一种双光路x射线无损检测装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，其中前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。测量时，通过控制系统控制测量台进行圆周方向步进转动和竖直方向的移动，放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；所述后准直器设于康普顿探测器和线阵探测器前端以排除杂散射线。本发明使用两条光路，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，可进行不同倍数的放大扫描，使用方便。
【专利说明】—种双光路X射线无损检测装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及光学无损检测【技术领域】，具体是指一种双光路X射线无损检测装置。【背景技术】
[0002]无损检测是在不影响检测对象未来使用功能或现在的运行状态前提下，采用射线、超声、红外、电磁等原理技术仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数的检测技术。无损检测是工业发展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平，其重要性已得到公认。
[0003]目前在化工行业中常使用射线法对工件进行检测，射线法可以获得缺陷的直观图像，定性准确，对长度、宽度尺寸的定量也比较准确，检测结果有直接记录，可长期保存，但是现有的射线检测工具也存在有一些缺陷，例如对面积型缺陷(未焊透、未熔合、裂纹等)，如果照相角度不适当，容易漏检；不宜检测较厚的工件；不适宜检验角焊缝以及板材、棒材、锻件等；对缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸(高度)的确定比较困难。
【发明内容】
[0004]为解决上述问题，本发明提供一种双光路X射线无损检测装置。
[0005]本发明的技术方案是一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，所述放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器放置于保护外壳内，所述前准直器放置在放射源和被测工件之间，所述后准直器放置在康普顿探测器、线阵探测器与被测工件之间。
[0006]进一步，所述放射源和线阵探测器处于固定位置，康普顿探测器、测量台的运行轨迹则由控制系统进行控制。
[0007]进一步，所述保护外壳为含铅玻璃，重金属材料可以有效吸收X射线，避免X射线对操作人员造成伤害。
[0008]进一步，所述前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。通常出射光面积越小分辨率越高，无散射狭缝的设置可以保证出射光无散射，基本平行，而且面积小，可以提供较高的分辨率。
[0009]进一步，所述测量台为三维可旋转测量台，其可以在平面内以非常低的角速度的速度进行旋转，亦可以再水平平面和竖直平面内移动，以完成测量工件所需要的位移；此外测量台在水品方向的移动还可以实现对被测工件某一感兴趣区的放大和缩小，得到更加详实数据。
[0010]进一步，测量时，所述放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位。
[0011]进一步，所述放射源为分体式X射线管，使用Cu靶为射线源。
[0012]本发明使用两条光路，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，可进行不同倍数的放大扫描，使用方便。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1是本发明的结构示意图。
[0014]图中:
[0015]1.放射源2.前准直器3.测量台
4.被测工件
[0016]5.后准直器6.康普顿探测器7.线阵探测器
8.保护外壳
[0017]9.控制系统
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0019]参照图1对本发明进行说明，一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源1、前准直器2、测量台3、被测工件4、后准直器5、康普顿探测器6、线阵探测器7、保护外壳8以及控制系统9，所述放射源1、前准直器2、测量台3、被测工件4、后准直器5、线阵探测器7、康普顿探测器6放置于保护外壳内，所述前准直器2放置在放射源I和被测工件4之间，所述后准直器5放置在康普顿探测器6、线阵探测器7与被测工件4之间。放射源I和线阵探测器7处于固定位置，康普顿探测器6、测量台3的运行轨迹则由控制系统9进行控制。
[0020]保护外壳8为含铅玻璃，重金属材料可以有效吸收X射线，避免X射线对操作人员造成伤害，前准直器2为无散射狭缝，后准直器5为高分辨率的多平行束准直器。通常出射光面积越小分辨率越高，无散射狭缝的设置可以保证出射光无散射，基本平行，而且面积小，可以提供较闻的分辨率。
[0021]测量台3为三维可旋转测量台，其可以在平面内以非常低的角速度的速度进行旋转，亦可以再水平平面和竖直平面内移动，以完成测量工件所需要的位移；此外测量台在水品方向的移动还可以实现对被测工件某一感兴趣区的放大和缩小，得到更加详实数据。
[0022]测量时，所述放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位。所述放射源为分体式X射线管，使用Cu靶为射线源。
[0023]本发明使用两条光路，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，可进行不同 倍数的放大扫描，使用方便。
【权利要求】
1.一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，所述放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器放置于保护外壳内，所述前准直器放置在放射源和被测工件之间，所述后准直器放置在康普顿探测器、线阵探测器与被测工件之间。
2.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:所述放射源和线阵探测器处于固定位置，康普顿探测器、测量台的运行轨迹则由控制系统进行控制。
3.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:所述保护外壳为含铅玻璃。
4.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:所述前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。
5.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:所述测量台为三维可旋转测量台。
6.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:测量时，所述放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位。
7.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是:所述放射源为分体式X射线管， 使用Cu靶为射线源。
【文档编号】G01N23/04GK103901058SQ201210596427
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2012年12月27日 优先权日:2012年12月27日
【发明者】韩晓耕, 张勇, 田文文, 段辉 申请人:天津欣维检测技术有限公司