测试适配器的制造方法

测试适配器的制造方法
【专利摘要】本发明涉及用于待测电子产品的测试适配器，测试适配器包括支撑结构（100）和用于将产品支撑在支撑结构上的产品台架。产品台架通过导向结构（301至304）被支撑在支撑结构（100）上，导向结构控制产品台架的垂直运动。所述产品台架（200），通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述导向结构上从顶端位置（TOP）运动到低端位置（LOW）。所述测试适配器包括保持结构（701，702），所述保持结构用来将所述产品台架（200）保持在低端位置（LOW），并将所述适配器中的卡扣结构（501，502）保持在锁定位置，所述卡扣结构（501，502）被设置成将所述产品锁定在所述产品台架上（200）。
【专利说明】测试适配器

【技术领域】
[0001] 本发明涉及用于待测电子产品的测试适配器，所述测试适配器包括支撑结构和用 于所述产品的被支撑在所述支撑结构上的产品台架。

【背景技术】
[0002] 测试适配器被用于电子工业，在产品研发阶段或生产阶段其用来测试被设计的原 型机或成品的操作。待测产品一即被测设备一例如可以是用于无线电网络中的终端设 备，例如被用在蜂窝无线电网络中的移动电话。测试适配器是附属于或连接于测试站的台 架，例如，通过测试适配器，待测产品能够与测试站的系统连接，用于测试收发器的或用户 界面的操作的目的。
[0003] 适配器的基本结构包括被基座支撑的--即在实践中位于基座上的--产品台 架，产品例如移动电话被放置在所述产品台架上。产品台架可以由塑料制成，其基本形状可 以是浅边的长方形的托盘，例如，托盘的形状在某种程度上呈现为待测产品底部的形状。对 于每一种产品而言产品台架是可以更换的。
[0004] 现有的适配器款式使用一个或多个小型电动机和/或气动缸，所述电动机和/或 气动缸用来相对于产品台架和产品台架上的产品移动锁定托槽，以将产品锁定就位在产品 台架上。在现有方案中，与产品的电子连接也可以通过使用一个和/或多个小型电动机和 或气动缸实现，其实现方式是：电动机和或气动缸移动被支撑在支撑结构上的连接器和/ 或插针，使其与产品上的对反构件（counter-p i eces )接触，所述对反构件例如是输入输出 口或其它连接器。电动机或气动缸与由铝制的支撑结构的底部接触，例如，并且通过上升运 动或横向运动，他们移动一个或多个锁定单元至其锁定位置，并移动插针或相应的连接器 使其与产品上的对反构件接触。在现有的适配器中，在支撑结构下面有三个小型电动机。在 传统的适配器款式中，例如借助于穿透铝制支撑框架的孔，通过铝制支撑框架来建立从测 试系统到位于产品台架上的待测产品之间的电子连接是有可能的，其中，产品台架位于支 撑框架上。这种连接可自然的成为双向连接，因此测试系统能提供激励信号，并且能测量待 测产品的应答信号。
[0005] 然而，现有方案中存在问题，主要问题是需要多个电动机和/或气动缸，并且在适 配器制造中它们产生成本。将产品锁定在产品台架上是个具体的问题。
[0006] 因此，需要开发出一种能够减少现有技术方案中的问题数量的新型适配器。


【发明内容】

[0007] 本发明的目的是提供改进的测试适配器。本发明所提供的测试适配器特征在于所 述产品台架通过导向结构被支撑在所述支撑结构上，所述导向结构控制所述产品台架的垂 直上下运动；所述产品台架，通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述 导向结构上从顶端位置运动到低端位置；所述测试适配器包括保持结构，所述保持结构用 来将所述产品台架保持在低端位置，并将所述适配器中的卡扣结构保持在锁定位置，所述 卡扣结构被设置成将所述产品锁定在所述产品台架上。
[0008] 本发明的优选实施例在从属权利要求中公开。优选实施例增强了基础发明的优 点。
[0009] 本发明的技术方案提供了多个优点，特别是避免使用可能昂贵的电动机/气动缸 或至少明显减少了对他们的需要。本发明为产品提供了节约成本的卡扣结构。本发明使得 使用手动操作来按压下产品和其产品台架成为可能，因为进行手动操作的工人通常是将产 品放置在测试适配器的产品台架上的工人，所以对于同一个工人而言，接下来将产品和其 产品台架按压至低端位置是容易的，这种情形下卡扣结构进入其锁定状态，在实施例中，连 接器或其它适配器中的连接结构能够与产品接触。

【专利附图】

【附图说明】
[0010] 参照下面的优选实施例和附图，本发明将被更加详细地描述，其中：
[0011] 图1是测试适配器的顶视图，所述测试适配器处于顶端位置，与产品在一起；
[0012] 图2是图1沿A-A方向的横截面图；
[0013] 图3是图1沿B-B方向的横截面图；
[0014] 图4是测试适配器的顶视图，所述测试适配器处于下压位置，与产品在一起；
[0015] 图5是图4沿C-C方向的横截面图；
[0016] 图6是图4沿D-D方向的横截面图；
[0017] 图7是携带有产品的测试适配器的顶视图，所述测试适配器处于其顶端位置，即 其在被下压之前的位置；
[0018] 图8是携带有产品的测试适配器的侧视图，该侧视图按图7中箭头A1方向视看得 到；
[0019] 图9是没有携带产品的测试适配器的顶视图，所述测试适配器处于其顶端位置， 即其在被下压之前的位置；
[0020] 图10是没有携带产品的测试适配器的侧视图，该侧视图按图9中箭头A2方向视 看得到；
[0021] 图11示出按照图7被下压后的状态；
[0022] 图12示出按照图8被下压后的状态，同时，从图11中箭头A3方向视看，示出按照 图11的状态。
[0023] 图13示出按照图9被下压后的状态。
[0024] 图14救出按照图10被下压后的状态，同时，从图13中箭头A4方向视看，示出按 照图13的状态。
[0025] 图15至图17示出处于不同阶段的测试适配器，所述测试适配器分别没有携带产 品、携带有产品、携带有已锁定就位的产品；
[0026] 图18示出在图3中描述的测试适配器，所述测试适配器具有连接结构--例如插 针，以建立与产品之间的测试接触。

【具体实施方式】
[0027] 这是用于待测电子产品的测试适配器，产品被标注DUT (待测设备)。DUT可以是 无线电网络终端，例如用于蜂窝网络的移动电话，当然，不限于此。
[0028] 测试适配器包括支撑结构100和用于待测设备被支撑在所述支撑结构上的产品 台架200。参照附图18,测试适配器也包括一个或多个连接结构C，例如连接器或其它接触 结构，用来同待测设备建立测试接触。同待测设备建立测试接触也可以通过USB连接实现。
[0029] 支撑结构是平整的构件，例如，是由铝制成的。
[0030] 支撑结构100相应地位于底部支撑102上，例如支撑脚102,并且，支撑脚102相应 地可以在操作部件(没有显示）上，例如，操作部件可以带有所期望的组件配置的电路板，所 述组件配置包括电子组件和用来与外部测试系统或电源连接的连接端口。
[0031] 产品台架200通过导向结构301到304被支撑在支撑结构100上，导向结构控制 产品台架的垂直运动U。
[0032] 当相互比较产品台架200的高端位置和低端位置时，产品台架和其上的待测设备 的垂直运动U能够被看到。附图1到3,、7到10以及16到17示出高端位置。附图4到6、 11到14以及17示出低端位置。
[0033] 在一实施例中，所述导向结构被分布且包括若干个导向结构元件301到304。所述 导向结构元件从其上侧被连接（fastened)到所述产品台架200的拐角或其它边缘区域接 触。
[0034] 在一实施例中，所述导向结构包括弹簧结构301c、302c、303c或其它回返结构，其 用来将产品台架300 (代理人认为应为200)返回至其顶端位置。导向结构元件301到304 有其自己的回返结构，弹簧301c，、302c，、303c和304c被显示在附图2到3、8、10和15到 16中。
[0035] 每一个导向结构元件301到304包括：第一部分--即与产品台架200接触的上 端部分301a、302a、303a、304a，和第二部分--即与支撑结构100接触的低端部分301b、 302b，、303b、304b。在一实施例中，第一部分301a与第二部分301b嵌套。参照附图12、14、 15和16,例如，嵌套意味着第一部分301a、302a、303a、304a--即与产品台架接触的部分 是内位部分，而第二部分301b、302b，、303b、304b--即与所述支撑结构接触的部分是外位 部分。
[0036] 所述产品台架200被设置成通过来自上方的直接的或间接的按压运动，能从顶端 位置TOP运动到低端位置L0W，其中，在所述低端位置L0W，所述产品台架200由导向结构 301到304支撑。所述测试适配器TA包括保持结构701至702,所述保持结构用来将产品台 架200保持在其低端位置LOW和将适配器里面的卡扣结构501至502保持在其锁定位置。 所述卡扣结构501至502被设置成将产品DUT锁定在所述产品台架200上。来自上面的按 压运动的发起者可以是使用测试适配器TA的工人，例如测试站的操作员。按压可以是间接 地指向产品台架200--即操作员可以按压待测设备DUT的顶面。例如，在按照附图15的 起始状态，操作员首先将待测设备DUT放置就位在处于顶端位置的产品台架200上，然后， 在按照图16的状态中，操作员用手按压待测设备DUT的顶面，从而产生按照附图17所示的 状态，即低端位置。卡扣结构501至502转动至要在待测设备DUT上，并且保持结构701和 702--其可以是电磁的--将产品台架200保持在低端位置。
[0037] 所述卡扣结构501位于所述产品台架200处，且被设置成随着产品台架运动到低 端位置L0W，卡扣结构接收所述产品台架的操控（command)，移动至其关闭位置（即图17)。 相应地，卡扣结构501、502被设计成：随着产品台架运动到顶端位置，卡扣结构接受所述产 品台架的操控从其关闭位置移开（图17)。卡扣结构包括回返装置，例如弹簧，其确保卡扣结 构501，502保持与导向辊801，802接触，并且确保卡扣结构501，502打开，即他们的顶部分 离开所述待测设备DUT。
[0038] 在一实施例中，卡扣结构501至502被轴件或其它旋转扣件501a、502a连接在 所述产品台架200的产品空间200a的边缘处。所述卡扣结构501至502按两侧布置 (two-sided)，并包括：第一^^扣501，其位于产品台架200的产品空间200a的一个边缘上； 和第二卡扣502,其位于产品台架200的第二产品空间200a的相对应的边缘上。
[0039] 在一实施例中，所述支撑结构100包括导向辊801、802或其它导向部件，其被设置 成用来引导产品台架上的卡扣结构（501，502)至其锁定位置。连接到所述支撑结构的且用 于产品台架200上的卡扣部件501、502的所述导向辊801、802被轴件801a、802a (如附图 3和附图6所示)或其它旋转扣件801a、802a连接到所述支撑结构100。导向辊801、802可 以是小轴承。
[0040] 所述卡扣结构501、502的旋转扣件501a、502a的摆动轴线的方向与引导卡扣结构 501、502转动的导向部件的旋转扣件801a、802a的旋转方向基本上是平行的。
[0041] 下文讨论保持结构701、702,产品台架200与待测设备DUT在保持结构的作用下 被保持在低端位置，如图4至6、图11和图17所示。在一实施例中，保持机构是磁性的，通 过一电控装置来激活和解除所述磁性附接。在一实施例中，所述磁性保持结构的第一部分 701因此是电磁铁，且所述磁性的保持结构的第二部分是铁磁块702。利用电磁铁701及其 控制装置，很容易激活所述低端位置并释放使其向上。
[0042] 参照上文所述的，磁性的保持结构的电控装置因此在支撑结构100处包括开关 110,所述开关的开关部分ll〇a延伸到产品台架200的产品空间200a的底部200b的附近， 其在一个通道里，所述通道穿过产品台架200的产品空间200a的底部200b。当产品台架 200位于其低端位置时，所述开关部分110a--例如按钮--被设置成用来激活磁性附接。 这产生于这样的事实，即在产品台架200的按压运动的最后，待测设备的底部向下按压开 关部分1 la并激活电磁铁701，借此电磁铁701与位于产品台架底部的对应的铁磁块相互吸 弓丨。开关110、110a被设置成用来激活电磁铁。
[0043] 另外，也可以存在独立开关150,其用来解除电磁铁701的磁性，在这种情况下，弹 簧301 C、302c、303c和第四导向结构元件的弹簧能将产品台架200与待测设备提升到顶端 位置，同时，卡扣结构501、502打开并使得将待测设备DUT从产品台架200移开成为可能。
[0044] 所述磁性的保持结构包括位于所述支撑结构100处的第一部分701和位于所述产 品台架200处的第二部分702。当所述产品台架200位于其低端位置时(如图4至6、图11 至14和图17所示)，磁性的保持结构的第一部分701和第二部分702在磁力作用下如所述 图示相互接触，或者至少保持互相靠近。
[0045] 如图2至3、图5至6及图10至12所示，所述磁性的保持结构的第一部分701被 连接在所述支撑结构的下方，且至少部分穿过支撑结构100地延伸。相应地，所述磁性的保 持结构的第二部分702位于所述产品台架200底面上。可以看出，所述磁性的保持结构的 第一部分701与第二部分702基本上是对齐的。第一部分的顶面或电磁铁701可以与支撑 结构100的顶面处于同一高度、在其下方或上方，在附图中，电磁铁701位于支撑结构的顶 面的下方。
[0046] 所述磁性的保持结构的第二部分702或高部分702位于所述产品台架200的中心 点区域，从而达到对称均匀接触。
[0047] 测试适配器中用的一个或多个测试接触结构C通过产品台架200的开口 204延伸 至使得与产品DUT连接成为可能的位址。
[0048] 不同实施例中的单个特征可以组合在一起形成其它可能的实施例。
[〇〇49] 显然的是，对于本领域技术人员而言，随着技术的进步，本发明的基本思想可以按 许多不同的方式来实现。因此本发明及其实施例不局限于上述实施例，而是可以在权利要 求的范围内变化。
【权利要求】
1. 用于待测电子产品的测试适配器，所述适配器包括支撑结构（100)和用于将所述产 品（DUT )支撑在所述支撑结构上的产品台架（200 )， 其特征在于：所述产品台架通过导向结构（301至304)被支撑在所述支撑结构上，所述 导向结构控制所述产品台架的垂直运动； 所述产品台架（200)，通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述导 向结构上从顶端位置（TOP)运动到低端位置（LOW); 所述测试适配器包括保持结构（701，702)，所述保持结构用来将所述产品台架（200) 保持在低端位置（L0W)，并将所述适配器中的卡扣结构（501，502)保持在锁定位置，所述卡 扣结构（501，502 )被设置成将所述产品锁定在所述产品台架上（200 )。
2. 根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构（501，502)处于所述 产品台架处，并被设置成：所述卡扣结构接收来自所述产品台架的操控，随产品台架运动到 低端位置而移动至其关闭位置，并且所述卡扣结构接收来自所述产品台架的操控，随产品 台架运动到顶端位置而从其关闭位置移开。
3. 根据权利要求2所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构（501，502)被轴件或 其它旋转扣件连接到所述产品台架（200)的产品空间（200a)的边缘处。
4. 根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构（501，502)按两侧布 置，并包括：第一^^扣（501)，其位于所述产品台架（200)的产品空间（200a)的一个边缘上； 和第二卡扣（502)，其位于所述产品台架（200)的第二产品空间（200a)的相对边缘上。
5. 根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述的保持结构（501，502)是磁性 的，通过电控装置（110, ll〇a，150)激活磁性附接和解除磁性附接。
6. 根据权利要求5所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性的保持结构包括位于所 述支撑结构（1〇〇)处的第一部分（701)和位于所述产品台架（200)处的第二部分（702);并 且当所述产品台架（200)位于其低端位置（LOW)时，磁性的保持结构的第一部分（701)和第 二部分（702)在磁力作用下相互接触或至少互相靠近。
7. 根据权利要求6所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性的保持结构的第一部分 (701)是电磁铁，且所述磁性的保持结构的第二部分（702)是铁磁块。
8. 根据权利要求6或7所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性的保持结构的第一 部分（701)被连接在所述支撑结构（100 )的下方，且至少部分穿过所述支撑结构（100 )地延 伸；并且，所述磁性的保持结构的第二部分（702)位于所述产品台架（200)底面一侧。
9. 根据权利要求8所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性的保持结构的第一部分 (701)与第二部分（702)基本上是对齐的。
10. 根据权利要求6至9中任一项所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性保持结构 的第二部分（702)位于所述产品台架（200)的中心点区域。
11. 根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述导向结构（301至304)包括 弹簧结构或其它回返结构（301c，302c，303c)，所述弹簧结构或其它回返结构用来将所述产 品台架（200)返回至其顶端位置。
12. 根据权利要求1或11所述的测试适配器，其特征在于：所述导向结构（301至304) 被分布，且包括多个导向结构元件；并且，所述导向结构元件（301至304)从其上部分与所 述产品台架（200)的拐角或其它边缘区域接触。
13. 根据权利要求1至4中任一项权利要求所述的测试适配器，其特征在于：所述支撑 结构（100)包括导向辊或其它导向部件（801，802)，所述导向辊或其它导向部件被设置成 用来引导在所述产品台架上的卡扣结构（501，502)至其锁定位置。
14. 根据权利要求13所述的测试适配器，其特征在于：连接到所述支撑结构（100)且用 于所述产品台架（200)上的卡扣部件（501. 502)的所述导向部件（801，802)被轴件（801a， 801a)或其它旋转扣件连接到所述支撑结构（100)。
15. 根据权利要求3和14所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构（501，502)的 旋转扣件（501a，502a)的摆动轴线的方向与引导所述卡扣部件转动的导向部件的旋转扣件 (801a，802a)的旋转方向基本上平行的。
16. 根据权利要求5至10中任一项所述的测试适配器，其特征在于：所述磁性的保持 结构（501，502)的电控装置在所述支撑结构（100)处包括开关（110,110a)，所述开关的开 关部分（110a)延伸到所述产品台架（200)的产品空间（200a)的底部（200b)的附近，其在 通道（210)里，所述通道穿过所述产品台架（200)的产品空间（200a)的底部（200b)，当所述 产品台架（200)位于其低端位置（LOW)时，所述开关部分（110a)被设置成用来激发磁性附 接。
17. 根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：在所述产品台架（200)的低端位 置（L0W)，所述测试适配器的用来建立与产品之间测试接触的一个或多个接触机构（C)通 过在所述产品台架（200)中的开口（204)延伸至使得其与产品的连接成为可能的位址。
【文档编号】G01R1/02GK104111354SQ201310253392
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2013年6月24日 优先权日:2013年4月19日
【发明者】哈裴威沙, 奥拉桔珈 申请人:Pkc电子有限公司