一种落球测试装置制造方法

文档序号:6164571阅读:196来源:国知局
一种落球测试装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及机械测试领域,公开了一种落球测试装置。所述落球测试装置包括落球、含有档位槽的第一套筒、释放板和定位托。在进行落球测试前,将所述释放板水平插入所述档位槽内,并将所述定位托放置在所述释放板上,将所述落球通过所述定位托放置在所述释放板上。当需要进行落球测试时,将所述释放板从所述档位槽内抽出,则所述落球降落。这个过程中,由于所述落球经过所述定位托的导向,不会和所述第一套筒的套筒壁产生摩擦,而且,所述定位托的导向作用,有利于对所述落球的落点进行控制,提高了落球测试的精度。并且,在所述第一套筒的套筒壁上,包括有刻度精细的档位槽,便于掌握所述落球降落的高度,进一步提高了落球测试的精度。
【专利说明】一种落球测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及机械测试领域,特别是涉及一种落球测试装置。
【背景技术】
[0002]在现在的工业生产中,时常会使用落球测试设备。所述落球测试设备包括滚筒和落球,通过所述落球通过滚筒,落在待测试产品上的方式,模拟日常使用过程中,重物掉落到产品上的过程,以测试产品的抗冲击能力。
[0003]但是,发明人在本申请的研究过程中发现,使用现有技术中提供的落球测试设备进行落球测试时,由于落球在降落过程中,沿滚筒的管壁下落,会和所述管壁间发生摩擦,消耗掉一部分力的作用,而且,落球的定位不准确,落点不易控制,从而降低落球测试的测试精度。

【发明内容】

[0004]有鉴于此,本发明的目的在于提供一种落球测试装置,以提高落球测试的精度,具体实施方案如下:
[0005]一种落球测试装置,包括:
[0006]落球;
[0007]内径大于所述落球的第一套筒,所述第一套筒包括与测试刻度相对应的,位于套筒壁上的档位槽;
[0008]释放板,所述释放板水平插在所述第一套筒中与所需测试高度相对应的档位槽上,以承接所述落球,并在进行落球测试时,所述释放板被抽出,以使所述落球下落;
[0009]在进行测试时,放置在所述第一套筒中,且在所述释放板上的漏斗形定位托,其内径大的一端向上,内径小的一端向下,使得测试时落球通过所述漏斗形定位托在套筒中央的位置下落。
[0010]优选的,所述释放板包括水平插入所述档位槽内,宽度与所述定位托下侧的内径相等的释放板主体,以及与所述释放板主体相连接的握柄。
[0011]优选的,所述落球测试装置还包括:
[0012]卡锁,所述卡锁水平插接在与所述释放板相同的档位槽内,以对所述定位托进行定位,并在结束落球测试后,从所述档位槽内抽出。
[0013]优选的,
[0014]所述卡锁在自然状态下为U形,所述U形的宽度值与所述定位托下端的内径值相同,以承接所述定位托。
[0015]优选的,所述落球测试装置还包括:
[0016]第二套筒,与第一套筒形状、内径相同,并包括与测试刻度相对应的位于套筒壁上的档位槽;
[0017]连接环,所述连接环用于连接所述第一套筒和所述第二套筒。[0018]优选的,所述连接环与所述第一套筒和第二套筒为螺纹连接。
[0019]优选的,所述落球测试装置还包括:
[0020]设置在所述第一套筒底部的基座。
[0021]优选的,所述基座包括圆柱状的基座主体,以及与所述基座主体水平连接的伸展部。
[0022]优选的,所述基座通过所述基座主体焊接在所述第一套筒底部。
[0023]优选的,所述落球测试装置还包括:
[0024]与所述基座上的伸展部螺纹连接,且可调节高度和水平度的水平螺栓。
[0025]本发明所公开的落球测试装置包括落球、含有档位槽的第一套筒、释放板和定位托。在进行落球测试前,将所述释放板水平插入所述档位槽内,并将所述定位托放置在所述释放板上,将所述落球通过所述定位托放置在所述释放板上。当需要进行落球测试时,将所述释放板从所述档位槽内抽出,则所述落球降落,这个过程中,由于所述落球经过所述定位托的导向,不会和所述第一套筒的套筒壁产生摩擦,而且,所述定位托的导向作用,有利于对所述落球的落点进行控制,提高了落球测试的精度。并且,在所述第一套筒的套筒壁上,包括有刻度精细的档位槽,便于掌握所述落球降落的高度,进一步提高了落球测试的精度。
【专利附图】

【附图说明】
[0026]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1为本发明实施例公开的一种落球测试装置的结构示意图;
[0028]图2为本发明实施例公开的又一种落球测试装置的结构示意图;
[0029]图3为本发明实施例公开的又一种落球测试装置的结构示意图;
[0030]图4为本发明实施例公开的又一种落球测试装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0031]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0032]本发明公开了一种落球测试装置,以解决现有技术所存在的测试精度低的问题,参见图1所示的结构示意图,本发明实施例一公开的一种落球测试装置包括:落球1、第一套筒2、释放板3和定位托4。
[0033]其中,所述第一套筒2的内径大于所述落球,以便在进行落球测试时,便于所述落球I通过所述第一套筒2下落,并且,所述第一套筒包括与测试刻度相对应的,位于套筒壁上的档位槽21。
[0034]所述释放板3水平插在所述第一套筒中与所需测试高度相对应的档位槽上,以承接所述落球,并在进行落球测试时,所述释放板3被抽出,以使所述落球下落。[0035]所述定位托4在进行测试时,放置在所述第一套筒中,且放置在所述释放板上,呈漏斗形,所述定位托4内径大的一端向上,内径小的一端向下,使得在进行落球测试时,所述落球I通过所述漏斗形定位托4在套筒中央的位置下落。
[0036]在进行落球测试时,需要使所述落球多次从不同高度落下,并根据降落的高度值和试件的受损程度,判定所述试件的品质。这种情况下,对高度值的精度要求较高,所述第一套筒2侧壁上的档位槽为多个水平镂空的凹槽,每个档位槽对应一定的刻度,为了增加测试的精度,一般情况下,两个相邻的档位槽间的间隔可选取为I厘米。当然,在不同的测试精度要求下,也可为其他距离,本发明不做限定。
[0037]当所述释放板3水平插在所述凹槽中时,由于所述落球放置在所述释放板3上,根据所述套筒壁上档位槽的位置,即可获取所述落球降落的高度值,以便后续对试件品质的判定。
[0038]另外,在本发明所公开的落球测试装置中,设置有定位托4,所述定位托4设置在所述释放板3上,当进行落球测试时,抽取所述释放板3后,所述落球I通过所述定位托4下降,这种情况下,由于所述定位托4的导向,所述落球处于中心位置,落点易于掌控,使所述落球I在下落和释放时,不会发生位置的偏差,从而增加了所述落球定位的准确性,从而提高了落球测试的精度。
[0039]所述定位托4 一般可设置为与所述第一套筒2小间隙配合,可在套筒内滑动。
[0040]同时,由于所述第一套筒2的内径大于所述落球球面的直径,而且所述定位托4对所述落球进行了定位,使其在降落的过程中,不会与所述第一套筒2的套筒壁产生摩擦。
[0041]本发明实施例一所公开的落球测试装置中,包括落球、含有档位槽的第一套筒、释放板和定位托。在进行落球测试前,将所述释放板水平插入所述档位槽内,并将所述定位托放置在所述释放板上,将所述落球通过所述定位托放置在所述释放板上。当需要进行落球测试时,将所述释放板从所述档位槽内抽出,则所述落球降落,这个过程中,由于所述落球经过所述定位托的导向,不会和所述第一套筒的套筒壁产生摩擦,而且,所述定位托的导向作用,有利于对所述落球的落点进行控制,提高了落球测试的精度。并且,在所述第一套筒的套筒壁上,包括有刻度精细的档位槽,便于掌握所述落球降落的高度,进一步提高了落球测试的精度。
[0042]进一步的,参见图2所示的结构示意图,所述释放板3包括释放板主体31和握柄32,所述释放板主体水平插入所述档位槽内,其宽度与所述定位托下侧的内径相等,便于放置所述定位托;所述握柄与所述释放板主体相连接,在将所述释放板主体插入所述档位槽内时,所述握柄在所述档位槽的外部,便于工作人员在进行落球测试时,将所述释放板抽出。
[0043]另外,本发明还提供了第二实施例,以进一步对所述落球测试装置的结构进行说明,所述落球测试装置还包括:卡锁5。
[0044]进行落球测试前,所述卡锁5水平插接在与所述释放板3相同的档位槽内,以对所述定位托4进行定位,并在落球测试后,从所述档位槽内抽出,以便使所述定位托4落下。
[0045]具体来说,所述卡锁5在自然状态下为U形,所述U形的宽度值与所述定位托4下端,即与所述释放板3相接触的一侧的内径值相同,以承接所述定位托。
[0046]另外,为了便于取出所述卡锁5,可使用锁簧的材质制作所述卡锁5,以便在结束落球测试时,对所述卡锁5施加力的作用,使其发生形变,便于从所述档位槽内取出。
[0047]在本发明所公开的第二实施例描述的落球测试装置中,在进行落球测试前,将所述释放板3水平插入所述档位槽内,并将所述卡锁5水平插入与所述释放板3相同的档位槽内,所述卡锁的5的U形部分包围所述释放板3。所述定位托4放置在所述释放板3上,而且所述卡锁5承接所述定位托4。所述落球通过所述定位托4,放置在所述释放板3中。
[0048]当进行落球测试时,将所述释放板3从所述档位槽内抽出,则所述落球I降落至试件上,根据所述落球I的降落高度和所述试件的受损程度,能够判定所述试件的品质。
[0049]当结束所述落球测试后,将所述卡锁5从所述档位槽内取出,则所述定位托4落下,以便工作人员将所述定位托4存放起来,以待下次进行落球测试时使用。
[0050]进一步的,参见图3所示的结构示意图,本发明公开的落球测试装置还包括:第二套筒6和连接环7,所述第二套筒6的形状和内径与所述第一套筒2相同,并包括与测试刻度相对应的位于套筒壁上的档位槽;所述连接环7用于连接所述第一套筒2和所述第二套筒6。
[0051]在进行落球测试时,可能需要将所述落球I从多个不同的高度,反复降落,以检测试件的品质,这个过程中,有时一个套筒的高度不能满足所述落球需要的高度,这种情况下,本发明所公开的落球测试装置公开了连接环7和第二套筒6,所述第二套筒6的形状、内径和所述第一套筒2相同,在第一套筒2的高度不能满足测试需要时,通过连接环7连接所述第一套筒2和所述第二套筒6,以满足测试所需的高度。并且,所述第二套筒6的套筒壁上设置有与高度相对应的档位槽,以便根据所述档位槽,获取所述落球I降落的高度。
[0052]具体的,所述连接环7与所述第一套筒2和第二套筒6之间为螺纹连接,便于在不需要时,将所述第一套筒2和第二套筒6分离。当然,也可以采用其他连接方式,本发明不做限定。并且,所述第二套筒可按不同的测试精度需求进行更换。
[0053]进一步的,参见图4所示的结构示意图,所述落球测试装置还包括:基座8,所述基座设置在所述第一套筒2的底部。具体的,所述基座8包括圆柱体状的基座主体81,以及与所述基座主体水平连接的伸展部82。其中,所述伸展部82为两个以上,考虑到稳定性,可设置三个伸展部,且每相邻两个伸展部组成的角度为120度。当然,也可以设置其他数量,或其他形式排布的伸展部,本发明对此不作限定。
[0054]一般的,所述基座8通过所述基座主体81,焊接在所述第一套筒2的底部,当然,所述基座8也可以采用其他的形状,或采用其他形式与所述第一套筒2相连接,如套接等,本发明不做限定。
[0055]通过所述基座8的设置,可以起到降低重心,使整个落球测试装置更加稳固的作用。
[0056]另外,所述落球测试装置还包括:水平螺栓9。所述水平螺栓9设置在所述基座8的底部,与所述基座8上的伸展部82以螺纹形式连接。当所述伸展部82为三个,且每相邻两个伸展部82之间的角度为120度角时,与所述伸展部82螺纹连接的水平螺栓9即为三角形状排列在所述基座8的底部,增加了整个落球测试装置的稳定性。当然,所述水平螺栓9也可以其他形式与所述伸展部82连接,本发明不做限定。
[0057]在进行落球测试时,试件放置在所述基座下方。根据所述试件的厚度,可相应调节所述水平螺栓9的水平度和高度,用以保证套筒的垂直度以及适应不同厚度的试件测试。[0058]具体在进行落球测试前,先将卡锁5和释放板3插入预定高度的档位槽内,这时可先放所述卡锁5,同时,自上而下放入定位托5,然后是落球1,以便由于定位托4的导向,使所述落球I处于中心位置。并且,根据试件的厚度,预先对水平螺栓9的高度和水平度进行调节。
[0059]准备好后,将所述释放板3抽出,由于所述落球I缺少了支撑,便会向下自由落体,同时所述卡锁的卡位,将限制住所述定位托4的下落。
[0060]在落球测试结束后,则将所述卡锁5取出,同时所述定位托4会沿套筒滑下,然后便可进行下一次测试。
[0061]在上述过程中,当第一套筒2的高度不能满足落球测试的需求时,则可利用连接环7,将第一套筒2和第二套筒6嵌套连接起来,以满足落球测试的需要。
[0062]在使用本发明公开的落球测试装置时,由于所述落球I经过所述定位托4的导向,不会和所述第一套筒2的套筒壁产生摩擦,而且,所述定位托4的导向作用,有利于对所述落球I的落点进行控制,提高了落球测试的精度。并且,在所述第一套筒2的套筒壁上,包括有刻度精细的档位槽,便于掌握所述落球降落的高度,进一步提高了落球测试的精度。
[0063]对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【权利要求】
1.一种落球测试装置,其特征在于,所述落球测试装置包括: 落球; 内径大于所述落球的第一套筒,所述第一套筒包括与测试刻度相对应的,位于套筒壁上的档位槽; 释放板,所述释放板水平插在所述第一套筒中与所需测试高度相对应的档位槽上,以承接所述落球,并在进行落球测试时,所述释放板被抽出,以使所述落球下落; 在进行测试时,放置在所述第一套筒中,且在所述释放板上的漏斗形定位托,其内径大的一端向上,内径小的一端向下,使得测试时落球通过所述漏斗形定位托在套筒中央的位置下落。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述释放板包括水平插入所述档位槽内,宽度与所述定位托下侧的内径相等的释放板主体,以及与所述释放板主体相连接的握柄。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述落球测试装置还包括: 卡锁,所述卡锁水平插接在与所述释放板相同的档位槽内,以对所述定位托进行定位,并在结束落球测试后,从所述档位槽内抽出。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于, 所述卡锁在自然状态下为U形,所述U形的宽度值与所述定位托下端的内径值相同,以承接所述定位托。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述落球测试装置还包括: 第二套筒,与第一套筒形状、内径相同,并包括与测试刻度相对应的位于套筒壁上的档位槽; 连接环,所述连接环用于连接所述第一套筒和所述第二套筒。
6.根据权利要求5 所述的装置,其特征在于,所述连接环与所述第一套筒和第二套筒为螺纹连接。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述落球测试装置还包括: 设置在所述第一套筒底部的基座。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述基座包括圆柱状的基座主体,以及与所述基座主体水平连接的伸展部。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述基座通过所述基座主体焊接在所述第一套筒底部。
10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述落球测试装置还包括: 与所述基座上的伸展部螺纹连接,且可调节高度和水平度的水平螺栓。
【文档编号】G01M7/08GK103900781SQ201210589801
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2012年12月28日 优先权日:2012年12月28日
【发明者】元春峰, 夏小松 申请人:联想(北京)有限公司
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