一种塞规及塞规盒的制作方法
【专利摘要】本发明涉及显示【技术领域】，特别涉及一种塞规及塞规盒。该塞规包括塞规主体，所述塞规主体沿长度方向具有两个端部，分别为第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所测量的尺度不同。本发明提供一种塞规及塞规盒，使得一个塞规可测量两个待测空隙的尺度，可有效减少塞规的使用数量，方便管理，提高测量效率。另外，设置特定结构的塞规盒来存放塞规，方便塞规的存取，且能最大程度保护塞规不受外界环境的侵蚀，延长塞规的使用寿命。
【专利说明】一种塞规及塞规盒
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】，特别涉及一种塞规及塞规盒。
【背景技术】
[0002]在液晶显示器制作工艺中，为了判断模组卡合的情况，通常采用塞规来测量各卡合处空隙Gap的大小。
[0003]如图1所示，为现有技术中采用的塞规结构示意图。现有技术中的塞规，一种塞规只涉及一个尺度，即只能测量一种空隙的大小，每测试一次空隙的大小，都需要较多数量的塞规，导致测试效率比较低下。
[0004]由于需要各种不同尺寸的塞规来配合测试，因此，对塞规的存放和整理显得尤为重要。
[0005]现有技术中通常会将各种尺寸的塞规混装在一个袋子里，当需要使用时，则在袋子里进行挑选。由于塞规通常由金属材料制成，若干个塞规混装在一起，会导致塞规相互摩擦，损坏塞规。另外，由于混装在袋子里，还容易生锈，影响塞规的测量精度。
[0006]为了避免上述产生的弊端，现有技术中提出了一种塞规的整理方式，如图2所示，将多个不同尺寸的塞规叠放在一起，使用销栓穿过多个塞规上的小孔进而将塞规整理在一起。当需要取出位于中间位置的塞规时，则需要将打开销栓，依次取出其他尺寸的塞规后才能取到特定的塞规，这样导致塞规的取用、放置比较麻烦，塞规还容易发生损坏且容易遗失。
【发明内容】
[0007](一)要解决的技术问题
[0008]本发明的目的是提供一种塞规及塞规盒，以解决现有技术中的塞规只具有一种测量尺度，造成测量效率低下的问题；另外，解决现有技术中对塞规存取比较麻烦且容易损坏塞规的问题。
[0009](二)技术方案
[0010]为了实现上述目的，本发明一方面提供一种塞规，包括:第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所测量的尺度不同塞规主体，所述塞规主体沿长度方向具有两个端部，分别为第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所测量的尺度不同。
[0011]优选地，所述第一端部和第二端部的径宽不同。
[0012]优选地，所述塞规主体沿长度方向上设有刻度值。
[0013]优选地，所述第一端部和第二端部的径宽值为两个相邻的规格值。
[0014]优选地，所述塞规主体由金属材料制成。
[0015]另一方面，本发明提供一种塞规盒，用于存放上述的塞规，包括塞规盒主体和盒盖，所述塞规盒主体内腔中设有若干个存放塞规的子内腔。
[0016]优选地，所述子内腔中位于塞规盒底部位置设有磁铁，用于吸附住放置于子内腔中的塞规。
[0017]优选地，所述子内腔的外表面上标有其内部存放的塞规的径宽值。
[0018](三)有益效果
[0019]本发明提供一种塞规及塞规盒，使得一个塞规可测量两个待测空隙的尺度，可有效减少塞规的使用数量，方便管理，提高测量效率。另外，设置特定结构的塞规盒来存放塞规，方便塞规的存取，且能最大程度保护塞规不受外界环境的侵蚀，延长塞规的使用寿命。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1为现有技术中塞规结构示意图；
[0021]图2为图1中A-A剖视图；
[0022]图3为现有技术中整理塞规示意图；
[0023]图4为本发明实施例塞规结构示意图；
[0024]图5为图4中B-B剖视图；
[0025]图6为本发明实施例塞规盒打开状态结构示意图；
[0026]图7为本发明实施例塞规盒闭合状态结构示意图。
【具体实施方式】
[0027]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0028]如图4和图5所示，本发明实施例提供一种塞规，其包括塞规主体I,所述塞规主体I沿长度方向具有两个端部，分别为第一端部11和第二端部12，第一端部11和第二端部12所测量的尺度不同。
[0029]该一个塞规可测量两个尺度，在实际测量中，可减少使用塞规的数量，提高测量效率。
[0030]具体的，该第一端部11和第二端部12的径宽不同，可设置第一端部11的径宽大于第二端部12的径宽，也可以设置第二端部的径宽大于第一端部11的径宽。
[0031]其中，为了使用方便并且使得测量更加精准，设置第一端部11和第二端部12的径宽值为两个相邻的规格值。即若塞规的规格值(即径宽值)为0.lmm、0.2mm、0.3mm、0.4mm等，若第一端部11为0.1mm规格的，则第二端部12可设置为0.2mm规格的。
[0032]为了在测量中使用方便，该塞规主体I沿长度方向上可设有刻度值，这样便于在测量空隙时一并测量其他参数。
[0033]为了保证塞规的使用性能，设置所述塞规主体由金属材料制成，优选地，该塞规由不锈钢制成。
[0034]在实际应用中，可选用塞规的一个端部进行测量，若该端部的尺寸无法满足待测量的空隙时，可随时更换另外一个端部对其继续测量，提高测量的效率。
[0035]如图6和图7所示，本发明还提供一种塞规盒，该塞规盒用于存放上述实施例中的塞规，当然，除了存放上述实施例中的塞规，也可以存放现有技术中已有结构的塞规。
[0036]该塞规盒包括塞规盒主体2和盒盖3，该盒盖3卡扣在塞规盒主体2上，当然两者除了卡扣连接，还可以采用螺纹连接等其他现有连接方式进行装配；[0037]该塞规盒主体2内腔中设有若干个存放塞规主体I的子内腔,该子内腔中位于塞规盒底部位置设有磁铁4，用于吸附住放置于子内腔中的塞规，使得塞规放置得更加稳定，不易被折弯损坏。另外，为了更直观地辨认塞规的规格，可在所述子内腔的外表面上标有其内部存放的塞规的径宽值。
[0038]设置特定结构的塞规盒来存放塞规，方便塞规的存取，且能最大程度保护塞规不受外界环境的侵蚀，延长塞规的使用寿命。
[0039]上述描述是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本发明限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显然的。选择和描述实施例是为了更好说明本发明的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本发明从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
【权利要求】
1.一种塞规，其特征在于，包括: 塞规主体，所述塞规主体沿长度方向具有两个端部，分别为第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所测量的尺度不同。
2.如权利要求1所述的塞规，其特征在于，所述第一端部的径宽与第二端部的径宽不同。
3.如权利要求1所述的塞规，其特征在于，所述第一端部和第二端部的径宽值为两个相邻的规格值。
4.如权利要求1所述的塞规,其特征在于,所述塞规主体由金属材料制成。
5.如权利要求1所述的塞规，其特征在于，所述塞规主体沿长度方向上设有刻度值。
6.一种塞规盒，用于存放权利要求1-5任一项所述塞规，其特征在于，包括塞规盒主体和盒盖，所述塞规盒主体内腔中设有若干个存放塞规的子内腔。
7.如权利要求6所述的塞规盒，其特征在于，所述子内腔中位于塞规盒底部位置设有磁铁，用于吸附住放置于子内腔中的塞规。
8.如权利要求6所述的塞规盒，其特征在于，所述子内腔的外表面上标有其内部存放的塞规的径宽值。
【文档编号】G01B5/14GK103673836SQ201310688650
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月13日 优先权日:2013年12月13日
【发明者】方志祥, 辛武根 申请人:合肥京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司