专利名称：小型测量型光学投影仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种试验设备，尤其涉及一种金属材料做冲击试验时，检验样块V形和U形缺口形状质量的光学投影仪。
背景技术：
随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法。对于夏比V型缺口冲击试验，试样的V型缺口加工是否合格为试验的关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0. 25mm缺口尖端的微小变化(其公差带只有O. 025mm)，都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。目前的小型测量型光学投影仪能够将试样缺口进行投影放大，然后和标准尺寸进行对比，虽然在一定程度上提高了缺口质量的检查精度，但通过直观的观察很难判断缺口尺寸与标准尺寸的实际差距，因此仍存在较大的误差。
实用新型内容为克服上述技术问题，本实用新型提供了一种结构设计合理，操作方便，检验精度高的小型测量型光学投影仪。为实现上述技术目的，本实用新型是采用以下技术方案实现的一种小型测量型光学投影仪，底座上方设有光源及可调工作台，机体上设有投影屏及位于可调工作台上方的物镜，内部设有放大投影装置，其特征在于机体内设有一用于测量投影屏上图样尺寸的光感测量装置，光感测量装置连接有液晶显示屏、液晶显示屏固定于机体一侧。其工作原理为进行样品检查时，将试样固定于可调工作台上，并进行位置调节，物镜将试样的投影传送至机体内，经机体内部元件的放大处理，投影至投影屏上，即可对缺口尺寸与标准尺寸进行对比，同时光感测量装置通过光感元件对投影屏上的图样进行测量，并将数值传输至液晶屏进行显示。本实用新型具有以下有益效果其将投影图样进行数据化，并通过液晶显示屏进行显示，可很直观的检测出试样缺口尺寸，然后与试验要求的标准尺寸进行对比，即可获知试样是否合格，其通过数据进行对比，检测精度高，对比更加方便，具有显著的实用性。
图I为本实用新型立体图。图2为本实用新型主视图。图3为本实用新型左视图。图中，I、液晶显示屏，2、纵向调节手轮，3、机体，4、投影屏，5、圆工作台，6、方工作台，7、横向调节手轮，8、底座，9、电源指示灯，10、电源开关，11、物镜，12、升降手轮。
具体实施方式
参看附图I、2、3所示，底座8上方设有光源及可调工作台，外侧设有电源指示灯9及电源开关10 ;所述的可调工作台包括方工作台6和圆工作台5，用于承载试样，可调工作台上设有横向调节手轮7、纵向调节手轮2以及升降手轮12，以便在检测时调节试样与物镜11的相对位置；机体3上设有投影屏4及位于可调工作台上方的物镜11，其内部设有放大投影装置及用于测量投影屏4上图样尺寸的光感测量装置，光感测量装置连接有液晶显示屏I，液晶显示屏I固定于机体一侧。 所述的光感测量装置，是通过光感传感器来测量投影的尺寸，属于现有装置，这里不再赘述。
权利要求1.一种小型测量型光学投影仪，底座上方设有光源及可调工作台，机体上设有投影屏及位于可调工作台上方的物镜，内部设有放大投影装置，其特征在于机体内设有一用于测量投影屏上图样尺寸的光感测量装置，光感测量装置连接有液晶显示屏，液晶显示屏固定于机体一侧。
2.如权利要求I所述的一种小型测量型光学投影仪，其特征在于所述的可调工作台 包括方工作台和圆工作台，可调工作台上设有横向调节手轮、纵向调节手轮以及升降手轮。
专利摘要本实用新型公开了一种小型测量型光学投影仪，底座上方设有光源及可调工作台，机体上设有投影屏及位于可调工作台上方的物镜，内部设有放大投影装置，机体内设有一用于测量投影屏上图样尺寸的光感测量装置，光感测量装置连接有液晶显示屏。其将试样缺口尺寸通过数据与标准尺寸进行对比，检测精度高，对比更加方便，具有显著的实用性。
文档编号G01B9/08GK202648616SQ20122023394
公开日2013年1月2日 申请日期2012年5月24日 优先权日2012年5月24日
发明者吴晨曦 申请人:吴晨曦