电波暗室及其电波测试装置制造方法

文档序号:6173248阅读:375来源:国知局
电波暗室及其电波测试装置制造方法
【专利摘要】一种电波测试装置,包括一支撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑动件滑动的第一驱动组件、一沿垂直该支撑杆的方向滑动地组设于该滑动件的齿条、一驱动该齿条的第二驱动组件及一设于该齿条底端的场强探头,该第一驱动组件及第二驱动组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在支撑杆及滑条所在平面内移动,该第二驱动组件设有一啮合于该齿条的驱动齿轮。该电波测试装置的第一驱动组件及第二驱动组件驱动该场强探头移动至各个测试点进行测试,使用方便并提高了测量准确度。本发明同时提供一种设有该电波测试装置的电波暗室。
【专利说明】电波暗室及其电波测试装置

【技术领域】
[0001] 本发明涉及电波暗室,尤其涉及一种设有电波测试装置的电波暗室。

【背景技术】
[0002] 在进行电磁兼容测试的射频电磁场福射抗扰度试验之前需要对测试场地进行验 证,进行均匀域的量测W确保测试场地中电磁场强分布充分均匀。一般来说,测试所使用的 均匀域尺寸为1.5mX 1.5m,其中包含十六个用于均匀域场强量测的测试点。在进行均匀域 的量测时,将场强探头放置在其中一个测试点上,使用信号发生器、功率放大器及发射天线 在每个预定的发射频率段中分别W不同的天线极性(例如水平与垂直极性)发射不同频率 的测试信号。场强探头在所选的测试点分别接收具有不同极性及频率点测试信号,从而感 测到对应各个测试信号的场强读值。在该测试点获得对应每个预订极性及频率点测试信号 的场强读值后,将该场强探头通过手动的方式移至其他测试点,一一重复上述测试操作,最 后汇整所有测试点对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读值,W考察该均匀域中场 强的均匀度。
[0003] 在上述测试过程中,当场强探头位于每个测试点时,都要分别调节天线极性及测 试信号的发射频率,W在该测试点分别获取对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读 值,而且该操作需要重复多次,使用不方便,且多次移动场强探头容易导致定位精度不够而 使测量的结果不准确。


【发明内容】

[0004] 有鉴于此,有必要提供一种使用方便、测量准确的电波测试装置及电波暗室。
[0005] -种电波测试装置,包括一支撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该 滑动件滑动的第一驱动组件、一沿垂直该支撑杆的方向滑动地组设于该滑动件的齿条、一 驱动该齿条的第二驱动组件及一设于该齿条底端的场强探头,该第一驱动组件及第二驱动 组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在支撑杆及滑条所在平面内移动,该第二驱动 组件设有一晒合于该齿条的驱动齿轮。
[0006] -种电波暗室,包括一暗室、设于该暗室底部一端的天线、设于该暗室底部相对的 另一端的测试转台及一电波测试装置,该电波测试装置包括一水平设置于该暗室上部的支 撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑动件左右滑动的第一驱动组件、一沿 上下方向滑动地设于该滑动件的齿条、一驱动该齿条滑动的第二驱动组件及一设于该齿条 底端的场强探头,该第一驱动组件及第二驱动组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头 在支撑杆及滑条所在平面内移动至各个测试点。
[0007] 使用所述电波测试装置进行电磁场福射抗扰度均匀域测试,该第一驱动组件及第 二驱动组件驱动该场强探头移动至各个测试点进行测试。从而在测试时无须通过手动的方 式移动场强探头的位置,使用方便并提高了测量准确度。

【专利附图】

【附图说明】
[000引图1为本发明较佳实施例的电波暗室的立体分解图,该电波暗室包括一电波测试 装置。
[0009] 图2为图1的电波测试装置的放大图。
[0010] 图3为图2中III部分的放大图。
[0011] 图4为图1的部分组装图。
[0012] 图5-6为本发明电波暗室的使用状态示意图。
[0013] 主要元件符号说明

【权利要求】
1. 一种电波测试装置,包括一支撑杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑 动件滑动的第一驱动组件、一沿垂直该支撑杆的方向滑动地组设于该滑动件的齿条、一驱 动该齿条的第二驱动组件及一设于该齿条底端的场强探头,该第一驱动组件及第二驱动组 件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在支撑杆及滑条所在平面内移动,该第二驱动组 件设有一哨合于该齿条的驱动齿轮。
2. 如权利要求1所述的电波测试装置,其特征在于:该支撑杆沿其长度方向开设一穿 透该支撑杆上下两侧的滑槽,该齿条穿设于该滑槽内。
3. 如权利要求2所述的电波测试装置,其特征在于:该滑动件包括一滑动地套设于该 支撑杆的滑动框,该滑动框的上下两侧开设供该齿条穿过的两通槽。
4. 如权利要求3所述的电波测试装置,其特征在于:该第一驱动组件包括旋转地设于 该支撑杆相对的两端的两滑轮、一连接于该两滑轮之间并固定于该滑动框的传动带及一驱 动其中一滑轮旋转的第一马达。
5. 如权利要求3所述的电波测试装置,其特征在于:该第二驱动组件还包括一固定于 该滑动框的安装框及一设于该安装框内的第二马达,该驱动齿轮连接于该第二马达,该齿 条穿过该安装框。
6. -种电波暗室,包括一暗室、设于该暗室底部一端的天线、设于该暗室底部相对的另 一端的测试转台及一电波测试装置,该电波测试装置包括一水平设置于该暗室上部的支撑 杆、一滑动地套设于该支撑杆的滑动件、一驱动该滑动件左右滑动的第一驱动组件、一沿上 下方向滑动地设于该滑动件的齿条、一驱动该齿条滑动的第二驱动组件及一设于该齿条底 端的场强探头,该第一驱动组件及第二驱动组件分别驱动该滑动件及齿条使该场强探头在 支撑杆及滑条所在平面内移动至各个测试点。
7. 如权利要求6所述的电波暗室,其特征在于:该暗室包括一底壁、自该底壁的四周垂 直向上延伸的一周壁及设于周壁顶端的一顶壁,该测试转台设于该底壁的一端,该天线设 于该底壁相对的另一端,该周壁的上部于邻近该测试转台的一端开设两相对的定位槽,该 支撑杆的两端卡固于该两定位槽内。
8. 如权利要求6述的电波暗室,其特征在于:该支撑杆沿其长度方向开设一穿透该支 撑杆上下两侧的滑槽,滑动件包括一滑动地套设于该支撑杆上的滑动框,该滑动框的上下 两侧开设正对该支撑杆的滑槽的两通槽,该齿条穿设于该滑槽及两通槽内。
9. 如权利要求8所述的电波暗室,其特征在于:该第一驱动组件包括旋转地设于该支 撑杆相对的两端的两滑轮、一连接于该两滑轮之间并固定于该滑动框一侧的传动带及一驱 动其中一滑轮旋转的第一马达,该第一马达驱动该滑轮旋转而带动该传动带移动,从而带 动该滑动框沿该支撑杆的滑槽滑动。
10. 如权利要求8所述的电波暗室,其特征在于:该第二驱动组件包括一固定于该滑动 框的安装框、一设于该安装框内的第二马达及一连接于该第二马达的驱动齿轮,该齿条穿 过该安装框与该驱动齿轮相啮合。
【文档编号】G01R29/08GK104422826SQ201310361436
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2013年8月19日 优先权日:2013年8月19日
【发明者】何等乾, 何小练 申请人:鸿富锦精密电子(天津)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1