电子设备及控制该电子设备的方法
【专利摘要】提供一种电子设备及控制该电子设备的方法。所述电子设备包括：连接器，包括与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或多个引脚；信号处理器，产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到两个或多个引脚之中的第一引脚；控制器，根据通过在两个或多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。因此，缩短用于测试电子设备的连接器的时间以因此提高生产力。
【专利说明】电子设备及控制该电子设备的方法
【技术领域】
[0001]本公开的示例性实施例涉及一种电子设备及控制该电子设备的方法，更具体地讲，涉及一种缩短用于测试电子设备的连接器的时间从而提高生产力的电子设备及控制该电子设备的方法。
【背景技术】
[0002]为了测试电子设备的端子，已使用了外部装置。
[0003]外部装置可直接连接到电子设备的端子并产生信号。产生的信号可通过所述端子输入到电子设备并用于测试所述端子。
[0004]然而，外部装置需要连接到端子以及与端子断开，信号需要被产生并被输入等。因此，测试电子设备的端子花费相当大的时间。即使在未发现缺陷(NDF)的情况下也使用测试使用的时间，因此降低了生产力。
【发明内容】
[0005]另外的方面和/或优点将在下面的描述中部分地阐明，并且从描述中部分是清楚的，或者通过本发明的实施可以被理解。
[0006]根据示例性实施例，提供一种缩短用于测试电子设备的连接器的时间从而提高生产力的电子设备及控制该电子设备的方法。
[0007]根据示例性实施例的一方面，一种电子设备包括:连接器，包括与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚；信号处理器，产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或更多个引脚之中的第一引脚；控制器，根据通过在两个或多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
[0008]所述电子设备可包括短路辅助器。
[0009]所述电子设备还可包括显示器。
[0010]连接器是否有缺陷可被输出到显示器并显示在显示器上。
[0011]所述电子设备还可包括存储器，存储关于测试信号的信息。
[0012]测试信号可包括数字信号并具有数字值的特征。
[0013]测试信号可包括模拟信号并具有频率的特征。
[0014]测试信号可包括至少一个测试信号，并被同时输出到两个或多个引脚。
[0015]短路辅助器可具有用于根据输出的测试信号的特征来对所述两个或更多个引脚进行分类并短路的结构。
[0016]短路辅助器可具有形状如与电子设备分离地进行设置并连接到连接器的盖子的结构。
[0017]根据示例性实施例的一方面，一种电子设备的控制方法包括:使与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚短路；产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或多个引脚之中的第一引脚；根据通过在所述两个或更多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
[0018]使两个或多个引脚短路的步骤可包括:将短路辅助器连接到连接器。
[0019]所述电子设备可包括显示器。
[0020]连接器有缺陷可被输出到显示器并显示在显示器上。
[0021]所述控制方法可包括存储关于测试信号的信息，其中，输出测试信号的步骤包括:基于存储的信息产生测试信号。
[0022]测试信号可包括数字信号并具有数字值的特征。
[0023]测试信号可包括模拟信号并具有频率的特征。
[0024]测试信号可包括至少一个测试信号，并被同时输出到所述两个或更多个弓I脚。
[0025]短路辅助器可根据输出的测试信号的特征对两个或多个引脚进行分类并短路。
[0026]短路辅助器可与电子设备分离地进行设置并连接到连接器。
【专利附图】
【附图说明】
[0027]从以下结合附图对示例性实施例的描述中，以上和/或其它方面将变得清楚并更容易理解，在附图中:
[0028]图1不出根据不例性实施例的电子设备；
[0029]图2不出根据不例性实施例的电子设备；
[0030]图3不出根据不例性实施例的电子设备；
[0031]图4示出根据示例性实施例的施加到信号处理器与通过短路辅助器而短路的连接器之间的示例性测试信号；
[0032]图5示出施加测试信号的示例性测试结果；
[0033]图6示出根据示例性实施例的施加到信号处理器与通过短路辅助器而短路的连接器之间的示例性测试信号；
[0034]图7示出施加测试信号的示例性测试结果；
[0035]图8示出根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图；
[0036]图9示出根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图。
【具体实施方式】
[0037]参照附图详细描述示例性实施例。
[0038]图1不出根据不例性实施例的电子设备。
[0039]如图1所示，根据示例性实施例的电子设备1包括连接器2，其中，连接器2包括两个或更多个引脚3，外部装置(未示出)可连接到所述两个或多个引脚3，且所述两个或多个引脚3可被用于将信号发送到外部装置或从外部装置接收信号。信号处理器4产生用于测试连接器2的测试信号并通过两个或多个引脚3之中的第一引脚3输出所述信号。例如，控制器5根据通过两个或多个引脚3之中的通过短路辅助器6与第一引脚3短路的第二引脚3接收的测试信号的特征来确定连接器2是否有缺陷。
[0040]电子设备可包括电视、监视器或相似的显示设备，但是不限于此。任何电子设备可以是适用的，只要它具有连接器(诸如端子或端口)即可。
[0041]连接器2可以是具有多个引脚的端子，电子设备1通过所述多个引脚与外部装置连接以便发送和接收信号。发送和接收的信号可包括视频信号、音频信号、数据信号、功率信号等。包括在第二连接器2中的多个引脚3可被构造为分别对应于信号和地。因此，短路辅助器6可被设置为根据信号将包括在连接器2中的这些引脚进行分类并对这些引脚进行短路。
[0042]短路辅助器6可与电子设备1分离地进行设置，并可用于生产电子设备1以便确定连接器2是否有缺陷。因为短路辅助器6可用于生产阶段以便确定电子设备1的连接器2是否有缺陷，所以短路辅助器不需要是电子设备1的内部构造的一部分。短路辅助器6可具有用于覆盖连接器2的帽结构，并且对应于连接器2的形状被定形。短路辅助器6可具有不仅覆盖连接器2而且还电连接引脚3的布线图(未示出)。当短路辅助器6结合到连接器2时，布线图可被设置为电短路引脚。
[0043]信号处理器4在控制器5的控制下产生将被发送到连接器2的测试信号。测试信号可以是具有数字值的数字信号，或具有预定频率的模拟信号。测试信号通过的引脚的数量可以是至少两个。在数字信号的情况下，测试信号可包括具有高电平或低电平的信号。在模拟信号的情况下，测试信号可具有预定频率。信号处理器4将测试信号输出到多个引脚3之一，并通过与引脚3短路的另一引脚接收测试信号。即，信号处理器4接收通过由引脚3的短路形成的闭合电路的测试信号。
[0044]当连接器2的引脚3通过短路辅助器6而短路时，控制器5控制信号处理器4输出并接收测试信号。如果接收到的测试信号和输出的测试信号相同，则控制器5确定连接器2不具有缺陷。另一方面，如果接收到的测试信号和输出的测试信号彼此不同，则控制器5可确定连接器2有缺陷。
[0045]图2不出根据不例性实施例的电子设备20。
[0046]作为示例性实施例的一部分，电子设备可包括存储器7。
[0047]存储器7存储与测试信号相应的信息。存储器7可包括基于多个测试信号的查询表以便根据测试信号的改变来确定连接器2是否有缺陷。因此，信号处理器4可基于存储在存储器7中的信息产生测试信号。例如，关于存储在存储器7中的测试信号的信息可被设置为与可在通过短路辅助器6短路的连接器2中形成的闭合电路的数量一样多，从而信号处理器4可输出与闭合电路的数量相应的数量的测试信号。
[0048]图3不出根据不例性实施例的电子设备30。
[0049]在该示例性实施例中，与图1中示出的示例性实施例的电子设备相比，电子设备包括显示器8和图案产生器9。
[0050]显示器8可在控制器5的控制下显示连接器2是否有缺陷。
[0051]信号处理器34可包括图案产生器9以产生具有与接收到的测试信号的确定相应的预定图案的图像。
[0052]因此，工人可通过显示在显示器8上的具有预定图案的图像来检查连接器2是否有缺陷。
[0053]图4示出根据示例性实施例的施加到信号处理器41与通过短路辅助器而短路的连接器42之间的测试信号。图5示出施加图4的测试信号的测试结果的示例。[0054]在该示例性实施例中，连接器42可以是用于高分辨率多媒体接口的端子。如果连接器42通过短路辅助器6而短路，则信号处理器41将四个测试信号输出到连接器42。如图4所示，第一测试信号“Startl”可被输出到第10引脚并依次经由第6引脚和第4引脚通过，从而第一测试信号“Endl”可通过第12引脚被接收。第二测试信号“Start2”被输出到第1引脚并依次通过第9引脚和第7引脚，从而第二测试信号“End2”可通过第3引脚被接收。第三测试信号“Start3”被输出到第18引脚并且第三测试信号“End3”通过第20引脚被接收。第18引脚不仅通过短路辅助器6与第20引脚短路，而且还与第13引脚和第14引脚短路。第四测试信号“Start4”被输出到第15引脚，从而第四测试信号“End4”可通过第17引脚被接收。连接器的第2引脚、第5引脚、第8引脚、第11引脚、第16引脚和第19引脚可被设置于地。
[0055]参照图5，所有第一测试信号至第四测试信号可被同时输出，并且可被总共施加两次:一次以高信号的形式而一次以低信号的形式。如图5所示，如果测试信号以高信号的形式被施加并且作为高信号被接收，则可确定连接器2操作正常。另一方面，如果测试信号以低信号的形式被施加，则确定可不被执行。
[0056]在第三测试信号“Start3”的情况下，电压根据在第13引脚和第14引脚中使用的寄存器而变化，因此ADC端口被用于确定接收到的第三测试信号“End3”正常还是不正常。在第四测试信号的情况下，可输出具有预定频率的方波、正弦波等，并识别频率、占空比等以确定第四测试信号“End4”正常还是不正常。
[0057]信号处理器4可使用内部图案产生器9以将连接器2正常还是不正常显示在显示器8上。
[0058]图6示出根据示例性实施例的施加到信号处理器与通过短路辅助器而短路的连接器之间的测试信号。图7示出施加图6的测试信号的测试结果的示例。
[0059]连接器2可以是诸如D-sub的端子。
[0060]如果连接器62通过短路辅助器6而短路，则信号处理器64将测试信号发送到连接器62。如图6所示，第一测试信号“Testl”被输出到第11引脚并且同时通过第1引脚、第2引脚和第3引脚作为第一测试信号(R、G和B输入)被接收。第二测试信号“Test2”被输出到第10引脚并同时通过第13引脚和第14引脚作为第二测试信号(Η & V输入)被接收。连接器的MGND1、第6引脚、第7引脚、第8引脚和第5引脚可被设置于地。第1引脚、第2引脚、第3引脚可被设置用于针对图像的R信号、G信号和B信号，第13和第14引脚可被设置用于水平/垂直频率。因此，连接器62的引脚3根据信号的种类进行分类，并通过短路辅助器6而短路。
[0061]参照图7，第一测试信号至第二测试信号二者被同时输出。第一测试信号是模拟信号，可针对频率确定连接器62正常还是不正常。使用模拟信号，信号处理器64与连接器62之间的阻抗可引起输入电平降低。另一方面，第二测试信号是数字信号，并可被输出两次，一次作为高信号而另一次作为低信号，但是不限于此。可选择地，第二测试信号可以是如第一测试信号的模拟信号。
[0062]例如，如果电子设备是显示设备，则图形卡或信号产生器可作为外部装置而被连接。因此，通过外部装置产生的信号被显示。用户可测试连接器正常还是不正常并且可视化地观察结果。然而，根据本发明的示例性实施例，不需要外部装置来确定连接器是否有缺陷。可以以这样的方式实现测试，，即，在电子设备内部产生的信号经由在引脚通过短路辅助器而短路时形成的闭合电路被输出并被接收。因此，可降低生产设备的成本。因为所述确定可不基于可视化检查，而基于自动化检查，所以还能缩短检测缺陷和检测所花费的时间。此外，不需要连接和断开外部装置、产生和输入信号的时间，因此提高生产力。
[0063]根据示例性实施例，信号处理器包括图案产生器以将具有预定图案的图像显示在显示器8上从而工人可检查连接器2是否有缺陷。
[0064]参照图8和图9描述控制电子设备的示例性方法。
[0065]图8示出根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图。
[0066]能够与外部装置发送并接收信号的设置在连接器中的两个或更多个引脚被短路(操作10)。可通过利用短路辅助器(例如，作为与电子设备分离的盖子而提供的短路辅助器6)来覆盖连接器并与连接器结合来实现引脚的短路。短路辅助器可具有用于根据通过引脚的信号的特征对两个或多个引脚进行分离并短路的结构。
[0067]在控制器的控制下(例如，控制器5)，信号处理器(例如，信号处理器4)产生测试信号到两个或多个引脚之中的第一引脚(操作20)。可基于存储在存储器(例如，存储器7)中的信息来产生测试信号。测试信号可以是数字信号，并且测试信号的特征可以是数字值。另一方面，测试信号可以是模拟信号，并且测试信号的特征可以是频率。测试信号可包括与引脚短路时形成的闭合电路的数量相应的多个测试信号，并且它们可被同时输出或单独输出。
[0068]信号处理器通过与第一引脚短路的第二引脚接收测试信号(操作30)。
[0069]控制器5确定测试信号的特征(频率、数字值等)是否被改变(操作40)。
[0070]如果测试信号的特征被改变，则控制器5确定连接器2有缺陷(操作50)。
[0071]另一方面，如果测试信号的特征不被改变，则控制器5确定连接器2没有缺陷，而是正常的(操作60)。
[0072]图9是根据示例性实施例的电子设备的示例性控制流程图。
[0073]根据示例性实施例，电子设备的控制方法除了包括图8中示出的操作之外还包括显示关于连接器是否有缺陷的预定图案的操作(操作70)。电子设备可包括显示器、信号处理器和图案产生器。
[0074]根据示例性实施例，不需要用于确定连接器是否有缺陷的外部装置。可以以这样的方式实现测试，即，通过电子设备产生并输出信号并且经由在引脚通过短路辅助器而短路时形成的闭合电路接收信号。因此，可降低生产设备的成本，且可缩短检测缺陷和检查所花费的时间，因为所述确定不基于可视化检查，而基于自动化检查。此外，不需要连接和断开外部装置以及产生和输入输入信号的时间，因此提高生产力。根据示例性实施例，提供一种缩短测试电子设备的连接器所花费的时间从而提高生产力的电子设备及其控制方法。
[0075]虽然已经示出并描述了一些示例性实施例，但是本领域的技术人员将理解，在不脱离本发明的原理和精神的情况下，可做出改变。本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
【权利要求】
1.一种电子设备，包括:连接器，包括与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚；信号处理器，产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或更多个引脚之中的第一引脚；控制器，根据通过在所述两个或更多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
2.如权利要求1所述的电子设备还包括短路辅助器。
3.如权利要求1所述的电子设备，还包括显示器，其中，连接器是否有缺陷被输出到显示器并显示在显示器上。
4.如权利要求1所述的电子设备，还包括存储器，存储关于测试信号的信息。
5.如权利要求1所述的电子设备，其中，测试信号包括具有数字值的数字信号或具有频率的模拟信号。
6.如权利要求1所述的电子设备，其中，测试信号包括至少一个测试信号，并被同时输出到所述两个或更多个引脚。
7.如权利要求2所述的电子设备，其中，短路辅助器具有用于根据输出的测试信号的特征来对所述两个或更多个引脚进行分类并短路的结构。
8.如权利要求2所述的电子设备，其中，短路辅助器具有形状如与电子设备分离地进行设置并连接到连接器的盖子的结构。
9.一种具有连接器的电子设备的控制方法，包括:使与外部装置连接以及将信号发送到外部装置并从外部装置接收信号的两个或更多个引脚短路；产生用于测试连接器的测试信号并将所述测试信号输出到所述两个或更多个引脚之中的第一引脚；根据通过在所述两个或更多个引脚之中的通过短路辅助器与第一引脚短路的第二引脚接收的测试信号的特征来确定连接器是否有缺陷。
10.如权利要求9所述的控制方法，其中，使所述两个或更多个引脚短路的步骤包括:将短路辅助器连接到连接器。
11.如权利要求9所述的控制方法，其中，所述电子设备包括显示器，其中，连接器有缺陷被输出到显示器并显示在显示器上。
12.如权利要求9所述的控制方法，还包括存储关于测试信号的信息，其中，输出测试信号的步骤包括:基于存储的信息产生测试信号。
13.如权利要求9所述的控制方法，其中，测试信号包括至少一个测试信号，并被同时输出到两个或多个引脚。
14.如权利要求10所述的控制方法，其中，短路辅助器根据输出的测试信号的特征对所述两个或更多个引脚进行分类并短路。
15.如权利要求10所述的控制方法，其中，短路辅助器与电子设备分离地进行设置并连接到连接器。
【文档编号】G01R31/02GK103675585SQ201310418227
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年9月13日 优先权日:2012年9月14日
【发明者】金成雨, 李正珉 申请人:三星电子株式会社