专利名称：带开关特性的针套的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及印刷电路板的元件测试装置，尤其涉及一种带开关特性的针套。
背景技术：
在对电子元件进行ICT测试的ICT测试装置中，通常方法是使上顶针接触电子元件的接脚，以令电子元件的接脚、上顶针、针套壁形成通路后连接到后台的ICT测试装置，从而测试电子元件是否有漏件。在测试过程中，若印刷电路板的电子元件漏件，而上顶针未完全插入针套时，即使上顶针与ICT测试装置中的探针断开，但由于上顶针接触到待测电路板上的焊锡，上顶针与针套壁接触，而针套壁与绕线端接触，仍会形成通路，这样测试就会失效，导致假测，引起 具有不良的电子元件的印刷电路板流到下一站或客户端。
发明内容
鉴于上述本实用新型要解决的技术问题是提供一种带开关特性的针套，当上顶针未完全插入针套，同时印刷电路板的电子元件漏件时，可有效避免假测，防止不良板流到下一站或客户端。为解决上述技术问题，本实用新型采用了如下的技术方案一种带开关特性的针套，其主要适用于ICT测试装置中，用以测试电子元件的接脚是否正常，其中，该针套主要包括绕线端；上顶针，与该绕线端一末端自由接触以于该上顶针插入该电子元件后与该电子元件的接脚以及ICT测试装置内设有的探针接触以形成通路；针套壁，套设于该绕线端外；以及绝缘部件，该绝缘部件设置于该绕线端与该针套壁之间，令该绕线端与该针套壁绝缘。较佳的，本实用新型提供了一种带开关特性的针套，所述电子元件为待测连接器。本实用新型采用上述带开关特性的针套，由于针套的绕线端与针套壁绝缘断开，当上顶针正常插入该待测连接器时，探针与绕线端形成通路，测试正常；当上顶针未正常插入该待测连接器时，探针与绕线端断开，测试失败，即使该待测连接器漏件，探针接触到印刷电路板，此时探针与绕线端已断开，因此不会导致假测，提高了测试的可靠性。
图I为本实用新型的探针与绕线端断开的示意图图2为本实用新型与电子元件结合测试的示意图
具体实施方式
如图I及图2所示，本实用新型提供了一种带开关特性的针套10，有效避免ICT测试中对电子元件的接脚假测的发生，提高了测试的可靠性。[0011]其中，所述带开关特性的针套10，其主要适用于ICT测试装置(图中未示)中，用以测试待测连接器的接脚是否正常，该针套10主要包括针套壁101、上顶针102、绕线端103以及绝缘部件104。又，所述上顶针102与该绕线端103 —末端自由接触，以于该上顶针102插入该待测连接器20后与该待测连接器20的接脚201以及ICT测试装置内设有的探针30接触以形成通路。此外，所述针套壁101套设于该绕线端103外；所述绝缘部件104设置于该绕线端103与该针套壁101之间，令该绕线端103与该针套壁101绝缘。其中，所述绕线端103与针套壁101通过绝缘部件104实现绝缘断开。当上顶针102正常插入该待测连接器20时，探针30与绕线端103形成通路，测试正常；当上顶针102 未正常插入该待测连接器20时，探针30与绕线端103断开，测试失败，即使该待测连接器20漏件，探针30接触到印刷电路板(图中未示)，此时探针30与绕线端103已断开，因此不会导致假测。
权利要求1.一种带开关特性的针套，其主要适用于ICT测试装置中，用以测试电子元件的接脚是否正常，其特征在于，该针套主要包括 绕线端； 上顶针，与该绕线端一末端自由接触以于该上顶针插入该电子元件后与该电子元件的接脚以及ICT测试装置内设有的探针接触以形成通路； 针套壁，套设于该绕线端外；以及 绝缘部件，该绝缘部件设置于该绕线端与该针套壁之间。
2.根据权利要求I所述的带开关特性的针套，其特征在于，所述设置于该绕线端与该针套壁之间的绝缘部件令该绕线端与该针套壁绝缘。
3.根据权利要求I所述的带开关特性的针套，其特征在于，所述电子元件为待测连接器。
专利摘要本实用新型提供了一种带开关特性的针套，其主要适用于ICT测试装置中，用以测试待测连接器的接脚是否正常，其中，该针套主要包括绕线端；上顶针，与该绕线端一末端自由接触以于该上顶针插入该待测连接器后与该待测连接器的接脚以及ICT测试装置内设有的探针接触以形成通路；针套壁，套设于该绕线端外；以及绝缘部件，该绝缘部件设置于该绕线端与该针套壁之间，令该绕线端与该针套壁绝缘，因此不会导致假测，提高了测试的可靠性。
文档编号G01R1/04GK202548158SQ20122011228
公开日2012年11月21日 申请日期2012年3月22日 优先权日2012年3月22日
发明者王振兵 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司