暗室校准方法及装置、电子设备的制造方法
【专利摘要】本公开是关于一种暗室校准方法及装置、电子设备，该方法可以包括：获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合；根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。通过本公开的技术方案，可以实现对暗室的自动化校准，简化校准流程、提升校准效率。
【专利说明】
暗室校准方法及装置、电子设备
技术领域
[0001]本公开涉及通讯技术领域，尤其涉及一种暗室校准方法及装置、电子设备。
【背景技术】
[0002]暗室(或称，微波暗室、电波暗室或吸波室)可以通过吸收绝大部分电磁波，从而为电子设备提供相对“纯净”的测试环境，避免受到外界杂波的干扰和影响。暗室的搭建不仅存在硬件需求，还需要对暗室的电磁波吸收性能等进行调试，以使其满足对电子设备的测试要求。
【发明内容】
[0003]本公开提供一种暗室校准方法及装置、电子设备，以解决相关技术中的不足。
[0004]根据本公开实施例的第一方面，提供一种暗室校准方法，包括:
[0005]获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合；
[0006]根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0007]可选的，所述获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合，包括:
[0008]在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合；
[0009]当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据；
[0010]当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。
[0011]可选的，还包括:
[0012]当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的最大差值大于所述第二预设差值时，将所述同一测试项目标记为待检修项目。
[0013]可选的，所述获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合，包括:
[0014]分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据；其中，所述测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据；
[0015]其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。
[0016]可选的，所述根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，包括:
[0017]分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。
[0018]可选的，还包括:
[0019]通过与所述标准测试设备之间建立的通讯连接，读取所述标准测试设备中预存储的所述标准测试数据集合；
[0020]将所述测试数据集合与所述标准测试数据集合进行比较，以得到所述比较结果。
[0021]根据本公开实施例的第二方面，提供一种暗室校准装置，包括:
[0022]获取单元，获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合；
[0023]校准单元，根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0024]可选的，所述获取单元包括:
[0025]数据集合获取子单元，在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合；
[0026]第一数据处理子单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据；
[0027]第二数据处理子单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。
[0028]可选的，还包括:
[0029]标记单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的最大差值大于所述第二预设差值时，将所述同一测试项目标记为待检修项目。
[0030]可选的，所述获取单元包括:
[0031]数据获取子单元，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据;其中，所述测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据；
[0032]其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。
[0033]可选的，所述校准单元包括:
[0034]调整子单元，分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。
[0035]可选的，还包括:
[0036]读取单元，通过与所述标准测试设备之间建立的通讯连接，读取所述标准测试设备中预存储的所述标准测试数据集合；
[0037]比较单元，将所述测试数据集合与所述标准测试数据集合进行比较，以得到所述比较结果。
[0038]根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括:
[0039]处理器；
[0040]用于存储处理器可执行指令的存储器；
[0041 ]其中，所述处理器被配置为:
[0042]获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合；
[0043]根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0044]本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
[0045]由上述实施例可知，本公开通过将标准测试设备分别置于标准暗室和待校准暗室进行测试，可由待校准暗室的控制中心对相应的测试数据集合与标准测试数据集合进行比较，以及使得控制中心能够对待校准暗室进行自动化校准，不仅能够简化暗室校准流程，而且能够提升校准效率。
[0046]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
【附图说明】
[0047]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0048]图1是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准方法的流程图。
[0049]图2是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准的场景示意图。
[0050]图3是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准方法的流程图。
[0051 ]图4是根据一示例性实施例示出的一种生成测试数据集合的流程图。
[0052]图5-10是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准装置的框图。
[0053]图11是根据一示例性实施例示出的一种用于暗室校准的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0054]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0055]在诸如手机等电子设备的设计制造过程中，需要在天线实验室进行天线性能等方面的测试;通过在暗室内执行该测试过程，可以避免外界杂波造成的电磁干扰，确保测试结果的准确性和可靠性。
[0056]但是，暗室的搭建并非单纯的硬件组装，需要按照一定标准进行校准，否则无法达到所需的测试性能。在相关技术中，暗室校准的操作流程包括:
[0057]I)工作人员将金机(golden sample，即标准测试设备)置于第三方的标准暗室(该标准暗室符合所有预定义的测试性能，可以以此为标准来校准其他暗室)进行测试，得到标准测试数据集合；
[0058]2)工作人员将该金机置于待校准暗室进行测试，得到测试数据集合；
[0059]3)工作人员将测试数据集合与标准测试数据集合进行人工比较后，根据比较结果手动执行对待校准暗室的调整和校准。
[0060]在完成一次校准后，工作人员需要重复上述的步骤2)-步骤3)，直至测试数据集合与标准测试数据集合一致。
[0061]可见，由于工作人员需要对标准测试数据集合与测试数据集合进行反复的人工比对，导致暗室校准工作十分繁琐、冗长。
[0062]因此，本公开通过改进暗室校准方案，可以解决相关技术中的上述问题。下面结合附图对本公开的技术方案进行描述:
[0063]图1是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准方法的流程图，如图1所示，该方法可以用于待校准暗室的控制中心中，比如该控制中心可以承载于为待校准暗室配置的服务器设备;该方法可以包括以下步骤:
[0064]在步骤102中，获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合。
[0065]在本实施例中，可以在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合;其中，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据；以及，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。在该实施例中，通过对多个单次测试数据进行均值计算，可以有效消除测试过程中产生的误差，确保最终结果的准确性。
[0066]在本实施例中，可以分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据;其中，所述标准测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的标准测试数据;其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。
[0067]在步骤104中，根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准。
[0068]在本实施例中，当比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合时，可以分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。
[0069]在步骤106中，当所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异大于预设差异时，返回步骤102并重复上述步骤;直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异时，完成对待校准暗室的校准操作。
[0070]由上述实施例可知，本公开通过将标准测试设备分别置于标准暗室和待校准暗室进行测试，可由待校准暗室的控制中心对相应的测试数据集合与标准测试数据集合进行比较，而无需工作人员对测试数据进行人工比对;同时，基于对测试数据集合与标准测试数据集合的比较结果，控制中心能够对待校准暗室进行自动化校准，比如对待校准暗室的路径损耗值进行调节等，从而不仅能够简化暗室校准流程，而且能够提升校准效率。
[0071]图2是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准的场景示意图，如图2所示，本公开的暗室校准涉及到:综测仪A、控制中心A、金机、综测仪B和控制中心B。综测仪A为标准暗室使用的综合测试仪，该综测仪A用于对置于标准暗室的金机进行测试，而控制中心A为标准暗室的控制中心，用于根据测试信息生成相应的标准测试数据集合。金机可以由待校准暗室的工作人员准备好，并通过诸如物流形式将金机交由标准暗室的工作人员来执行测试，然后由标准暗室的工作人员完成测试后，通过物流形式交还给待校准暗室的工作人员，使得综测仪A与综测仪B通过对同一台金机进行测试，从而基于标准暗室实现对待校准暗室的校准操作。综测仪B为待校准暗室使用的综合测试仪，该综测仪B用于对置于待校准暗室的金机进行测试，而控制中心B为待校准暗室的控制中心，用于根据测试信息生成相应的测试数据集合，比如该控制中心B可以为承载于待校准暗室处的服务器设备中，当然本公开并不限制该控制中心的具体形式。
[0072]相应地，图3是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准方法的流程图，如图3所示，该方法可以包括以下步骤:
[0073]在步骤302中，综测仪A执行测试操作。
[0074]在本实施例中，当金机置于标准暗室的静区中心位置后，综测仪A可以执行测试操作，比如针对金机所处的各个工作信道，分别执行相应的测试操作。
[0075]在步骤304中，控制中心A采集综测仪A在测试操作中得到的测试信息，并生成标准测试数据集合。
[0076]在本实施例中，控制中心A生成金机在标准暗室内的标准测试数据集合，该标准测试数据集合可以用于判断诸如待校准暗室等其他暗室是否符合测试性能:由于金机本身的性能稳定，因而当其他暗室的测试性能与该标准暗室一致时，得到的测试数据应当与该标准测试数据集合一致，否则表明该其他暗室尚未符合标准的测试性能。
[0077]在步骤306中，控制中心A可以对标准测试数据集合进行打包后，利用综测仪A与金机之间建立的通信连接，将标准测试数据集合传输至金机，并由金机对该标准测试数据集合进行存储。
[0078]上述的步骤302-306均发生于标准暗室处，由标准暗室的工作人员利用综测仪A和控制中心A等，对置于标准暗室的金机进行测试操作并获得相应的标准测试数据集合。由于标准暗室与待校准暗室往往并不处于同一地区，因而可以将标准测试数据集合存储于金机后，通过诸如物流等方式发送至待校准暗室的工作人员，并在待校准暗室处执行下述步骤:
[0079]在步骤308中，综测仪B执行测试操作。
[0080]在本实施例中，当金机置于待校准暗室的静区中心位置后，综测仪B可以执行测试操作，且测试操作的执行方式与综测仪A在步骤302中采用的执行方式相同。
[0081 ]在步骤310中，控制中心B采集综测仪B采集在测试操作中得到的测试信息，并生成测试数据集合。
[0082]在本实施例中，当金机存在多个用于通信的信道时，综测仪B可以分别针对每个信道进行测试操作，并得到相应信道对应的测试数据，然后由控制中心B在所有测试数据的基础上生成测试数据集合;换言之，控制中心B分别获取待校准暗室对应于标准测试设备(SP金机)在各个信道的测试数据;其中，测试数据集合包括待校准暗室对应于该标准测试设备在各个信道的测试数据。通过对各个信道分别进行测试，可以确保最终校准后的暗室能够满足在各个信道上的测试性能的需求。
[0083]实际上，综测仪A同样分别针对每个信道进行测试操作，并得到相应信道对应的标准测试数据，然后由控制中心A在所有标准测试数据的基础上生成标准测试数据集合。
[0084]在本实施例中，图4示出了控制中心B在生成测试数据集合的过程中，针对任一信道X对应的测试数据的处理流程，该流程可以包括以下步骤:
[0085]在步骤402中，控制中心B得到信道X的η次测试数据。
[0086]在本实施例中，当η>1时，表明综测仪B对信道X下的金机执行了多次重复测试操作，从而通过对相应得到的多个测试数据进行处理，可以有效消除测试过程中的误差问题，从而有助于提升测试的准确性。而当n=l时，表明综测仪B仅对信道X下的金机执行了一次测试操作，虽然可能存在误差，但通过将标准测试数据集合与测试数据集合进行比较，并基于比较结果对待校准暗室进行反馈式的校对调整，仍然能够减小并消除误差。当然，通过在此处的多次重复测试操作，及时消除或减小测试误差，有助于后续操作中减少对待校对暗室的反馈式的校对调整次数，从而提升对待校准暗室的校准效率。
[0087]在步骤404中，比较相邻数据的差值δ。
[0088]在本实施例中，当针对信道X存在多次重复测试操作时，可以将相邻测试操作得到的测试数据进行差值计算，得到差值δ ;当然，差值δ并不限制于“相邻”测试操作得到的测试数据，比如还可以分别计算多次测试操作得到的任意两个测试数据的差值并作为此处的差值δ。
[0089]在步骤406Α中，当差值δ多0.5dB时，将相应的测试项目(即信道X)标记为待检修项目。
[0090]在本实施例中，当差值δ^0.5dB时，表明待校准暗室可能存在硬件问题，可以将相应的测试项目(即信道X)标记为待检修项目，比如对相应的测试数据进行高亮显示等，以便于工作人员事后针对该待校准暗室进行检修。
[0091 ] 在步骤406B中，当差值δ<0.3dB时，计算相应测试项目的平均值si。
[0092]在本实施例中，当差值δ<0.3(1Β时，表明相应的测试数据可以直接接受，而通过计算相应测试项目的平均值Si，即信道X下的所有多次测试数据的平均值，可以通过多次测试操作而消除测试误差。
[0093]在步骤406C中，当0.3dB彡δ<0.5dB时，计算差值δ的概率分布统计。
[0094]在步骤408中，根据概率分布统计，计算相应测试项目的加权平均值s2。
[0095]在本实施例中，当0.3dB彡δ<0.5dB时，表明相应的测试数据存在一定问题，但暗室的硬件不存在问题，仍然处于可以接受的范围，因而通过计算差值δ的概率分布统计，可以消除测试误差，并通过后续的基于比较结果对待校准暗室进行反馈式的校对调整，不断优化该测试数据，以实现对待校准暗室的校准。
[0096]在步骤410中，生成测试数据集合。
[0097]在本实施例中，虽然针对信道X执行了η次测试操作，但最终测试数据集合中仅包含对应于该信道X的一个测试数据，比如步骤406Β得到的平均值Si或者步骤406C得到的平均值s2等。那么，针对每个信道对应的测试数据，共同组成了此处的测试数据集合。
[0098]在步骤312中，控制中心B从综测仪B处获得金机中存储的标准测试数据集合。
[0099]在本实施例中，控制中心B通过与标准测试设备之间建立的通讯连接，比如该通讯连接是基于综测仪B而建立得到，可以读取该标准测试设备中预存储的标准测试数据集合。那么，通过将标准测试数据集合预存储在标准测试设备中，并通过综测仪B与控制中心B之间的数据交互，可以获得综测仪B测试的测试数据集合，以及通过标准测试设备与综测仪B、综测仪B与控制中心B之间的数据交互，可使控制中心B获得标准测试数据集合，然后通过将两者进行比较，从而实现对待校准暗室的自动化校准操作。
[0100]在步骤314中，控制中心B将标准测试数据集合与测试数据集合进行数据比较。
[0101]在步骤316中，控制中心B根据得到的比较结果，对待校准暗室进行校准操作。
[0102]在本实施例中，当测试数据、标准测试数据均为分别针对每个信道进行测试得到的数据时，比较结果可以为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合，则控制中心B可以根据该集合中的每个差值及其对应的信道，对待校准暗室进行相应的校准操作。举例而言，控制中心B可以分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整待校准暗室的路径损耗(path loss)值。
[0103]那么，当控制中心B完成对待校准暗室的每次校准操作后，可以由综测仪B重新执行对该待校准暗室的测试操作(即返回步骤308)，并由控制中心B针对生成的测试数据集合与标准测试数据集合之间的一致性，即每个信道对应的测试数据与标准测试数据之间的一致性，确定是否再次执行校准操作;比如，当任一信道对应的测试数据与标准测试数据之间的差值不大于预设数值时，可以判定为两者一致;而当差值大于该预设数值时，可以判定为两者不一致，需要重新返回步骤308并通过诸如步骤308-316而再次执行校准操作，直至测试数据集合与标准测试数据集合一致，即每个信道对应的测试数据均与相应的标准测试数据一致。
[0104]与前述的暗室校准方法的实施例相对应，本公开还提供了暗室校准装置的实施例。
[0105]图5是根据一示例性实施例示出的一种暗室校准装置框图。参照图5，该装置包括获取单元51和校准单元52。
[0106]获取单元51，被配置为获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合；
[0107]校准单元52，被配置为根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0108]如图6所示，图6是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准装置的框图，该实施例在前述图5所示实施例的基础上，获取单元51可以包括:数据集合获取子单元511、第一数据处理子单元512和第二数据处理子单元513。
[0109]数据集合获取子单元511，被配置为在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合；
[0110]第一数据处理子单元512，被配置为当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据；
[0111]第二数据处理子单元513，被配置为当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。
[0112]如图7所示，图7是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准装置的框图，该实施例在前述图5所示实施例的基础上，该装置还可以包括:标记单元53。
[0113]标记单元53，被配置为当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的最大差值大于所述第二预设差值时，将所述同一测试项目标记为待检修项目。
[0114]如图8所示，图8是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准装置的框图，该实施例在前述图5所示实施例的基础上，获取单元51包括:数据获取子单元514。
[0115]数据获取子单元514，被配置为分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据;其中，所述测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据；
[0116]其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。
[0117]需要说明的是，上述图8所示的装置实施例中的数据获取子单元514的结构也可以包含在前述图6-7的装置实施例中，对此本公开不进行限制。
[0118]如图9所示，图9是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准装置的框图，该实施例在前述图8所示实施例的基础上，校准单元52包括:调整子单元521。
[0119]调整子单元521，被配置为分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。
[0120]如图10所示，图10是根据一示例性实施例示出的另一种暗室校准装置的框图，该实施例在前述图5所示实施例的基础上，该装置还可以包括:读取单元54和比较单元55。
[0121 ]读取单元54，被配置为通过与所述标准测试设备之间建立的通讯连接，读取所述标准测试设备中预存储的所述标准测试数据集合；
[0122]比较单元55，被配置为将所述测试数据集合与所述标准测试数据集合进行比较，以得到所述比较结果。
[0123]需要说明的是，上述图10所示的装置实施例中的读取单元54和比较单元55的结构也可以包含在前述图6-9的装置实施例中，对此本公开不进行限制。
[0124]关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
[0125]对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0126]相应的，本公开还提供一种暗室校准装置，包括:处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器;其中，所述处理器被配置为:获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合;根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0127]相应的，本公开还提供一种终端，所述终端包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令:获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合;根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
[0128]图11是根据一示例性实施例示出的一种用于暗室校准的装置1100的框图。例如，装置1100可以被提供为一服务器。参照图11，装置1100包括处理组件1122，其进一步包括一个或多个处理器，以及由存储器1132所代表的存储器资源，用于存储可由处理部件1122的执行的指令，例如应用程序。存储器1132中存储的应用程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。
[0129]装置1100还可以包括一个电源组件1126被配置为执行装置1100的电源管理，一个有线或无线网络接口 1150被配置为将装置1100连接到网络，和一个输入输出(I/O)接口1158。装置1100可以操作基于存储在存储器1132的操作系统，例如Windows ServerTM,MacOS XTM，UnixTM，LinuxTM，FreeBSDTM或类似。
[0130]本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
[0131]应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。
【主权项】
1.一种暗室校准方法，其特征在于，包括: 获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合； 根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合，包括: 在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合； 当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据； 当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括: 当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的最大差值大于所述第二预设差值时，将所述同一测试项目标记为待检修项目。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合，包括: 分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据；其中，所述测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据； 其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，包括: 分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括: 通过与所述标准测试设备之间建立的通讯连接，读取所述标准测试设备中预存储的所述标准测试数据集合； 将所述测试数据集合与所述标准测试数据集合进行比较，以得到所述比较结果。7.一种暗室校准装置，其特征在于，包括: 获取单元，获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合； 校准单元，根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括: 数据集合获取子单元，在多次重复测试操作中，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备的多个单次测试数据集合； 第一数据处理子单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值不大于第一预设差值时，将多个单次测试数据的平均值作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据； 第二数据处理子单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的差值大于第一预设差值且不大于第二预设差值时，计算所述同一测试项目对应的所有差值的概率分布统计，并根据统计结果计算多个单次测试数据的加权平均值，以作为所述同一测试项目在所述测试数据集合中对应的测试数据。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括: 标记单元，当同一测试项目在多个单次测试数据集合中分别对应的多个单次测试数据之间的最大差值大于所述第二预设差值时，将所述同一测试项目标记为待检修项目。10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括: 数据获取子单元，分别获取所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据;其中，所述测试数据集合包括所述待校准暗室对应于所述标准测试设备在各个信道的测试数据； 其中，所述比较结果为每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值的集合。11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述校准单元包括: 调整子单元，分别根据每个信道的测试数据与标准测试数据之间的差值，调整所述待校准暗室的路径损耗值，以减小或消除所述差值。12.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括: 读取单元，通过与所述标准测试设备之间建立的通讯连接，读取所述标准测试设备中预存储的所述标准测试数据集合； 比较单元，将所述测试数据集合与所述标准测试数据集合进行比较，以得到所述比较结果。13.—种电子设备，其特征在于，包括: 处理器； 用于存储处理器可执行指令的存储器； 其中，所述处理器被配置为: 获取待校准暗室对应于标准测试设备的测试数据集合； 根据所述测试数据集合与标准暗室对应于所述标准测试设备的标准测试数据集合之间的比较结果，对所述待校准暗室进行校准，直至所述测试数据集合与所述标准测试数据集合之间的差异不大于预设差异。
【文档编号】G01R35/02GK106054099SQ201610340129
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年5月19日
【发明人】聂凡, 潘明争, 李英俊
【申请人】北京小米移动软件有限公司