专利名称：一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法
一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法
技术领域：
本发明涉及高压断路器合成试验技术领域，特别涉及一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法。
背景技术：
在高压断路器合成试验中，在引入电流的过零点时刻，被试断路器开断电流，电压回路电容器经电抗向电压回路的瞬态恢复电压调节支路振荡充电，形成试验所需的瞬态恢复电压TRV，瞬态恢复电压TRV过后，恢复电压按照指数形式衰减，其波形如
图1所示。高压断路器合成试验标准中明确规定要求测量电流过零时衰减型恢复电压有效值Ug这一参数，计算该参数传统的方法是依据衰减型恢复电压波形中连续的两个波峰A、B两点作一条直线LI/ ,然后根据坐标轴的刻度计算电流过零点时刻该直线LL'对应的瞬
时值Uo，将该值除以^即为衰减型恢复电压有效值Ug。通过对图1的分析可以看出，传统
的方法是将衰减型恢复电压的指数衰减形式近似为线性衰减，计算所得的结果存在较大的误差，因此该方法不仅效率低，而且严重影响了合成试验数据分析的准确度，不能准确测量试验参数衰减型恢复电压，影响试验回路有效性和被试断路器开断性能的评判。
发明内容本发明的目的是提供一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法，提高了合成试验数据分析的准确度。为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案:一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法，包括:I)、获取高压断路器合成试验中衰减型恢复电压波形；2)、衰减型恢复电压波形中正峰值的个数为n ；当2彡n彡4时，通过拉格朗日型插值多项式计算出衰减电压的包络曲线EE'，包络曲线EE'的表达式为:
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权利要求
1.一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法，其特征在于，包括: 1)、获取高压断路器合成试验中衰减型恢复电压波形； 2)、衰减型恢复电压波形中正峰值的个数为n； 当2≤n≤4时，通过拉格朗日型插值多项式计算出衰减电压的包络曲线EE'，包络曲线EE'的表达式为:
全文摘要
本发明提供了一种计算合成试验衰减型恢复电压的方法，通过拉格朗日型插值多项式或三次样条插值函数计算出衰减电压的包络曲线EE′，电流过零点时刻包络线EE′处所对应的瞬时电压值Uo，然后将Uo除以即为衰减型恢复电压的有效值Ug；该方法充分考虑到了衰减型恢复电压的指数衰减形式，有效地解决了现有技术中将衰减型恢复电压的指数衰减形式看做线性衰减所造成的计算结果存在较大误差的问题，提高了合成试验数据分析的准确度。
文档编号G01R19/02GK103197123SQ20131008819
公开日2013年7月10日 申请日期2013年3月19日 优先权日2013年3月19日
发明者阎对丰, 王安, 姚斯立, 牛安, 王乐 申请人:中国西电电气股份有限公司, 西安高压电器研究院有限责任公司