专利名称：一种新型刻度尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量长度的工具，特别涉及一种新型刻度尺。
背景技术：
现有技术下所有需要进行两边对称裁剪、下料等工序时两边都需要对寸计算测量，这使得技术人员的工作量变大，当要求裁剪的精度时计算测量误差难以控制。
实用新型内容针对现有技术的不足，本实用新型提供一种新型刻度尺。为了实现上述目的，本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种新型刻度尺，包括刻度尺本体，所述本体为平行四边形条状结构，所述平行四边形条状结构的一面上沿两长边设置有与两短边平行的等间隔的若干刻痕，所述长边与短边的夹角为30度或150度。所述的刻痕分为短刻痕，中长刻痕，长刻痕，所述两相邻短刻痕之间的间隔为一毫米，所述相邻的中长刻痕与长刻痕之间的间隔为五毫米，所述相邻两长刻痕之间的间隔为
一厘米。本实用新型的有益效果本实用新型提供的这种新型刻度尺能省掉计算时间，避免计算错误，提高生产效率，从而节约成本。
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
—种新型刻度尺，包括刻度尺本体1，所述本体I为平行四边形条状结构，所述平行四边形条状结构的一面上沿两长边设置有与两短边平行的等间隔的若干刻痕2，所述长边与短边的夹角为30度或150度。所述的刻痕2分为短刻痕，中长刻痕，长刻痕，所述两相邻短刻痕之间的间隔为一毫米，所述相邻的中长刻痕与长刻痕之间的间隔为五毫米，所述相邻两长刻痕之间的间隔为一厘米。本实用新型的刻度尺能满足两边对寸裁剪，通过普通标准尺和斜刻度尺组合使用，不需计算、测量。需要说明的是本实用新型刻度尺与普通刻度尺组合使用时，两尺子的刻度线对齐且在同一直线上。
权利要求1.一种新型刻度尺，包括刻度尺本体(I)，其特征在于:所述本体(I)为平行四边形条状结构，所述平行四边形条状结构的一面上沿两长边设置有与两短边平行的等间隔的若干刻痕(2)，所述长边与短边的夹角为30度或150度。
2.按照权利 要求1所述的一种新型刻度尺，其特征在于:所述的刻痕(2)分为短刻痕，中长刻痕，长刻痕，所述两相邻短刻痕之间的间隔为一毫米，所述相邻的中长刻痕与长刻痕之间的间隔为五毫米，所述相邻两长刻痕之间的间隔为一厘米。
专利摘要一种新型刻度尺，包括刻度尺本体，所述本体为平行四边形条状结构，所述平行四边形条状结构的一面上沿两长边设置有与两短边平行的等间隔的若干刻痕，所述长边与短边的夹角为30度或150度。所述的刻痕分为短刻痕，中长刻痕，长刻痕，所述两相邻短刻痕之间的间隔为一毫米，所述相邻的中长刻痕与长刻痕之间的间隔为五毫米，所述相邻两长刻痕之间的间隔为一厘米。本实用新型的有益效果本实用新型提供的这种新型刻度尺能省掉计算时间，避免计算错误，提高生产效率，从而节约成本。
文档编号G01B3/02GK202915840SQ20122064018
公开日2013年5月1日 申请日期2012年11月28日 优先权日2012年11月28日
发明者王元家 申请人:王元家