技术特征:1.一种检测装置,包括:一个或多个磁耦合元件,被配置为具有一个或多个线圈;以及检测单元,测量或计算所述磁耦合元件的有效电阻值或至少包括所述磁耦合元件的电路的有效电阻值并基于所述有效电阻值的变化来确定是否存在异物,在所述一个或多个磁耦合元件周围没有异物的状态下,将所述磁耦合元件的所述有效电阻值或至少包括所述磁耦合元件的电路的所述有效电阻值设定为用于确定是否存在异物的阈值。2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述至少包括所述磁耦合元件的电路是谐振电路。3.根据权利要求2所述的检测装置,其中,所述有效电阻值至少是在所述谐振电路的谐振频率附近的有效电阻值。4.根据权利要求3所述的检测装置,其中,所述有效电阻值至少利用所述谐振电路的Q值和所述谐振电路的所述谐振频率中的至少任何一个的测量结果或计算结果来测量或计算。5.根据权利要求4所述的检测装置,其中,所述Q值和所述谐振频率中的至少任何一个至少利用所述磁耦合元件或所述谐振电路中流动的高频电力的电压振幅的测量结果或计算结果来测量或计算。6.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述有效电阻值至少利用所述磁耦合元件中流动的高频电力或所述至少包括所述磁耦合元件的电路中流动的高频电力的电压振幅的测量结果或计算结...