专利名称：晶粒电脑检验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种设备，具体地说是涉及涉及ー种晶粒电脑检验装置。
背景技术：
在晶粒的生产中，由于晶粒较多，需要将不合格的晶粒检出，现有技术中，整个过程使用人工肉眼检查的，这样具有效率低、眼睛容易疲劳的缺点，还具有检验效果不理想的缺点。
发明内容本实用新型的目的就是针对上述缺点，提供ー种生产效率高、眼睛不易疲劳、效果好的晶粒检验装置。本实用新型的技术方案是这样实现的晶粒电脑检验装置，其特征是它包括检验架，检验架上设置有摄像头，连接摄像头的是ー个电脑。进ー步的讲，所述的摄像头侧面还设置有电灯。本实用新型的有益效果是这样的晶粒电脑检验装置具有生产效率高、眼睛不易疲劳、效果好的优点。
图I是本实用新型的结构示意图。其中I、检验架2、摄像头3、电脑4、电灯。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进ー步的描述。如图I所示，晶粒电脑检验装置，其特征是它包括检验架1，检验架I上设置有摄像头2，连接摄像头2的是ー个电脑3。进ー步的讲，所述的摄像头2侧面还设置有电灯4。
权利要求1.晶粒电脑检验装置，其特征是它包括检验架，检验架上设置有摄像头，连接摄像头的是ー个电脑。
2.根据权利要求I所述的晶粒电脑检验装置，其特征是所述的摄像头侧面还设置有电灯。
专利摘要本实用新型涉及一种设备，具体地说，涉及一种晶粒电脑检验装置，它包括检验架，检验架上设置有摄像头，连接摄像头的是一个电脑，所述的摄像头侧面还设置有电灯，这样的晶粒电脑检验装置具有生产效率高、眼睛不易疲劳、效果好的优点。
文档编号G01N15/00GK202649080SQ201220238259
公开日2013年1月2日 申请日期2012年5月17日 优先权日2012年5月17日
发明者刘宝成 申请人:河南恒昌电子有限公司