通用型柱面镜矢高测量装置制造方法
【专利摘要】一种通用型柱面镜矢高测量装置，它包括测量用千分表（1），其特征是所述的千分表（1）安装在盖板（2）上，千分表（1）的下端与柱面镜（6）的被测面相接触，所述的盖板（2）跨接在两个平行安装的触点部件（3）上，每个触点部件（3）均设有两个与柱面镜（6）滑动接触的触点，两个触点部件（3）的两端分别与对应的固定板（4）相连接。本实用新型通知性强，利用一套装置即可测量所有半径的柱面镜矢高，有利于降低工装夹具成本。
【专利说明】通用型柱面镜矢高测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种光学仪器，尤其是一种光学部件加工过程中使用的测量装置，具体地说是一种通用型柱面镜矢高测量装置。
【背景技术】
[0002]众所周知，柱面镜在加工过程中需要控制柱面半径R的误差，常规的方法是用样板贴合柱面的表面来检验，但这样会造成不同半径R的柱面镜都需要做样板，耗时耗力，因此，为了能节约成本，设计一种通用的柱面镜矢高测量工具并在柱面镜精磨的时候控制R的矢高误差对于节约工装成本意义重大。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是针对现有的柱面镜矢高测量需根据不同的柱面半径分别设计相应的模板，造成工装夹具数量巨大，成本高的问题，设计一种能适应不同半径柱面镜矢高测量的通用型柱面镜矢高测量装置。
[0004]本实用新型的技术方案是:
[0005]一种通用型柱面镜矢高测量装置，它包括测量用千分表1，其特征是所述的千分表I安装在盖板2上，千分表I的下端与柱面镜6的被测面相接触，所述的盖板2跨接在两个平行安装的触点部件3上，每个触点部件3均设有两个与柱面镜6接触的触点，两个触点部件3的两端分别与对应的固定板4相连接。
[0006]所述的触点部件3通过连接螺钉4与固定板4相连，且连接位置可调以保证两个触点部件3的平行度满足测量要求。
[0007]本实用新型的有益效果:
[0008]本实用新型通知性强，利用一套装置即可测量所有半径的柱面镜矢高，有利于降低工装夹具成本。
[0009]本实用新型结构简单，精度可高，操作使用方便，有利于提高加工效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的结构示意图。
[0011]图2是图1的左视结构示意图。
[0012]图3是图1的俯视结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明。
[0014]如图1-3所示。
[0015]一种通用型柱面镜矢高测量装置，它包括测量用千分表1，所述的千分表I安装在盖板2上，千分表I的下端表针与柱面镜6的被测面相接触，如图1、2，所述的盖板2跨接在两个平行安装的触点部件3上，如图3所示，触点部件3可设计成两端高，中间低的结构，或设计成弧形结构，每个触点部件3均设有两个与柱面镜6接触的触点，两个触点部件3的两端通过连接螺钉4与固定板4相连，且连接位置可调以保证两个触点部件3的平行度满足测量要求。
[0016]本实用新型采用四个接触点设计，能确定柱面表面的测量范围，与测量的千分表连接的部件与四爪触点的部件采用滑动连接，这样可以测量到整个测量长度范围内任意一点的矢高误差，四爪触点的部件为两件分体，用侧面固定板4固定，节省材料，侧面固定板与触点部件相接触部分采用凹槽结构和螺钉连接可以实现四爪触点的平行度调节。
[0017]本实用新型未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
【权利要求】
1.一种通用型柱面镜矢高测量装置，它包括测量用千分表(1)，其特征是所述的千分表(I)安装在盖板(2)上，千分表(I)的下端与柱面镜(6)的被测面相接触，所述的盖板(2)跨接在两个平行安装的触点部件(3)上，每个触点部件(3)均设有两个与柱面镜(6)接触的触点，两个触点部件(3)的两端分别与对应的固定板(4)相连接。
2.根据权利要求1所述的通用型柱面镜矢高测量装置，其特征是所述的触点部件(3)通过连接螺钉(4)与固定板(4)相连，且连接位置可调以保证两个触点部件(3)的平行度满足测量要求。
【文档编号】G01B5/02GK203414037SQ201320479279
【公开日】2014年1月29日 申请日期:2013年8月7日 优先权日:2013年8月7日
【发明者】王康 申请人:南京茂莱光电有限公司