一种可进行自清洁的电子分析天平的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种可进行自清洁的电子分析天平，包括测量基座与设置在测量基座上的测量室，所述电子分析天平包含有设立在测量基座上的清洁室；所述清洁室有超声波清洁装置与干燥装置组成；所述超声波清洁装置由超声波发生器、超声波换能器与清洁剂喷射装置组成；所述测量室内设有干燥装置，所述干燥装置包含有电加热管；所述电加热管由清洁室延伸至测量室内；采用上述技术方案的电子分析天平，确保其测量平台与待测物体表面没有污垢，从而得到更为精确的测量结果；同时采用电热管对测量室内加热，可以快速蒸发测量平台与待测物体上的残留清洁剂，减少测量误差，并能保持测量室内干燥，避免空气潮湿而影响测量数据。
【专利说明】—种可进行自清洁的电子分析天平
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型涉及一种天平，尤其是一种可进行自清洁的电子分析天平。
【背景技术】
[0002]电子分析天平作为精密测量工具已在工业、医疗、化工等领域得到广泛的运用。由于电子分析天平的待测对象对测量精度具有极高要求，测量过程中的丝毫误差均有可能影响测量结果。电子分析天平在长期使用中其表面必然会留下或多或少的灰尘与污垢，同时待测物体在生产、运输过程中也难以表面的洁净；上述污垢均有可能影响待测天平的测量结果，而简单的擦洗通常难以除尽污垢。
实用新型内容
[0003]本发明要解决的技术问题是提供一种电子分析天平，其可以有效清洁天平表面与待测物体的表层污垢，从而提高测量精度。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种可进行自清洁的电子分析天平，包括测量基座与设置在测量基座上的测量室，所述测量基座包含控制面板、显示屏，以及设立在测量基座上表面的测量平台；所述测量室包括玻璃面板与前开门；所述电子分析天平包含有设立在测量基座上的清洁室；所述清洁室有超声波清洁装置与干燥装置组成；所述超声波清洁装置由超声波发生器、超声波换能器与清洁剂喷射装置组成；所述测量室内设有干燥装置，所述干燥装置包含有电加热管；所述电加热管由清洁室延伸至测量室内。
[0005]作为本实用新型的一种改进，所述超声波发生器内部设有放大电路；所述放大电路采用开关电源形式放大电路。采用开关电源形式放大电路可以有效提高其放大电路工作效率，从而使得超声波发生器输出功率有所提高。
[0006]作为本实用新型的一种改进，所述超声波发生器内部设有电源装置；所述电源装置采用它激式电源。采用它激式电源可匹配各类型的输入电压。
[0007]作为本实用新型的一种改进，所述清洁剂喷射装置包含有两个相互水平的清洁剂出口，所述两个清洁剂出口处于同一垂线上。采用两个清洁剂出口，可以同时清洁测量平台与待测物体，确保其表面无污垢。
[0008]作为本实用新型的另一种改进，所述电加热管延伸至测量室部分为多根首尾相连的U型管，有效的增加了其散热面积，加速了测量室内的干燥速度。
[0009]作为本实用新型的另一种改进，所述测量基座上设有引流槽，其可以确保清洁剂不会停留在测量平台上。
[0010]使用时，清洁剂喷射喷射装置将清洁剂喷射在测量平台与待测物体表面，待其覆盖均匀后，采用超声波对其进行清洁。清洁完成后的清洁液连通污垢随引流槽流出，同时电热管通过升温使得物体表面残留清洁剂快速蒸发。
[0011]采用上述技术方案的电子分析天平，其可以在测量开始之前对测量平台与待测物体进行超声波清洗，确保其表面没有污垢，从而得到更为精确的测量结果；同时采用电热管对测量室内加热，可以快速蒸发测量平台与待测物体上的残留清洁剂，减少测量误差，并能保持测量室内干燥，避免空气潮湿而影响测量数据。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的主视图；
[0013]附图标记说明:
[0014]I 一测量基座、2—测量室、3—测量平台、4 一清洁室、5—超声波发生器、6—超声波换能器、7—清洁剂喷射装置、8—电热管、9一引流槽。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和【具体实施方式】，进一步阐明本实用新型，应理解下述【具体实施方式】仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。
[0016]如图1所示的一种可进行自清洁的电子分析天平，包括测量基座I与设置在测量基座上的测量室2，所述测量基座I包含控制面板、显示屏，以及设立在测量基座I上表面的测量平台3 ;所述测量室包括玻璃面板与前开门；所述电子分析天平包含有设立在测量基座上的清洁室；所述清洁室4有超声波清洁装置与干燥装置组成；所述超声波清洁装置由超声波发生器5、超声波换能器6与清洁剂喷射装置7组成；所述测量室内设有干燥装置，所述干燥装置包含有电加热管9 ;所述电加热管9由清洁室4延伸至测量室2内。
[0017]作为本实用新型的一种改进，所述超声波发生器5内部设有放大电路；所述放大电路采用开关电源形式放大电路。采用开关电源形式放大电路可以有效提高其放大电路工作效率，从而使得超声波发生器输出功率有所提高。
[0018]作为本实用新型的一种改进，所述超声波发生器5内部设有电源装置；所述电源装置采用它激式电源。采用它激式电源可匹配各类型的输入电压。
[0019]作为本实用新型的一种改进，所述清洁剂喷射装置7包含有两个相互水平的清洁剂出口，所述两个清洁剂出口处于同一垂线上。采用两个清洁剂出口，可以同时清洁测量平台与待测物体，确保其表面无污垢。
[0020]作为本实用新型的另一种改进，所述电加热管8延伸至测量室部分为多根首尾相连的U型管，有效的增加了其散热面积，加速了测量室内的干燥速度。
[0021]作为本实用新型的另一种改进，所述测量基座上设有引流槽9，其可以确保清洁剂不会停留在测量平台上。
[0022]使用时，清洁剂喷射喷射装置将清洁剂喷射在测量平台与待测物体表面，待其覆盖均匀后，采用超声波对其进行清洁。清洁完成后的清洁液连通污垢随引流槽流出，同时电热管通过升温使得物体表面残留清洁剂快速蒸发。
[0023]采用上述技术方案的电子分析天平，其可以在测量开始之前对测量平台与待测物体进行超声波清洗，确保其表面没有污垢，从而得到更为精确的测量结果；同时采用电热管对测量室内加热，可以快速蒸发测量平台与待测物体上的残留清洁剂，减少测量误差，并能保持测量室内干燥，避免空气潮湿而影响测量数据。
[0024]本实用新型方案所公开的技术手段不仅限于上述实施方式所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。
【权利要求】
1.一种可进行自清洁的电子分析天平，包括测量基座与设置在测量基座上的测量室，所述测量基座包含控制面板、显示屏，以及设立在测量基座上表面的测量平台；所述测量室包括玻璃面板与前开门；其特征在于，所述电子分析天平包含有设立在测量基座上的清洁室；所述清洁室有超声波清洁装置与干燥装置组成；所述超声波清洁装置由超声波发生器、超声波换能器与清洁剂喷射装置组成；所述测量室内设有干燥装置，所述干燥装置包含有电加热管；所述电加热管由清洁室延伸至测量室内。
2.按照权利要求1所述的可进行自清洁的电子分析天平，其特征在于，所述超声波发生器内部设有放大电路；所述放大电路采用开关电源形式放大电路。
3.按照权利要求1所述的可进行自清洁的电子分析天平，其特征在于，所述超声波发生器内部设有电源装置；所述电源装置采用它激式电源。
4.按照权利要求1所述的可进行自清洁的电子分析天平，其特征在于，所述清洁剂喷射装置包含有两个相互水平的清洁剂出口，所述两个清洁剂出口处于同一垂线上。
5.按照权利要求1所述的可进行自清洁的电子分析天平，其特征在于，所述电加热管延伸至测量室部分为多根首尾相连的U型管。
6.按照权利要求1所述的可进行自清洁的电子分析天平，其特征在于，所述测量基座上设有引流槽。
【文档编号】G01G23/00GK203587210SQ201320610980
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年9月30日 优先权日:2013年9月30日
【发明者】刘达文, 李修强, 初亚飞, 胡佚, 罗永刚, 毕金, 毛宇, 李健, 凌云 申请人:南京白云化工环境监测有限公司