用光源照射玻璃基板样品表面；3)调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，调整显微镜的目镜到玻璃基板断面的距离和焦距，使玻璃基板样品断面清晰可见；4)调整光源发出的光线与玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到玻璃基板样品的粘合线；5)调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。本发明提供的玻璃基板粘合线测量方法，测量简单、精确度高，能够很精确地测量出玻璃基板粘合线两侧玻璃板厚度。
文档编号G01B11/06GK102997852SQ20121045776
公开日2013年3月27日 申请日期2012年11月14日 优先权日2012年11月14日
发明者吕军顺, 李华, 马云静 申请人:彩虹(张家港)平板显示有限公司