检测装置、受电装置、送电装置及非接触供电系统的制造方法

技术总结
本公开涉及检测装置、受电装置、送电装置及非接触供电系统，其中，提供了一种检测装置，包括：一个或多个磁耦合元件，被配置为具有一个或多个线圈；以及检测单元，测量或计算磁耦合元件的有效电阻值或至少包括磁耦合元件的电路的有效电阻值并基于有效电阻值的变化来确定是否存在异物。

技术研发人员：宫本宗;中野裕章;村上知伦
受保护的技术使用者：索尼公司
文档号码：201310156684
技术研发日：2013.04.28
技术公布日：2017.09.08