一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法
【专利摘要】本发明公开了一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法，该方法包括：选取地球表面接近月球表面电磁特性的位置，获取测月雷达在该位置的回波数据，得到测月雷达在该位置的冰层以及冰石混合层的最大穿透深度Dice_1+Dice_rock+Dice_2，以及测月雷达在冰层中的最小可分辨层厚Tice，并据此获得测月雷达在月球次表层的探测深度Drock和测月雷达在月壳浅层岩石中的厚度分辨率Trock。
【专利说明】一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及探地雷达【技术领域】，特别是涉及一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法。
【背景技术】
[0002]测月雷达是人类首次采用表面探地雷达的方式进行月球次表层结构探测，其探测目的是获取巡视路线上的月壤厚度和月壳浅层结构。测月雷达采用超宽带无载频脉冲探地雷达技术，对巡视路线上月壳浅层岩石分层结构进行探测，要求探测深度大于100m，厚度分辨率米级。
[0003]在巡视器行进过程中，测月雷达经过发射天线向月面辐射超宽带电磁脉冲信号。信号在月壤和月壳岩石的传播过程中，如果遇到不同阻抗的介质交界面，将产生反射和散射。测月雷达接收天线接收到该反射和散射信号后，经过接收机放大、采样后获得探测数据。
[0004]测月雷达的最终性能指标将体现为探测深度和厚度分辨率两方面。为了验证测月雷达在月球次表层探测中能否满足指标要求，需要通过地面试验，评估测月雷达在月球次表层的探测深度和厚度分辨率。
[0005]由于测月雷达是我国首台月球探地雷达，也是世界首台搭载在月球表面巡视器上的探地雷达，没有成熟的地面验证方法可供采用。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于，针对月球表面探地雷达地面验证工作，提出一种验证其在月球次表层探测深度和分辨率的方法，并成功应用在了测月雷达的地面验证试验中，能够为今后的月球表面探地雷达的地 面验证提供依据。
[0007]本发明提出的验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法包括步骤:选取地球表面接近月球表面电磁特性的位置，获取测月雷达在该位置的回波数据，得到测月雷达在该位置的冰层以及冰石混合层的最大穿透深度Dic;6 l+Dit;6 MC;k+Dic;6 2，以及测月雷达在冰层中的最小可分辨层厚Tic 测月雷达在月球次表层的探测深度Dradt与在地球获得的冰层厚度Diw5-PDic 2以及冰石混合层的厚度Dic；6—Mc;k之间关系为:
【权利要求】
1.一种验证探地雷达在月球次表层探测深度和分辨率的方法，该方法包括:选取地球表面接近月球表面电磁特性的位置，获取测月雷达在该位置的回波数据，得到测月雷达在该位置的冰层以及冰石混合层的最大穿透深度Dic;6」+Dic;6 Mdt+Dic;6 2，以及测月雷达在冰层中的最小可分辨层厚Tira，测月雷达在月球次表层的探测深度Dradt与在地球获得的冰层厚度Dice_l> Dice 2以及冰石混合层的厚度DiMJ—Mc;k之间关系为:
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述最小可分辨层厚Tira，确定测月雷达在月壳浅层岩石中的厚度分辨率T_k，二者的关系为:
【文档编号】G01S7/40GK103439694SQ201310384768
【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年8月29日 优先权日:2013年8月29日
【发明者】李春来, 苏彦, 张洪波, 刘建军, 郑磊, 李俊铎, 封剑青, 戴舜 申请人:中国科学院国家天文台