本实用新型属于实验室设备技术领域，具体来说涉及一种电子分析天平。
背景技术：
电子天平是一种实验室常用的电子称量设备。在实践中：因为有一些被称量的物品自身带有静电，因此会对电子天平的称重结果造成干扰，进而影响到实验效率。因此，如何开发出一种新型的电子分析天平，能够准确称量带静电的产品，提高测重精度，是本领域技术人员需要研究的方向。
技术实现要素：
本实用新型提供了一种电子分析天平，能够有效的克服自带静电物品对电子天平的干扰，准确称量产品，提高测重精度。
其采用的具体技术方案如下：
一种电子分析天平，包括底座，承重台，称重传感器，显示器和静电消除台；所述承重台和静电消除台皆安装于底座上，所述称重传感器设于承重台底部；所述称重传感器与显示器连接；所述静电消除台上设有由两块侧壁和一块顶壁构成的静电消除通道；所述两块侧壁上固定有离子风发生器。
通过采用这种技术方案：将待测重物品首先放入静电消除台上，离子风发生器对位于静电消除台上的待测重物品吹拂强离子风，通过强离子风清除该待测重物品表面的静电。而完成去静电过程的待测重物品进入承重台进行称重。
优选的是，上述电子分析天平中：还包括推杆装置，所述推杆装置用于将待称重物品由静电消除台推动至承重台上。
通过采用这种技术方案：因为设置了静电消除工作人员可以操纵推杆装置实现将推入的过程，克服了因添置静电消除通道，导致待测重物品由静电消除台推入承重台过程不太方便的问题。
更优选的是，上述电子分析天平中：所述推杆装置包括杆体、手柄、滑块；所述顶壁上设有滑槽；所述滑块卡嵌在滑槽中；所述杆体与手柄连接为一体；所述杆体穿过滑块伸入静电消除通道内。
通过采用这种技术方案：工作人员通过握住手柄调整杆体伸入静电消除通道内的长度，令杆体末端位于低点/高点时杆体接触/远离待测重物品。随后沿着滑槽推动滑块，实现杆体的水平移动，通过杆体将待测重物品由静电消除台推入承重台。
进一步优选的是，上述电子分析天平中：还包括隔风门，所述隔风门为可开闭结构、其设于静电消除通道末端，用于隔断/导通所述承重台与静电消除台。
通过采用这种技术方案：在待测重物品处于称重台上进行称重时，使隔风门处于闭合状态，防止离子风发生器产生的强离子风对称重结果产生风扰动。而在待测重物品由静电消除台推入承重台的过程中，隔风门则处于打开状态。
与现有技术相比，本实用新型结构简单，易于制备。能够有效的克服自带静电物品对电子天平的干扰，准确称量产品，大幅提升了实验检测精度。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：
图1为本实用新型实施例1的结构示意图。
各附图标记与部件名称对应关系如下：
1、底座；2、承重台；3、称重传感器；4、显示器；5、静电消除台；6、推杆装置；7、隔风门；51、侧壁；52、顶壁；53、离子风发生器；61、杆体；62、手柄；63、滑块；滑槽521
具体实施方式
为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步描述。
如图1所示为本实用新型的实施例1结构：
一种电子分析天平，包括底座1，承重台2，称重传感器3，显示器4，静电消除台5，推杆装置6和隔风门7。
其中，所述承重台2和静电消除台5皆安装于底座1上，所述称重传感器3设于承重台2底部；所述称重传感器3与显示器4连接；所述静电消除台5上设有由两块侧壁51和一块顶壁52构成的静电消除通道；所述两块侧壁52上固定有离子风发生器53，所述顶壁52上设有滑槽521。
所述推杆装置6包括杆体61、手柄62、滑块63；所述滑块63卡嵌在滑槽521中；所述杆体61与手柄62连接为一体；所述杆体61穿过滑块63伸入静电消除通道内。所述推杆装置6用于将待称重物品由静电消除台5推动至承重台2上。所述隔风门7为可开闭结构、其设于静电消除通道末端，用于隔断/导通所述承重台2与静电消除台5。
实践中，其工作过程如下：
首先，工作人员将待测重物品放置到静电消除台5上的静电消除通道中，随后工作人员启动离子风发生器53工作，离子风发生器53对位于静电消除台上的待测重物品吹拂强离子风，通过强离子风清除该待测重物品表面的静电。随后，工作人员打开隔风门7，并握住手柄62调整杆体61伸入静电消除通道内的长度，令杆体末端下降到低点，使杆体接触待测重物品。随后沿着滑槽521推动滑块63，实现杆体61水平移动，通过杆体61将待测重物品由静电消除台5推入承重台2。最后，工作人员关闭隔风门7，使称重台2处于无风状态，令待测重物品在称重台上进行称重。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施例，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域技术的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书的保护范围为准。