专利名称：一种电容测量仪器的辅助设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种电容测量仪器的辅助设备。
背景技术：
近年来，平板显示技术迅速发展，尤其是触摸屏(Touch Panel)液晶显示器已经逐渐成为平板显示器的主流。电容式触摸屏由于其触摸过程中无需对触摸屏施加压力、触摸点定位的精度较高，且触摸点定位无需校准等优点，备受人们青睐。电容触摸屏采用铟锡氧化物(ITO)层作为触摸感应电路，当手指接触触摸屏表面时，手指与ITO金属氧化物层之间会形成一个耦合电容，I TO层上的一部分电荷就会转移到人体。ITO层为了恢复电荷的损失，从触摸屏的四角补充进来相应量的电荷，四角各个方向ネト充的电荷量和触摸点的距离成比例，由此推算出触摸点的位置。具体地，触摸屏的触摸感应电路中，驱动线(Driving Line)和感应线(Sensing Line)之间会产生稱合电容或/交叉电容，当手指接触触摸屏时，手指会引起耦合电容或/交叉电容值的变化，与该触摸屏配合使用的处理器根据该耦合电容或/交叉电容的变化量确定手指触摸点的位置。根据触摸屏应用领域的不同以及功能需求的不同，需要设计出不同结构的触摸感应电路。因此，对驱动线和/或感应线之间产生的耦合电容或/交叉电容值的測量至关重要。现有技术，当需要測量某一条感应线和某一条驱动线之间的电容值时，将电容测量设备(Inductance Capacitance Resistance,LCR)的测量线(测量线的探针)直接接触屏上引线焊接(PAD)区域与所述感应线和驱动线相对应的引线。所述需要測量电容的感应线和驱动线对应的引线为探测线，其余感应线和驱动线对应的引线为非探测线。但是，这种驱动线和感应线之间的电容测量方式，在探测某ー探测线的过程中，非探测线并非处于接地状态。所以，LCR对探测线的探測会受相邻感应线或/和驱动线的影响，使得电容测量数值不准确。正确的电容测量方法需要将非测量线接地。目前提出的电容测量方法需要对非探测线焊接飞线或者涂覆银浆搭线接地，但这两种测量方法在实际操作过程中只能对特定的測量线进行单次测量，对于需要多次測量不同的探测线时，操作起来极其不方便。综上所述，现有技术在多次测量触摸屏触摸感应电路中的驱动线和感应线之间的电容时操作极不方便，测试效率较低。
实用新型内容本实用新型实施例提供一种电容测量仪器的辅助设备，用以辅助电容测量仪器测量探測线之间的电容，提高电容测量值的准确性以及测试效率。本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备包括底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少ー根搭于所述轴杆上的探针，每ー根探针与參考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探测线的接触位置抬起。[0010]本实用新型实施例，提供一种电容测量仪器的辅助设备，包括底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少ー根搭于所述轴杆上的探针，姆ー根探针与參考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探測线的接触位置抬起。自然状态下，非探测线与探针接触，探针与參考接地点相连，使得与探针相接触的非探测线接地，提高电容测量值的准确性。当需要探测其他探测线之间的电容时，只需将该探測线对应的探针与探測线分离，即在该探针的尾部施加向下的压力，使其头部从与待测物的探测线的接触位置抬起。并将保证其他所有非探测线与探针接触。提高探测线之间电容的测试效率。
图I为本实用新型实施例提供的测试探測 线之间的电容的原理示意图；图2为本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图3为本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图4为本实用新型实施例提供的具有探针按键的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图5为本实用新型实施例提供的具有弹簧的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构不意图；图6为本实用新型实施例提供的具有卡接件的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图7为本实用新型实施例提供的具有保护罩的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图8为本实用新型实施例提供的具有固定保护罩的旋钮的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；图9为本实用新型实施例提供的具有调节旋钮的探针结构示意图；图10为本实用新型实施例提供的具有开关按钮的电容测量仪器的辅助设备的俯视结构不意图；图11为本实用新型实施例提供的具有指示灯的电容测量仪器的辅助设备的俯视结构示意图；图12为本实用新型实施例提供的測量电容的系统结构示意图。
具体实施方式
本实用新型实施例提供了一种电容测量仪器的辅助设备，用以辅助电容测量仪器測量电容，提高电容测量值的准确性以及测试效率。在显示技术领域，电容测量仪器通常用于测量显示面板或触摸屏上的电路线之间的电容。在測量某两根电路线之间的电容时，为了避免其他电路线对测试值的影响，引入电容测量仪器的辅助设备，将所述其他电路线接地。针对某两根待测电路线，设待测电路线为探测线，无需测量电容的电路线为非探测线。所述非探测线为任意影响电容測量仪器测量探測线电容的导线或导电部件。下面简单介绍ー下本实用新型实施例提供的測量探测线之间电容的基本原理。首先，两个带电的导体相互靠近会形成电容，无论是触摸屏单层触摸感应电路还是双层触摸感应电路，电路线(感应线和/或驱动线)之间都会存在电容。手指触碰触摸屏时，与触碰位置相对应的感应线和驱动线之间的电容会发生变化，通过电容的变化量确定手指触碰触摸屏的位置。对于ー个确定的触摸屏，其驱动线和感应线之间的电容值是确定的，并且是按照一定的參数预先设计好的。因此，在触摸屏制作过程中，按照预设參数严格控制感应线和驱动线之间的电容值是非常重要的,相应地,精确测量感应线和驱动线之间的电容值至关重要。但是，触摸屏上的感应线和驱动线较多，电路 线相互之间都有一定的耦合电容，导致某一条感应线和某一条驱动线之间的电容和实际预设电容值之间存在差异，如果直接测量感应线和驱动线之间的电容值时，受其他感应线和驱动线的影响，测得的电容值不准确，使得触摸定位不准确。并且，即使是对于较小尺寸的触摸屏，其上的驱动线和感应线的数量达几百条甚至上千条。按照现有的测量感应线和驱动线之间的电容的方法对非探测线焊接飞线或者涂覆银浆搭线接地，效率极其低下，測量起来极不方便。下面通过附图说明本实用新型实施例提供的电容测量仪及其辅助设备测量电容的原理。參见图1，为本实用新型LCR測量仪测量触摸屏的某一条感应线和某一条驱动线之间的电容测量原理示意图。測量电容的基本原理为，当測量某一条感应线和某一条驱动线之间的电容时，通过电容测量仪器的辅助设备将其他感应线和其他驱动线同时接地，使得測量得到的所述某一条感应线和某一条驱动线之间的电容不受其他感应线和/或驱动线的影响，使得电容测量值更加准确。如图I中标记的GND为导线处于接地的状态，该导线为非探测线，与LCR測量仪相连的导线为探测线。当需要测量另外某一条感应线和某一条驱动线之间的电容时，只需对电容测量仪器的辅助设备上的相关部件进行调节，改变需要接地的感应线或者驱动线。实现简单，测试电容效率高。图I仅示出了本实用新型測量电容的原理。在实际应用中，LCR通过测量位于触摸屏外围电路区域的引线测量某一条感应线和某一条驱动线之间的电容，每一条引线对应一条感应线或者驱动线。所述引线位于引线焊接区域。引线焊接区域的金属线(也即引线)俗称金手指，每个金手指和触摸电路中的感应线或者驱动线对应。LCR测量感应线和驱动线之间的电容，是通过测量某两个金手指之间的电容实现的。同理，LCR的辅助设备，也是通过将该次LCR测量的金手指之外的其他金手指接地，以使得LCR准确测量某一条感应线和某一条驱动线之间的电容。为了方便描述，在一次电容测量过程中，需要測量电容的金手指称为探测线，其他无需测量电容的金手指称为非探测线。以下将结合附图对本实用新型实施例提供的技术方案进行说明。參见图2，本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备，用于将触摸屏上触摸感应电路中的非探测线接地，将探测线悬空，悬空的探測线用于被电容测量仪器测量，该辅助设备具体包括一底座I、ー轴杆2、至少ー根探针3 (金属探针)；[0036]底座I用干支撑轴杆2以及待测物；轴杆2位于底座I上，与底座I固定相连，用于支撑姆ー根探针3 ；參见图3，每ー根探针的探针中部31搭于轴杆2上，探针中部31可绕轴杆2转动，探针头部32与底座I接触，当该接触位置有待测物吋，每ー根探针的探针头部32与所述待测物接触，每ー根探针3与參考接地点相连。具体地，每ー根探针各自通过ー根导线与參考接地点相连，或者，所有探针通过一根导线与參考接地点相连。在辅助电容测量仪器测量电容时，多数电路线需要被接地，只有其中的两根电路线处于非接地状态。使用一根导线将所有探针连接至參考接地点，无论是辅助设备的设计上还是实际操作上都非常简单且方便。任何与某一根探针3相接触的导体都处于接地状态(前提 是，该探针与參考接地点处于连通状态，即线路无故障);也就是说，任何与某一根探针3相接触的触摸屏上的感应线或/和驱动线都会被接地，当触摸屏上的某根或者某几根感应线和/或驱动线无需接地时，只需给与该感应线和/或驱动线接触的探针3的探针尾部33施加向下的压力，即按照图3中箭头所指的方向施加压力，使得探针头部32从与所述感应线和/或驱动线的接触位置抬起，直到与所述感应线或驱动线分离，停止为探针3施加压力。所述每ー根探针可以是直线状也可以是曲线状。较佳地，为了便于对每一根探针进行操作，以及使得探针和触摸屏上的金手指更好地接触，參见图2或图3，本实用新型实施例提供的探针呈“Z”字状。每根探针上设置有保护层，探针头部露出，以便和待测物上的非探测线接触。较佳地，參见图4，在探针头部32需要抬起以远离与之接触的待测物上的金手指或者底座I时，为了方便按压探针尾部33使得其绕轴杆2旋转，每ー根探针的尾部33还设置有接受向下压カ的探针按键4;具体地，在给某ー探针的探针按键4施加向下的压カ吋，该探针按键4向下移动，同时探针3绕轴杆2转动，探针头部32从与待测物的金手指的接触位置抬起并与金手指分离。该探针按键4的形状可以是圆形或者规则的四边形或者为三角形等，只要是任何能起到方便按压的效果的形状均可，探针按键4的大小可以根据实际应用中使用的方便性和需求性设计。较佳地，參见图5，在给探针按键4施加压カ时，为了使得每ー个探针按键4能够缓冲施加在自身上的压力，每ー个探针按键4的下方设置有缓冲弹簧5，该缓冲弹簧的一端与探针按键4相连，另一端与底座相连I。当给每ー探针按键4施加向下的压カ吋，与探针按键4相连的缓冲弹簧5给探针按键4 ー个反作用力，使得施加在探针按键4上的压カ得到一定缓冲。这样，与每ー探针按键4相连的探针3的探针头部32缓缓从与探针头部32相接触的位置抬起，远离底座I或者待测物的金手指，不至于在探针按键4接受较大的压カ吋，损坏与之相连的探针或者其他部件。该缓冲弹簧5的横截面积的大小以及高度可以根据需求设计，每ー缓冲弹簧在自然状态下的高度约等于底座到探针尾部的垂直距离，此时的探针所处的状态为探针头部与触摸感应面板的金手指相接处或者与底座相接触。较佳地，參见图6，在底座I上且位于每ー探针按键4的后方或者每ー探针按键4的旁边设置有卡接件6，每ー个卡接件6固定在底座I且在所述探针按键4受到外力作用向下移动到一定距离时卡住所述探针按键4井能释放卡住的探针按键4。当然，该卡接件6也可以设置在按键的周围任何ー个地方。较佳地，为了使得卡接件6的活动部位具有活动缓冲的作用，在卡接件6 (与探针按键直接接触的部件)的正下方设置有另ー弹簧(图6中未示出)。參见图7，所述辅助设备还包括位于底座I上的保护罩7，该保护罩7和底座I活动连接。较佳地，通过活动旋钮或螺纹连接，通过活动旋钮或螺纹使保护罩7接近或远离底座1，当活动该活动旋钮或螺纹使其接近底座I时，可以夹持位于底座I和所述旋钮或螺纹之间的待测物。例如，可以通过螺钉和螺母8连接底座I和保护罩7。可以在保护罩7和底座I之间设置ー对螺钉和螺母，或者设置多对螺钉和螺母，例如在保护罩左右两侧各设置ー对螺钉和螺母，或者在保护罩7的四角的每一角设置ー对螺钉和螺母。较佳地，为了防止螺钉损坏底座，底座上方以及每个螺钉下方还设置有垫片9。保护罩的材质可以是塑料或者玻璃，可以是透明或者非透明。保护罩的大小为所有探针所覆盖的区域的大小，并将每个探针的探针按键露在保护罩外面，便于探针按键接受外加作用力。该保护罩可以保护探针不受外界的破坏或者尘土的污染等。较佳地，參见图8，保护罩7上设置有一定面积的观察窗ロ 10。即保护罩7上对应每ー根探针设置有一定面积的观察窗ロ。通过该观察窗ロ可以同时观察到所有探针。參见图9，每ー个探针按键4上设置有调节探针3在与底座I平行的平面上转动ー定角度的调节旋钮11。这样，探针3不仅可以绕轴杆2转动，还可以在与底座I平行的平面上转动一定角度，图9中虚线探针表示探针3经一定转角之后所处的位置。如图9中所示的双向箭头为探针3转动的方向。当某一探针与待测物上的金手指接触不良时，可以通过调节旋钮11对探针3所处的位置进行微调，保证探针头部与待测物的相应的金手指接触良好。较佳地，參见图10，所述的辅助设备上的用于将每一根探针3连接至參考接地点的导线上设置有第一开关按钮Kl，当该第一开关开按钮Kl开启时，探针3处于接地状态，当该第一开关按钮Kl关闭时，探针处于悬空状态。其中，每ー根探针3分别通过ー个第一开关按钮Kl连接至參考接地点。或者，所有探针3通过ー根导线以及ー个第一开关按钮Kl连接至參考接地点。图10中所示的探针与參考接地点连接方式为所有探针3通过ー根导线以及ー个第一开关按钮Kl连接至參考接地点。第一开关按钮Kl控制所有探针与參考接地点的连接。较佳地，该辅助设备上的每ー探针通过第二开关按钮K2与具有一设定电压的电压源连接。较佳地，所有探针通过ー个第二开关按钮K2与具有一设定电压的电压源连接。在所有探针通过ー个第二开关按钮K2与具有一设定电压的电压源连接，以及所有探针3通过ー根导线以及ー个第一开关按钮Kl连接至參考接地点的情况下；当第二开关按钮K2开启以及第ー开关按钮Kl关闭时，所有探针都施加有ー设定电压，该设定电压为非零电压。当第二开关按钮K2关闭以及第ー开关按钮Kl开启时，所有探针3处于接地状态。较佳地，參见图11，每个探针3通过ー个指示灯12及ー个第二开关按钮K2与具有一设定电压的电压源连接。每个指示灯12位于每根探针对应的探针按键4上，当然也可以位于其他位置，如底座上。每ー个探针必须对应ー个指示灯12。每ー个探针可以对应ー个第二开关按钮K2或者所有探针对应ー个第二按钮K2开关。当所有探针对应ー个第二开关按钮K2，以及所有探针对应ー个第一开关按钮Kl，当第二开关按钮K2开启以及第一开关按钮Kl关闭吋，每ー根探针3上具有一定电压，如果探针连接电压源的线路无故障，则探针对应的指示灯12发亮，否则指示灯12不亮。下面将结合附图给出本实用新型实施例提供的，电容测量仪器的辅助设备辅助电容测量仪器测量触摸感应屏的感应线和驱动线之间的电容的具体过程。參见图12，为本实用新型实施例提供的測量待测物上的电路线之间的电容的系统的俯视图。该系统包括电容测量仪器(LCR测量仪器)，与LCR测量仪器相连的待测物，以及用于辅助LCR测量仪器测量电容的辅助设备。本实施例中的待测物为触摸屏上的外围电路引线焊接区域的金手指。设焊接区域待测电容的金手指包括12根，7根与感应线相对应的金手指，以及5根与驱动线相对应的金手指，与感应线对应的金手指与图12中的LCR测量仪器的辅助设备上的探针Xl至X7相对应；与驱动线对应的金手指与探针Yl至Y5相对应。现在需要通过LCR測量仪器测量与探针X6对应的金手指和与探针Y5对应的金手指之间的电容，即测量探測线之间的电容。具体包括以下步骤步骤一、将待测物放置于电容测量仪器的辅助设备上的合适位置。具体地，将触摸屏放置于所述辅助设备上，满足条件触摸感应电路的引线焊接区域的每个金手指与辅助设备上的探针3相对应，保证每ー个金手指都与一根探针3相接触。由于该探针3与參考接地点相连，每ー个与探针3相连的金手指都被接地。需要说明的是，每ー个金手指必须与探针接触，但是不一定每ー根探针都与金手指接触。因此，辅助设备上探针的数量不小于待测物上的金手指的数量。金手指之间的间距是固定的，但是探针之间的间距可以通过探针按键上的调节旋钮调节。当待测物在底座上的位置固定时，将与金手指最接近的探针与金手指相接触。图12中所示的探针间距和金手指间距相同或相近。步骤ニ、调整所述辅助设备上的探针X6和探针Y5，使得探针X6与对应的金手指分离，以及使得探针Y5和对应的金手指分离。具体地，通过对探针X6或Y5的尾部施加一定压カ，使得探针X6或Y5的绕轴杆2转动，探针尾部在向下移动的过程中，带动探针头抬起，与相接触的金手指分离。较佳地，參见图4，可以通过按压探针X6或Y5的探针按键4，使得探针X6或Y5与各自接触的金手指分离。较佳地，參见图6，在按压探针按键4的过程中，位于其下方的缓冲弹簧5对压カ起到一定的缓冲作用，不至于在探针按键受到较大的压カ时，损坏探针或其他结构。较佳地，当探针按键4在外力作用下向下移动到一定位置吋，利用位于探针按键4旁边的卡接件6将探针按键4卡住。此时，探针X6和探针Y5与各自对应的金手指分离。步骤三、电容测量仪器测量探针X6和探针Y5的电容。具体地，将电容测量仪器的其中一根测量线与探针X6对应的金手指相接触，另ー根测量线与探针Y5对应的金手指相接触，此时，电容测量仪器测量出的电容为探測线之间的电容，由于其他非探测线都被接地，探测线之间的电容值不受其他非探测线的影响。当需要測量其他探測线之间的电容时，例如需要測量探针Xl和Y2对应的金手指之间的电容，还包括以下步骤。[0067]步骤四、将探针X6和探针Y5复位，并调整所述辅助设备使得探针Xl和Y2与对应的金手指分离。具体地，与探针X6相对应的卡接件6释放卡住的探针X6的探针按键4，使探针X6复位。同理,将探针Y5也复位。探针Xl和Y2与对应的金手指分离的过程和上述步骤2类似，这里不再赘述。当探针Xl和Y2与对应的金手指分离后，重复步骤三。也就是说，在測量完某两根金手指 之间的电容后，还需要測量其他金手指之间的电容时，仅需将待测金手指对应的探针与该金手指分离，其他所有金手指与对应的探针相接触。简单高效地测量出多组探测线之间的电容值。相对于现有技术对非探测线焊接飞线或者涂覆银浆搭线接地，本实用新型提供的电容测量仪器的辅助设备辅助电容测量仪测量出的电容准确、而且测试效率较高。较佳地，在测试探测线的电容之前，为了保证所有非探测线与參考接地点的线路处于连通状态，本实用新型还提供了一种测试非探测线是否与接地点连通的装置。具体地，辅助设备上的所有探针都连接到一根导线上，该导线接地；并且辅助设备上的所有探针都连接到另ー根导线上，该导线施加有ー设定电压(非零正电压，该电压值为可以使指示灯正常工作的电压值)。每根探针的探针按键上还设置有一指示灯，该指示灯与施加有ー设定电压的导线相连。当所有探针仅与施加有ー设定电压的导线相连时，与每ー探针对应的指示灯会发亮或者不亮。当指示灯发亮，表明该指示灯对应的探针与接地点的线路处于连通状态；当指示灯不亮时，表明该指示灯对应的探针与接地点的线路处于不连通状态，此时，エ作人员应该检查线路状况，最終保证所有非探测线与參考接地点的线路处于连通状态。当保证所有非探测线与參考接地点的线路处于连通状态时，将所有探针与接地的导线相连，与施加有ー设定电压的导线断开。较佳地，所述接地的导线和施加有一设定电压的导线上各有ー个开关按钮，用于控制导线与探针的连接状态。较佳地，在保证所有非探测线与參考接地点的线路处于连通状态的情况下，步骤三中测出的电容值异常或者无法测出电容值，可以查看与每个金手指对应的探针是否与金手指接触良好。如果探针与金手指接触不良或者存在位置偏移，可以通过设置在探针按键上的调节旋钮，调节探针头部所处的位置，可以相对于金手指左调或者右调所述调节旋钮，直到所述探针的探针头部与所述金手指完全接触。然后开始测试探測线之间的电容。较佳地，当所述辅助设备有保护罩时，再将待测物放到底座相应的位置时，通过调节保护罩上的螺钉和螺母，使得保护罩远离底座，此时放入待测物，然后调节螺钉和螺母使得保护罩靠近底座，保护罩还起到将待测物夹设在保护罩和底座之间的作用。需要说明的是，本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备，探针的数目可以根据实际需要去设定。当待测物上的金手指或者电路线的数目较多时，可以设计较多数目的探针。只要保证探针数目大于待测物上的探测线与非探测线数目之和即可。当放置好待测物后，与每个金手指相接触的探针为离金手指最近的探针。所以，一般情况下，金手指之间的间距大于辅助设备上的探针之间的间距。这样可以保证所述辅助设备能够将所有的电路线接地，不会遗漏掉任何ー根电路线。并且，本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备，不仅可以辅助电容测量仪器测量电容，可还以应用到任何需要将导体或导电条接地的情況。或者需要将某些导电条接地，某些导电条悬空的情况下。只要是在测量一些电学參数时，需要屏蔽其他ー些导体的干扰，就可以利用本实用新型提供的辅助设备实现将导体接地。方便且容易实现。综上所述，本实用新型实施例提供一种电容测量仪器的辅助设备，包括底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少ー根搭于所述轴杆上的探针，该探针与參考接地点相连，该探针的头部与待测物的非探测线接触，以使该非探测线接地；其中，所述探针在外加压カ的作用下绕所述轴杆转动，直到该探针的头部与待测物的非探测线分离。当需要測量某两根探測线之间的电容时，给这两根探测线施加外力，探针在外加压カ的作用下绕所述轴杆转动，直到该探针的头部与待测物的非探测线分离。与探针接触的非探测线接地，起到将无需測量电容的电路线接地的作用，不会影响探测线之间的真实电容值。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型 进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求1.一种电容测量仪器的辅助设备，其特征在于，该辅助设备包括 底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少一根搭于所述轴杆上的探针，每一根探针与参考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探测线的接触位置抬起。
2.根据权利要求I所述的辅助设备，其特征在于，每一根探针的尾部还设置有接受向下压力的探针按键。
3.根据权利要求2所述的辅助设备，其特征在于，每一个探针按键的下方设置有缓冲弹簧，该缓冲弹簧的一端与所述探针按键相连，另一端与所述底座相连。
4.根据权利要求3所述的辅助设备，其特征在于，还包括分别位于每一个探针按键旁设置有探针按键的卡接件，每一个卡接件固定在底座且在所述探针按键受到外力作用向下移动到一定距离时卡住所述探针按键并能释放卡住的探针按键。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的辅助设备，其特征在于，还包括位于所述底座上方，与该底座活动连接的保护罩。
6.根据权利要求5所述的辅助设备，其特征在于，所述保护罩上对应每一根探针设置有一定面积的观察窗口。
7.根据权利要求6所述的辅助设备，其特征在于，所述保护罩与底座的活动连接为螺钉和螺母连接。
8.根据权利要求2所述的辅助设备，其特征在于，每一个探针按键上还设置有调节探针在与底座平行的平面上转动一定角度的调节旋钮。
9.根据权利要求2所述的辅助设备，其特征在于，每一根探针依次通过所有探针共用的第一开关按钮连接参考接地点。
10.根据权利要求9所述的辅助设备，其特征在于，每一根探针还依次通过位于探针按键上的指示灯，以及所有探针共用的第二开关按钮连接一设定电压的电压源。
专利摘要本实用新型公开了一种电容测量仪器的辅助设备，用以辅助电容测量仪器测量探测线之间的电容，提高电容测量值的准确性以及测试效率。本实用新型提供的电容测量仪器的辅助设备，包括底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少一根搭于所述轴杆上的探针，每一根探针与参考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探测线的接触位置抬起。
文档编号G01R1/067GK202583329SQ20122023776
公开日2012年12月5日 申请日期2012年5月24日 优先权日2012年5月24日
发明者杨盛际, 王海生 申请人:北京京东方光电科技有限公司