专利名称：多路时钟测试仪的制作方法
技术领域：
多路时钟测试仪技术领域[0001]本实用新型涉及电子电路技术领域，具体涉及一种多路时钟测试仪。
背景技术：
[0002]目前市面上的时钟测试仪都仅支持单路时钟测量，在保证高精度测量的前提下， 无法同步、实时地测量多路时钟，这种缺陷使得用户一次只能检测、校准一路时钟误差，效率非常低下，不能满足现代化大规模生产的需要，市场急需一种能对多路时钟进行高精度地检验、校准的仪器。实用新型内容[0003]本实用新型的目的在于提供一种能对多路时钟进行高精度地检验、校准的仪器。[0004]上述目的由以下技术方案实现[0005]一种多路时钟测试仪，其特征在于包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、 FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。[0006]所述恒温晶体为精度高于O. IPPM的高频恒温晶体。[0007]所述多路时钟调理电路具有二十四路被测时钟信号输入通道。[0008]所述温度传感器为分辨率达O. 0625 °C的测温芯片。[0009]所述主控MCU为16位MCU。[0010]所述FPGA测量芯片与主控MCU通过SPI总线相连，所述温度传感器与主控MCU通过I2C总线相连。[0011 ] 所述通讯接口包括RS485接口和RS232接口之一或两者。[0012]本实用新型提供的多路时钟测试仪中FPGA测量芯片可对多达24路时钟信号同步、实时地测量，测量结果通过SPI总线传输给主控MCU ;温度传感器可实时地测量环境温度，测量结果通过I2C总线传输给主控MCU，为校准时钟信号精确地标定温度；主控MCU可根据用户设置的参数，对测量到的时钟误差和环境温度作进一步处理，然后将处理结果送到显示单元上实时显示，或者通过通讯接口单元传输给PC机，通过PC机后台软件来记录、 检验、校准时钟误差。本实用新型提供的这种多路时钟测试仪为高精度地检测、校准多路时钟提供了有力的设备保障，大大提高了检测、校准批量时钟的效率，解决了现代化大规模生产的技术瓶颈。
[0013]图I是本实用新型的电路原理框图。[0014]
以下结合附图与具体实施方式
对本实用新型做进一步详细描述。
具体实施方式
[0015]如图I所示，本实施例提供的多路时钟测试仪包括24路时钟调理电路、恒温晶体、FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、IXD显示电路、按键电路和通信接口。其中，精度高于O. IPPM的高频恒温晶体为标准时钟源，支持高速、硬件并行处理的FPGA为测量芯片， 分辨率达O. 06250C的温度传感器为测温芯片，16位高性能MCU为主控MCU。[0016]前端24路时钟调理电路对输入的时钟信号进行整形、滤波处理，然后输出给FPGA 测量芯片，FPGA测量芯片同步、实时地测量24路时钟输入通道，测到时钟误差后通知主控 MCU;主控MCU通过SPI总线读取该时钟误差，再根据用户设置参数作进一步运算，最后将运算结果送到IXD上实时显示，也可以通过RS485或RS232传输给PC机，通过PC机后台软件来记录、检验、校准各时钟误差；另外仪器采用的高精度测温芯片实时测量环境温度，为校准时钟精确地标定温度。[0017]图I中的电源电路分为恒温晶体电源电路、FPGA及相关部分的电源电路、主控MCU 及相关部分的电源电路、RS485/RS232通讯电源电路，它们都由开关电源经整流、滤波、变换等处理得到；图I中的IXD显示电路可显示各通道的误差值、当前环境温度和仪器的工作参数；图I中的按键电路可查询各通道的误差值、设置仪器的工作参数；图I中的通信接口包括RS485和RS232，用来完成PC机对仪器的参数设定、时钟误差读取和环境温度读取。
权利要求1.一种多路时钟测试仪，其特征在于包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、 FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。
2.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述恒温晶体为精度高于O.IPPM的高频恒温晶体。
3.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述多路时钟调理电路具有二十四路被测时钟信号输入通道。
4.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述温度传感器为分辨率达O.0625 °C的测温芯片。
5.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述主控MCU为16位MCU。
6.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述FPGA测量芯片与主控 MCU通过SPI总线相连，所述温度传感器与主控MCU通过I2C总线相连。
7.根据权利要求I所述的多路时钟测试仪，其特征在于所述通讯接口包括RS485接口和RS232接口之一或两者。
专利摘要本实用新型公开一种多路时钟测试仪，其特征在于包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。本实用新型提供的这种多路时钟测试仪为高精度地检测、校准多路时钟提供了有力的设备保障，大大提高了检测、校准批量时钟的效率，解决了现代化大规模生产的技术瓶颈。
文档编号G01R29/00GK202748411SQ20122029007
公开日2013年2月20日 申请日期2012年6月17日 优先权日2012年6月17日
发明者任智仁, 黄杰, 周弼, 张亮, 周宣 申请人:珠海中慧微电子有限公司