专利名称：一种原子荧光光度计光学系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种原子荧光光度计光学系统，属于原子荧光光度计技术领域。
背景技术：
原子荧光光谱法是一种基于测量分析物气态自由原子吸收辐射被激发后去激发所发射的特征谱线强度进行定量分析的痕量元素分析方法。原子荧光光谱分析法历经40余年的不断发展和完善，现已成为分析实验室中无机元素最为有效的常用分析技术之一，适用于As、Sb、B1、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd、Hg等元素的痕量检测，被广泛应用于地质、冶金、环境科学、生命科学、食品卫生、材料科学等众多领域。现有的原子荧光光度计多采用非色散式光学系统，其结构见图2，高性能空心阴极灯12作为激发光源，经入射透镜系统13汇聚于原子化器11处，在与激发光源垂直的方向(或与光源成一定角度)，其所激发荧光由接收透镜系统14进入光电倍增管15并经信号采集处理系统16传至上位机进行分析。激发光源是原子荧光光度计的一个重要部件，其辐射能量的稳定性直接影响着仪器测量结果重复性和准确性。目前主要用于原子荧光光度计的激发光源为空心阴极灯，其波动对测量结果的影响很大，制约着仪器性能的进一步提高。而现有校正光源波动的技术是在激发光进入原子化器前分出部分光进入光电检测器，由于荧光信号检测和激发光信号检测采用了两只不同的光电检测器以及不同的放大电路系统，器件性能差异造成测量结果的不一致，无法很好的校正光源波动。
发明内容本实用新型的目的是为解决现有校正光源波动的技术是在激发光进入原子化器前分出部分光进入光电检测器，由于荧光信号检测和激发光信号检测采用了两只不同的光电检测器以及不同的放大电路系统，器件性能差异造成测量结果的不一致，无法很好的校正光源波动的问题，进而提供一种原子荧光光度计光学系统。本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的一种原子荧光光度计光学系统，包括原子化器、激发光源、入射光学系统、接收光学系统、参比光传输系统、斩光器、光电倍增管和信号采集处理系统。所述激发光源发出的光经过入射光学系统后汇聚于原子化器的中心处，激发光源所发出的部分光(参比信号)通过参比光传输系统再经斩光器进入光电倍增管，激发光源所激发的荧光信号通过接收光学系统，再经斩光器进入光电倍增管，参比信号与荧光信号由斩光器按时序选择顺序进入光电倍增管并转化为电信号输入到信号采集处理系统。所测参比信号经处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正。本实用新型与现有技术相比具有如下优点本实用新型能有效校正光源不稳定性对测量结果的影响，克服了现有校正光源波动技术的缺陷，突破了一直以来制约着原子荧光度计发展的技术瓶颈，提高了仪器的性能指标。
图1为本实用新型原子荧光光度计光学系统的结构示意图；图2为现有原子荧光光度计的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型做进一步的详细说明本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式，但本实用新型的保护范围不限于下述实施例。如图1所示，本实施例提供的一种原子荧光光度计光学系统，包括原子化器1、激发光源2、入射光学系统3、接收光学系统4、参比光传输系统5、斩光器6、光电倍增管7和信号采集处理系统8，所述激发光源2发出的光经过入射光学系统3后汇聚于原子化器I的中心处，激发光源2所发出的部分光(参比信号)通过参比光传输系统5再经斩光器6进入光电倍增管7，激发光源2所激发的荧光信号通过接收光学系统4再经斩光器6按进入光电倍增管7，参比信号与荧光信号由斩光器6按时序选择顺序进入光电倍增管7并转化为电信号输入到信号采集处理系统8。所述参比光传输系统5为光纤、透镜或反射镜。所述斩光器6为机械光闸或声光电光晶体光闸，机械光闸由电磁阀或步进电机驱动，声光电光晶体光闸由声光电光效应控制器驱动。激发光源所辐射光经置于其后的入射光学系统汇聚于原子化器中心处，所激发荧光信号经接收光学系统进入光电倍增管。激发光源所发出的部分光通过参比光传输系统(采用光纤、透镜、反射镜等各类光学器件传输方式)进入光电倍增管，荧光信号与激发光信号通过控制斩光器(斩光器可以为机械光闸或声光电光晶体光闸结构，机械光闸由电磁阀或步进电机驱动，声光电光晶体光闸由声光电光效应控制器驱动)按时序选择顺序进入同一光电倍增管并转化为电信号输入信号采集处理系统。激发光信号经采集与处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正，可有效扣除光源波动所带来的影响。(在图1中只画出了单道光学系统的情况，双道及多道光学系统在单道光学系统的基础上与图1中激发光源成一定角度加入了 1-7只激发光源及相关器件。)在此系统中，荧光信号和激发光信号使用同一光电倍增管和放大电路，避免了光电倍增管及电路器件不一致对测量结果的影响。以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式
，这些具体实施方式
都是基于本实用新型整体构思下的不同实现方式，而且本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种原子突光光度计光学系统，包括原子化器、激发光源、入射光学系统、接收光学系统、参比光传输系统、斩光器、光电倍增管和信号采集处理系统，其特征在于，所述激发光源发出的光经过入射光学系统后汇聚于原子化器的中心处，激发光源所发出的部分光通过参比光传输系统再经斩光器进入光电倍增管，激发光源所激发的荧光信号通过接收光学系统再经斩光器进入光电倍增管，参比信号与荧光信号由斩光器按时序选择顺序进入光电倍增管并转化为电信号输入到信号采集处理系统，所测参比信号经处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正。
2.根据权利要求1所述的原子荧光光度计光学系统，其特征在于，所述参比光传输系统为光纤、透镜或反射镜。
3.根据权利要求1所述的原子荧光光度计光学系统，其特征在于，所述斩光器为机械光闸或声光电光晶体光闸。
专利摘要本实用新型提供了一种原子荧光光度计光学系统，属于原子荧光光度计技术领域。本实用新型所述激发光源发出的光经过入射光学系统后汇聚于原子化器的中心处，激发光源所发出的部分光(参比信号)通过参比光传输系统再经斩光器进入光电倍增管，激发光源所激发的荧光信号通过接收光学系统再经过斩光器进入光电倍增管，参比信号与荧光信号由斩光器按时序选择顺序进入光电倍增管并转化为电信号输入到信号采集处理系统，所测参比信号经处理后反馈于荧光信号测量结果进行数据校正。本实用新型能有效校正光源不稳定性对测量结果的影响，突破了一直以来制约着原子荧光度计发展的技术瓶颈，提高了仪器的性能指标。
文档编号G01N21/64GK202837182SQ201220414879
公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月20日 优先权日2012年8月20日
发明者宋雅东, 孙金龙, 陈国伟, 王凌昊 申请人:北京普析通用仪器有限责任公司